JP5582436B2 - 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 - Google Patents
渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5582436B2 JP5582436B2 JP2011071240A JP2011071240A JP5582436B2 JP 5582436 B2 JP5582436 B2 JP 5582436B2 JP 2011071240 A JP2011071240 A JP 2011071240A JP 2011071240 A JP2011071240 A JP 2011071240A JP 5582436 B2 JP5582436 B2 JP 5582436B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eddy current
- current flaw
- flaw detection
- detection probe
- electromagnetic wave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
渦流探傷プローブ100は、基部101を備えている。基部101は、ステンレス鋼を図示上下方向に延びる棒状に形成した部品であり、胴部102とフランジ部104とで構成されている。胴部102は、図示しない貫通孔を有した丸棒状に形成された部分であり、胴部102の側面中央部に光ファイバケーブル91を接続するための光ファイバ接続部102aが形成されている。また、この胴部102における図示上側端部には、この渦流探傷プローブ100を保持プレート92に取り付けるための雄ネジ部103aが形成されるとともに、同雄ネジ部103aにおける図示上側端部に三芯ケーブル93を接続するためのケーブル接続部103bが形成されている。保持プレート92は、被検査対象物WKの成形欠陥を検査する際に渦流探傷プローブ100を保持する板状の部材である。この保持プレート92は、図示しない変位機構によって被測定対象物WKに対して3次元方向(上下左右前後方向)に変位するように支持されている。
この渦流探傷プローブ100は、光ファイバケーブル91および三芯ケーブル92を介して渦流探傷装置200に接続されている。渦流探傷プローブ200は、被検査対象物WKにおけるネジ穴THの成形欠陥を検出するために渦流探傷プローブ100の作動を制御する制御装置である。この渦流探傷装置200は、発振回路201を備えている。発振回路201は、所定の周波数(例えば、20〜160Hz)の交流信号を位相調整回路202および電流増幅回路203にそれぞれ発振する回路である。
次に、上記のように構成した渦流探傷プローブ100および渦流探傷装置200の作動について説明する。まず、作業者は、渦流探傷プローブ100を保持プレート92に保持させるとともに、光ファイバケーブル91および三芯ケーブル93を光ファイバ接続部102aおよびケーブル接続部103bにそれぞれ接続する。次いで、作業者は、渦流探傷装置200における入力装置209aを操作することにより、渦流探傷装置200の電源をONにする。
91…光ファイバケーブル、91…保持プレート、92…三芯ケーブル、
100…渦流探傷プローブ、101…基部、102…胴部、102a…光ファイバ接続部、103a…雄ネジ部、103b…ケーブル接続部、104…フランジ部、105…光ファイバ、106…検出部、107…磁芯、108a,108b…コイル、109…ケーシング、110…熱線吸収層、
200…渦流探傷装置、201…発振回路、202…位相調整回路、203…電流増幅回路、204…出力トランス、205…ブリッジ回路、206…交流増幅回路、207…位相検波回路、208…ローパスフィルタ、209…制御部、209a…入力装置、209b…表示装置、210…判定回路、211…光源部、212…筐体、213…外気温センサ。
Claims (6)
- 被検査対象物に形成された穴の成形欠陥を前記被検査対象物に誘起した渦電流の変化を用いて検出するための渦流探傷プローブであって、
前記穴内に挿入可能な外径に形成されて前記渦電流を誘起するとともに同渦電流の変化を検出する少なくとも1つのコイルを有した検出部と、
前記検出部の長手方向における一方の端部側に同検出部から張り出すフランジ部を有する基部と、
前記フランジ部に設けられて前記一方の端部側から前記コイルを加熱するための電磁波を前記検出部の長手方向に沿って出射する電磁波出射部とを備えることを特徴とする渦流探傷プローブ。
- 請求項1に記載した渦流探傷プローブにおいて、
前記検出部は、前記コイルを覆うケーシングを備えることを特徴とする渦流探傷プローブ。 - 請求項1または請求項2に記載した渦流探傷プローブにおいて、
前記検出部は、外側表面に熱線吸収層を備えることを特徴とする渦流探傷プローブ。 - 請求項1ないし請求項3のうちのいずれか1つに記載した渦流探傷プローブにおいて、
前記電磁波出射部は、前記検出部に沿ってまたは向って前記電磁波を出射する光ファイバを備えることを特徴とする渦流探傷プローブ。 - 被検査対象の成形欠陥を前記被検査対象物に誘起した渦電流の変化を用いて検出する渦流探傷装置であって、
前記請求項1ないし前記請求項4のうちのいずれか1つに記載した渦流探傷プローブと、
前記渦流探傷プローブに電磁波を供給する電磁波供給手段とを備えることを特徴とする渦流探傷装置。 - 請求項5に記載した渦流探傷装置において、
前記電磁波供給手段は、
前記渦流探傷プローブの作動を制御する制御部と同一筐体内に収められるハロゲンランプと、
前記ハロゲンランプから出射された電磁波を前記渦流探傷プローブに導く光ファイバとを備えることを特徴とする渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011071240A JP5582436B2 (ja) | 2011-03-28 | 2011-03-28 | 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011071240A JP5582436B2 (ja) | 2011-03-28 | 2011-03-28 | 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012202984A JP2012202984A (ja) | 2012-10-22 |
JP5582436B2 true JP5582436B2 (ja) | 2014-09-03 |
Family
ID=47184126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011071240A Expired - Fee Related JP5582436B2 (ja) | 2011-03-28 | 2011-03-28 | 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5582436B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016003045A1 (de) | 2015-03-18 | 2016-09-22 | Fanuc Corporation | Numerische Steuerungsvorrichtung zum Prüfen von Schraubenlöchern |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103761995A (zh) * | 2014-01-29 | 2014-04-30 | 清华大学 | 具有自诊断功能的高温气冷堆外装式过球检测方法及系统 |
CN106324086B (zh) * | 2016-09-29 | 2023-04-07 | 爱德森(厦门)电子有限公司 | 一种双层同轴螺孔检测方法 |
CN117607248B (zh) * | 2024-01-23 | 2024-04-02 | 电子科技大学 | 一种基于数字锁相放大器的金属缺陷检测成像方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3939403A (en) * | 1974-04-11 | 1976-02-17 | Stassart Marie Claire | Device for maintaining constant the temperature of a coil fed by an A.C. current source |
JPS58180471U (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-02 | 海上電機株式会社 | 雪の付着を防止した超音波風向風速計 |
JPH03113167U (ja) * | 1990-03-02 | 1991-11-19 | ||
JPH0483470U (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-21 | ||
JPH11352109A (ja) * | 1998-06-08 | 1999-12-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流検査装置及び渦流検査方法 |
JP5233040B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2013-07-10 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 固体nmr用masプローブ装置 |
-
2011
- 2011-03-28 JP JP2011071240A patent/JP5582436B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016003045A1 (de) | 2015-03-18 | 2016-09-22 | Fanuc Corporation | Numerische Steuerungsvorrichtung zum Prüfen von Schraubenlöchern |
US10061291B2 (en) | 2015-03-18 | 2018-08-28 | Fanuc Corporation | Numerical control device inspecting screw holes |
DE102016003045B4 (de) * | 2015-03-18 | 2021-01-07 | Fanuc Corporation | Numerische Steuerungsvorrichtung zum Prüfen von Schraubenlöchern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012202984A (ja) | 2012-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5582436B2 (ja) | 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 | |
JP5666687B2 (ja) | 光ポンピング磁力計、脳磁計及びmri装置 | |
JP6474343B2 (ja) | 渦電流探傷検査装置のプローブ及び渦電流探傷検査装置 | |
JP6289732B2 (ja) | ロープ損傷診断検査装置およびロープ損傷診断検査方法 | |
Kuhn et al. | A comparison between thermosonics and thermography for delamination detection in polymer matrix laminates | |
US10197516B2 (en) | Non-contact quality control of fiber composites | |
JP5203342B2 (ja) | 渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置 | |
Abidin et al. | Advantages and applications of eddy current thermography testing for comprehensive and reliable defect assessment | |
JP2823583B2 (ja) | 原子吸収スペクトロメータ | |
JP5607192B2 (ja) | 渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置 | |
JP2004264030A (ja) | ビーム照射加熱抵抗変化測定装置 | |
RU2550760C1 (ru) | Многонаправленное электромагнитное ярмо для обследования каналов | |
JPH0791948A (ja) | 非接触式膜厚測定器 | |
US3786308A (en) | Temperature stabilized spectral source | |
JP5261284B2 (ja) | 磁気光学スペクトル測定装置及び磁気光学スペクトルの測定方法 | |
US3976936A (en) | Non-destructive metal inspection apparatus using a sharp-pointed pin and coil for producing eddy currents in the inspected article | |
JP2823584B2 (ja) | 原子吸収分光計用電磁石 | |
JP2007212341A (ja) | 抵抗測定装置および抵抗測定方法 | |
JP6263165B2 (ja) | 金属の検出装置 | |
JP2012112868A (ja) | 内部欠陥計測方法及び内部欠陥計測装置 | |
KR101487526B1 (ko) | 검사 대상물의 폭 검출을 이용한 방사선 검사 장치 및 방법 | |
RU103926U1 (ru) | Электромагнитный преобразователь к дефектоскопу | |
JP2009287931A (ja) | サビ検出装置および方法 | |
JP2019133902A (ja) | 誘導加熱コイル | |
JPS6135960Y2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140307 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20140307 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20140407 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140415 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140616 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140703 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140704 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5582436 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |