JP5537527B2 - 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器 - Google Patents

時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器 Download PDF

Info

Publication number
JP5537527B2
JP5537527B2 JP2011209672A JP2011209672A JP5537527B2 JP 5537527 B2 JP5537527 B2 JP 5537527B2 JP 2011209672 A JP2011209672 A JP 2011209672A JP 2011209672 A JP2011209672 A JP 2011209672A JP 5537527 B2 JP5537527 B2 JP 5537527B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output signals
sampling
error
conversion
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011209672A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013074323A (ja
Inventor
本 智 彦 杉
路 隆 文 山
野 隼 也 松
田 雅 則 古
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2011209672A priority Critical patent/JP5537527B2/ja
Priority to US13/425,332 priority patent/US8659454B2/en
Publication of JP2013074323A publication Critical patent/JP2013074323A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5537527B2 publication Critical patent/JP5537527B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/08Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise
    • H03M1/0836Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise of phase error, e.g. jitter
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/1205Multiplexed conversion systems
    • H03M1/121Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel
    • H03M1/1215Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel using time-division multiplexing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

本発明の実施形態は、複数の入力信号のサンプリング時間誤差を推定する時間誤差推定装置と、この時間誤差推定装置を内蔵するA/D変換器とに関する。
複数のA/D変換部のそれぞれでタイミングをずらしてA/D変換を行うことで、等価的に高速にA/D変換を行う、時間インターリーブ方式のA/D変換器が実用化されている。
仮に複数のA/D変換部の電気特性が全く一致していれば、単一のA/D変換部でA/D変換器を構成した場合と同等のA/D変換特性が得られるが、実際には、複数のA/D変換部を同じ半導体チップ上に形成したとしても、A/D変換特性にばらつきが生じる。
A/D変換特性のばらつきは、直流オフセット、利得誤差、およびサンプリング時間誤差の3つに分けられる。このうち、直流オフセットと利得誤差は、従来から比較的簡易な検出方法や補正方法が知られているが、サンプリング時間誤差に関しては、確立された検出方法や補正方法はまだ存在しない。
サンプリング時間誤差に関する先行技術として、例えば、複数のA/D変換部のサンプリング時間誤差を推定して、各A/D変換部でのサンプリング時間を補正する技術が提案されている。各A/D変換部のサンプリング時間誤差を推定するために、複雑な構成のフィルタを設けることも提案されているが、フィルタの構成が複雑になると、A/D変換器の回路規模が大きくなり、消費電力も増大してしまう。
一方、参照用のA/D変換部の出力信号を基準として、他の複数のA/D変換部の出力信号と比較して、これら複数のA/D変換部の誤差推定の演算を簡素化する技術が提案されている。この技術では、参照用のA/D変換部の出力信号が全体の精度に影響してしまう。また、参照用のA/D変換部を別個に設けるということは、その分だけA/D変換器の回路規模が大きくなってしまう。
米国特許7084793公報
大島、高橋、「タイムインターリーブADCのオンチップバックグランド補正」、信学技法、ICD2010-34
本発明の実施形態は、時間インターリーブ方式のA/D変換を行う際のA/D変換部のサンプリング時間誤差を、簡易な構成で精度よく推定可能な時間誤差推定装置およびA/D変換器を提供するものである。
本発明の実施形態の一態様では、複数のサンプリング回路のそれぞれでタイミングをずらしてサンプリングを行って得た複数のサンプリング出力信号を用いて信号処理を行う時間インターリーブ信号処理装置における、前記複数のサンプリング回路のサンプリング時間誤差を推定する時間誤差推定装置において、
前記複数のサンプリング出力信号同士の類似度を表す相関値を求める相関器と、
前記複数のサンプリング回路の出力信号から推定する入力信号の微分値により前記相関値の重みを調整した結果に基づいて、前記複数のA/D変換部のサンプリング時間誤差を推定する重み加算器と、を備えることを特徴とする時間誤差推定装置が提供される。
第1の実施形態に係るA/D変換器の概略構成の一例を示すブロック図。 図1の時間誤差推定装置16の内部構成の一例を示すブロック図。 利得制御信号生成器23の内部構成の一例を示すブロック図。 第2の実施形態に係るA/D変換器1の概略構成を示すブロック図。 第2の実施形態に係る時間誤差推定装置16の内部構成を示すブロック図。 第3の実施形態に係るA/D変換器1aの概略構成を示すブロック図。 第4の実施形態に係るA/D変換器1bの概略構成を示すブロック図。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。
(第1の実施形態)
図1は第1の実施形態に係るA/D変換器の概略構成の一例を示すブロック図である。図1のA/D変換器1は、それぞれがタイミングをずらしてA/D変換を行う複数のA/D変換部2と、誤差補正装置3とを備えている。
各A/D変換部2は、1クロックずつタイミングをずらしてA/D変換を行う。図1の例では、4つのA/D変換部2が設けられているため、各A/D変換部2は4クロックごとに1回の割合でA/D変換を行う。個々のA/D変換部2の動作速度が遅くても、A/D変換器1全体としては、個々のA/D変換部2の4倍の動作速度でA/D変換を行うことになり、高速のA/D変換器を実現できる。
誤差補正装置3は、微分値推定器11と、複数の遅延器12と、複数の誤差除去器13と、複数の乗算器14と、積分器15と、時間誤差推定装置16とを有する。微分値推定器11は、複数のA/D変換部2の出力信号の微分値を推定する。複数の遅延器12は、複数のA/D変換部2の出力信号を遅延させる。各遅延器12は、微分値推定器11で微分値を推定するのに要する時間だけ、対応するA/D変換部2の出力信号を遅延させる。これにより、遅延器12の出力信号と微分値推定器11から出力される微分値とのタイミングを合わせることができる。
複数の誤差除去器13は、複数の遅延器12の出力信号から複数のA/D変換部2のサンプリング時間誤差を除去してデジタル出力信号を生成する。
複数の遅延器12、複数の誤差除去器13および複数の乗算器14はそれぞれ、A/D変換部2の数と同じ数ずつ設けられている。
時間誤差推定装置16は、複数のA/D変換部2のサンプリング時間誤差に対応する誤差信号を生成する。積分器15は、時間誤差推定装置16が生成した誤差信号を所定の時間区分で足し合わせる積分処理を行う。
複数の乗算器14は、積分器15で足し合わせた誤差信号と微分値とを乗算する。乗算器14の乗算結果は、誤差除去器13に送られる。誤差除去器13は、遅延器12の出力信号から乗算器14の乗算結果を減じることで、A/D変換部2のサンプリング時間誤差の補正を行う。
図2は図1の時間誤差推定装置16の内部構成の一例を示すブロック図である。図2の時間誤差推定装置16は、複数の相関器21と、重み加算器22と、利得制御信号生成器23とを有する。
複数の相関器21のそれぞれは、A/D変換器1から出力されるデジタル出力信号同士の類似度を表す相関値を求める。
重み加算器22は、複数のA/D変換部2の出力信号の微分値により相関値の重みを調整した結果に基づいて、複数のA/D変換部2のサンプリング時間誤差を推定する。重み加算器22は、より詳細には、重み付け部24と、利得制御部25とを有する。重み付け部24は、相関器21に重みを乗じる処理を行う。利得制御部25は、重み付け部24の出力信号の利得を調整する。
利得制御信号生成器23は、重み加算器22で誤差を推定する際に調整する利得を生成する。
以下、本実施形態による時間誤差推定装置16の動作原理を説明する。複数のA/D変換部2が本来のサンプリング時間nTにサンプリングを行った場合のA/D変換出力信号をy(nT)とし、複数のA/D変換部2が本来のサンプリング時間nTからΔtずつずれた時間にサンプリングを行った場合のA/D変換出力信号をy(nT+Δt)とすると、以下の(1)式の関係が成り立つ。
y(nT+Δt)≒y(nT)+y’(nT)Δt …(1)
ここで、y’(nT)はy(nT)の微分値である。この(1)式を変形することにより、本来のA/D変換出力信号y(nT)は、以下の(2)式で表される。
y(nT)≒y(nT+Δt)−y’(nT)Δt …(2)
y’(nT)は、例えば有限インパルス応答フィルタ(FIRフィルタ)を用いて推定可能である。これに対して、サンプリング時間誤差Δtを推定するのは容易ではない。そこで、本実施形態では、以下の手順でΔtを推定する。
A/D変換器1が4つのA/D変換部2を備えるものとし、各A/D変換部2から出力される本来のA/D変換出力信号をそれぞれ、y((4m+1)T)、y((4m+2)T)、y((4m+3)T)、y((4m+4)T)とする。各A/D変換部2のサンプリングタイミング誤差をそれぞれΔt1、Δt2、Δt3,Δt4とすると、各A/D変換部2による実際のA/D変換出力信号はそれぞれ、y((4m+1)T+Δt1)、y((4m+2)T+Δt2)、y((4m+3)T+Δt3)、y((4m+4)T+Δt4)となる。
よって、4つのA/D変換部2のうち、1番目と2番目のA/D変換部2によるA/D変換出力信号はそれぞれ、以下の(3)式と(4)式で表される。
y((4m+1)T+Δt1)≒y((4m+1)T)+y’((4m+1)T)Δt1
…(3)
y((4m+2)T+Δt2)≒y((4m+2)T)+y’((4m+2)T)Δt2
…(4)
これら(3)式と(4)式のA/D変換出力信号同士の類似度を表す相関値R21は、以下の(5)式で表される。
Figure 0005537527
上記(5)式では、本来のA/D変換出力信号の自己相関関数はA/D変換部2の種類に依存しないと仮定している。また、上記(5)式では、1番目と2番目のA/D変換部2のA/D変換出力信号同士の相関値と、2番目と3番目のA/D変換部2のA/D変換出力信号同士の相関値とは一致するものと仮定している。A/D変換出力信号の微分値についても、同様の扱いをしている。また、誤差Δt1、Δt2は本来の値(4m+1)T、(4m+2)Tよりもはるかに小さく、一次近似が成り立つものとし、誤差の二次以降の項は省略している。また、上記(5)式で、信号名の上のバーは、平均値を意味する。
微分値y’(nT)、y’((n+1)T)を、FIRフィルタにより近似すると、以下の(6)式が成り立つ。
Figure 0005537527
ただし、ciはFIRフィルタのタップ係数である。c-i=−ciの関係が成り立つため、以下の(7)式が成り立つ。
Figure 0005537527
上記(7)式では、信号の統計的な性質の時間的変化は無視できるものとし、以下の(8)式が成り立つと仮定している。
Figure 0005537527
この(8)式は、上述したように、A/D変換部2同士の相関値は、どのA/D変換部2であっても同一であることを示している。
上記(7)式を(5)式に適用すると、相関値R21は、以下の(9)式で表される。
Figure 0005537527
この(9)式を変形すると、時間差(Δt2−Δt1)は、以下の(10)式で表される。
Figure 0005537527
Δt1−Δt4、Δt3−Δt2、Δt4−Δt3も、上記(10)式と同様の式で表される。
各A/D変換部2のサンプリングタイミングの時間誤差Δtiの合計がゼロ、すなわちΔt1+Δt2+Δt3+Δr4=0とすると、時間誤差Δtiは、以下の(11)式で表される。
Figure 0005537527
上記(11)式の右辺の第3項に(10)式を代入することで、時間誤差Δtiを求めることができる。
上述した例では、A/D変換器1内に4個のA/D変換部2を設ける場合の式を説明したが、A/D変換器1内のA/D変換部2の数がp個(pは2以上の任意の整数)の場合の時間誤差Δti(iは1〜pの整数)は、以下の(12)式と(13)式で表される。
Figure 0005537527
Figure 0005537527
p=4の場合における上述した(9)式の右辺第1項を定数C、右辺第2項の係数をAとして簡略化して表現すると、以下の(14)式のようになる。
Rij=A(Δti−Δtj)+C …(14)
ここで、i、jはそれぞれ1〜4の任意の整数である。上記(14)式の定数Cを除去するには、異なるi、jの(14)式同士の差分を取るようにして、定数Cを相殺すればよい。これにより、以下の(15)式が得られる。
Figure 0005537527
(15)式を、A/D変換器1内にp個のA/D変換部2が存在する場合の一般式に拡張すると、(16)式のようになる。
Figure 0005537527
A/D変換器1内に4個のA/D変換部2が存在する場合の時間誤差Δtiは、上述した(11)式の右辺に(15)式を代入することで、以下の(17)式で表される。
Figure 0005537527
同様に、A/D変換器1内にp個のA/D変換部2が存在する場合の時間誤差Δtiは、上述した(13)式の右辺に(16)式を代入することで、以下の(18)式で表される。
Figure 0005537527
(17)式および(18)式からわかるように、(14)式の定数Cは計算の過程で相殺されるが、係数Aは残ったままである。このため、本実施形態では、時間誤差推定装置16内に利得制御信号生成器23を設けて、係数Aの値を利得として求めて、この利得の逆数を重み加算部22で乗じることにより、係数Aを相殺する処理を行う。
図3は利得制御信号生成器23の内部構成の一例を示すブロック図である。図3の利得制御信号生成器23は、マルチプレクサ(MUX)31と、遅延器32と、微分値推定器33と、相関器34と、逆数算出器35とを有する。
マルチプレクサ31は、A/D変換部2から出力される4つのA/D変換出力信号の中から一つを順に選択する。
微分値推定器33は、マルチプレクサ31が選択したA/D変換出力信号の微分値を推定する。この微分値推定器33は、例えばFIRフィルタを用いて構成される。
遅延器32は、マルチプレクサ31が選択したA/D変換出力信号を、微分値推定器33の処理時間分だけ遅延させる。このように、遅延器32は、マルチプレクサ31が選択したA/D変換出力信号を、微分値推定器33で推定した微分値と同期化するために設けられている。
相関器34は、マルチプレクサ31が選択したA/D変換出力信号と微分値との類似度を表す相関値を求める。この相関値は、上述した(17)式の係数Aに相当する。
逆数算出器35は、相関器34が求めた相関値の逆数を算出して、上述した係数Aを相殺するために、重み加算部22にこの逆数を供給する。
次に、第1の実施形態に係るA/D変換器1の動作を説明する。このA/D変換器1は、4つのA/D変換部2を備えており、各A/D変換部2はサンプリングタイミングをずらしてA/D変換を行う。したがって、各A/D変換部2から出力されるA/D変換出力信号も、それぞれ位相がずれている。
微分値推定器11は、FIRフィルタ等を用いて、これらA/D変換出力信号の微分値を推定する。複数の遅延器12は、微分値推定器11で微分値を推定するのに要する時間分だけ、各A/D変換出力信号を遅延させる。すなわち、遅延器12は、A/D変換出力信号を微分値と同期化する処理を行う。
複数の誤差除去器13は、上述した(2)式に従って、時間誤差Δtiと微分値との乗算値を、A/D変換出力信号から減じる処理を行って、最終的なデジタル出力信号を生成する。このデジタル出力信号は、フィードバック制御のために、時間誤差推定装置16に入力される。
時間誤差推定装置16は、上述した(17)式の演算を行って、時間誤差Δtiを計算する。このとき、(17)式の係数Aを、利得制御信号生成器23で事前に計算して、その逆数を乗じることで、係数Aを相殺する。
時間誤差推定装置16が推定した時間誤差Δtiは、積分器15に累積保持される。より具体的には、積分器15は、各A/D変換部2の時間誤差を、個々のA/D変換部2ごとに累積保持する。したがって、各A/D変換部2ごとに、積分器15の出力と微分値とを乗じた値が、上述した(2)式のy’(nT)Δtに相当する値になる。この値を誤差除去器13でA/D変換出力信号から除去することにより、最終的なデジタル出力信号が得られる。
本実施形態は、積分器15の入力がゼロになるように、サンプリング時間誤差のフィードバック制御を行うため、サンプリング時間誤差がゼロになる状態で安定化する。よって、安定状態では、時間誤差推定装置16で推定される時間誤差Δtiはゼロになり、各A/D変換部2のサンプリング時間誤差がなくなる。
このように、第1の実施形態では、A/D変換器1内の複数のA/D変換部2から出力されたA/D変換出力信号同士で相関値を推定し、この相関値に重みを乗じることにより、各A/D変換部2のサンプリング時間誤差を求め、この時間誤差がゼロになるように、フィードバック制御を行うため、各A/D変換部2のサンプリング時間誤差を精度よく補正することができる。
特に、本実施形態では、基準となるA/D変換出力値を出力する参照用のA/D変換器1を必要とせず、また、サンプリング時間誤差を推定するための複雑な構成のフィルタも必要としないため、比較的簡易なハードウェアあるいはソフトウェア構成で、時間誤差の高精度の補正処理を行うことができる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態は、A/D変換器1内に、4個ではなく、2個のA/D変換部2が設けられることを特徴とする。
図4は第2の実施形態に係るA/D変換器1aの概略構成を示すブロック図である。図1と比較すればわかるように、図4のA/D変換器1aは、遅延器12、誤差除去器13および乗算器14が2個ずつ設けられる点で、図1のA/D変換器1aと異なっており、その他の構成は図1と同様である。
図5は第2の実施形態に係る時間誤差推定装置16aの内部構成を示すブロック図である。図5の時間誤差推定装置16aは、相関器21の前段にハイパスフィルタ(HPF)26が接続されている点と、相関器21が2個設けられている点と、利得制御信号生成器23が存在しない点と、重み加算器22aの内部に利得制御部25が存在しない点とが、図2の時間誤差推定装置16と異なっている。
ハイパスフィルタ26は、A/D変換器1aから出力される最終的なデジタル出力信号に含まれる直流成分を除去する。ハイパスフィルタ26を設ける理由は、本来的に相関値は、直流成分を除去した信号同士で推定されるべきものであるためである。したがって、図2の相関器21の前段にも、ハイパスフィルタ26を接続してもよい。また、逆に、ブロック構成の簡略化のために、図5の時間誤差推定装置16からハイパスフィルタ26を省略してもよい。
図5の重み加算器22aは、入力された2信号の差信号を出力する。すなわち、重み加算器22は、以下の(19)式の演算を行う。
Figure 0005537527
上述したように、誤差の合計はゼロと仮定されるため、Δt1=−Δt2であることを利用すると、誤差は両相関器21の出力の差分として検出可能である。
サンプリング時間誤差を推定するには、第1の実施形態で説明したように、係数Aの利得分を補正する必要があるが、フィードバック制御のループ利得が十分に大きい場合には利得誤差の影響を受けにくいことを考慮に入れて、係数の補正を省略することができる。
第1の実施形態と同様に、第2の実施形態においても、(19)式の時間誤差Δt1、Δt2がゼロになるようにフィードバック制御を行う。
このように、第2の実施形態は、A/D変換器1a内のA/D変換部2の数も少なく、また、利得制御も不要なため、デジタル出力信号が比較的安定した信号であれば、図5の構成でも高精度の時間誤差補正を行うことができる。
A/D変換器1aを無線通信機器に用いた場合、デジタル出力信号が大きく変動し、係数Aも大きく変動するおそれがある。この場合は、第1の実施形態と同様の利得制御を行った方が、時間誤差の振幅変動が抑制されて、時間誤差のフィードバック制御を短時間で収束させることができる。
(第3の実施形態)
第1および第2の実施形態では、A/D変換器1から出力される最終的なデジタル出力信号をフィードバックさせて、各A/D変換部2のサンプリング時間誤差を補正したが、各A/D変換部2から出力されるA/D変換出力信号より推定される誤差信号をフィードフォワードさせてもよい。
図6は第3の実施形態に係るA/D変換器1bの概略構成を示すブロック図である。図6のA/D変換器1bは、時間誤差推定装置16の入力信号が図1のA/D変換器1bと異なり、また、積分器15が存在しない点が異なっており、その他の構成は図1と同様である。
図6の時間誤差推定装置16には、各A/D変換部2から出力された各A/D変換出力信号が入力される。時間誤差推定装置16の内部構成は、図2と同様である。したがって、図2の相関器21は、各A/D変換出力信号同士の類似度を表す相関値を推定する。重み加算器22は、推定された相関値を用いて、(17)式の重み付け演算を行い、かつ係数Aを相殺する利得制御処理を行って、各A/D変換部2のサンプリング時間誤差Δtiを求める。
このように、第3の実施形態は、A/D変換器1bの最終的なデジタル出力信号を用いたフィードバック制御ではなく、時間誤差を補正する前のA/D変換出力信号の相関を推定して時間誤差を求めるフィードフォワード制御を行う。
第1および第2の実施形態におけるフィードバック制御は、補正済みの信号に対して残留誤差の推定を行うため、全体として高精度の時間誤差補正を行うことができる。これに対して、第3の実施形態におけるフィードフォワード制御は、相関値の計算に十分な信号サンプル数が集まった時点で予測誤差が略一定に収束する。例えば、通信状況に応じて信号帯域幅を変更する通信システムに用いるA/D変換器1bでサンプルレートを変更した場合も、短時間でサンプリング時間補正値の修正を完了することができる。
このような特徴により、第3の実施形態は、精度ではフィードバック制御に劣るが、より短時間で時間誤差を収束させることができる。よって、A/D変換器1bの動作を開始させてから、A/D変換器1bから最終的なデジタル出力信号が出力されるまでの時間を短縮できる。また、第3の実施形態によれば、A/D変換器1b内に積分器15を設けなくてよいため、全体構成をより簡略化できる。
(第4の実施形態)
上述した第1〜第3の実施形態では、A/D変換器1内に複数のA/D変換部2を設けて時間インターリーブ方式のA/D変換を行う例を説明したが、同方式のA/D変換は、一つのA/D変換部2のみでも実現可能である。そこで、以下に説明する第4の実施形態は、一つのA/D変換部2だけで時間インターリーブ方式のA/D変換を行うものである。
図7は第4の実施形態に係るA/D変換器1cの概略構成を示すブロック図である。図7のA/D変換器1cは、一つのA/D変換部2と、デマルチプレクサ(DEMUX)4と、誤差補正装置3とを備えている。誤差補正装置3の内部構成は、図1や図6に示したものと同様である。
A/D変換部2は、第1〜第3の実施形態で説明した複数のA/D変換部2よりも、高速にA/D変換を行うことを特徴とする。
デマルチプレクサ4は、A/D変換部2から出力されるA/D変換出力信号を所定の時間区分で複数個(図7の例では4つ)に順に振り分ける。デマルチプレクサ4を設けることにより、高速で動作するA/D変換部2からのA/D変換出力信号を並列処理し、かつ並列処理する信号周波数を落とすことができる。これにより、消費電力の削減も図れる。
ところが、高速のA/D変換出力信号をデマルチプレクサ4で低速化かつ並列化すると、並列化した信号の周波数に合わせて、A/D変換器1cの電源線の消費電流が変動することになり、これにより、電源電圧も変動してしまう。特に、電源供給端子から遠い場所にある端子の電源電圧はより変動しやすくなる。これにより、A/D変換用のクロック信号の遅延量も変動し、サンプリング時間誤差が生じる要因になる。
図7の誤差補正装置3は、このようなサンプリング時間誤差を補正するために用いられることができる。
図7の誤差補正装置3は、図1や図6の誤差補正装置3と同様に、最終的なデジタル出力信号またはA/D変換出力信号同士の相関値を求めた後に、その相関値の重みを調整した結果に基づいて、A/D変換部2のサンプリング時間誤差がゼロになるようなフィードバック制御またはフィードフォワード制御を行う。
このように、第4の実施形態では、一つのA/D変換部2を高速動作させて、デマルチプレクサ4で複数のA/D変換出力信号に振り分ける場合も、A/D変換部2のサンプリング時間誤差を精度よく補正できる。
第1〜第4の実施形態では、主に2つまたは4つのデジタル出力信号を生成する、いわゆる2インターリーブまたは4インターリーブ方式のA/D変換器1cを説明したが、インターリーブするデジタル出力信号の数には特に制限はない。3インターリーブや5インターリーブのような奇数個のデジタル出力信号を生成する場合にも同様に適用可能である。また、8インターリーブや16インターリーブのようにインターリーブする数が多い場合にも同様に適用可能である。
上述した各実施形態における時間誤差推定装置16は、A/D変換部2のサンプリング時間誤差を推定しているが、時間誤差推定装置の別の実施形態として、A/D変換部2のサンプリング時間誤差推定以外の用途にも適用可能である。具体例としては、入力信号をサンプリングした後にアナログ回路による時間インターリーブ信号処理を行うスイッチトキャパシタ回路や、直交復調回路に代表される複数出力を有する周波数変換回路の誤差補正にも適用可能である。また、サンプリング出力信号を複数の回路ブロックに順次割り振る時間インターリーブ処理の例としては、Nパスフィルタや高調波除去機能を持つ多相ダウンコンバータがある。本明細書では、上述した時間誤差補正処理を行う時間誤差推定装置を備えた各種の回路を、総称して時間インターリーブ信号処理装置と呼ぶ。
上述した実施形態で説明したA/D変換器1の少なくとも一部は、ハードウェアで構成してもよいし、ソフトウェアで構成してもよい。ソフトウェアで構成する場合には、A/D変換器1の少なくとも一部の機能を実現するプログラムをフレキシブルディスクやCD−ROM等の記録媒体に収納し、コンピュータに読み込ませて実行させてもよい。記録媒体は、磁気ディスクや光ディスク等の着脱可能なものに限定されず、ハードディスク装置やメモリなどの固定型の記録媒体でもよい。
また、A/D変換器1の少なくとも一部の機能を実現するプログラムを、インターネット等の通信回線(無線通信も含む)を介して頒布してもよい。さらに、同プログラムを暗号化したり、変調をかけたり、圧縮した状態で、インターネット等の有線回線や無線回線を介して、あるいは記録媒体に収納して頒布してもよい。
本発明の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではなく、当業者が想到しうる種々の変形も含むものであり、本発明の効果も上述した内容に限定されない。すなわち、特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
1、1a、1b、1c A/D変換器
2 A/D変換部
3 誤差補正装置
11 微分値推定器
12 遅延器
13 誤差除去器
14 乗算器
15 積分器
16、16a 時間誤差推定装置
21 相関器
22、22a 重み加算器
23 利得制御信号生成器
24 重み付け部
25 利得制御部
31 マルチプレクサ
32 遅延器
33 微分値推定器
34 相関器
35 逆数算出器

Claims (7)

  1. それぞれがタイミングをずらして入力信号のA/D変換を行う複数のA/D変換部と、
    前記複数のA/D変換部の出力信号から入力信号の微分値を推定する微分値推定器と、
    前記複数のA/D変換部の出力信号を遅延させる複数の遅延器と、
    前記複数のA/D変換部のサンプリング時間誤差を前記複数の遅延器の出力信号から除去してデジタル出力信号を生成する誤差除去器と、
    前記サンプリング誤差に対応する誤差信号を生成する時間誤差推定装置と、を備え、
    前記時間誤差推定装置は、
    前記デジタル出力信号または前記複数のA/D変換部の出力信号同士の相関値を求める相関器と、
    前記複数のA/D変換部の出力信号の微分値により前記相関値の重みを調整した結果に基づいて、前記複数のA/D変換部のサンプリング時間誤差を推定する重み加算器と、を有することを特徴とするA/D変換器。
  2. 複数のサンプリング回路のそれぞれでタイミングをずらしてサンプリングを行って得た複数のサンプリング出力信号を用いて信号処理を行う時間インターリーブ信号処理装置における、前記複数のサンプリング回路のサンプリング時間誤差を推定する時間誤差推定装置において、
    前記複数のサンプリング出力信号同士の類似度を表す相関値を求める相関器と、
    前記複数のサンプリング回路の出力信号から推定する入力信号の微分値により前記相関値の重みを調整した結果に基づいて、複数のA/D変換部のサンプリング時間誤差を推定する重み加算器と、を備えることを特徴とする時間誤差推定装置。
  3. 前記重み加算器は、
    前記複数のサンプリング回路の数に応じた重みで前記相関値を重み付けする重み付け部と、
    前記重み付け部で重み付けされた前記相関値の利得を制御して、前記誤差を表す誤差信号を生成する利得制御部と、を有することを特徴とする請求項2に記載の時間誤差推定装置。
  4. 前記重み加算器は、
    前記複数のサンプリング回路の数に応じた重みで前記相関値を重み付けした値を利得制御なしでそのまま用いて、前記誤差を表す誤差信号を生成する利得制御部と、を有することを特徴とする請求項2に記載の時間誤差推定装置。
  5. 前記複数のサンプリング回路の出力信号または前記複数のサンプリング出力信号の直流成分を除去するハイパスフィルタ部を備え、
    前記相関器は、前記ハイパスフィルタ部を通過した複数の信号同士の相関値を求めることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の時間誤差推定装置。
  6. それぞれがタイミングをずらして入力信号のサンプリングを行う複数のサンプリング回路と、
    前記複数のサンプリング回路の出力信号から入力信号の微分値を推定する微分値推定器と、
    前記複数のサンプリング回路の出力信号を遅延させる複数の遅延器と、
    前記複数のサンプリング回路のサンプリング時間誤差を前記複数の遅延器の出力信号から除去して被補正出力信号を生成する誤差除去器と、
    前記サンプリング誤差に対応する誤差信号を生成する時間誤差推定装置と、を備え、
    前記時間誤差推定装置は、
    前記被補正出力信号または前記複数のサンプリング回路の出力信号同士の相関値を求める相関器と、
    前記複数の被補正出力信号またはサンプリング回路の出力信号から推定した入力信号の微分値により前記相関値の重みを調整した結果に基づいて、前記複数のサンプリング回路のサンプリング時間誤差を推定する重み加算器と、を有することを特徴とする誤差補正装置。
  7. A/D変換を行う単一のA/D変換部と、
    前記A/D変換部の出力信号を所定の時間区分で複数のA/D変換出力信号に振り分けるデマルチプレクサと、
    前記複数のA/D変換出力信号から入力信号の微分値を推定する微分値推定器と、
    前記複数のA/D変換出力信号を遅延させる複数の遅延器と、
    前記A/D変換部のサンプリング時間誤差を前記複数の遅延器の出力信号から除去してデジタル出力信号を生成する誤差除去器と、
    前記サンプリング時間誤差に対応する誤差信号を生成する時間誤差推定装置と、を備え、
    前記時間誤差推定装置は、
    前記デジタル出力信号または前記複数のA/D変換出力信号同士の相関値を求める相関器と、
    前記複数のA/D変換出力信号の微分値により前記相関値の重みを調整した結果に基づいて、前記A/D変換部のサンプリング時間誤差を推定する重み加算器と、を有することを特徴とするA/D変換器。
JP2011209672A 2011-09-26 2011-09-26 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器 Expired - Fee Related JP5537527B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011209672A JP5537527B2 (ja) 2011-09-26 2011-09-26 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器
US13/425,332 US8659454B2 (en) 2011-09-26 2012-03-20 Time error estimating device, error correction device and A/D converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011209672A JP5537527B2 (ja) 2011-09-26 2011-09-26 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013074323A JP2013074323A (ja) 2013-04-22
JP5537527B2 true JP5537527B2 (ja) 2014-07-02

Family

ID=47910695

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011209672A Expired - Fee Related JP5537527B2 (ja) 2011-09-26 2011-09-26 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8659454B2 (ja)
JP (1) JP5537527B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11636903B2 (en) 2021-03-22 2023-04-25 Kioxia Corporation Semiconductor circuit, receiving device, and memory system

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9281834B1 (en) * 2012-09-05 2016-03-08 IQ-Analog Corporation N-path interleaving analog-to-digital converter (ADC) with offset gain and timing mismatch calibration
WO2015069850A1 (en) * 2013-11-06 2015-05-14 Navitas Solutions Fast data acquisition in digital communication
US9160358B2 (en) * 2014-03-12 2015-10-13 Texas Instruments Incorporated Close-in tones
US9178525B2 (en) * 2014-03-12 2015-11-03 Texas Instruments Incorporated Mismatch corrector
US9184762B2 (en) * 2014-03-13 2015-11-10 Texas Instruments Incorporated Mismatch profile
JP6767216B2 (ja) * 2016-09-15 2020-10-14 株式会社東芝 アレイアンテナ装置、およびアレイアンテナシステム
JP2018046462A (ja) * 2016-09-15 2018-03-22 株式会社東芝 アレイアンテナ装置
US10250273B2 (en) 2016-12-16 2019-04-02 Texas Instruments Incorporation Band specific interleaving mismatch compensation in RF ADCs
CN109379080A (zh) * 2018-09-21 2019-02-22 电子科技大学 用于时间交替采样的时间误差自适应消除方法
CN113037283A (zh) * 2019-12-09 2021-06-25 中兴通讯股份有限公司 时间交织逐次逼近型模数转换器及其校准方法
TWI831150B (zh) * 2022-03-17 2024-02-01 瑞昱半導體股份有限公司 三角積分調變器

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE525470C2 (sv) 2003-01-15 2005-03-01 Infineon Technologies Ag Metod och anordning för att uppskatta tidsfel i ett system med tidssammanflätade A/D omvandlare
JP2005159640A (ja) * 2003-11-25 2005-06-16 Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd A−d変換器並列処理回路
JP4492953B2 (ja) * 2004-12-21 2010-06-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 キャンセラ装置及びデータ伝送システム
TWI282216B (en) * 2005-04-13 2007-06-01 Realtek Semiconductor Corp Correlation circuit for time-interleaved ADC and method thereof
US7148828B2 (en) * 2005-05-03 2006-12-12 Agilent Technologies, Inc. System and method for timing calibration of time-interleaved data converters
JP4774953B2 (ja) * 2005-11-28 2011-09-21 株式会社日立製作所 時間インターリーブad変換器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11636903B2 (en) 2021-03-22 2023-04-25 Kioxia Corporation Semiconductor circuit, receiving device, and memory system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013074323A (ja) 2013-04-22
US8659454B2 (en) 2014-02-25
US20130076545A1 (en) 2013-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5537527B2 (ja) 時間誤差推定装置、誤差補正装置およびa/d変換器
JP4498184B2 (ja) 直線性補償回路
US9287889B2 (en) System and method for dynamic path-mismatch equalization in time-interleaved ADC
US8421656B2 (en) Time-interleaved analog-to-digital conversion circuit having polyphase correction filter
CN107959499B (zh) 测量和校正系统的非理想性
JP6230417B2 (ja) A/d変換回路および半導体集積回路
JP2010272972A (ja) 干渉除去装置および通信装置
JP2013191956A (ja) アナログデジタル変換器(adc),その補正回路およびその補正方法
CN110266311A (zh) 一种tiadc系统失配误差校准方法、装置、设备及介质
KR20090005353A (ko) 특성 취득 장치, 방법 및 프로그램
JP4451486B2 (ja) アナログ/デジタル変換装置およびデジタル/アナログ変換装置
JP5070571B2 (ja) アナログデジタル変換装置、アナログデジタル変換方法、制御装置及びプログラム
JP4619265B2 (ja) 周期的サンプリング誤差の補正方法
WO2004077776A1 (ja) デジタイザ装置、波形発生装置、変換方法、波形発生方法、及びそのプログラムを記録した記録媒体
KR101422211B1 (ko) 신호 발생 장치 및 신호 발생 방법
JP2004328436A (ja) A/d変換装置
US10735010B1 (en) CDR-based timing skew calibration
JP5535166B2 (ja) アナログデジタル変換装置及び信号処理システム
JP5876849B2 (ja) サンプリングレート変換システム、及びサンプリングレート変換方法
JP2006222701A (ja) A/d変換器の出力補正回路
Huiqing et al. Adaptive digital calibration of timing mismatch for TIADCs using correlation
JP6373765B2 (ja) 濾波装置および濾波方法
KR101435431B1 (ko) I/q 타이밍 스큐 보정 장치
JP2009239847A (ja) A/d変換装置
US10476483B2 (en) Decimation filter

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140310

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140425

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees