JP5633021B2 - アライメント方法、アライメント装置及び露光装置 - Google Patents

アライメント方法、アライメント装置及び露光装置 Download PDF

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Description

本発明は、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせするアライメント方法に関し、詳しくは、複雑な図形のパターンに対しても高精度な位置合わせを可能とするアライメント方法、アライメント装置及び露光装置に係るものである。
従来のこの種のアライメント方法は、カラーフィルタ基板の搬送方向と直交方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により、カラーフィルタ基板(被露光体)上に形成された矩形状の複数のピクセルを撮像し、その撮像画像の輝度情報に基づいてカラーフィルタ基板の左端ピクセルの左側縁部の位置を検出し、該左端ピクセルの左側縁部の位置と撮像手段に予め設定された基準位置(ターゲット位置)との間の位置ずれ量を算出し、該位置ずれ量を補正するようにフォトマスクをカラーフィルタ基板の搬送方向と直交方向に移動してフォトマスクとカラーフィルタ基板との位置合わせをするようになっていた(例えば、特許文献1参照)。
特開2008−76709号公報
しかし、このような従来のアライメント方法においては、輝度が暗から明に変化する位置を検出し、該位置を基準にして被露光体のパターンとフォトマスクの開口部との位置合わせをするものであったので、矩形状の単純な図形のパターンに対してはパターンの縁部に設定された基準位置の検出が容易であり位置合わせも容易であったが、例えばTFT基板のようなピクセル内に配線パターンを有するような複雑な図形のパターンや、落射照明によって得られる複雑な線画図形のパターンに対しては、パターンの縁部に設定された基準位置の検出が困難であり、位置合わせも容易でなかった。それ故、被露光体のパターンとフォトマスクの開口部との位置合わせを高精度に行うことが困難であった。
そこで、本発明は、このような問題点に対処し、複雑な図形のパターンに対してもフォトマスクの高精度な位置合わせを可能とするアライメント方法、アライメント装置及び露光装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明によるアライメント方法は、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせするアライメント方法であって、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出する段階と、前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得る段階と、前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得る段階と、前記複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する段階と、前記特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択する段階と、前記選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する段階と、前記位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記フォトマスクを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをする段階と、を実行するものである。
このような構成により、所定のパターンをマトリクス状に備えた被露光体を一方向に搬送しながら、被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して上記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、被露光体が所定距離だけ移動する間に上記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、上記パターンと同形状のパターンにおいて、被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを上記算出された複数のエッジ数データにて被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、上記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定し、該記特定された複数のパターンの位置から撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出し、該位置ずれ量が所定値となるように少なくともフォトマスクを被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動してフォトマスクと被露光体との位置合わせをする。
また、前記複数のパターンの位置を特定した後、前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択する段階に替えて、前記複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算する段階と、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択する段階とを実行し、前記位置ずれ量を算出する段階においては、前記選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出するものである。これにより、複数のパターンの位置を特定した後、該特定された複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する。
さらに、前記輝度変化の位置を検出する段階においては、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、前記複数のエッジ数データを得る段階においては、明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得、前記複数の相関値データを得る段階においては、前記算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する相関値データを求めた後、該相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、前記複数のパターンの位置を特定する段階においては、前記複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定するものである。これにより、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して複数のエッジ数データを得た後、該算出された複数のエッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する。
さらにまた、前記撮像手段は、落射照明により前記被露光体のパターンを撮像するものである。これにより、撮像手段で落射照明により被露光体のパターンを撮像する。
そして、前記被露光体は、配線パターンを形成したTFT基板である。これにより、配線パターンを形成したTFT基板のパターンの位置を検出する。
また、本発明によるアライメント装置は、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせするアライメント装置であって、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する画像処理部と、前記特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する演算部と、前記位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記フォトマスクを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをするアライメント機構と、を備えたものである。
このような構成により、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送される被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を画像処理部で逐次処理して上記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、被露光体が所定距離だけ移動する間に上記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、上記パターンと同形状のパターンにおいて、被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを上記算出された複数のエッジ数データにて被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、上記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定し、演算部で特定された複数のパターンの位置から撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出し、アライメント機構により上記位置ずれ量が所定値となるように少なくともフォトマスクを被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動してフォトマスクと被露光体との位置合わせをする。
さらに、前記演算部は、前記特定された複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出するものである。これにより、演算部で、特定された複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する。
そして、前記画像処理部は、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定するものである。これにより、画像処理部で、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する。
また、本発明による露光装置は、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせして露光する露光装置であって、紫外線を放射する光源と、前記搬送中の被露光体の面に近接対向させて前記フォトマスクを保持するマスクステージと、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有し、前記フォトマスクによる露光位置の搬送方向手前側の位置を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定し、該特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出し、該位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記マスクステージを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをするアライメント装置と、を備えたものである。
このような構成により、所定のパターンをマトリクス状に備えた被露光体を一方向に搬送しながら、被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像をアライメント装置で逐次処理して上記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、上記パターンと同形状のパターンにおいて、被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを上記算出された複数のエッジ数データにて被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、上記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定し、該特定された複数のパターン位置から撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出し、少なくとも、搬送中の被露光体の面に近接対向させてフォトマスクを保持するマスクステージを上記位置ずれ量が所定値となるように被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動してフォトマスクと被露光体との位置合わせをし、光源から紫外線を放射して被露光体を露光する。
さらに、前記アライメント装置は、前記複数のパターンの位置を特定した後、該複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出するものである。これにより、アライメント装置で複数のパターンの位置を特定した後、該複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する。
そして、前記アライメント装置は、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定するものである。これにより、アライメント装置で、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する。
請求項1又は6に係る発明によれば、被露光体に形成されたパターンの図形が複雑であったり、また落射照明によって得られるようにパターンが複雑な線画図形であったとしても移動中の被露光体の撮像画像を逐次処理して被露光体の搬送方向と交差する方向に並んだ複数のパターンの位置を容易に検出することができる。したがって、検出したパターンの位置を基準にして、搬送方向と交差する方向に振れながら搬送される被露光体の動きにフォトマスクを追従させることができ、被露光体のパターンに対してフォトマスクの開口部を高精度に位置合わせすることができる。また、二次元画像のパターンマッチング法に比べて回路規模を小さくすることができ、且つ画像処理を高速で行なうことができる。したがって、露光工程のタクトを短縮することができる。
また、請求項2、7又は10に係る発明によれば、特定された複数のパターンの近接ペアの中点位置を検出し、該中点位置を基準に被露光体とフォトマスクとの位置合わせをすることができる。
さらに、請求項3、8又は11に係る発明によれば、パターンの位置の特定をより高精度に行なうことができる。したがって、被露光体とフォトマスクのアライメント精度をより向上することができる。
また、請求項4に係る発明によれば、不透明な基板からなる被露光体のパターンの位置検出を容易に行なうことができる。
さらに、請求項5に係る発明によれば、ピクセル内に配線パターンを有するようなTFT基板に対してもフォトマスクの開口部を高精度に位置合わせすることができる。
そして、請求項9に係る発明によれば、被露光体に形成されたパターンの図形が複雑であっても、移動中の被露光体の撮像画像を逐次処理して被露光体の搬送方向と交差する方向に並んだ複数のパターンの位置を容易に検出することができる。したがって、検出したパターンの位置を基準にしてフォトマスクを搬送方向と交差する方向に振れながら搬送される被露光体の動きに追従させることができ、被露光体のパターンに対してフォトマスクの開口部を高精度に位置合わせして露光することができる。また、二次元画像のパターンマッチング法に比べて回路規模を小さくすることができ、且つ画像処理を高速で行なうことができる。したがって、露光工程のタクトを短縮することができる。
本発明による露光装置の実施形態を示す正面図である。 上記実施形態において使用するカラーフィルタ基板を示す平面図である。 上記実施形態において使用するフォトマスクを示す平面図であり、マスクパターンと撮像手段との位置関係を示す説明図である。 本発明によるアライメント装置の実施形態を示すブロック図である。 本発明によるアライメント方法を示すフォローチャートである。 本発明によるアライメント方法を示す説明図であり、(a)はカラーフィルタ基板の落射照明画像を示し、(b)は(a)のカラーフィルタ基板においてピクセルの搬送方向に平行な縁部の検出結果を示し、(c)は上段のピクセル列に対応するエッジ数データを示し、(d)は上段のピクセルに対応する単位エッジ数データからなるテンプレートを示し、(e)は(d)を(c)に対して相関比較して得られた相関値データを示し、(f)は(e)の相関値データにおける近接ペアを平均して得られる平均化相関値データを示している。 上記カラーフィルタ基板上への露光例を示す説明図である。
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明による露光装置の実施形態を示す正面図である。この露光装置は、所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせして露光するもので、搬送手段1と、露光光学系2と、マスクステージ3と、撮像手段4と、照明用光源5と、アライメント装置6とを備えて構成されている。
なお、ここでは、被露光体が、図2に示すように例えばブラックマトリクスの矩形状のピクセル7(パターン)がマトリクス状に形成されたカラーフィルタ基板8であり、同図に示す矢印A方向に搬送される場合について説明する。
上記搬送手段1は、上面にカラーフィルタ基板8を載置して図1において矢印A方向に搬送するものであり、上面に気体を噴出する多数の噴出孔と気体を吸引する多数の吸引孔とを有した複数の単位ステージ9をカラーフィルタ基板8の搬送方向(以下、「基板搬送方向」という)に並設し、気体の噴出と吸引とのバランスによりカラーフィルタ基板8を複数の単位ステージ9上に所定量だけ浮かせた状態で、搬送ローラ10によりカラーフィルタ基板8の両端縁部を支持して搬送するようになっている。
上記搬送手段1の上方には露光光学系2が設けられている。この露光光学系2は、後述のフォトマスク11に均一な光源光L1を照射するものであり、露光用光源12と、フォトインテグレータ13と、コンデンサーレンズ14とを光路の上流から下流に向かってこの順に備えている。
ここで、露光用光源12は、紫外線を放射するものであり、レーザ発振器やキセノンフラッシュランプ等である。また、フォトインテグレータ13は、露光用光源12から放射された光源光L1の横断面内の輝度分布を均一にするものであり、フライアイレンズやロッドレンズ又はライトパイプ等である。そして、コンデンサーレンズ14は、光源光L1を平行光にしてフォトマスク11に照射させるものである。
上記搬送手段1と露光光学系2との間には、マスクステージ3が設けられている。このマスクステージ3は、搬送中のカラーフィルタ基板8の面に平行であって、該面に近接対向させてフォトマスク11を保持するものであり、中央部に開口15を形成してフォトマスク11の縁部を保持するようになっている。
上記フォトマスク11は、図3に示すように、上記ピクセル7と略同形状の開口部(以下、「マスクパターン16」という)を矢印A(基板搬送方向)に平行な中心線と所定の位置関係を有し、且つ上記ピクセル7の図2において矢印Aと交差(直交)する方向の配列ピッチの3倍のピッチで複数並べて形成したものである。また、マスクパターン16の列の側方には、所定距離はなれてマスクパターン16の列に平行に覗き窓17が形成されており、該覗き窓17を透して後述の撮像手段4によりカラーフィルタ基板8表面の撮像が可能になっている。そして、図3に示すように、マスクパターン16の列側が矢印Aで示す基板搬送方向の先頭側となるようにしてマスクステージ3に保持されている。
より具体的には、フォトマスク11は、透明なガラス基板18の一面にクロム(Cr)の遮光膜19を形成し、該遮光膜19に上記マスクパターン16及び覗き窓17を形成したものであり、ガラス基板18の他面には、マスクパターン16の列に対応して反射防止膜を形成し、覗き窓17に対応して可視光を透過し紫外線を反射するフィルタの膜が形成されている。そして、図1に示すように、遮光膜19を形成した面を下側にしてマスクステージ3に保持されている。
上記搬送手段1の上方には、撮像手段4が設けられている。この撮像手段4は、フォトマスク11による露光位置の基板搬送方向手前側に所定距離はなれた位置においてカラーフィルタ基板8に形成された複数のピクセル7を撮像するものであり、図3に示すように、基板搬送方向(矢印A方向)と交差する方向に複数の受光素子20を一直線状に並べて有するラインCCD(センサー)である。また、ライン状の受光部の所定位置(図3においては中心位置)には、カラーフィルタ基板8とフォトマスク11の位置合わせの目標となるターゲット位置Tが予め設定されている。そして、本実施形態においては、撮像手段4は、このターゲット位置Tを、図3に示すように矢印Aで示す基板搬送方向に平行なフォトマスク11の中心線に合致させて配設されている。
上記搬送手段1から撮像手段4に向かう光路がハーフミラー27により分岐された光路上には、照明用光源5が設けられている。この照明用光源5は、フォトマスク11の覗き窓17を通して照明光L2をカラーフィルタ基板8に照射し、カラーフィルタ基板8における反射光により撮像手段4がカラーフィルタ基板8のピクセル7を撮像することができるようにするものであり、可視光を主に放射するハロゲンランプ等である。
上記マスクステージ3及び撮像手段4を一体的に、カラーフィルタ基板8の面に平行な面内にて基板搬送方向と交差する方向に移動可能にアライメント装置6が設けられている。このアライメント装置6は、撮像手段4により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して、撮像手段4の受光素子20の並び方向における明から暗及び暗から明へ変化する輝度変化の位置を検出し、カラーフィルタ基板8が所定距離だけ移動する間に受光素子20の並び方向における同じ位置で検出される上記輝度変化の回数を基板搬送方向に積算し、被露光体の搬送方向と交差する方向に、明から暗及び暗から明への輝度変化に対応する複数のエッジ数データ(図6(c)参照)を得、カラーフィルタ基板8のピクセル7と同形状のパターンにおいて、上記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレート26(同図(d)参照)を上記算出された複数のエッジ数データにて受光素子20の並び方向の一方端から他方端に向かって移動しながら上記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、上記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて明から暗への輝度変化に対応する各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の第1の相関値データ(同図(e)の実線を参照)を求め、同時に、暗から明への輝度変化に対応する各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の第2の相関値データ(同図(e)の破線を参照)を求めた後、上記第1及び第2の相関値データにて近接ペアを平均して複数の平均化相関値データ(同図(f)参照)を得、さらに該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のピクセル7の位置を特定し、該特定された複数のピクセル7の近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から撮像手段4に予め設定されたターゲット位置Tに近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段4のターゲット位置Tとの位置ずれ量を算出し、該位置ずれ量が所定値となるようにフォトマスク11を基板搬送方向と交差する方向に移動してフォトマスク11とカラーフィルタ基板8との位置合わせ(アライメント)をするものであり、図4に示すように、アライメント機構21と、位置ずれ量検出部22と、アライメント機構駆動コントローラ23とを備えてなる。なお、本実施形態においては、上記アライメントによって、フォトマスク11のマスクパターン16の基板搬送方向(矢印A方向)に平行な両端縁部が隣接するピクセル7間の中点位置に位置付けられることになる。
ここで、上記アライメント機構21は、マスクステージ3と撮像手段4とを一体的に、カラーフィルタ基板8の面に平行な面内にて基板搬送方向と交差する方向に移動させるものであり、例えばモータとスライドステージ等からなる。また、上記位置ずれ量検出部22は、撮像手段4により撮像された画像を処理してフォトマスク11とカラーフィルタ基板8との間の位置ずれ量を演算するものであり、図4に示すように、画像処理部24とCPUからなる演算部25とで構成される。この場合、画像処理部24は、撮像手段4により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して、撮像手段4の受光素子20の並び方向における明から暗及び暗から明へ変化する輝度変化の位置を検出し、カラーフィルタ基板8が所定距離だけ移動する間に受光素子20の並び方向における同じ位置で検出される上記輝度変化の回数を基板搬送方向に積算して明から暗及び暗から明への輝度変化に対応する各エッジ数データを得(これは、撮像手段4による一ラインのデータ取り込み中に得られるエッジ数を積算したものではない)、カラーフィルタ基板8のピクセル7と同形状のパターンに対して単位エッジ数データが予め設定されたテンプレート26を上記算出されたエッジ数データにて受光素子20の並び方向の一方端から他方端に向かって移動しながら上記算出されたエッジ数データに対して相関演算を行って明から暗への輝度変化に対応する第1の相関値データを求め、同時に、暗から明への輝度変化に対応する第2の相関値データを求めた後、上記第1及び第2の相関値データにて近接ペアを平均して平均化相関値データを得、さらに該平均化相関値データにて所定の閾値を超えた相関値データから複数のピクセル7の位置を特定する機能を有する。また、演算部25は、画像処理部24で特定された複数のピクセル7の近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から撮像手段4に予め設定されたターゲット位置Tに近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段4のターゲット位置Tとの位置ずれ量を算出する機能を有し、ソフトウエアにより演算処理が実行される。そして、アライメント機構駆動コントローラ23は、演算部25で算出された上記位置ずれ量が所定値となるようにマスクステージ3と撮像手段4とを一体的に移動させるようにアライメント機構21のモータを駆動制御するものである。
次に、このように構成された露光装置の動作、及び本発明のアライメント方法について図5のフローチャートを参照して説明する。
先ず、所定のカラーレジストを塗布したカラーフィルタ基板8が搬送手段1上の所定位置に位置決めして載置され、図1に示す矢印A方向に一定速度で搬送される。
そして、カラーフィルタ基板8の基板搬送方向先頭側が撮像手段4の撮像位置に達すると、撮像手段4による撮像が開始される。このとき、照明用光源5の照明光L2がフォトマスク11の覗き窓17を通してカラーフィルタ基板8に照射され、カラーフィルタ基板8で反射した照明光L2が撮像手段4で受光される。これにより、カラーフィルタ基板8に形成された複数のピクセル7の基板搬送方向(矢印A)と交差する方向の一次元画像が撮像手段4により撮像される。このような撮像手段4による撮像は、受光素子20の基板搬送方向(図3に示す矢印A方向)の幅と略等しい距離だけカラーフィルタ基板8が移動する毎に実行される。なお、上記のような落射照明により撮影された画像は、図6(a)に示すようにピクセル7の縁部が黒く縁取られた線画図形となる。
ここで、先ず、ステップS1においては、撮像手段4により所定の時間間隔で撮像された画像は、画像処理部24で逐次処理され、基板搬送方向と交差する方向にてカラーフィルタ基板8のピクセル7の明から暗へ輝度変化するエッジ(図6(b)の実線を参照)及び暗から明へ輝度変化するエッジ(同図(b)の破線を参照)が夫々検出される。
ステップS2においては、カラーフィルタ基板8がピクセル7の基板搬送方向の配列ピッチと同じ距離だけ移動する間に撮像手段4の受光素子20の並び方向における同じ位置で検出される明から暗へ輝度変化するエッジの検出回数を基板搬送方向に積算して被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得る(図6(c)の実線を参照)と共に、暗から明へ輝度変化するエッジの検出回数を基板搬送方向に積算して被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得る(図6(c)の破線を参照)。
ステップS3においては、カラーフィルタ基板8のピクセル7と同形状のパターンにおいて、上記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレート26(図6(d)参照)を上記算出された複数のエッジ数データにて受光素子20の並び方向の一方端から他方端に向かって移動しながら(同図(c)の矢印B参照)上記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、上記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて明から暗への輝度変化に対応する各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の第1の相関値データ(同図(e)の実線を参照)を求め、同時に、暗から明への輝度変化に対応する各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の第2の相関値データ(同図(e)の破線を参照)を求める。このとき、複数の第1の相関値データの位置に基づいて同図(c)の矢印B方向における複数の第1のピクセル位置を特定することができ、複数の第2の相関値データの位置に基づいて複数の第2のピクセル位置を特定することができる。ここで、テンプレート26の中心座標は、同図(d)の上段に示すピクセル7の中心に合致させて設定されている。したがって、上記第1の相関値データと第2の相関値データとは、本来、互いに合致して各ピクセル7の中心位置で現れる。しかしながら、実際には、撮像手段4の受光素子20の検出精度に起因して第1の相関値データと第2の相関値データとは、同図(e)に示すように合致しない場合がある。そこで、本実施形態においては、各ピクセル7の位置の特定精度をより向上するために、上記第1及び第2の相関値データにて近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得る(同図(f)参照)。
ステップS4においては、ステップS3において得られた複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のピクセル7の位置を特定する(図6(f)参照)。
ステップS5においては、ステップS4で特定された複数のピクセル7の近接ペアの中点位置を演算する。この場合、該中点位置は、隣接するピクセル7間のブラックマトリクスの中心位置に相当する。
ステップS6においては、ステップS5で算出された複数の中点位置のうちから撮像手段4に設定されたターゲット位置Tに近接した中点位置を抽出する。
ステップS7においては、ステップS6で抽出された中点位置と撮像手段4に設定されたターゲット位置Tとの間の位置ずれ量を算出する。
ステップS8においては、アライメント機構駆動コントローラ23によりアライメント機構21のモータを駆動制御して、ステップS7で算出された位置ずれ量が所定値、例えばゼロとなるようにマスクステージ3を撮像手段4と一体的に基板搬送方向と交差する方向に移動してフォトマスク11のマスクパターン16とカラーフィルタ基板8のピクセル7との位置合わせを行う。
そして、上記ステップS1〜S8は、カラーフィルタ基板8の移動中も常時実行され、移動中のカラーフィルタ基板8に対してフォトマスク11を位置合わせしながら露光が行われる。したがって、カラーフィルタ基板8が左右に振れながら搬送されても、カラーフィルタ基板8の動きにフォトマスク11を自動追従させて露光することができ、重ね露光精度を向上することができる。
この場合、上記ステップS4において、所定の閾値を超えた平均化相関値データが得られると、即ちピクセル7が検出されると直ちに、搬送手段1に備える図示省略の位置センサーの出力に基づいてカラーフィルタ基板8の移動距離の演算を開始し、カラーフィルタ基板8が所定距離だけ移動して基板搬送方向先頭側のピクセル7がフォトマスク11のマスクパターン16の真下に達すると露光用光源12を所定時間だけ点灯するようにするとよい。これにより、光源光L1をフォトマスク11に所定時間だけ照射してカラーフィルタ基板8のピクセル7上のカラーレジストを露光することができる。
以後、カラーフィルタ基板8が図2に示すピクセル7の基板搬送方向(矢印A方向)の配列ピッチに等しい距離だけ移動する毎に露光用光源12を所定時間だけ点灯させて露光を実行する。又は、各ピクセル7の検出時を基準に光源光L1の照射タイミングを制御してもよい。これにより、図7に斜線を付して示すようにカラーフィルタ基板8の所定のピクセル7上に対応色のカラーレジストを露光形成することができる。
なお、上記実施形態においては、第1及び第2の相関値データにて近接ペアを平均して平均化相関値データを得、さらに該平均化相関値データにて所定の閾値を超えた平均化相関値データから複数のピクセル7の位置を特定する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、第1又は第2の相関値データにて所定の閾値を超えた相関値データから複数のピクセル7の位置を特定してもよい。
また、上記実施形態においては、位置が特定された複数のピクセル7にて複数の近接ペアの中点位置を演算し、該複数の近接ペアの中点位置から撮像手段4に予め設定されたターゲット位置Tに近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と撮像手段4のターゲット位置Tとの位置ずれ量を算出する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、特定された複数のピクセル7の位置から撮像手段4に予め設定されたターゲット位置Tに近接したピクセル7の位置を選択し、該選択されたピクセル7の位置と撮像手段4のターゲット位置Tとの位置ずれ量を算出してもよい。
さらに、上記実施形態においては、アライメント装置6がマスクステージ3を撮像手段4と一体的に基板搬送方向と交差する方向に移動する場合について説明したが、本発明はこれに限られず、マスクステージ3のみを移動してもよい。この場合、マスクステージ3の移動距離をリニアスケール等により計測可能にしておけば、カラーフィルタ基板8の上記選択された中点位置と撮像手段4のターゲット位置Tとの位置ずれ量に等しい距離だけマスクステージ3を移動すればよい。又は、アライメント装置6は、カラーフィルタ基板8を基板搬送方向と交差する方向に移動するものであってもよい。
さらにまた、上記実施形態においては、被露光体が表面に比較的単純な図形のパターン(ピクセル7)を形成したカラーフィルタ基板8である場合について説明したが、本発明はこれに限られず、被露光体は、如何なる図形のパターンを形成したものであってもよく、例えばピクセル7内に複雑な配線パターンを有するTFT基板であってもよい。そして、特に、このような複雑な図形のパターンを形成した被露光体において本発明の特徴が効果的に発揮される。
そして、上記実施形態においては、照明が落射照明である場合について説明したが、本発明はこれに限られず、照明は被露光体を透過する透過照明であってもよい。
1…搬送手段
3…マスクステージ
4…撮像手段
6…アライメント装置
7…ピクセル(パターン)
8…カラーフィルタ基板(被露光体)
11…フォトマスク
12…露光用光源(光源)
20…受光素子
21…アライメント機構
24…画像処理部
25…演算部
26…テンプレート

Claims (11)

  1. 所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせするアライメント方法であって、
    前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出する段階と、
    前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得る段階と、
    前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得る段階と、
    前記複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する段階と、
    前記特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択する段階と、
    前記選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する段階と、
    前記位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記フォトマスクを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをする段階と、
    を実行することを特徴とするアライメント方法。
  2. 前記複数のパターンの位置を特定した後、前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択する段階に替えて、前記複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算する段階と、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択する段階とを実行し、
    前記位置ずれ量を算出する段階においては、前記選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する、
    ことを特徴とする請求項1記載のアライメント方法。
  3. 前記輝度変化の位置を検出する段階においては、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、
    前記複数のエッジ数データを得る段階においては、明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得、
    前記複数の相関値データを得る段階においては、前記算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する相関値データを求めた後、該相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、
    前記複数のパターンの位置を特定する段階においては、前記複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する、
    ことを特徴とする請求項1又は2記載のアライメント方法。
  4. 前記撮像手段は、落射照明により前記被露光体のパターンを撮像することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のアライメント方法。
  5. 前記被露光体は、配線パターンを形成したTFT基板であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のアライメント方法。
  6. 所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせするアライメント装置であって、
    前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有する撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定する画像処理部と、
    前記特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出する演算部と、
    前記位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記フォトマスクを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをするアライメント機構と、
    を備えたことを特徴とするアライメント装置。
  7. 前記演算部は、前記特定された複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出することを特徴とする請求項6記載のアライメント装置。
  8. 前記画像処理部は、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定することを特徴とする請求項6又は7記載のアライメント装置。
  9. 所定のパターンをマトリクス状に備え一方向に搬送中の被露光体に対してフォトマスクを位置合わせして露光する露光装置であって、
    紫外線を放射する光源と、
    前記搬送中の被露光体の面に近接対向させて前記フォトマスクを保持するマスクステージと、
    前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数の受光素子を一直線状に並べて有し、前記フォトマスクによる露光位置の搬送方向手前側の位置を撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段により所定の時間間隔で撮像された複数の画像を逐次処理して前記受光素子の並び方向における輝度変化の位置を検出し、前記被露光体が所定距離だけ移動する間に前記受光素子の並び方向における同じ位置で検出される前記輝度変化の回数を被露光体の搬送方向に積算し、前記被露光体の搬送方向と交差する方向に複数のエッジ数データを得、前記パターンと同形状のパターンにおいて、前記被露光体の搬送方向に平行なエッジ対応して一組の単位エッジ数データが予め設定されたテンプレートを前記算出された複数のエッジ数データにて前記被露光体の搬送方向と交差する方向の一方端から他方端に向かって移動しながら前記算出された複数のエッジ数データとの類似度を求める相関演算を行い、前記テンプレートに合致した複数組のエッジ数データにて各組のエッジ数データの同方向の中心位置に類似度を示す複数の相関値データを得、該複数の相関値データにて所定の閾値を超えた複数の相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定し、該特定された複数のパターンの位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接したパターンの位置を選択し、該選択されたパターンの位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出し、該位置ずれ量が所定値となるように少なくとも前記マスクステージを前記被露光体の搬送方向と交差する方向に相対移動して前記フォトマスクと前記被露光体との位置合わせをするアライメント装置と、
    を備えたことを特徴とする露光装置。
  10. 前記アライメント装置は、前記複数のパターンの位置を特定した後、該複数のパターンの近接ペアの中点位置を演算し、該複数の中点位置から前記撮像手段に予め設定されたターゲット位置に近接した中点位置を選択し、該選択された中点位置と前記撮像手段のターゲット位置との位置ずれ量を算出することを特徴とする請求項9記載の露光装置。
  11. 前記アライメント装置は、明から暗及び暗から明への輝度変化の位置を検出し、該明から暗及び暗から明への輝度変化の回数を夫々積算して各エッジ数データを得た後、該算出された各エッジ数データに対して相関演算して明から暗への輝度変化に対応する複数の相関値データ及び暗から明への輝度変化に対応する複数の相関値データを求め、さらに、該複数の相関値データにおける近接ペアを平均して複数の平均化相関値データを得、その後、該複数の平均化相関値データにて所定の閾値を超えた複数の平均化相関値データの位置から複数のパターンの位置を特定することを特徴とする請求項9又は10記載の露光装置。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5261847B2 (ja) * 2009-06-16 2013-08-14 株式会社ブイ・テクノロジー アライメント方法、アライメント装置及び露光装置
JP5633021B2 (ja) 2009-06-29 2014-12-03 株式会社ブイ・テクノロジー アライメント方法、アライメント装置及び露光装置
JP6006552B2 (ja) * 2012-07-09 2016-10-12 株式会社Screenホールディングス 位置予測装置、位置予測方法、および、基板処理装置
TWI475339B (zh) * 2012-12-22 2015-03-01 C Sun Mfg Ltd 待曝光基材及底片的對位方法及系統
JP2019096757A (ja) * 2017-11-24 2019-06-20 東京エレクトロン株式会社 測定器のずれ量を求める方法、及び、処理システムにおける搬送位置データを較正する方法
JP6940873B2 (ja) * 2017-12-08 2021-09-29 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置および露光方法
CN111354670B (zh) * 2018-12-20 2023-05-26 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司 对准方法、对准系统及计算机可读存储介质
CN114944127A (zh) * 2022-06-30 2022-08-26 昆山国显光电有限公司 显示面板的对位方法、显示面板的伽马调试方法及装置
CN116996749B (zh) * 2023-09-27 2023-12-15 北京仁光科技有限公司 多监控画面下的远程目标对象跟踪系统和方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0480762A (ja) * 1990-07-23 1992-03-13 Canon Inc 位置検出装置及びその検出方法
JP4401834B2 (ja) * 2004-03-23 2010-01-20 株式会社アドテックエンジニアリング 露光装置及び位置合わせ方法
TWI451475B (zh) * 2004-08-19 2014-09-01 尼康股份有限公司 An alignment information display method and a recording medium having a program, an alignment method, an exposure method, a component manufacturing method, a display system, a display device, a measurement device, and a measurement method
JP4168344B2 (ja) * 2004-09-27 2008-10-22 セイコーエプソン株式会社 露光マスクの位置合わせ方法、及び薄膜素子基板の製造方法
TW200923418A (en) * 2005-01-21 2009-06-01 Nikon Corp Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device
JP4754924B2 (ja) * 2005-10-07 2011-08-24 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP5145530B2 (ja) * 2005-10-07 2013-02-20 株式会社ブイ・テクノロジー フォトマスク及びそれを用いた露光方法
JP5382899B2 (ja) * 2005-10-25 2014-01-08 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP5133239B2 (ja) * 2006-04-05 2013-01-30 シャープ株式会社 露光方法および露光装置
JP4764237B2 (ja) * 2006-04-11 2011-08-31 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP2008076709A (ja) 2006-09-21 2008-04-03 V Technology Co Ltd 露光装置
JP4971835B2 (ja) * 2007-03-02 2012-07-11 株式会社ブイ・テクノロジー 露光方法及び露光装置
JP4874876B2 (ja) * 2007-06-15 2012-02-15 Nskテクノロジー株式会社 近接スキャン露光装置及びその露光方法
JP5235061B2 (ja) * 2007-08-30 2013-07-10 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP5235062B2 (ja) * 2007-08-31 2013-07-10 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
JP5633021B2 (ja) 2009-06-29 2014-12-03 株式会社ブイ・テクノロジー アライメント方法、アライメント装置及び露光装置

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