JP5636468B2 - 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置 - Google Patents

磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置 Download PDF

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Description

本発明の実施形態は、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置に関する。
磁気記録再生装置において、ハードディスクドライブ等の磁気記録媒体に保存された情報が、磁気抵抗効果型の磁気ヘッドによって読み出される。記録密度が向上したときに、高感度の再生が必要になる。このためには、高いMR比(抵抗変化率)を有するとともに大きな電流密度を供給できる再生センサが必要になる。
米国特許出願公開第2007/0086121号明細書
本実施形態は、高いMR比を有するとともに大きな電流密度を供給できる磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置を提供する。
本実施形態の磁気抵抗効果素子は、第1磁性膜と、
第2磁性膜と、
前記第1磁性膜と前記第2磁性膜との間に設けられた非磁性の中間膜と、
を有する磁気抵抗効果膜を備え、
Aを少なくともFeとMnとを含む合金、Bを少なくともSi、Al、およびGeを含む合金とするとき、前記第1および第2磁性膜の少なくとも一方は、Co100−x(A1.0−y (40at%≦x≦60at%、0.3≦y≦0.7)と表されたホイスラー合金であり、
前記少なくとも一方の磁性膜は、前記中間膜との界面に近接し膜厚方向に設けられた第1領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率が60%未満であり、前記第1領域に比べて前記界面から遠く膜厚方向に設けられた第2領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率が60%以上であるように膜厚方向に組成が変調される。
第1実施形態による磁気ヘッドの再生部を示す平面図。 再生部の磁性層の構成を示す断面図。 再生部のMR特性に関する磁性層のFeMn組成比率依存性を示す図。 図4(a)、4(b)は、臨界電流密度を説明する図。 CFMS膜のSiの一部または全部をAlで置き換えた場合のMR特性を示す図。 第2実施形態による磁気ヘッドの再生部を示す平面図。 第3実施形態による磁気ヘッドの再生部を示す断面図。 第4実施形態による磁気記録再生装置の概略を示す斜視図。 ヘッドスライダが搭載されるヘッドスタックアセンブリを示す斜視図。
以下に、各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
(第1実施形態)
第1実施形態による磁気ヘッドについて図1を参照して説明する。この実施形態の磁気ヘッドは、再生部を備えている。この再生部を図1に示す。図1は磁気記録媒体から見た再生部1の平面図、すなわち媒体対向面(以下、ABS(Air Bearing Surface)ともいう)から見た平面図である。図1において、x方向は再生部1から図示しない磁気記録媒体に向かう方向を示し、y方向は磁気記録媒体のトラックの幅方向を示し、z方向は磁気記録媒体のトラックの長手方向を示す。この再生部1は、磁気抵抗効果を発現する磁性体の積層構造を含む磁気抵抗膜(以下、MR膜ともいう)10と、MR膜10を挟むように設けられた磁気シールド層21、22と、を備えている。MR膜10は、下地層11、磁性層12、非磁性の中間層13、磁性層14、およびキャップ層15がこの順序で積層された構成を有している。磁気シールド21、22は、磁気シールドの機能の他に、MR膜10に電流を流すための電極としても機能する。したがって、再生部1は、磁気抵抗効果素子として機能する。なお、本実施形態では、MR膜10のトラック幅方向(y方向)の端部に図示しない絶縁層を介してサイドシールド23が設けられている。
この実施形態の再生部1においては、磁性層12、14がともにフリー層として機能することにより磁気記録媒体からの磁界の検出を行う。すなわち、磁気記録媒体からの磁界に応じて、磁性層12の磁化方向と、磁性層14の磁化方向とのなす角度が変化し、この変化により再生部1の電気抵抗が変化し、この電気抵抗の変化を磁気シールド21、22間に一定電流を流して磁気シールド21、22間の電圧を測定することにより、または一定電圧を磁気シールド21、22間に印加して磁気シールド21、22間に流れる電流を測定することによって検知する。
下地層11としては、例えばTa、Ru、Cuなどの非磁性金属が用いられる。また、複数の材料を積層した構成でも良い。例えば、Ta/Cu、Ta/Ru等でもよい。
磁性層12、14としては、Co100−x(A1.0−y(40at%≦x≦60at%、0.3≦y≦0.7)の組成からなるホイスラー規則化合金が用いられる。ここで、Aは、少なくともFeとMnとを含む合金であり、Bは少なくともSi、Al、およびGeを含む合金である。その合金組成は、膜厚方向に変調されている。本実施形態においては、磁性層12、14の中間層13との界面近傍の領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率は60%未満であり、中間層13との界面近傍から離れた領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率が60%以上であるように変化する。なお、FeおよびMnの一部または全部をCrで置き換えてもよい。この場合も、置き換えたCrも考慮して上記比率を保つことが好ましい。また、磁性層12、14の中間層13との界面近傍から離れるにつれてFeの濃度が緩やかに増加することが好ましい。
また、磁性層12、14の合金組成としては、中間層13との界面近傍の領域におけるAl/(Si+Ge+Al)の比率は40%未満であり、上記界面近傍から離れた領域におけるAl/(Si+Ge+Al)の比率は40%以上であるように変化してもよい。なお、GeおよびAlの一部または全部をGaで置き換えてもよい。この場合も、置き換えたGaも考慮して上記比率を保つことが好ましい。また、磁性層12,14の中間層13との界面近傍から離れるにつれてAlの濃度が緩やかに増加することが好ましい。
磁性層12、14の厚みは3nm〜8nmが望ましい。高分解能再生が必要な場合には薄い厚みを用いて、磁気シールド21と磁気シールド22の間隔(キャップ長)を狭くすることが望ましい。例えば、下地層11として厚さが2nmのTa層と厚さが1nmのCu層を積層した構造とし、中間層13として厚さが2nmのCu、キャップ層15として厚さが1nmのCu層と厚さが2nmのTa層とを積層した構造とすると、磁性層12、14の厚さをそれぞれ4nmとすることにより、16nmの狭いギャップ長が実現できて、2Tb/in〜4Tb/inの記録密度の再生に必要な高分解能の再生が可能となる。
磁性層12、14の各厚さが3nmよりも薄くなると、磁気抵抗変化率(MR比)の低減、熱揺らぎによる磁気ノイズの増大が顕著となり、高いSN比の再生が困難になる。また、磁性層12、14の各厚さが8nmを越えると、ギャップ長は現行の再生ヘッドと同程度の24nmとなり、本実施形態と同様の効果を得ることができる。しかし、2Tb/in〜4Tb/inの高記録密度媒体用の再生ヘッドに要求されるギャップ長を超過してしまう。
非磁性の中間層13としては、Cu,Agなどの金属膜、MgO、GaO、ZnOなどの酸化膜、あるいは絶縁膜中に磁性金属(Fe、Coなど)あるいは非磁性金属(Cuなど)からなる微細導電領域が設けられた構造の膜、または例えばTiN、CrN、TaN等の窒化物の薄膜が用いられる。
キャップ層15としては、例えばTa、Ru、Cu、Ag、Au、Al、Tiなどの非磁性金属が用いられる。
磁気シールド層21、22としては、例えばNiFe合金が用いられる。磁気シールド層21、22は、分解能向上の目的以外に、MR膜10に通電するための電極の役割も有する。
次に、磁性層12、14の構成についてさらに詳しく説明する。磁性層12、14の詳細な構成の第1具体例を図2に示す。磁性層12は磁性層12と磁性層12とのの積層構造を有し、磁性層14は磁性層14と磁性層14との積層構造を有している。中間層13と接する磁性層12、14としてはそれぞれ、厚さが2nmのCo50(Fe0.4Mn0.625Si25が用いられる。ここで、(Fe0.4Mn0.625は、Feが10at%(=0.4×25at%)、Mnが15at%(=0.6×25at%)であることを意味する。磁性層12、14としては、FeとMnの組成比を変えた、厚さが4nmのCo(FeMn)25Si25が用いられる。300℃の温度で熱処理することにより、磁性層12、12の界面および磁性層14、14の界面では相互拡散が発生するものの、中間層との界面近傍ではFe/(Fe+Mn)の比率が50%未満の領域が、中間層との界面から離れた領域では、Fe/(Fe+Mn)の比率が成膜直後の組成領域が維持される。
磁性層12、14のFe/(Fe+Mn)組成比を100%、80%、60%、40%、20%、0%としたMR膜のサンプルを作成する。そして、300℃の熱処理後に50nm×100nmのサイズにMR膜をパターニングし、下部電極および上部電極を設けたMR素子を試作した。これらのMR素子のMR比および最大投入可能電流密度Jcを調べ、MR比、電圧Vb、および予想再生出力V(MR比×Jc)を図3に示す。電圧VbはMR素子に最大投入可能電流密度Jcを流したときのMR素子の電極間に発生する電圧である。なお、図3では、横軸はMn/(Fe+Mn)の比率を示している。最大投入可能電流密度Jcは、図4(a)、4(b)に示すように、磁気抵抗効果を示すR−H曲線の形状が乱れない限界の電流密度とした。投入電流密度Jが臨界値Jcを越えると、スピントランスファートルクノイズが顕著となり、磁化方向が乱れるために線形応答動作範囲が狭まり、結果として再生出力の低下を招いてしまう。
上記MR素子を用いて磁気ヘッドを試作した場合の再生出力Vは、原理的に、MR比とJcの積に比例するので、この積が大きなMR素子が高感度再生に必要である。上記MR素子において、CFMS膜のSiの一部をAlで置換し、置換したAlの濃度が0at%、20at%、40at%、50at%、80at%、100at%であるMR素子を作成し、これらのMR素子のMR比および最大投入可能電流密度Jcを調べ、MR比、電圧Vb、および予想再生出力V(MR比×Jc)を図5に示す。図5から分かるように、Al濃度が40%以上になると、MR比は若干低下するものの、最大投入可能電流密度Jcが増大して、再生出力Vは増大する。最大投入可能電流密度Jcが増大した理由は、Feリッチ領域のダンピングが大きいので、その結果、スピントランスファートルクノイズの発生が抑制されたと考えられる。なお、Feリッチ領域のダンピングが大きいことは、例えば、Appl. Phys. Lett. 94, 122504 (2009)に開示されている。
比較例として、磁性層12、14が単層のCoFeSiからなるMR素子も試作したが、最大投入可能電流密度Jcは増大するものの、MR比が大幅に低下した。
以上のことから、磁性層12、14を積層構造とすることで、高いMR比と高いJcを得ることができる。
なお、図2では、磁性層12,14がそれぞれ、2層の積層構造を有していたが、3層以上の積層構造としてもよい。この場合、Fe濃度を中間層13の近傍から徐々に増大するようにしてもよい。SiをGeに置換しても同様な効果が得られた。またAサイトの一部の元素をCrで置換しても同様な効果が得られた。Bサイトの一部の元素をGaで置換しても同様な効果が得られた。
次に、本実施形態における磁性層12、14の詳細な構成の第2具体例について説明する。この第2具体例においては、磁性層12、14としては、Co50(Fe0.4Mn0.625Si25合金を用いた。磁性層12、14としては、SiをAlで置換した厚さが0.5nmのCoFeMnAlSi合金とした。図5に、磁性層12、14のAl/(Si+Al)比率と、MR比、最大投入可能電流密度Jc、再生出力Vの関係を示す。Al濃度が40%以上で、出力が向上する効果が認められた。
以上説明したように、本実施形態によれば、高いMR比を有するとともに大きな電流密度を供給できる磁気抵抗効果素子および磁気ヘッドを提供することができる。
(第2実施形態)
第2実施形態による磁気ヘッドについて図6を参照して説明する。この実施形態の磁気ヘッドは、再生部を備えている。この再生部を図6に示す。図6は再生部1Aを媒体対向面から見た平面図である。この再生部1Aは、図1に示す第1実施形態の再生部1においてMR膜10をMR膜10Aに置き換えた構成を有している。このMR膜10Aは、MR膜10において下地層11と磁性層12との間に、反強磁性層16、磁性層17、および交換結合層18を設けた構成を有している。磁性層17の磁化方向は反強磁性層16によって一方向に固定される。磁性層12と磁性層17とは、交換結合層18を介して交換結合される。
下地層11、非磁性中間層13、キャップ層15としては、第1実施形態と同様の材料が用いられるとともに、同様の厚さを有している。
反強磁性層16としては、例えば厚さが5nm〜7nmのIrMn合金などが用いられる。磁化方向が固定される磁性層17としては、例えばCoFe合金を用いる。交換結合層18としては、例えばRuなどを用いる。
磁性層12、磁性層14の少なくとも一方の磁性層としては、第1実施形態で説明したホイスラー合金を用いる。
また、磁性層12と交換結合層18との界面には、十分な交換結合を確保するために厚さが0.5nm程度のCoFe合金層(図示せず)を設けて良い。安定した磁化固定のために必要な強い交換結合の確保、および狭い上下シールド間隔による高分解能な再生を実現するために、磁性層12の厚さは2nm程度の極薄が望ましい。例えば、図2で示した磁性層121、122の厚さをそれぞれ1nm程度にして、第1実施形態で説明したホイスラー合金を用いる。
また、本実施形態においては、磁性層14としては、例えば磁性層12と同様な構成のホイスラー合金と、拡散バリアー層(Cu、Ta、Ruなど、モノレーヤから1nmの範囲の厚み)を介して負の磁気歪みを有するNiFe層または厚さが2nm〜4nmのFe層を積層した積層構造を用いことができる。ここで、モノレーヤとは、0.125nmを想定している。通常、ホイスラー合金は正の磁気歪を有するので、磁性層14は媒体磁界に応じて磁化がスムーズに変化して低ノイズとなる特性が必要であり、そのためには磁気歪の低減が望ましく、負の磁気歪を有するNiFe層またはFe層を積層して、正と負の磁気歪の相殺効果により低磁気歪を実現することができる。
この第2実施形態も第1実施形態と同様に、高いMR比を有するとともに大きな電流密度を供給できる磁気抵抗効果素子および磁気ヘッドを提供することができる。
(第3実施形態)
第3実施形態による磁気ヘッドについて図7を参照して説明する。この実施形態の磁気ヘッドは、再生部を備えている。この再生部1Bを図7に示す。図7は、ABSに垂直な平面で再生部1Bを切断した断面図である。図7において、x方向は再生部1Bから磁気記録媒体40に向かう方向を示し、y方向は磁気記録媒体40のトラックの幅方向を示し、z方向は磁気記録媒体40のトラックの長手方向を示す。この再生部1Bは、磁気抵抗効果(以下、MRともいう)を発現する磁性体の積層構造を含む磁気抵抗膜10Bと、このMR膜10Bを挟むように設けられた磁気シールド層21、22と、を備えている。磁気シールド21には、ABSと反対側でかつMR膜10B側に位置する領域に凹部21aが設けられている。この凹部21aは、ABSから20nm〜50nm程度後退した領域に設けられる。
MR膜10Aは、下地層11と、磁性層12と、非磁性の中間層13と、磁性層14と、キャップ層15と、反強磁性層16と、磁性層17と、交換結合層18と、を有している。下地層11、磁性層17、交換結合層18、磁性層12、中間層13、磁性層14、およびキャップ層15はこの順序で磁気シールド21の磁気シールド22に対向する面上に積層される。下地層11は、磁気シールド21の磁気シールド22に対向する面のうち凹部21aを除いた領域に設けられる。そして、磁性層17、交換結合層18、磁性層12、中間層13、磁性層14、およびキャップ層15の積層構造は、下地層11上の設けられるとともに、磁気シールド21の凹部21aの上方に延在するように設けられている。磁性層17の磁化方向を一軸方向に固定するために、凹部21a内に磁性層17に近接して反強磁性層16が設けられる。なお、反強磁性層16と磁気シールド21との間には図示しない絶縁膜が設けられている。
下地層11、磁性層17、交換結合層18、磁性層12、中間層13、磁性層14、キャップ層15、および反強磁性層16としては、第2実施形態で説明したと同じ材料が用いられる。
この第3実施形態の再生部1Bは、第2実施形態の再生部1Aに比べて、磁気シールド21、22の間の距離を狭めることが可能となり、再生分解能が向上する。なお、磁気記録媒体40から離れた箇所には反強磁性層16が存在するので、磁性層12の磁化の固定を維持できる。
この第3実施形態も第2実施形態と同様に、高いMR比を有するとともに大きな電流密度を供給できる磁気抵抗効果素子および磁気ヘッドを提供することができる。
(第4実施形態)
第4実施形態による磁気記録再生装置について説明する。
上述した第1乃至第3実施形態のいずれかに記載の磁気ヘッドは、例えば、記録再生一体型の磁気ヘッドアセンブリに組み込まれ、磁気記録再生装置に搭載することができる。なお、本実施形態による磁気記録再生装置は、再生機能を有することもできるし、記録機能と再生機能の両方を有することもできる。
図8は、第4実施形態による磁気記録再生装置の構成を例示する模式的斜視図である。図8に示すように、本実施形態による磁気記録装置150は、ロータリーアクチュエータを用いた形式の装置である。同図において、記録用媒体ディスク180は、スピンドルモータ152に装着され、図示しない駆動装置制御部からの制御信号に応答する図示しないモータにより矢印Aの方向に回転する。本実施形態に係る磁気記録再生装置150は、複数の記録用媒体ディスク180を備えたものとしても良い。
記録用媒体ディスク180に格納する情報の記録再生を行うヘッドスライダ153は、薄膜状のサスペンション154の先端に取り付けられている。ここで、ヘッドスライダ153は、例えば、前述した実施形態のいずれかによる磁気ヘッドを、磁気シールドとともに、その先端付近に搭載している。
記録用媒体ディスク180が回転すると、ヘッドスライダ153の媒体対向面(ABS)は、記録用媒体ディスク180の表面から所定の浮上量をもって保持される。なお、ヘッドスライダ153が記録再生用媒体ディスク180と接触するいわゆる「接触走行型」としても良い。
サスペンション154は、図示しない駆動コイルを保持するボビン部などを有するアクチュエータアーム155の一端に接続されている。アクチュエータアーム155の他端には、リニアモータの一種であるボイスコイルモータ156が設けられている。ボイスコイルモータ156は、アクチュエータアーム155のボビン部に巻き上げられた図示しない駆動コイルと、このコイルを挟み込むように対向して配置された永久磁石及び対向ヨークからなる磁気回路とから構成することができる。
アクチュエータアーム155は、軸受部157の上下2箇所に設けられた図示しないボールベアリングによって保持され、ボイスコイルモータ156により回転摺動が自在にできるようになっている。
図9は、本実施形態に係る磁気記録再生装置の一部の構成を例示しており、アクチュエータアーム155から先の磁気ヘッドアセンブリ160をディスク側から眺めた拡大斜視図である。図9に示したように、磁気ヘッドアセンブリ160は、軸受部157と、この軸受部157から延出したヘッドジンバルアセンブリ(以下、HGAと称する)158と、軸受部157からHGAと反対方向に延出しているとともにボイスコイルモータのコイルを支持した支持フレームを有している。HGAは、軸受部157から延出したアクチュエータアーム155と、アクチュエータアーム155から延出したサスペンション154と、を有する。
サスペンション154の先端には、既に説明した第1乃至第3実施形態のいずれかによる磁気ヘッドを具備するヘッドスライダ153が取り付けられている。
すなわち、本実施形態に係る磁気ヘッドアセンブリ160は、第1乃至第3実施形態のいずれかによる磁気ヘッドと、磁気ヘッドを一端に搭載するサスペンション154と、サスペンション154の他端に接続されたアクチュエータアーム155と、を備えている。
サスペンション154は信号の書き込み及び読み取り用のリード線(図示しない)を有し、このリード線とヘッドスライダ153に組み込まれた磁気記録ヘッドの各電極とが電気的に接続されている。また、図示しない電極パッドが、磁気ヘッドアセンブリ160に設けられる。
そして、磁気記録ヘッドを用いて磁気記録媒体への信号の書き込みと読み出しを行う、図示しない信号処理部190が設けられる。信号処理部190は、例えば、図8に示した磁気記録装置150の図面中の背面側に設けられる。信号処理部190の入出力線は、電極パッドに接続され、磁気記録ヘッドと電気的に結合される。
このように、本実施形態に係る磁気記録再生装置150は、磁気記録媒体と、第1乃至第3実施形態のいずれかによる磁気ヘッドと、磁気記録媒体と磁気ヘッドとを離間させ、または、接触させた状態で対峙させながら相対的に移動可能とした可動部(移動制御部)と、磁気ヘッドを磁気記録媒体の所定記録位置に位置合せする位置制御部と、磁気ヘッドを用いて磁気記録媒体への信号の書き込みと読み出しを行う信号処理部と、を備える。すなわち、上記の磁気記録媒体として、記録用媒体ディスク180が用いられる。上記の可動部は、ヘッドスライダ153を含むことができる。また、上記の位置制御部は、磁気ヘッドアセンブリ160を含むことができる。
磁気ディスク180を回転させ、ボイスコイルモータ156にアクチュエータアーム155を回転させてヘッドスライダ153を磁気ディスク180上にロードすると、磁気ヘッドに搭載したヘッドスライダ153の媒体対向面(ABS)が磁気ディスク180の表面から所定の浮上量をもって保持される。この状態で、上述したような原理に基づいて、磁気ディスク180に記録された情報を読み出すことができる。
以上説明したように、第4実施形態によれば、高いMR比を有するとともに大きな電流密度を供給できる磁気記録再生装置を提供することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1、1A、1B 再生部
10、10A、10B 磁気抵抗効果膜(MR膜)
11 下地層
12 磁性層
13 非磁性の中間層
14 磁性層
15 キャップ層
16 反強磁性層
17 磁性層
18 交換結合層
21 磁気シールド
22 磁気シールド
23 サイドシールド
40 磁気記録媒体

Claims (8)

  1. 第1磁性膜と、
    第2磁性膜と、
    前記第1磁性膜と前記第2磁性膜との間に設けられた非磁性の中間膜と、
    を有する磁気抵抗効果膜を備え、
    Aを少なくともFeとMnとを含む合金、Bを少なくともSi、Al、およびGeを含む合金とするとき、前記第1および第2磁性膜の少なくとも一方は、Co100−x(A1.0−y (40at%≦x≦60at%、0.3≦y≦0.7)と表されたホイスラー合金であり、
    前記少なくとも一方の磁性膜は、前記中間膜との界面に近接し膜厚方向に設けられた第1領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率が60%未満であり、前記第1領域に比べて前記界面から遠く膜厚方向に設けられた第2領域におけるFe/(Fe+Mn)の比率が60%以上であるように膜厚方向に組成が変調される磁気抵抗効果素子。
  2. 前記少なくとも一方の磁性膜の前記第2領域においては、前記界面から離れるにつれてFeの濃度が増加する請求項1記載の磁気抵抗効果素子。
  3. 第1磁性膜と、
    第2磁性膜と、
    前記第1磁性膜と前記第2磁性膜との間に設けられた非磁性の中間膜と、
    を有する磁気抵抗効果膜を備え、
    Aを少なくともFeとMnとを含む合金、Bを少なくともSi、Al、およびGeを含む合金とするとき、前記第1および第2磁性膜の少なくとも一方は、Co100−x(A1.0−y (40at%≦x≦60at%、0.3≦y≦0.7)と表されたホイスラー合金であり、
    前記少なくとも一方の磁性膜は、前記中間膜との界面に近接し膜厚方向に設けられた第1領域におけるAl/(Si+Ge+Al)の比率が40%未満であり、前記第1領域に比べて前記界面から遠く膜厚方向に設けられた第2領域におけるAl/(Si+Ge+Al)の比率が40%以上であるように膜厚方向に組成が変調される磁気抵抗効果素子。
  4. 前記少なくとも一方の磁性膜の前記第2領域においては、前記界面から離れるにつれてAlの濃度が増加する請求項2記載の磁気抵抗効果素子。
  5. 対向する第1および第2磁気シールドと、
    前記第1磁気シールドと前記第2磁気シールドとの間に設けられた請求項1乃至3のいずれかに記載の磁気抵抗効果素子と、
    を備えた磁気ヘッド。
  6. 前記第1および第2磁気シールド間に設けられ前記第1および第2磁性膜のうちの他方の磁性膜の磁化を固定する反強磁性膜を更に備えている請求項5記載の磁気ヘッド。
  7. 前記磁気抵抗効果膜は、前記第1磁気シールドから前記第2磁気シールドに向かう方向に沿って延在し、
    前記反強磁性膜は、前記第1および第2磁性膜のうちの他方の磁性膜の延在している部分に近接して設けられる請求項6記載の磁気ヘッド。
  8. 磁気記録媒体と、
    請求項5乃至7のいずれかに記載の磁気ヘッドと、
    前記磁気記録媒体と前記磁気ヘッドとが浮上または接触の状態で対峙しながら相対的に移動するように制御する移動制御部と、
    前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体の所定記録位置に位置するように制御する位置制御部と、
    前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体への書き込み信号および前記磁気記録媒体からの読み出し信号を処理する信号処理部と、
    を備えている磁気記録再生装置。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9305578B1 (en) * 2013-08-01 2016-04-05 Seagate Technology Llc Magnetic element with reduced shield-to-shield spacing
US9653102B1 (en) * 2014-12-19 2017-05-16 Seagate Technology Llc Data reader with pinned front shield
JP2019153769A (ja) * 2018-03-02 2019-09-12 Tdk株式会社 磁気抵抗効果素子

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4483666B2 (ja) * 2005-04-08 2010-06-16 Tdk株式会社 磁気検出素子及びその製造方法
JP4483686B2 (ja) * 2005-04-28 2010-06-16 Tdk株式会社 磁気検出素子
US7499249B2 (en) * 2005-04-28 2009-03-03 Tdk Corporation Spin valve-GMR element in which a non-metal laminate layer is provided as a free magnetic layer and method of manufacturing the same
JP4444241B2 (ja) 2005-10-19 2010-03-31 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ランダムアクセスメモリ、電子カード及び電子装置
JP2012190914A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Tohoku Univ 磁気抵抗効果素子および磁気デバイス
US8582249B2 (en) 2011-04-26 2013-11-12 Seagate Technology Llc Magnetic element with reduced shield-to-shield spacing

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