JP5580085B2 - 光ファイバの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は光ファイバの製造方法及び光ファイバ母材の製造方法に関する。
MCVD法(Modified chemical vapor deposition method:内付け気相成長法)により光ファイバ母材を製造する方法は公知である。
特許文献1には、石英管にSiClガスとOガスとを注入して加熱することによりクラッド層を堆積させ、次に、石英管に揮発性有機金属キレートとSiClガスとOガスとを混合したガスを注入して加熱及び水冷することにより希土類元素が蒸着した多孔質層のコア層を堆積させ、そして、それを高温加熱することにより光ファイバ母材を製造することが開示されている。
特許文献2には、(a)固体形態で、所定長さ及び幅の二次元露出面を有するガラス成分を提供する工程;(b)実質的に酸素のない環境で、そのガラス成分を、二次元露出面から蒸発させるのに充分な温度に晒して、成分積載蒸気を形成する工程;(c)その成分積載蒸気を、不活性ガス流れで、中空チューブの穴内にある反応ゾーンへと運ぶ工程;及び(d)反応ゾーンでの成分積載蒸気の運搬と同時に、反応ゾーンに、高温に晒したときにガラスを形成できる材料の蒸気を導入する工程を包含する光ファィバ母材の製造方法が開示されている。
特開平9−25135号公報 特表2002−519285号公報
本発明の課題は、光ファイバにおける不純物混入による損失を低減させることである。
本発明は、
MCVD法により光ファイバ母材を作製する母材作製工程と、
上記母材作製工程で作製した光ファイバ母材を線引きする線引き工程と、
を備えた光ファイバの製造方法であって、
上記母材作製工程において、AlCl を、160℃に加熱してバブリングすることによりAlCl ガスを発生させ、石英管内に、SiClガス及びOガスと共にステンレスで形成された配管を介してそのAlClガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiOを堆積させる際に、AlClガスを供給する配管の温度を160℃以上215℃以下に設定するものである。
本発明は、
MCVD法により光ファイバ母材を作製する母材作製工程と、
上記母材作製工程で作製した光ファイバ母材を線引きする線引き工程と、
を備えた光ファイバの製造方法であって、
上記母材作製工程において、石英管内に、SiCl ガス及びO ガスと共にステンレスで形成された配管を介してAlCl ガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiO を堆積させる際に、AlCl ガスを供給する配管の温度を215℃以下に設定し、また、前記石英管内にAlCl ガスに加えて希土類元素含有ガスを供給し、前記石英管内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlCl ガスの温度よりも高くし、且つ前記石英管内に希土類元素含有ガスを囲うようにAlCl ガスを供給するものである。
本発明は、MCVD法により光ファイバ母材を製造する方法であって、
AlCl を、160℃に加熱してバブリングすることによりAlCl ガスを発生させ、石英管内に、SiClガス及びOガスと共にステンレスで形成された配管を介してそのAlClガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiOを堆積させる際に、AlClガスを供給する配管の温度を160℃以上215℃以下に設定するものである。
本発明は、MCVD法により光ファイバ母材を製造する方法であって、
石英管内に、SiCl ガス及びO ガスと共にステンレスで形成された配管を介してAlCl ガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiO を堆積させる際に、AlCl ガスを供給する配管の温度を215℃以下に設定し、また、前記石英管内にAlCl ガスに加えて希土類元素含有ガスを供給し、前記石英管内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlCl ガスの温度よりも高くし、且つ前記石英管内に希土類元素含有ガスを囲うようにAlCl ガスを供給するものである。
本発明によれば、MCVD法により光ファイバ母材を作製するとき、石英管内に、SiClガス及びOガスと共に鉄を含む金属で形成された配管を介してAlClガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiOを堆積させる際に、AlClガスを供給する配管の温度を215℃以下に設定するので、光ファイバ母材への不純物混入が規制され、その結果、それを線引きして得られる光ファイバにおける不純物混入による損失を低減させることができる。
実施形態に係るMCVD装置の構成を示す図である。 実施形態のノズルの(a)縦断面図及び(b)端面図である。 母材作製工程におけるクリーニング工程を示す説明図である。 母材作製工程におけるエッチング工程を示す説明図である。 母材作製工程における第1堆積工程を示す説明図である。 母材作製工程における第2堆積工程を示す説明図である。 母材作製工程におけるコラプス工程を示す説明図である。 線引き工程を示す説明図である。 光ファイバの斜視図である。 AlCl供給配管の配管温度とEDFの波長1150nmにおける背景損失との関係を示すグラフである。
以下、実施形態について図面に基づいて詳細に説明する。
(MCVD装置)
図1は本実施形態に係るMCVD装置Aを示す。
本実施形態に係るMCVD装置Aは、装置本体10、SiCl供給源20、GeCl供給源30、希土類元素含有物質供給源40、POCl供給源50、AlCl供給源60、ガス供給源70、廃ガス処理部80、及び装置制御部90を備える。
装置本体10は、一対の管支持部11が間隔をおいて立設されており、それらの基端部を連結するようにバーナーガイド12が設けられている。
一対の管支持部11の一方には、石英管Pの一端を軸回転可能に密閉して保持するロータリージョイント13が設けられていると共に、そのロータリージョイント13に、ロータリージョイント13で保持された石英管P内に突出するようにノズル14が設けられている。一対の管支持部11の他方には、石英管Pの他端を軸回転可能に密閉して保持すると共に石英管P内の圧力を制御する管内圧制御部15が設けられている。これらにより、一対の管支持部11は、ロータリージョイント13と管内圧制御部15との間で石英管Pを水平支持するように構成されている。
図2(a)及び(b)はノズル14を示す。
ノズル14は、軸中心部に設けられた円柱状のヒータ141と同心状に、各々、間隔をおいて内側筒部142及び外側筒部143が設けられ、そして、ヒータ141と内側筒部142との間に構成された第1ガス流路144がノズル14端面の小径環状の第1ガス供給口146に連通し、また、内側筒部142と外側筒部143との間に構成された第2ガス流路145がノズル14端面の大径環状の第2ガス供給口147に連通した構造を有する。ロータリージョイント13には複数の配管接続部が設けられており、これらの複数の配管接続部のそれぞれは第1及び第2ガス供給口147の少なくとも一方に連通している。なお、ノズル14は、上記構成に限らず、単一のガス供給口が設けられ、ロータリージョイント13の複数の配管接続部がすべてその単一のガス供給口に連通した構成であってもよい。
バーナーガイド12には、一対の管支持部11で水平支持された石英管Pの下方に位置して、石英管Pの長さ方向に沿って往復移動可能に石英バーナー16が設けられている。石英バーナー16は、石英管Pを下方から酸水素炎で加熱するように構成されている。また、石英管Pの上方に位置して、石英バーナー16と同期して石英管Pの長さ方向に沿って往復移動可能にパイロメータ17が設けられている。パイロメータ17は、石英バーナー16で加熱されている石英管Pの温度を検知するように構成されている。
SiCl供給源20は、例えば、SiClを蒸気の形態で供給するSiCベーキング機或いはSiClバブリング機で構成されている。SiCl供給源20からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられたSiCl供給配管21が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。なお、SiClの堆積による閉塞を防止する観点からは、SiCl供給源20には、SiCl供給配管21との接続部に加熱手段が設けられていることが好ましい。
GeCl供給源30は、例えば、GeClを蒸気の形態で供給するGeClバブリング機で構成されている。GeCl供給源30からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられたGeCl供給配管31が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。なお、GeClの堆積による閉塞を防止する観点からは、GeCl供給源30には、GeCl供給配管31との接続部に加熱手段が設けられていることが好ましい。
希土類元素含有物質供給源40は、例えば、希土類元素含有物質を蒸気の形態で供給する希土類元素含有物質バブリング機で構成されている。希土類元素含有物質供給源40からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられた希土類元素含有物質供給配管41が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。なお、希土類元素含有物質の堆積による閉塞を防止する観点からは、希土類元素含有物質供給源40には、希土類元素含有物質供給配管41との接続部に加熱手段が設けられていることが好ましい。希土類元素含有物質としては、例えば、希土類元素のDPM(ジピバロイルメタナート;Dipivaloymethanate)等のアルキル基を有するβ−ジケトン金属錯体、具体的には、Er(DPM)、Yb(DPM)、Nd(DPM)等が挙げられる。
POCl供給源50は、例えば、POClを蒸気の形態で供給するPOClバブリング機で構成されている。POCl供給源50からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられたPOCl供給配管51が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。なお、POClの堆積による閉塞を防止する観点からは、POCl供給源50には、POCl供給配管51との接続部に加熱手段が設けられていることが好ましい。
AlCl供給源60は、例えば、AlClを蒸気の形態で供給するAlClバブリング機で構成されている。AlCl供給源60からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられたAlCl供給配管61が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。なお、AlClの堆積による閉塞を防止する観点からは、AlCl供給源60には、AlCl供給配管61との接続部に加熱手段が設けられていることが好ましい。
AlCl供給配管61は、鉄(Fe)を含む金属、つまり、鉄含有合金で形成されている。かかる鉄含有合金としては、具体的には、例えば、ステンレスが挙げられる。ステンレスとしては、例えば、Ni(3.5〜5.5質量%)、Cr(16〜18質量%)、Mn(5.5〜7質量%)、及びN(0.25質量%以下)であるオーステナイト系のSUS201、Ni(4〜6質量%)、Cr(17〜19質量%)、Mn(7.5〜10質量%)、及びN(0.25質量%以下)であるオーステナイト系のSUS202、Ni(6〜8質量%)、及びCr(16〜18質量%)であるオーステナイト系のSUS301、Ni(8〜10質量%)、及びCr(17〜19質量%)であるオーステナイト系のSUS302、Ni(8〜10質量%)、Cr(17〜19質量%)、及びMo(0.60質量%以下)であるオーステナイト系のSUS303、Ni(8〜10.5質量%)、及びCr(18〜20質量%)であるオーステナイト系のSUS304、Ni(10.5〜13質量%)、及びCr(17〜19質量%)であるオーステナイト系のSUS305、Ni(10〜14質量%)、Cr(16〜18質量%)、及びMo(2〜3質量%)であるオーステナイト系のSUS316、Ni(11〜15質量%)、Cr(18〜20質量%)、及びMo(3〜4質量%)であるオーステナイト系のSUS317、Ni(3〜6質量%)、Cr(23〜28質量%)、及びMo(1〜3質量%)であるオーステナイト・フェライト系のSUS329J1、Cr(11.5〜13質量%)であるマルテンサイト系のSUS403、Cr(11.5〜14.5質量%)、及びAl(0.1〜0.3質量%)であるフェライト系のSUS405、Cr(12〜14質量%)であるマルテンサイト系のSUS420、Cr(16〜18質量%)であるフェライト系のSUS430、Cr(16〜19質量%)、及びTi又はNb(0.1〜1.0質量%)であるフェライト系のSUS430LX、Ni(3〜5質量%)、Cr(15〜17.5質量%)、Cu(3〜5質量%)、及びNb(0.15〜0.45質量%)であるマルテンサイト系析出硬化型のSUS630等が挙げられる。
ガス供給源70は、クリーニングガス(Oガス、Clガス)、キャリアガス(Heガス、Nガス)、エッチングガス(SFガス、SiFガス、BFガス)等を発生供給するように構成されている。ガス供給源70からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられたガス供給管71が延びてロータリージョイント13の配管接続部に接続されている。ガス供給源70からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられた図示しないOガス供給管が延びてSiCl供給源20に接続されている。ガス供給源70からは、長さ方向に沿って加熱ヒータが設けられた図示しないキャリアガス供給管が延びてGeCl供給源30、希土類元素含有物質供給源40、POCl供給源50、及びAlCl供給源60のそれぞれに接続されている。
廃ガス処理部80には、管内圧制御部15に設けられた廃ガス排出部から延びた廃ガス排出配管81が接続されている。
装置制御部90には、装置本体10のロータリージョイント13、ノズル14、管内圧制御部15、石英バーナー16、及びパイロメータ17、並びに各配管に設けられた加熱ヒータが接続されている(不図示)。
なお、本実施形態では、SiCl供給源20、GeCl供給源30、希土類元素含有物質供給源40、POCl供給源50、及びAlCl供給源60は、それぞれ専用配管を介してロータリージョイント13に各ガスを供給する構成であるが、特にこれに限定されるものではなく、それらのうちの複数から延びる配管を統合した1本の配管を介してロータリージョイント13に混合ガスを供給する構成であってもよい。
(光ファイバの製造方法)
本実施形態に係るMCVD装置Aを用いた光ファイバ200の製造方法について説明する。
<母材作製工程>
−準備工程−
一方の管支持部11のロータリージョイント13に、石英管Pの一端を密封するように保持させ、また、他方の管支持部11の管内圧制御部15に、石英管Pの他端を密閉するように保持させる。このとき、石英管Pは、ロータリージョイント13と管内圧制御部15との間で軸回転可能に水平支持される。
ここで、石英管Pは、例えば、外径が15〜35mm、内径が10〜33mm、及び長さが300〜800mmである。
−クリーニング工程−
図3に示すように、ロータリージョイント13により石英管Pを軸回転させ、また、石英管P内にクリーニングガス及びキャリアガスを供給すると共に、石英管P内の圧力を管内圧制御部15により制御する。このとき、MCVD装置Aがクリーニングされる。なお、このクリーニング処理の後、NガスやHeガス等のパージガスを1時間程度流通させてもよい。
ここで、石英管P内へのクリーニングガスの供給配管としては、少なくともAlCl供給配管61を使用する。クリーニングガスの供給配管の配管温度は例えば150〜220℃である。キャリアガスの流量は例えば50〜500mL/min(sccm)である。石英管P内へのキャリアガスの供給配管としては、逆流を防ぐ観点から、GeCl供給配管31、希土類元素含有物質供給配管41、POCl供給配管51、AlCl供給配管61、及びその他のガス供給配管の全てを使用することが好ましい。キャリアガスの供給配管の配管温度は例えば150〜350℃である。クリーニングガス及びキャリアガスはノズル14の第1及び第2ガス供給口146,147のいずれから供給してもよい。ノズル14のヒータ温度は例えば200〜350℃である。石英管P内の圧力は例えば−100〜0Paである。クリーニング時間は例えば1〜10時間である。
−エッチング工程−
クリーニング工程後、石英管Pを新しいものに取り替える。そして、図4に示すように、ロータリージョイント13により石英管Pを軸回転させ、また、石英管P内にエッチングガス及びキャリアガスを供給すると共に、石英管P内の圧力を管内圧制御部15により制御し、さらに、石英管Pに沿って石英バーナー16を往復移動させながら石英管Pを酸水素炎で加熱する。このとき、石英管Pの管内壁がエッチングされる。なお、このエッチング処理の前に石英バーナー16で石英管Pを空焼きしてもよい。
ここで、石英管Pの回転数は例えば10〜50rpmである。エッチングガスの流量は例えば50〜500mL/min(sccm)である。キャリアガスの流量は例えば50〜500mL/min(sccm)である。石英管P内へのキャリアガスの供給配管としては、逆流を防ぐ観点から、GeCl供給配管31、希土類元素含有物質供給配管41、POCl供給配管51、AlCl供給配管61、及びその他のガス供給配管の全てを使用することが好ましい。キャリアガスの供給配管の配管温度は例えば150〜350℃である。エッチングガス及びキャリアガスはノズル14の第1及び第2ガス供給口146,147のいずれから供給してもよい。石英バーナー16の送り速度は例えば100〜200mm/minであり、戻り速度は例えば2000〜4000mm/minである。石英管Pの温度は例えば1900〜2100℃である。石英管P内の圧力は例えば−100〜0Paである。エッチング処理時間は、石英バーナー16の往復ターン数に換算して例えば1〜5ターンである。
−第1堆積工程−
エッチングガスの供給を停止した後、図5に示すように、石英管P内に、SiCl供給源20からSiCl供給配管21を介してSiClガス及びOガスを、及びAlCl供給源60からAlCl供給配管61を介してAlClガス及びキャリアガスをそれぞれ供給する。このとき、石英管P内に、スートではないAlがドープされたガラス化したSiOで形成された第1堆積層が堆積する。このように直接ガラス化した第1堆積層を堆積させることにより、スートをガラス化させる際の加熱によりドーパントが拡散することがなく、そのため複雑なプロファイルの形成が可能となり、高い設計の自由度を得ることができる。なお、必要に応じて、石英管P内に、GeCl供給源30からGeCl供給配管31を介してGeClガス及びキャリアガスを、並びにPOCl供給源50からPOCl供給配管51を介してPOClガス及びキャリアガスをそれぞれ供給し、第1堆積層にドーパントとしてGeやPを含ませてもよい。
ここで、SiClガスの流量は例えば30〜300mL/min(sccm)である。SiCl供給配管21の配管温度は例えば200〜300℃である。AlClガスの飽和蒸気圧は例えば12.0〜53.3kPa(加熱温度150〜170℃)であり、そのキャリアガスの流量は例えば50〜200mL/min(sccm)である。AlCl供給配管61の配管温度は215℃以下(好ましくは215℃よりも低温)に設定する。AlClを所定温度に加熱してバブリングすることによりAlClガスを発生させる場合、つまり、AlClバブリング機によりAlClガスを発生させる場合には、管内へのAlClの付着を防止する観点から、AlCl供給配管61の配管温度はそのAlClの加熱温度(バブリング温度)以上(例えば160℃)に設定することが好ましい。従って、AlCl供給配管61の配管温度は160〜215℃であることが好ましく、170〜200℃であることがより好ましい。SiClガス及びAlClガスはノズル14の第1及び第2ガス供給口146,147のいずれから供給してもよい。堆積処理時間は、石英バーナー16の往復ターン数に換算して例えば5〜30ターンである。第1堆積層の堆積厚さは例えば0.06〜0.35mmである。その他の条件については、前工程のまま維持してもよく、また、変更してもよい。
なお、AlClガス供給配管61内の付着物を除去する観点からは、第1堆積層を堆積させる前に、AlClガス供給配管61をAlClガスでクリーニングすることが好ましい。
−第2堆積工程−
第1堆積工程と同じ操作状態で、さらに、図6に示すように、石英管P内に、希土類元素含有物質供給源40から希土類元素含有物質供給配管41を介して希土類元素含有物質ガス及びキャリアガスを供給する。このとき、石英管P内に、スートではない希土類元素及びAlがドープされたガラス化したSiOで形成された第2堆積層が堆積する。なお、必要に応じて、石英管P内に、GeCl供給源30からGeCl供給配管31を介してGeClガス及びキャリアガスを、並びにPOCl供給源50からPOCl供給配管51を介してPOClガス及びキャリアガスをそれぞれ供給し、第2堆積層にドーパントとしてGeやPを含ませてもよい。また、第1堆積工程を行わずにこの第2堆積工程のみを行ってもよい。
ここで、希土類元素含有物質ガスの飽和蒸気圧は例えば1.3〜6.7kPa(加熱温度200〜300℃)であり、そのキャリアガスの流量は例えば50〜500mL/min(sccm)である。希土類元素含有物質供給配管41の配管温度は例えば200〜350℃である。希土類元素含有物質ガスはノズル14の第1及び第2ガス供給口146,147のいずれから供給してもよい。ノズル14付近にAlClが付着して消費されるのを防止する観点からは、石英管P内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlClガスの温度よりも高くすることが好ましく、その場合、ヒータ141に近い第1ガス供給口146から希土類元素含有ガスを供給すると共に、それを囲うように第2ガス供給口147からAlClガスを供給することが好ましい。堆積処理時間は、石英バーナー16の往復ターン数に換算して例えば5〜30ターンである。第2堆積層の堆積厚さは例えば0.06〜0.35mmである。その他の条件については、前工程のまま維持してもよく、また、変更してもよい。
−コラプス工程−
キャリアガス以外のガスの供給を停止し、図7に示すように、石英管Pに沿って石英バーナー16を往復移動させることにより、石英管Pを酸水素炎で加熱して内部空間を縮小させて潰す。このとき、中央のコア形成部分に希土類元素及びAlがドープされた円柱状のMCVD母材が得られる。
ここで、石英管P内の圧力は例えば0〜100Paである。石英バーナー16の送り速度は例えば5〜100mm/minであり、戻り速度は例えば2000〜4000mm/minである。コラプス処理時間は、石英バーナー16の往復ターン数に換算して例えば10〜50ターンである。なお、キャリアガスの供給は、内部空間の縮小に伴って減少させることが好ましい。
なお、MCVD装置Aの使用後は、管内へのAlClの付着を防止する観点から、配管温度を215℃以下としてAlClガス供給配管61をNガス等でパージすることが好ましい。
得られたMCVD母材は、次工程の線引き加工により得られる光ファイバ200が所定のコア径となるように、そのまま光ファイバ母材100としてもよく、また、外周を削って小径化したものを光ファイバ母材100としてもよい。
さらに、得られたMCVD母材は、石英パイプ(例えば無水合成石英パイプ)を被せてコラプスすることにより大径化したものを光ファイバ母材100としてもよい。この場合、旋盤でMCVD母材を石英パイプで被覆して一体化させればよい。このとき、光ファイバ母材100のクラッド径(母材径)/コア径(コア形成部分径)=24〜28となるようにクラッド形成部分の厚さが調整される石英パイプを用いることが好ましい。なお、下記式を満たすことがシングルモード条件である。
規格化周波数:V=(2πr/λ)・(n −n 1/2<2.405
(ここで、r:コア半径、λ:伝搬波長、n:コア屈折率、及びn:クラッド屈折率)
上記クラッド径/コア径の比は、伝搬波長λをカットオフ波長設計値(例えば1.4μm)、並びにコア屈折率n及びクラッド屈折率nをプリフォームアナライザにより測定されたMCVD母材のコア形成部及びクラッド形成部の屈折率とし、上記シングルモード条件式から算出されるコア半径rの条件から導くことができる。
光ファイバ母材100は、例えば、外径が20〜50mm(コア形成部分0.5〜10mm)、及び長さが100〜600mmである。
<線引き工程>
図8に示すように、上記で作製した光ファイバ母材100を線引き装置Bにセットし、ヒータHで加熱して線引きする。このとき、図9に示すように、希土類元素及びAlがドープされた石英で形成されたコア210とそれを被覆するように設けられドーパントがドープされていない石英で形成されたクラッド220とを有し、波長1000〜1200nmでの最低損失が10dB/km以下、好ましくは7dB/km以下である低損失の光ファイバ200が製造される。なお、光ファイバの線引きと同時にUV硬化型樹脂等で形成された被覆層を設けてもよい。
ここで、線引き温度(ヒータ温度)は例えば2000〜2200℃である。線引き速度は例えば50〜300m/sである。製造される光ファイバ200は、例えば、コア径が3.0〜30μm、及びクラッド径(ファイバ径)が125〜400μmであり、コアの希土類元素のドーピング量が500〜20000ppm、及びAlのドーピング量が1000〜70000ppmである。
製造された光ファイバ200は、例えば、希土類元素がエルビウム(Er)であるEDFの場合、光増幅器として用いられ、また、希土類元素がイッテルビウム(Yb)であるYDFの場合、加工用ファイバレーザーの発振器や増幅器用ファイバとして用いられる。
(試験評価用ファイバ心線の製造)
上記実施形態に示すのと同様の構成のMCVD装置であって、SiCl供給源としてSiCベーキング機、希土類元素含有物質供給源としてEr(DPM)バブリング機、AlCl供給源としてAlClバブリング機、及びAlCl供給配管がSUS316Sで形成されたものを用い、エルビウムドープファイバ(EDF)を有する試験評価用ファイバ心線を製造した。
外径が28mm、内径が25mm、及び長さが600mmの石英管を準備し、その一端をMCVD装置のロータリージョイントに及び他端を管内圧制御部にそれぞれ保持させた。
次に、石英管を回転数25rpmで回転させながら、石英管内に、ノズルから、クリーニングガスとして、配管温度270℃のSiCl供給配管を介してSiClガスを10mL/min(sccm)の流量で及びOガスを3L/min(SLM)の流量でそれぞれ第2ガス供給口から供給し、また、配管温度200℃のAlCl供給配管を介してAlClガス(バブリング温度:130℃)をキャリアガスのHeガスと共に200mL/min(sccm)の流量で第2ガス供給口から供給し、さらに、その他のガス供給配管を介してHeガスを合計400mL/min(sccm)の流量で第1及び第2ガス供給口から供給することにより、MCVD装置をクリーニングする処理を行った。このとき、ノズルのヒータ温度を320℃とし、また、石英管からの排気圧力を−200Pa程度とした。このクリーニング処理は約8時間行った。
次に、クリーニング処理後、パージガスとして、Nガス(合計300mL/min(sccm))、Heガス(合計2300mL/min(sccm))、及びOガス(3L/min(SLM))を約1時間流通させた後、石英管を新しいものに取り替えた。
次に、取り替えた新しい石英管を回転数25rpmで回転させながら、石英管内に、ノズルから、配管温度270℃のSiCl供給配管を介してOガスを1.8L/min(SLM)の流量で第2ガス供給口から供給し、また、その他のガス供給配管を介してHeガスを合計700mL/min(sccm)の流量で第1及び第2ガス供給口から供給し、そして、石英バーナーを、送り速度140mm/min及び戻り速度3000mm/minで往復させて石英管を酸水素炎で加熱することにより、石英管を空焼きする処理を行った。この空焼き処理は、石英バーナーの往復ターン数に換算して2ターン行った。
次に、空焼き処理の操作条件に加えて、石英管内に、エッチングガスとして、ガス供給管を介してSFガスを200mL/min(sccm)の流量で第2ガス供給口から供給することにより、石英管の内壁をエッチングする処理を行った。このとき、ノズルのヒータ温度を320℃とし、また、石英管内の圧力を70Paとした。石英バーナーを、石英管のノズル近傍(ノズルから100〜200mmの部分)の温度が900℃、及び中央部分(ノズルから200〜700mmの部分)の温度が1950℃となるように制御した。このエッチング処理は、石英バーナーの往復ターン数に換算して3ターン行った。
次に、エッチングガスの供給を停止して空焼き処理の操作条件に戻した後、石英管内に、ノズルから、SiCl供給配管を介してSiClガスを79mL/min(sccm)の流量でOガスと共に第2ガス供給口から供給し、また、配管温度100℃のAlCl供給配管を介してAlClガス(バブリング温度:160℃)をキャリアガスのHeガスと共に200mL/min(sccm)の流量で第2ガス供給口から供給し、さらに、GeCl供給配管を介してGeClガスをキャリアガスのHeガスと共に100mL/min(sccm)の流量で第2ガス供給口から供給することにより、石英管内にGe及びAlがドープされたSiOで形成されたガラス状の第1堆積層を堆積させる処理を行った。この第1堆積処理は、石英バーナーの往復ターン数に換算して5ターン行った。
次に、第1堆積処理の操作条件に加えて、石英管内に、ノズルから、配管温度300℃のEr(DPM)供給配管を介してEr(DPM)ガス(バブリング温度:215℃)をキャリアガスのHeガスと共に200mL/min(sccm)の流量で第1ガス供給口から供給することにより、第1堆積層上にEr、Ge、及びAlがドープされたSiOで形成されたガラス状の第2堆積層を堆積させる処理を行った。この第2堆積処理は、石英バーナーの往復ターン数に換算して3ターン行った。
次に、キャリアガス以外のガスの供給を停止し、石英管を回転数25rpmで回転させながら、石英バーナーを、送り速度100〜8mm/minと下げ、戻り速度3000mm/minとして往復させて石英管を酸水素炎で加熱することにより、石英管の内部空間を縮小させて潰すコラプス処理を行った。このコラプス処理は、石英バーナーの往復ターン数に換算して9ターン行った。そして、このコラプス処理により円柱状のMCVD母材を得た。得られたMCVD母材は、外径が12mm(コア形成部分2mm、従って、クラッド径/コア径=6.0)及び長さが400mmであった。
続いて、MCVD母材をそのまま光ファイバ母材として線引き装置にセットし、ヒータで2150℃に加熱すると共に、線引き速度50m/sで線引きし、そして、得られた光ファイバ(EDF)をUV硬化型樹脂槽を通して紫外線を照射することによりファイバ心線を製造した。製造した試験評価用のファイバ心線は、コア径が約20μm、クラッド径(ファイバ径)が125μm、及び心線径が240μmであり、コアのErのドーピング量が1000ppm、及びAlのドーピング量が60000ppmであった。
また、第1及び第2堆積処理時におけるAlCl供給配管の配管温度を165℃、170℃、180℃、200℃、215℃、230℃、240℃、及び300℃のそれぞれに変更して試験評価用ファイバ心線を製造した。
(試験評価方法)
AlCl供給配管の配管温度を100℃、165℃、170℃、180℃、200℃、215℃、230℃、240℃、及び300℃のそれぞれの条件で製造した試験評価用ファイバ心線について、JIS C 6823「光ファイバ損失試験方法」に基づいて、カットバック法により背景損失を測定した。
具体的には、各試験評価用ファイバ心線について、白色光源及びスペクトルアナライザを用い、100m及び1mのそれぞれのファイバ長において光電力を測定し、そして、それらの差をファイバ長1km当たりに換算したものを損失とし、その波長依存性を調べた。
(試験評価結果)
いずれの試験評価用ファイバ心線の損失の波長依存性においても、短波長側、波長980nm、及び波長1530nmにErの吸収が見られた。
また、波長1150nmでの吸収が全体の背景損失を高める要因となっていることから、AlCl供給配管の配管温度と試験評価用ファイバ心線の波長1150nmにおける背景損失(波長1100〜1200nmの範囲での最低損失)との関係を調べた。結果を表1及び図10に示す。
Figure 0005580085
表1及び図10によれば、AlCl供給配管の配管温度が215℃以下では背景損失が小さいが、AlCl供給配管の配管温度が215℃よりも高いと背景損失が著しく大きくなることが分かる。波長1150nmにおいて背景損失のピークを有する試験評価用ファイバ心線のコアを分析したところFeが検出されたことから、AlCl供給配管の配管温度が215℃よりも高くなると、AlCl供給配管を形成するSUS316Sに含まれるFeが遊離し、それが光ファイバ母材に不純物として混入して損失を高める原因となっているものと考えられる。
本発明は光ファイバの製造方法及び光ファイバ母材の製造方法に関する。
61 AlCl供給配管
100 光ファイバ母材
200 光ファイバ

Claims (8)

  1. MCVD法により光ファイバ母材を作製する母材作製工程と、
    上記母材作製工程で作製した光ファイバ母材を線引きする線引き工程と、
    を備えた光ファイバの製造方法であって、
    上記母材作製工程において、AlCl を、160℃に加熱してバブリングすることによりAlCl ガスを発生させ、石英管内に、SiClガス及びOガスと共にステンレスで形成された配管を介してそのAlClガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiOを堆積させる際に、AlClガスを供給する配管の温度を160℃以上215℃以下に設定する光ファイバの製造方法。
  2. 請求項1に記載された光ファイバの製造方法において、
    上記母材作製工程において、石英管内にAlClガスに加えて希土類元素含有ガスを供給する光ファイバの製造方法。
  3. 請求項に記載された光ファイバの製造方法において、
    石英管内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlClガスの温度よりも高くする光ファイバの製造方法。
  4. 請求項に記載された光ファイバの製造方法において、
    石英管内に希土類元素含有ガスを囲うようにAlClガスを供給する光ファイバの製造方法。
  5. MCVD法により光ファイバ母材を作製する母材作製工程と、
    上記母材作製工程で作製した光ファイバ母材を線引きする線引き工程と、
    を備えた光ファイバの製造方法であって、
    上記母材作製工程において、石英管内に、SiCl ガス及びO ガスと共にステンレスで形成された配管を介してAlCl ガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiO を堆積させる際に、AlCl ガスを供給する配管の温度を215℃以下に設定し、また、前記石英管内にAlCl ガスに加えて希土類元素含有ガスを供給し、前記石英管内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlCl ガスの温度よりも高くし、且つ前記石英管内に希土類元素含有ガスを囲うようにAlCl ガスを供給する光ファイバの製造方法。
  6. 請求項1乃至のいずれかに記載された光ファイバの製造方法において、
    上記配管がAlClガスのみを供給する専用配管である光ファイバの製造方法。
  7. MCVD法により光ファイバ母材を製造する方法であって、
    AlCl を、160℃に加熱してバブリングすることによりAlCl ガスを発生させ、石英管内に、SiClガス及びOガスと共にステンレスで形成された配管を介してそのAlClガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiOを堆積させる際に、AlClガスを供給する配管の温度を160℃以上215℃以下に設定する光ファイバ母材の製造方法。
  8. MCVD法により光ファイバ母材を製造する方法であって、
    石英管内に、SiCl ガス及びO ガスと共にステンレスで形成された配管を介してAlCl ガスを供給して加熱することにより、Alがドープされたガラス化したSiO を堆積させる際に、AlCl ガスを供給する配管の温度を215℃以下に設定し、また、前記石英管内にAlCl ガスに加えて希土類元素含有ガスを供給し、前記石英管内に供給する希土類元素含有ガスの温度をAlCl ガスの温度よりも高くし、且つ前記石英管内に希土類元素含有ガスを囲うようにAlCl ガスを供給する光ファイバ母材の製造方法。
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