JP5550258B2 - 光干渉断層撮像装置 - Google Patents

Description

本発明は、光干渉断層撮像による撮像装置に関するもので、特に、複数本の干渉処理が可能な装置構成、および、眼球の前後方向の運動を検知補正する装置構成、に関するものである。

近年、被検査物である眼底を観察する光学機器として、様々な機器が使用されている。
例えば、前眼部撮像機、眼底カメラ、共焦点レーザ走査検眼鏡、光干渉断層撮像装置（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ、以下、このような低コヒーレント光干渉断層撮像装置をＯＣＴ装置と記す。）、等が使用されている。
中でも、ＯＣＴ装置は、眼底の断層像を高解像度に得る装置であり、現在、網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつあり、また、内視鏡等の他の領域でも応用され、任意の断層像を得る装置として注目されている。
ＯＣＴ装置は低コヒーレント光を、網膜に照射し、その戻り光である散乱光や反射光に参照光を干渉させる事で、高感度に網膜の層構造を撮像する装置である。ＯＣＴ装置は低コヒーレント光を、被検査物上にスキャンすることで、断層像を得ることができる。特に、網膜の断層像は眼科診断に広く利用されている。

以上のＯＣＴ装置においては、上記した診断等に用いられるために、広範囲の断層画像を得ることや、高解像の断層画像を得ることが求められている。
また、患者の負担を軽減するために、測定時間の短縮化を図ることが求められている。
このような測定時間の短縮を達成するため、特許文献１では、複数の光を網膜に照射するようにしたマイケルソン型の干渉計を用いたマルチビームによるＯＣＴ装置が開示されている。
また、非特許文献１では、眼球の付随的な動きの検出が行われるようにしたＯＣＴ装置が開示されている。
このような検出が行われる理由は、ＯＣＴ装置はスキャンにより画像を構成することから撮像に比較的時間がかかり、人間の眼球の動き（固視微動と呼ばれる不随意的な眼球運動、頭部全体を含む眼球の前後方向の運動）が取得した画像に影響を及ぼすことによる。
上記した非特許文献１では、低コヒーレント干渉計によって、角膜の前後方向位置検出をおこなう。
そして、この前後方向位置検出値から眼球の前後方向の移動量を求めることにより、低コヒーレント光干渉断層装置の参照光光路長を眼球移動量分補正し、低コヒーレント光干渉断層撮像装置の取得画像の眼球の前後方向の変形の低減が図られている。

特表２００８−５０８０６８号公報

Ｍｉｃｈａｅｌ Ｐｉｒｃｈｅｒ，Ｂｅｒｎｈａｒｄ Ｂａｕｍｎｎ，Ｅｒｉｃｈ Ｇｏｔｚｉｎｇｅｒ，Ｈａｒａｌｄ Ｓａｔｔｍａｎｎ ａｎｄ Ｃｈｉｒｓｔｏｐｈ Ｋ． Ｈｉｚｅｎｂｅｒｇｅｒ，¨Ｓｉｍｕ ｌｔａｎｅｏｕｓ ＳＬＯ／ＯＣＴ ｉｍａｇｉｎｇ ｏｆ ｔｈｅ ｈｕｍａｎ ｒｅｔｉｎａ ｗｉｔｈ ａｘｉａｌ ｅｙｅ ｍｏｔｉｏｎ ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ¨ Ｏｐｔｉｃｓ Ｅｘｐｒｅｓｓ，１０ Ｄｅｃｅｍｂｅｒ ２００７，Ｖｏｌ．１５ Ｎｏ．２５ １６９２２−１６９３２

しかしながら、上記した従来例で、つぎのような課題を有している。
すなわち、特許文献１のものでは、参照光が複数本用いられることから、光路長変更手段のディレイライン装置内に用いられるミラーが大型化、また、ミラーの個数が増加すること、等が余儀なくされる。
そのため、高速で稼動するステージ上に複数又は大きな部品が積載されることとなり、ディレイライン装置を高速、且つ高精度に制御することが困難になっていた。
また、ディレイライン装置にＲＳＯＤ（ｒａｐｉｄ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｏｐｔｉｃａｌ ｄｅｌａｙ ｌｉｎｅ）等のレンズを有する装置を用いた場合には、分割した光の数と同数のＲＳＯＤが必要となる。
あるいは、複数本ビームの入るミラーまたはレンズ等が必要となる。
また、眼底観察を行う場合、測定中に眼球の前後方向の動きがあると、取得される画像に深さ方向の変形が発生してしまう。
ＯＣＴ装置は、低コヒーレント光を用いているため、深さ方向分解能が高い断層撮像法である。
また、光源の広帯域化により、さらに深さ方向分解能が向上している。このような状況により、深さ方向の変形防止には、より高精度な補正が求められている。また、上記非特許文献１では、高精度な眼球の動きを反映させることにより高画質の画像を得るようにされているが、これによれば独立した別系統のＯＣＴ装置が必要となる。

本発明は、上記課題に鑑み、画像の深さ方向の変形が低減され、また、高解像の断層画像を得るための、測定時間の短縮化を図ることができ、また、部材の大型化や個数の増加を抑制することができる光干渉断層撮像装置の提供を目的とする。

本発明は、つぎのように構成した光干渉断層撮像装置を提供するものである。
本発明の光干渉断層撮像装置は、
光源からの光を参照光とサンプル光に分割し、被検査物に照射された該サンプル光による戻り光と、参照光路を経由した該参照光とを干渉させた干渉光を用い、前記被検査物の断層像を撮像する光干渉断層撮像装置であって、
光源からの光を単数の参照光と単数のサンプル光とに分割する光分割手段と、
前記単数の参照光の光路長を変更する光路長変更手段と、
前記光路長変更手段により光路長が変更された前記単数の参照光を、複数の参照光に分割する参照光分割手段と、
前記単数のサンプル光を、複数のサンプル光に分割するサンプル光分割手段と、
前記複数のサンプル光を前記被検査物に導いて照射する照射手段と、
前記照射手段により照射された前記被検査物からの前記複数のサンプル光による複数の戻り光と、参照光路を経由した前記複数の参照光とを合波して、複数の干渉光を形成する干渉光形成手段と、
前記干渉光形成手段からの複数の干渉光を複数の干渉信号として取得する干渉信号取得手段と、
を有することを特徴とする。

本発明によれば、画像の深さ方向の変形が低減され、また、高解像の断層画像を得るための、測定時間の短縮化を図ることができ、また、部材の大型化や個数の増加を抑制することができる光干渉断層撮像装置を実現することができる。

本発明の実施例１における光干渉断層撮像装置（ＯＣＴ装置）の構成を説明する概略図である。 本発明の実施例１における光干渉断層撮像装置（ＯＣＴ装置）の構成を説明する概略図である。 本発明の実施例２における被検眼周辺の構成を説明する概略図である。 本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の取得画像の模式図である。 本発明の実施例２における被検眼周辺の構成を説明する概略図と取得データの模式図である。

本発明を実施するための形態を、以下の実施例により説明する。

［実施例１］
実施例１として、本発明を適用した光干渉断層撮像装置（ＯＣＴ装置）の構成について説明する。
その概略について説明すると、まず、ＳＬＤ光源からの光を単数の参照光とサンプル光にファイバカップラにより分岐し、分岐された参照光における参照光路の光路長を変更させる。
このように変更させた後に参照光を参照光分割手段により三本に分岐させ、また前記サンプル光をサンプル光分割手段により参照光と同数の三本に分岐させる。その後、各々サーキュレータを通過させ、これらのサンプル光を被検査物である被検眼の眼軸に対し軸対称に導き、各々コリメータと複数のレンズを介し被照射面である眼底の網膜を照射する。
そして、眼底の網膜より反射された各々の光は複数のレンズとコリメータを介し、各々のサーキュレータからコリメータ等を介し分光器にて受光され、分光器からの出力である信号を制御装置に伝達し、制御装置で信号を断層画像に変換するように構成されている。
具体的には、図１に示すように、本実施例の光干渉断層撮像装置は、光源１、光路長変更装置７、光ファイバカプラ（光分割手段）９、１０、観察対象の網膜付近の装置構成１７を備えている。
また、干渉装置（干渉信号形成手段）４６、分光装置（干渉信号取得手段）４７、制御画像解析装置３２により構成されている。

つぎに、本実施例における複数干渉系を用いた高速光干渉断層撮像装置（ＯＣＴ装置）の全体構成の各主要装置と光学構成を、具体的に説明する。
光源１からの出射光は、光ファイバカプラ２により参照光側の光ファイバ３とサンプル光側の光ファイバ４に分岐される。
この光源１としては、低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）光源が用いられる。その波長は８４０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍである。
バンド幅は、断層像の光軸方向の分解能に関連する重要なパラメーターである。また、断層像の横方向の分解能を向上するには光源の波長は短波長であることが望ましい。
光ファイバカプラ２により分割された参照光はサーキュレータ５、コリメータ６、分散補償ガラス３３を介し、光路長変更装置７（本実施例ではボイスコイルモータステージ：以下ＶＣＭと表記する）で光路長が変更される。
光路長が変更された後、サーキュレータ５から光ファイバ８を介し、光ファイバカプラ９により３本に分岐される。
分岐された３本の参照光はそれぞれ、ファイバ１２−１、１２−２、１２−３を経由し、ファイバ長可変装置３４−１、３４−２、３４−３、により眼底形状に追従し、偏光装置１４−１、１４−２、１４−３により偏光が最適化される。
そして、サンプル光と合波して干渉光が形成される干渉装置４６へ導かれる。

つぎに、上記した参照光の光路長を変更する光路長変更装置７について、さらに具体的に説明する。
図１に示す通り、コリメータ６により、直径１ｍｍの平行光として、出射された光は、分散補償ガラス３３を通過し、光路長変更装置７へ入射される。
光路長変更装置７は、ＶＣＭにより駆動するステージ４５とミラー４４により構成されている。
本実施例では高速に網膜断層像が取得出来るように、ＶＣＭを有するステージを使用している。
ＶＣＭは図示した矢印方向に数μｍの移動・停止を高速・高精度に繰り返すことができる。
ＶＣＭは高速でステージを駆動させる事が可能であるが、上部に積載する部材の質量によりパフォーマンスが異なることから、高速に対応させるためには、本実施例のように、部材は極力小さく部品点数も少なくする必要がある。

一方、サンプル光は光ファイバカプラ１０により３本に分岐され、つぎのように出射される。
各々光ファイバ１５−１、１５−２、１５−３、サーキュレータ１１−１、１１−２、１１−３、光ファイバ１６−１、１６−２、１６−３を介し、コリメータ２０−１、２０−２、２０−３により平行光で出射される。
各平行光２１−１、２１−２、２１−３はガルバノｘ−ｙスキャナ２２（ｙミラーは図示せず）により観察対象の被検眼１９の照射位置ｘ−ｙを確定し、レンズ２３、２４により被検眼の網膜に焦点を合わせる。
本実施例では、図１の観察対象の網膜付近の装置構成１７内に示されているように、眼軸方向をｚ、眼底平面で眼球の左右の方向をｘ、上下方向をｙと表記する。サンプル光は角膜、水晶体、硝子体を通して、観察対象の網膜に到達する。
サンプル光は様々な箇所で反射や散乱を繰り返し、上述と同様の光路を経て、各々サーキュレータ１１−１、１１−２、１１−３から光ファイバ２５−１、２５−２、２５−３へ伝達される。
そして、偏光装置２６−１、２６−２、２６−３で偏光が最適化され、サンプル光は干渉装置４６へ導かれる。
本実施例では、レンズ２０−１、２０−２、２０−３により、直径２ｍｍの平行光となり、焦点距離がそれぞれ６０ｍｍ、４０ｍｍであるレンズ２３、２４を用い、眼底網膜の所望の位置に焦点を合わせている。
焦点を補正する為、レンズ２４は可動する。
駆動可能なガルバノミラー、レンズ、眼底の形状に合わせる為のファイバ長可変装置３４−１、３４−２、３４−３は制御画像解析装置３２により制御を行う。

上記の参照光とサンプル光は、各々光ファイバカプラ１３−１、１３−２、１３−３により干渉する。
干渉信号は光ファイバ２７−１、２７−２、２７−３、偏光装置２８−１、２８−２、２８−３、レンズユニット２９−１、２９−２、２９−３を介し、透過型グレーティング３０−１、３０−２、３０−３によって波長毎に分光され、レンズ３１−１、３１−２、３１−３を介してラインカメラ１８に入射する。
ラインカメラ１８は各位置（波長）毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼１９の断層像が構成される。
本実施例では、ラインカメラ１８により、それぞれの波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。

本実施例における光源１は、バンド幅が広く、空間コヒーレンス長が短いため、参照光とサンプル光の各々の光路長がほぼ等しい時に干渉縞が観測できる。
各々の干渉縞を光周波数軸の信号に変換し、逆フーリエ変換することで、網膜の深さ方向の情報を得る。
以上の情報を各位置（ｘ，ｙ）で行い、ガルバノスキャナ２２で走査することで所望の領域の網膜断層像を得ることができる。
以上のように、ラインカメラ１８で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。
次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ１８と透過型グレーティング３０との特性を考慮して、合波された光毎に、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報が得られる。
サンプル光をｘ−ｙガルバノスキャナ２２のｘ軸を駆動しながら、該干渉縞を検知すれば、各ｘ軸の位置毎に干渉縞が得られる。
後に、ｘ−ｚ面での戻り光の強度の２次元分布が得られ、図４の様な光の強度分布による断層像が得られる。

本実施例では以上の眼底網膜からの強度分布をアレイ上に並べられた３箇所（３本）のコリメータで受光し、図４の様な領域（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、３つの断層像を同時に、連続して取得することができる。
断層像のレジストレーション等のため、重複してスキャンしてもよい。
本実施例では、上述した構成を用いたがこのような構成に限定されるものではない。その他、光源としては、時間コヒーレントが小さく、空間コヒーレントが大きい光源が望ましく、スーパールミネッセントダイオード以外でも、ＡＳＥ（自然放出光）光源、フェムト秒レーザ光源、波長掃引レーザでも良い。
また、光路長変更手段で用いたステージは、精度と高速走査が可能なステージが望ましく、ＶＣＭ以外にも、長ストロークのピエゾステージ等でも良い。
光ファイバカプラ９、１０、はビームスプリッタ等でも良く、干渉装置４６、ラインカメラ１８等は同等の機能を果たす装置ならば他の装置でも同様の効果が得られることから、他の構成でも良い。
更に、この干渉計の光路を空気中に開放した系で構成しても、光ファイバで構成しても構わない。
干渉信号より、被検眼の前後方向の位置変動を検出する機能としては、タイムドメイン方式、スペクトラルドメイン方式、スウェプトソース方式いずれでも構わないが、検出速度の面から、より好ましくは、スペクトラルドメイン方式、スウェプトソース方式である。
また、複数本に分割されたサンプル光をアレイでｘ方向に並べたが、ｙ又ｚ方向に並べても良い。
また、本実施例では３本に参照光とサンプル光を分割したが、更に多くの光に分割する事で装置の高速化を図った系においても本発明を適応することで、同様の効果が得られる。
以上の本実施例のように、参照光とサンプル光を分割する手段と、参照光を複数本に分割する手段との間に、ディレイラインである光路長変更手段を設けることで、光路長変更手段は最小限の構成とすることができる。
これにより、複数本のビームの干渉が簡易な構成により可能となり、且つ、高速化を達成することができる。

［実施例２］
実施例２として、眼球のｚ軸方向の動きを検出し、ＯＣＴディレイラインにフィードバック制御することにより、高解像な網膜断層画像を取得するようにした構成例について説明する。
本実施例では、実施例１と同様、複数のサンプル光を有する光干渉断層撮像装置において、任意のサンプル光を前眼部の角膜にフォーカスし、眼球の前後の動きを計測する。
そして、その計測結果を、ディレイラインに反映することで、眼球の動きに影響しない高画質の網膜断層像を得るように構成される。
図２は本実施例の光干渉断層撮像装置（ＯＣＴ装置）の要部を表した図である。また、図３は観察対象の眼球付近の装置構成を表す図である。
本実施例を適用するＯＣＴ装置で、実施例１と同様である光源、光分割手段、分光器、データ構築方法に関する説明は省略する。

図２に示す通り、実施例１と大きく異なる箇所は、光路長変更手段、観察対象の眼球付近の装置構成、干渉装置である。
先ず、図２に示す光路長変更装置７について、説明する。
本実施例では、眼球運動に対応するため、高速に駆動するディレイライン装置が必要となるため、光路長変更装置として、ＲＳＯＤ（ｒａｐｉｄ ｓｃａｎｎｉｎｇ ｏｐｔｉｃａｌ ｄｅｌａｙ ｌｉｎｅ）を用いる。
このようなＲＳＯＤは、例えば特表２００１−５２７６５９号公報等にその具体的構成が開示されているが、これによると回折格子とミラーとを含む構成を備え、スキャナでミラーを振ることにより光路長を変えることができ、高速化を図ることができる。
また、これによると、ミラーを振ることにより反射時に光軸方向が変わっても、入射する波長により透過あるいは反射するときの角度が決まる回折格子が用いられているから、この回折格子により光軸を調整することができる。

ここで、コリメータ６により、直径１ｍｍの平行光として、出射された光は、分散補償ガラス３３を通過し、光路長変更装置（ＲＳＯＤ）７へ入射される。
ＲＳＯＤ７は、入射光３５に対する反射ミラー３６、レンズ３７、３８、格子間隔（ｄ）の回折格子３９、およびレンズ４０を有する。
ミラー４１は、レンズ４０からおよそ焦点距離（ｆ）離れて配置され、回折格子３９は、入射光線３５のスペクトルを分散させる。
ミラー４１が図２の破線の様に傾斜している場合、破線４２の様にコリメータ６に戻り、参照光の光路長が変更される。
図２では簡単のため、ミラー４１の反射後の位置を大きくずらしている。ミラー４１は回転制御可能な回転部材４３により角度を変更することが可能である。
ミラーは制御画像解析装置３２により制御している。
本実施例ではＲＳＯＤに複光路ミラーを用いていないが、ＲＳＯＤに複光路ミラーを用い、コリメータ６に損失を少なく光路長を変更した光を戻す事で、より高精度に光路長を制御する事も可能である。

つぎに、前眼部の位置検出光学系について説明する。
光分割手段１０により、３本に分割されたサンプル光のうちの一本であるファイバ１５−２の光はサーキュレータ１００を介し、コリメータ１０３へ導かれる。図３のように、コリメータ１０３、可動式有孔レンズ１０４により５ｍｍの中空平行光１０８となる。
更に、有孔ミラー１０５を介し、可動式レンズ２４により眼球角膜１０６にフォーカスされる。
有孔レンズ１０４とレンズ２４は駆動可能なレンズで、制御画像解析装置３２にて、制御されている。
眼球角膜１０６からの散乱・反射等の戻り光は同一経路をたどる。
コリメータ１０３からサーキュレータ１００まで戻り、ファイバ２５−２から偏光装置２６−２により偏光が最適化され干渉系（干渉信号形成手段）１０２で干渉し、実施例１と同様、分光装置（干渉信号取得手段）４７で受光する。
分光装置（干渉信号取得手段）４７によって検出された信号は、ＦＦＴ信号処理を行い、角膜位置が検出される。
このような構成により、角膜に平行光１０９、１１０とは独立して角膜に焦点を合わせることができ、且つ、スキャニングの際も角膜頂点に焦点を合わせることができる。

つぎに、その補正手段の一例として、被検査物である眼球の動作を検出する動作検出手段によって検出された情報により、光路長変更手段を制御する手段について説明する。
図５は角膜の形状イメージと干渉信号のイメージを示す。
図３と同様、角膜に平行光１０８の焦点を合わせることで、図５の出力信号イメージ図の中央グラフ（ｂ）の１０８−１で示す様なデータが得られる。
横軸はｚ軸方向（深さ方向）を示し、縦軸は干渉信号強度を示している。
角膜部での反射成分の信号が、図５の１０８−１のようにピークと成って現れる。この１０８−１のピークの位置ズレを検知し、その位置ズレ量に基づいて、ミラーの駆動量を制御する。
具体的には、眼球が前後方向に変位すると、１０８−１のピーク位置が左右（ｚ軸方向）に移動する。この際に眼球が前方向に変位すると、ピーク位置が右に変位し、後方向に変位すると、ピーク位置が左に変位する。
予め目標となるピーク位置を規定しておき、目標ピーク位置からのズレ量、いわゆる偏差をもとに、ＲＳＯＤのミラー４１の値を決定し、制御する。

つぎにその制御について説明する。
ＲＳＯＤ装置７とレンズ２４を制御し、サンプル光１０９、１１０の平行光の焦点を網膜にあわせる。
次に、有孔レンズ１０４を制御し、平行光１０８の焦点を角膜１０６に合わせる。
制御装置で、網膜と角膜の特徴点が検出できたら、ＯＣＴ画像を取得する。
特徴点が検出できなければ、再度、焦点と位置を合わせる。各々特徴点は黄斑、角膜頂点等検出しやすい箇所で良い。
ＯＣＴ画像を取得している際は、角膜頂点を周波数１０ｋＨｚでモニタし、初期の特徴点とのズレ量を換算し、ＲＳＯＤにフィードバックし、網膜のＯＣＴ画像を得ている。

以上のように、複数のサンプル光を用い、同時にＯＣＴ画像を得る事で高速化を達成しているＯＣＴ装置において、任意のサンプル光を眼球運動の検出に利用する。
これにより、新たなる部材を必要とせず、高画質で高速なＯＣＴ画像が得られる光干渉断層撮像装置を実現することができる。
本実施例ではの実施例１と同様、光源１はＳＬＤで波長は８４０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍを用いたが、他の波長でも同様の効果が得られる。
また、網膜断層取得装置のサンプル光は２本で、眼球運動検出用には１本あったが、それ以上でも同様の効果が得られる。
また、観察対象の眼球付近の光学系、ならびに光路分割手段、干渉系等は、本実施例以外に、ダイクロイックミラーやビームスプリッタ等を用いファイバを用いない系でも、同様の効果が得られる。

１：光源
７：光路長変更手段
９：光分割手段
１０：光分割手段
１７：観察対象網膜付近の装置構成
３２：制御画像解析装置
４６：干渉装置
４７：分光装置

Claims (15)

1. 光源からの光を参照光とサンプル光に分割し、被検査物に照射された該サンプル光による戻り光と、参照光路を経由した該参照光とを干渉させた干渉光を用い、前記被検査物の断層像を撮像する光干渉断層撮像装置であって、
   前記光源からの光を単数の参照光と単数のサンプル光とに分割する光分割手段と、
   前記単数の参照光の光路長を変更する光路長変更手段と、
   前記光路長変更手段により光路長が変更された前記単数の参照光を、複数の参照光に分割する参照光分割手段と、
   前記単数のサンプル光を、複数のサンプル光に分割するサンプル光分割手段と、
   前記複数のサンプル光を前記被検査物に導いて照射する照射手段と、
   前記照射手段により照射された前記被検査物からの前記複数のサンプル光による複数の戻り光と、参照光路を経由した前記複数の参照光とを合波して、複数の干渉光を形成する干渉光形成手段と、
   前記干渉光形成手段からの複数の干渉光を複数の干渉信号として取得する干渉信号取得手段と、
   を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
2. 前記照射手段により照射された少なくとも１つのサンプル光による戻り光と参照光とが合波された干渉信号に基づき、前記被検査物の動きを検出する動作検出手段と、
   前記動作検出手段により検出された情報により、前記光路長変更手段を制御する制御手段と、
   を更に有することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置。
3. 前記少なくとも１つのサンプル光は、当該サンプル光を除く他のサンプル光が照射される前記被検査物の位置とは異なる前記被検査物の位置に照射されることを特徴とする請求項２に記載の光干渉断層撮像装置。
4. 前記光路長変更手段が、ＲＳＯＤにより構成されていることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
5. 前記被検査物が眼であり、
   前記眼の眼底に対して前記複数のサンプル光を走査する走査手段を更に有し、
   前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数のサンプル光は、前記眼の前眼部に対して略平行光として照射され、前記眼底に焦点を合わせた状態で前記被検眼の眼底に導かれることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
6. 前記被検査物が眼であり、
   前記眼の形状に基づいて前記複数の調整手段を制御する制御手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
7. 前記被検査物が眼であり、
   前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数のサンプル光は、前記眼の眼軸に対し軸対称に導かれることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
8. 前記被検査物が眼であり、
   前記動作検出手段が、前記眼の前後方向の動きを検出することを特徴とする請求項２に記載の光干渉断層撮像装置。
9. 前記動作検出手段が、前記眼の角膜の前後方向の動きを検出することにより、前記眼の前後方向の動きを検出することを特徴とする請求項８に記載の光干渉断層撮像装置。
10. 光源からの光を単数の参照光と単数のサンプル光とに分割する光分割手段と、
    前記単数の参照光の光路長を変更する光路長変更手段と、
    前記光路長変更手段により光路長が変更された前記単数の参照光を、複数の参照光に分割する参照光分割手段と、
    前記単数のサンプル光を、複数のサンプル光に分割するサンプル光分割手段と、
    前記複数のサンプル光を被検査物に導いて照射する照射手段と、
    前記照射手段により照射された前記被検査物からの前記複数のサンプル光による複数の戻り光と、参照光路を経由した前記複数の参照光とを合波して、複数の干渉光を形成する干渉光形成手段と、
    を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
11. 前記複数の参照光と前記複数のサンプル光との光路長差をそれぞれ調整する複数の調整手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至請求項１０のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
12. 前記複数の調整手段は、前記複数の参照光における光路長のそれぞれのファイバ長を変更する複数のファイバ長可変手段であることを特徴とする請求項１１に記載の光干渉断層撮像装置。
13. 前記光路長変更手段が、前記単数の参照光の光路に設けられ、
    反射部材と、該反射部材を回転制御する手段とを含むことを特徴とする請求項１乃至請求項１２のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。
14. 前記光路長変更手段が、前記単数の参照光のスペクトルを分散する回折格子を有し、
    前記反射部材は、前記回折格子からの光を反射することを特徴とする請求項１３に記載の光干渉断層撮像装置。
15. 前記単数の参照光の光路に設けられた分散補償手段を更に有し、
    前記光路長変更手段が、前記分散補償手段からの光を反射する反射部材を含むことを特徴とする請求項１乃至請求項１２のいずれか１項に記載の光干渉断層撮像装置。

Images