JP5560148B2 - 検査装置、及び位置決め装置 - Google Patents
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Description
(1)ベアウエハを高精度に位置決めすることが可能となる。
(2)特に、パターン付きウエハ検査装置において、ベアウエハを高精度に位置決めすることが可能となる。
(3)数μm単位の高精度のウエハ位置決め(アライメント)が可能となる。
(4)検査装置間で欠陥座標のリンケージが容易となる。
(1)ベアウエハを高精度に位置決めすることが可能となる。
(2)特に、パターン付きウエハ検査装置において、ベアウエハを高精度に位置決めすることが可能となる。
(3)数μm単位の高精度のウエハ位置決め(アライメント)が可能となる。
(4)検査装置間で欠陥座標のリンケージが容易となる。
102 光源
103a,103b 反射ミラー
104 照明光
105 検出光学系
106 集光レンズ
108 光電変換器
109 A/D変換部
110 判定部
111 全体制御部
112 ステージコントローラ
113,1001 ウエハ
114,1005 ウエハステージ
201 ウエハ左端部分
202 ウエハ右端部分
203 ウエハ上端部分
204 ノッチ左端部分
205 ノッチ右端部分
206 ノッチ上端部分
207 ウエハ中心
208 ステージ中心
301 ウエハ左端画像
302 ウエハ右端画像
303 ウエハ上端画像
304 ノッチ左端画像
305 ノッチ右端画像
401 実際のノッチ左端画像
501 実際のノッチ上端画像
601 ノッチ左端部分とノッチ右端部分のY座標の差
602 ノッチ左端部分とノッチ右端部分のX座標の差
701 ノッチ左端部分とノッチ右端部分の中心X座標
1002 ウエハFOUP(ウエハカセット)
1003 搬送アーム
1004 プリアライメントステージ
Claims (4)
- 基板を検査する検査装置において、
前記基板を移動する搬送系と、
前記基板に光を照射する照明光学系と、
位置決めのための第1の検出光学系と、
検査のために前記基板から反射した光を検出する第2の検出光学系と、
処理部と、を有し、
前記第1の検出光学系は、前記基板のノッチの左端画像、及び前記ノッチの右端画像を取得し、
前記処理部は、(1)前記左端画像、及び前記右端画像から前記ノッチの左端部分と前記ノッチの右端部分との中間座標(Xn,Yn)を得て、(2)前記中間座標、及び前記基板の中心座標(Xc,Yc)から前記基板の回転ずれtan-1((Xn−Xc)÷(Yc−Yn))を得て、
前記基板の位置決めは前記回転ずれに基づいて行われ、
前記位置決めが行われた基板からの光を前記第2の検出光学系は検出し、
前記処理部は、前記第2の検出光学系の検出結果に基づいて欠陥を検出する検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記処理部は、前記左端画像、及び前記右端画像の少なくとも1つについて、前記基板の最下位置から傾きが変わる変化点を得て、前記変化点を前記ノッチの端部の座標とする検査装置。 - 基板に光を照射する照明光学系と、
前記基板から反射した光を検出する検出光学系と、
処理部と、を有し、
前記検出光学系は、前記基板のノッチの左端画像、及び前記ノッチの右端画像を取得し、
前記処理部は、(1)前記左端画像、及び前記右端画像から前記ノッチの左端部分と前記ノッチの右端部分との中間座標(Xn,Yn)を得て、(2)前記中間座標、及び前記基板の中心座標(Xc,Yc)から前記基板の回転ずれtan-1((Xn−Xc)÷(Yc−Yn))を得て、
前記基板の位置決めは前記回転ずれに基づいて行われる位置決め装置。 - 請求項3に記載の位置決め装置において、
前記処理部は、前記左端画像、及び前記右端画像の少なくとも1つについて、前記基板の最下位置から傾きが変わる変化点を得て、前記変化点を前記ノッチの端部の座標とする位置決め装置。
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JP2010205027A JP5560148B2 (ja) | 2010-09-14 | 2010-09-14 | 検査装置、及び位置決め装置 |
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JP2010205027A Expired - Fee Related JP5560148B2 (ja) | 2010-09-14 | 2010-09-14 | 検査装置、及び位置決め装置 |
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JP2006287181A (ja) * | 2005-01-28 | 2006-10-19 | E-Beam Corp | 基板処理装置及び基板処理方法 |
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