JP5556868B2 - X線管 - Google Patents
X線管 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5556868B2 JP5556868B2 JP2012195005A JP2012195005A JP5556868B2 JP 5556868 B2 JP5556868 B2 JP 5556868B2 JP 2012195005 A JP2012195005 A JP 2012195005A JP 2012195005 A JP2012195005 A JP 2012195005A JP 5556868 B2 JP5556868 B2 JP 5556868B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rays
- ray tube
- ray
- thickness
- base material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
電子を放出する電子放出源と、
前記電子放出源が放出した電子がその表面に衝突することによりX線を放射する部材を具備したターゲット基材と、
X線が透過し易い領域とX線が透過し難い領域が同心円状に設けられ、前記X線が透過し難い領域の厚さを前記X線が透過し易い領域の厚さより厚くすることにより透過X線強度の高い部分と低い部分を発生させるようにし、前記ターゲット基材が放射したX線を外部に取り出す窓材と、
を具備したものである。窓材でX線を平行化あるいは収束化できるので、ゾーンプレート等のX線を平行化、収束化する部材を改めて配置することが不要になり、X線の減衰を小さくすることができる。また、加工が容易である。
本発明によれば、X線を発生させるターゲット基材、あるいはX線を外部に取り出す窓材と、X線を平行化、収束化する部材を兼用するようにした。
λ=c/(e/h)=ch/e ・・・・・・・ (2)
但し、c=光速(2.99792458E+08m/s)、h=プランク定数(6.62602876E-34)、e=電子の電荷(1.6021892E-19J、1J=6.24E18eVで換算)である。
5keVでλ≒0.248nm
10leVでλ≒0.124nm
になる。5keVのX線を焦点距離f=1000mm位置に収束させるためには、最内側の輪帯の半径r1を15.7μmにすればよい。
11 ゾーンプレート
12 測定対象
14 検出器
21、26 ヒータ
22、27 ターゲット基材
23、28、30 窓材
24、29 高圧電源
31、32 カソード
40 マイクロキャピラリ
41 中空パイプ
42 タングステン
Claims (1)
- 電子を放出する電子放出源と、
前記電子放出源が放出した電子がその表面に衝突することによりX線を放射する部材を具備したターゲット基材と、
X線が透過し易い領域とX線が透過し難い領域が同心円状に設けられ、前記X線が透過し難い領域の厚さを前記X線が透過し易い領域の厚さより厚くすることにより透過X線強度の高い部分と低い部分を発生させるようにし、前記ターゲット基材が放射したX線を外部に取り出す窓材と、
を具備したことを特徴とするX線管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012195005A JP5556868B2 (ja) | 2012-09-05 | 2012-09-05 | X線管 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012195005A JP5556868B2 (ja) | 2012-09-05 | 2012-09-05 | X線管 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008045843A Division JP5119974B2 (ja) | 2008-02-27 | 2008-02-27 | X線管 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012234842A JP2012234842A (ja) | 2012-11-29 |
JP5556868B2 true JP5556868B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=47434916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012195005A Active JP5556868B2 (ja) | 2012-09-05 | 2012-09-05 | X線管 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5556868B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03259800A (ja) * | 1990-03-09 | 1991-11-19 | Toshiba Corp | ゾーンプレート、放射光窓及び放射光窓の製造方法 |
JPH06275215A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Hamamatsu Photonics Kk | 二次元x線管 |
JPH11133200A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | X線走査顕微方法及び顕微鏡 |
JP2000088777A (ja) * | 1998-09-08 | 2000-03-31 | Hyogo Kagaku Gijutsu Kyokai | X線撮像装置 |
-
2012
- 2012-09-05 JP JP2012195005A patent/JP5556868B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012234842A (ja) | 2012-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10416099B2 (en) | Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system | |
US7366374B1 (en) | Multilayer optic device and an imaging system and method using same | |
US7508911B1 (en) | X-ray imaging system and methods of using and forming an array of optic devices therein | |
KR102391598B1 (ko) | X선 콜리메이터 | |
WO1991001076A1 (en) | Focused x-ray source | |
US20140294157A1 (en) | Support structure and highly aligned monochromating x-ray optics for x-ray analysis engines and analyzers | |
US20220003691A1 (en) | X-ray analyzer | |
WO2013108876A1 (ja) | X線回折装置 | |
US9646731B2 (en) | X-ray radiation detector, CT system and related method | |
US20130243163A1 (en) | X-ray apparatus and its adjusting method | |
US20150110244A1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
JP5594545B2 (ja) | X線管 | |
JP2017022054A (ja) | X線発生装置、x線装置、構造物の製造方法、及び構造物製造システム | |
JP6153346B2 (ja) | 放射線発生装置及び放射線撮影システム | |
JP5556868B2 (ja) | X線管 | |
JP5119974B2 (ja) | X線管 | |
US20140126697A1 (en) | Radiation generating apparatus, radiation photographing system, and sighting projector unit included therein | |
EP2532009B1 (en) | Multi-beam x-ray system | |
US9020098B2 (en) | Radiation imaging apparatus | |
JP5605607B2 (ja) | X線測定装置 | |
US20130243164A1 (en) | X-ray optical apparatus and adjusting method thereof | |
Nilson et al. | A high-resolving-power x-ray spectrometer for the OMEGA EP Laser | |
US9020102B2 (en) | X-ray optical apparatus | |
CN113218975A (zh) | 一种表面x射线吸收谱测量装置 | |
US8633457B2 (en) | Background reduction system including louver |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20120905 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20130829 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130925 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131101 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20140520 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Country of ref document: JP Ref document number: 5556868 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |