JP5524978B2 - 太陽電池及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は太陽電池及びその製造方法に関する。
最近石油や石炭のような既存エネルギ資源の枯渇が予測されながらこれらを取り替える代替エネルギに対する関心が高くなっている。その内でも太陽電池は太陽エネルギから電気エネルギを生産する電池として、エネルギ資源が豊かで環境汚染に対する問題点がなくて注目されている。
一般的な太陽電池はP型とn型のように互いに異なる導電型(conductive type)の半導体からなる基板及びエミッタ層(emitter layer)、そして基板とエミッタ層にそれぞれ接続された電極を備える。この時、基板とエミッタ層の界面にはP−n接合が形成されている。
このような太陽電池に光が入射されれば半導体で複数の電子-正孔対が生成され、生成された電子-正孔対は光起電力効果によって電子と正孔にそれぞれ分離して電子と正孔はn型の半導体とp型半導体の方に、例えばエミッタ層と基板の方に移動し、基板とエミッタ層と電気的に接続された電極によって収集され、この電極を電線で接続して電力を得る。
この時、エミッタ層と基板の上には、エミッタ層と基板に接続された電極とそれぞれ接続されるバス バーのような少なくとも一つの集電部を位置させ、当該の電極で収集された電荷が隣接した集電部を通じて外部に接続された負荷に容易に移動するようにする。
しかし、この場合、光が入射されない基板の上だけではなく光が入射される面、すなわち、受光面に形成されたエミッタ層上にも集電部が位置するので、集電部によって光の入射面積が減少し太陽電池の効率が落ちる。
したがって集電部による太陽電池の効率減少を減らすため、エミッタ層と接続される集電部を入射面の反対側に位置した基板の後面に位置させた金属包装透過型(metal wrap through、MWT)太陽電池が開発されている。
本発明の目的は、太陽電池の効率をを向上させることにある。
課題を解決するために本発明の一特徴による太陽電池は少なくとも一つのビアホールを備えた第1導電型の基板と、前記基板上の前記第1導電型と反対の第2導電型のエミッタ層、前記エミッタ層と電気的に接続され一部が前記ビアホール内部に位置する第1導電体、前記ビアホールを通じて前記第1導電体と接続され、一部が前記ビアホールの内部に位置する第2導電体、と前記第2導電体と電気的に分離し、前記基板と電気的に接続される第3導電体を含む。
本発明の他の特徴による太陽電池の製造方法は第1導電型の基板に少なくとも一つのビアホールを形成する段階と、前記基板に前記第1導電型と反対の第2導電型のエミッタ層を形成する段階と、第1導電体集電部パターンを形成するために前記ビアホールの内部空間の一部と、前記ビアホール周りの前記基板の後面に位置する前記エミッタ層上に第1ペーストを印刷し、前記第1導電体パターンと接続される第2パターンを形成するために前記基板の前面の前記エミッタ層上と前記第1ペーストで満たされない前記ビアホールの残り内部空間に第1ペーストと異なる物質の第2ペーストを印刷する段階と、第3導電体パターンを形成するために前記基板の後面から前記第1導電体パターンの形成部分を除いた残りの部分に第3ペーストを印刷する段階と、そして前記第1導電体パターンを第1導電体に形成し、前記第2導電体パターンを前記エミッタ層及び前記ビアホールを通じて前記第1導電体に電気的に接続される第2導電体に形成し、前記第3導電体パターンを前記基板と電気的に接続される第3導電体に形成するために前記第1導電体パターン、前記第2導電体パターン及び前記第3導電体パターンを備えた前記基板を熱処理する段階を含む。
本発明のこのような特徴によって、鉛を含む導電体と鉛を含んでいない導電体がビアホールの内部空間に全て位置するによってビアホール内部空間での漏洩電流の量が減少するかビアホール内部空間での電荷の移動度が向上し、太陽電池の効率が向上する。
本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の部分斜視図である。 図1に示した太陽電池をII−II線に沿った断面図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。 本発明の他の実施の形態に係る図1に示した太陽電池をII−II線に沿った断面図である。 本発明の他の実施の形態に係る太陽電池の一部製造方法を順に示した図である。 本発明の他の実施の形態に係る太陽電池の一部製造方法を順に示した図である。 本発明の他の実施の形態に係る太陽電池の一部製造方法を順に示した図である。 本発明の他の実施の形態に係る太陽電池の一部製造方法を順に示した図である。
本発明の利用可能性の範囲は、以下の詳細な記述から明確となるであろう。しかし、詳細な説明と具体的な実例は、本発明のより好ましい実施の形態を示すものの、説明のために示すものであって、本発明の精神と範囲内における様々な変更及び修正が、当該技術の分野の当業者にとってこの詳細な記述から明確であるものと理解される。
添付の図面は、本発明の更なる理解のために含まれ、この明細書の部分を構成するものとして組み込まれ、本発明の原理を説明するための記述とともに、本発明の実施の形態を説明する。
以下では添付した図面を参照にして本発明の実施の形態に対して本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者が容易に実施するように詳しく説明する。しかし本発明はいろいろ相異な3形態に具現されることができここで説明する実施の形態に限定されない。そして図面で本発明を明確に説明するために説明と関係ない部分は省略し、明細書全体を通じて同様な部分に対しては同様な図面符号を付けた。
図で多くの層及び領域を明確に表現するために厚さを拡大して示した。明細書全体を通じて類似の部分に対しては同一である図面符号を付けた。層、膜、領域、基板などの部分が他の部分「上に」あると言う時、これは他の部分「真上に」ある場合だけではなくその中間に他の部分がある場合も含む。反対に何れの部分が他の部分「真上に」あると言う時には中間に他の部分がないことを意味する。また何れの部分が他の部分上に「全体的」に形成されていると言う時には他の部分の全体面に形成されていることだけではなく端の一部には形成されないことを意味する。
それでは添付した図面を参照にして本発明の一実施の形態に係る太陽電池に対して詳しく説明する。
先ず、図1及び2を参照にして本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池に対して詳細に説明する。
図1は本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池の部分斜視図であり、図2は図1に示した太陽電池をII−II線に沿ってた断面図である。
図1を参照すれば、本発明の一つの実施の形態に係る太陽電池1は複数のビアホール(via hole)181を備える基板110、基板110に位置したエミッタ層120、光が入射される基板110の面である入射面(以下、「前面(front surface)」という。)のエミッタ層120上に位置する反射防止膜130、反射防止膜130が位置しない基板110の前面のエミッタ層120上に位置した複数の前面電極(front electrode)141、光が入射されないで前面と向い合う基板110の面(以下、「後面(rear surface)」という。)に位置する後面電極(rear electrode)151、後面電極151と離隔され、各ビアホール181とビアホール181周辺に位置したエミッタ層120に位置し、前面電極141と電気的に接続される複数の前面電極用集電部161、後面電極151と電気的に接続されて一定間隔で位置する複数の後面電極用集電部162そして後面電極151とその下部の基板110の間に位置する後面電界(back surface field、BSF)部171を備える。
基板110は第1導電型、例えばp導電型のシリコンからなる半導体基板である。この時、シリコンは単結晶シリコン、多結晶シリコンまたは非晶質シリコンで有り得る。基板110がp導電型を有する場合、ホウ素(B)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)のような3価元素の不純物を含む。
しかし、これとは異なり、基板110はn導電型でありえ、シリコン以外の他の半導体物質からなることもできる。基板110がn導電型を有する場合、基板110はりん(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb)のように5価元素の不純物を含むことができる。
このような基板110は貫通する複数のビアホール181を備え、表面がテクスチャリング(texturing)されて凹凸面であるテクスチャリング表面(texturing surface)を有する。複数のビアホール181は複数の前面電極141と複数の前面電極用集電部161が交差する部分の基板110に形成されている。
エミッタ層120は基板110の導電型と反対の第2導電型、例えば、n導電型を備える不純物部として、半導体基板110とp−n接合を成す。
このようなp−n接合による内部電位差によって、基板110に入射された光によって生成された電荷である電子-正孔対は電子と正孔に分離して電子はn型の方に移動し正孔はp型の方に移動する。したがって、基板110がp型でエミッタ層120がn型の場合、分離した正孔は基板110の方へ移動し分離した電子はエミッタ層120の方へ移動し、基板110で正孔は多数キャリアになり、エミッタ層120で電子は多数キャリアになる。
エミッタ層120は基板110とp−n接合を形成するので、本実施の形態と異なり、基板110がn導電型を有する場合、エミッタ層120はp導電型を有する。この場合、分離した電子は基板110の方へ移動し分離した正孔はエミッタ層120の方へ移動する。
エミッタ層120がn導電型を有する場合、エミッタ層120はりん(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb)のように5価元素の不純物を基板110にドーピングして形成することができ、反対にp導電型を有する場合、ホウ素(B)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)のような3価元素の不純物を基板110にドーピングして形成することができる。
基板110の前面のエミッタ層120上にシリコン窒化膜(SiNx)やシリコン酸化膜(SiOx)などからなる反射防止膜130が形成される。反射防止膜130は太陽電池1に入射される光の反射度を減らし特定の波長領域の選択性を増加させ、太陽電池1の効率を高める。このような反射防止膜130は約70nm乃至80nmの厚さで有り得る。代案的な実施の形態で、反射防止膜130はビアホール181の側壁にも位置することができる。反射防止膜130は必要によって省略されることができる。
図1に示さないが、基板110の側面分離(edge isolation)のために反射防止膜130とその下部のエミッタ層120は基板110前面の端一部を露出する露出部(図示せず)を備える。
複数の前面電層141は基板110の前面に形成されたエミッタ層120上に位置しエミッタ層120と電気的に接続されて、互いに離隔されるように決まった方向に伸び、下部に位置するビアホール181を覆っている。また、図2に示すように、各前面電極141はビアホール181の内部まで位置するが、これとは異なり、ビアホール181の内部まで形成されないでビアホール181の仮想上部面(S1)に位置することができる。本実施の形態で、各ビアホール181の長さ(H)の約20%乃至約0%が前面電極141で満たされる。すなわち、ビアホール181の仮想上部面(S1)と仮想下部面(S2)間に形成されるビアホール内部空間の約20%乃至約0%が前面電極141で満たされる。本実施の形態で、仮想上部面(S1)は基板110の前面側に位置するビアホール181の入口に対する仮想の面をさし、仮想下部面(S2)は基板110の後面側に位置するビアホール181の入口に対する仮想の面をさす。
各前面電極141はエミッタ層120の方へ移動した電荷、例えば、電子を収集してビアホール181を通じて電気的に接続されている該当前面電極用集電部161に伝達する。
複数の前面電極141は少なくとも一つの導電性物質からなり、これら導電性物質の例はニッケル(Ni)、銅(Cu)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つでありえ、また、他の導電性金属物質からなることができる。
本実施の形態で、前面電極141は銀(Ag)を含み、また鉛(Pb)または酸化鉛(PbO)のような鉛(Pb)を含んでいる。
基板110の後面には複数の前面電極用集電部161が位置している。図2に示したように、各前面電極用集電部161はビアホール181の内部まで位置する。この時、前面電極用集電部161は前面電極141によって満たされないビアホール181の内部空間を満たし、ビアホール181の内部空間でまたはビアホール181の仮想の上部面(S1)で前面電極141の少なくとも一部と接触する。したがって、各ビアホール181の長さ(H)の約80%乃至約100%が前面電極用集電部161で満たされている。すなわち、ビアホール181の内部空間の約80%乃至約100%が前面電極用集電部161で満たされている。これにより、ビアホール181の内部で前面電極141と前面電極用集電部161は互いに接するようになって、ビアホール181を通じて前面電極141と前面電極用集電部161は互いに接続される。
本発明の実施の形態で、前面電極用集電部161は反射防止膜130と充分に接触することができる高さにあたる部分までビアホール181を満たす。言い換えれば、前面電極用集電部161は反射防止膜130の高さまでビアホール181を満たす。
このように、ビアホール181の内部空間内に存在する前面電極141と前面電極用集電部161の量が互いに相異することによって、図2に示すように、ビアホール内部空間に位置する前面電極141と前面電極用集電部142の高さも異なる、すなわち、各ビアホール181内で前面電極141の高さと前面電極用集電部142の高さが互いに異なるようになる。本実施の形態で、前面電極141の高さは仮想上部面(S1)からビアホール181内部空間に存在する前面電極141までの一番遠い距離でありえ、前面電極用集電部161の高さは仮想下部面(S2)からビアホール181の内部空間に存在する前面電極141までの一番遠い距離で有り得る。結局、ビアホール181内に存在する前面電極141と前面電極用集電部142の量と高さだけ異なるだけ、ビアホール181内には前面電極141と前面電極用集電部142が全て存在する。
複数の前面電極用集電部161はバス バーとも呼ばれ上部に位置した前面電極141と交差する方向に延長されている。
前面電極用集電部161また少なくとも一つの導電性物質からなり、前面電極用集電部161はビアホール181を通じて交差する前面電極141と電気的に接続される。したがって、前面電極用集電部161は前面電極141と電気的に接続されるので、前面電極141から伝達する電荷を外部装置に出力する。
本実施の形態で、前面電極用集電部161は前面電極141と異なり鉛(Pb)を含まず、銀(Ag)のような導電性金属物質を含む。導電性金属物質の例は銀(Ag)だけでなくニッケル(Ni)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つでありえ、また、他の導電性金属物質からなることができる。
本例で、前面電極用集電部161が鉛(Pb)を含まないということは前面電極用集電部161に含有された鉛(Pb)が不足し設定量以下か意図せず鉛(Pb)を少量含むことができるという意味で有り得る。ここで鉛が設定量以下または少量含有するというのは前面電極用集電部161に含有された鉛によってその下部に位置した膜や構成要素に蝕刻などのような影響を与えない程度を意味する。
後面電極151は基板110の後面上に位置し基板110と電気的に接続され隣接した前面電極用集電部161と離隔されるように位置する。このような後面電極151は基板110の方に移動する電荷、例えば正孔を収集する。
後面電極151は少なくとも一つの導電性物質からなる。導電性物質はニッケル(Ni)、銅(Cu)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つでありえ、また、他の導電性物質からなることができる。
後面電極151と前面電極用集電部161の間には複数の露出部182が形成されている。これによって、後面電極151及び前面電極用集電部161その下部のエミッタ層120は基板110の後面一部を露出する複数の露出部182を備えている。複数の露出部182は主に前面電極用集電部161の周りに形成される。このような露出部182によって電子または正孔を移動させ収集する後面電極151間の電気的な接続が切られて電子と正孔の移動が円滑になる。
後面電極151上には複数の後面電極用集電部162が位置する。後面電極用集電部162は導電性金属物質からなる。
導電性金属物質の例はニッケル(Ni)、銅(Cu)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つでありえ、また、他の導電性金属物質からなることができる。
各後面電極用集電部162は一定間隔に配置され円形の複数のパッドを備えるが、楕円形または四角形のような多様な形状のパッドを備えるか前面電極用集電部161と平行に伸びる長方形形状となりえる。
このような後面電極用集電部162は電気的に接続された後面電極151から伝達する電荷、例えば正孔を外部装置に出力する。
このように、前面電極141、前面電極用集電部161、後面電極151及び後面電極用集電部162は皆導電性金属物質を含み、電荷を伝達するので導電体として機能する。
後面電極151と基板110の間に後面電界部171が位置する。後面電界部171は基板110と同一である導電性タイプの不純物が基板110より高濃度にドーピングされた領域、例えば、P+領域である。
基板110と後面電界部171との不純物濃度差によって電位障壁が形成され、これにより、基板110後面側への電子移動の妨げとなって基板110の表面近くで電子と正孔が再結合して消滅するものが減る。
このような構造を有する本実施の形態に係る太陽電池1は前面電極141と接続される前面電極用集電部161を光が入射しない基板110の後面に位置させたMWT太陽電池として、その動作は次のようである。
太陽電池1に光が照射され反射防止膜130とエミッタ層120を通じて半導体の基板110に入射されれば光エネルギによって半導体の基板110から電子-正孔対が発生する。この時、基板110の表面がテクスチャリング表面であるから基板110の前面部での光反射度が減少し、テクスチャリング表面で入射と反射動作が行われて太陽電池内部に光が閉じこめられるようになってこれにより光の吸収率が増加するので、太陽電池1の効率が向上する。さらに、反射防止膜130によって基板110に入射される光の反射損失が減って基板110に入射される光の量はより一層増加する。
これら電子-正孔対は基板110とエミッタ層120のp−n接合によって互いに分離し電子はn導電型を有するエミッタ層120の方に移動し正孔はp導電型を有する基板110の方へ移動する。このように、エミッタ層120の方に移動した電子は前面電層141によって収集されビアホール181を通じて電気的に接続された前面電極用集電部161に移動し基板110の方に移動した正孔は隣接した後面電界部171を通じて当該後面電極151によって収集され後面電極用集電部162へ移動する。このような前面電極用集電部161と後面電極用集電部162を導線で連結すれば電流が流れるようになり、これを外部で電力に利用するようになる。
この時、鉛(Pb)を含まない前面電極用集電部161がビアホール181の内部空間の多くの部分を満たしているので、太陽電池1を形成する時実施される熱処理工程の時鉛(Pb)によってビアホール181の内部に位置するエミッタ層120の一部が損傷することが防止される。したがって、前面電極141から前面電極用集電部161に移動する電荷の一部がビアホール181の内部の損傷したエミッタ層120を通じて基板110の方へ移動し発生する漏洩電流の発生を防止して太陽電池1の効率が向上する。
次に、図3乃至図10を参照にし本発明の一実施の形態に係る太陽電池1の製造方法について説明する。
図3乃至図10は本発明の一実施の形態に係る太陽電池の製造方法を順に示した図である。
図3に示すように、先に、p型単結晶または多結晶シリコンからなる基板110に複数のビアホール181を形成する。この時、ビアホール181はレーザビームを照射して形成するレーザドリリング(laser drilling)によって形成されるが、これに限定されない。
次に、図4に示すように、基板110の前面をテクスチャリングし、凹凸面であるテクスチャリング表面を形成する。図4に示したように、ビアホール181の側壁にはテクスチャリング表面が形成されない。この時、基板110が単結晶シリコンからなる場合、KOH、NaOH、TMAHなどの塩基溶液を使って基板110の表面をテクスチャリングする。また、基板110が多結晶シリコンからなる場合、HFやHNO3のような酸溶液を使って基板110の表面をテクスチャリングする。
次に、図5に示すように、基板110にりん(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb)のように5価元素の不純物を含む物質、例えば、POCl3やH3PO4などを高温で熱処理し5価元素の不純物を基板110に拡散させ基板110の全面、すなわち、前面部、後面部、ビアホール181の内部面及び側面部にエミッタ層120を形成する。本実施の形態と異なり、基板110の導電型がn型の場合、3価元素の不純物を含む物質、例えば、B26を高温で熱処理するか積層して基板110前面にp型のエミッタ層を形成することができる。その後、p型不純物またはn型不純物が基板110内部に拡散するによって生成されたりんを含む酸化物(PSG)やホウ素を含む酸化物(BSG)を蝕刻工程を通じてとり除く。
次に、図6に示したように、プラズマ気相成長(PECVD)のような気相成長(CVD)を利用して基板110の前面部に反射防止膜130を形成する。このとき、反射防止膜130はビアホール181の内部またはビアホール181の一部にも形成されうる。
次に、図7に示すように、スクリーン印刷法を利用し、基板110の後面のエミッタ層120の該当の位置に銀(Ag)を含む集電部ペーストを塗布して前面電極用集電部パターン163と後面電極用集電部パターン165を形成した後、約170℃で乾燥させる。この時、前面電極用集電部パターン163と後面電極用集電部パターン165は鉛(Pb)を含まない。前面電極用集電部パターン163は仮想上部面(S1)と仮想下部面(S2)に定義されたビアホール181の内部空間の約80%乃至約100%を満たす。この時、集電部ペーストは銀(Ag)の代わりにニッケル(Ni)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つを含むことができる。
次に、図8に示すように、スクリーン印刷法を利用し、ビアホール181の少なくとも一部に満たされた前面電極用集電部パターン163と接触して決まった方向に延ばすように銀(Ag)を含んだ前面電極ペーストを基板110前面の反射防止膜130の該当の位置に塗布し前面電極パターン140を形成した後約170℃で乾燥させる。この時、前面電極パターン140は先に塗布された前面電極用集電部パターン163によって約80%乃至100%が満たされた内部空間の残り部分、約20%乃至0%を全部満たす。
前面電極ペーストは鉛(Pb)を含んでおり、鉛(Pb)の含有量は前面電極パターン140を構成するすべての成分の総含有量の約1%乃至3%で有り得る。
代案的な実施の形態で、前面電極ペーストは銀(Ag)の代わりにニッケル(Ni)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つを含むことができる。
このように、ビアホール181の内部空間はビアホール181が形成された部分に塗布されるペースト、すなわち前面電極用集電部パターン163と前面電極パターン140の内で先に塗布されるパターン163によって半分以上(50%以上)満たされ、後に塗布されるパターン140によって残り部分が満たされることが分かる。本例で、前面電極用集電部パターン163、後面電極用集電部パターン165及び前面電極パターン140の少なくとも2つは同時に塗布されこれらの熱処理工程も同時に成り得る。
次に、図9に示すように、前面電極用集電部パターン163と後面電極用集電部パターン165が形成された部分を除いた基板110後面のエミッタ層120上に後面電極ペーストを塗布し後面電極パターン150を塗布した後、約170℃で乾燥させる。この時、後面電極ペーストはアルミニウム(Al)を含むが、これとは異なり、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つの導電物質を含むことができる。
次に、図10に示すように、スクリーン印刷法を利用し、後面電極用導電層パターン150の該当位置に銀(Ag)を含む後面電極用集電部ペーストを塗布し複数の後面電極用導電層パターン165を形成した後、乾燥させる。後面電極用集電部ペーストは銀(Ag)の代わりにニッケル(Ni)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Sn)、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、チタン(Ti)、金(Au)及びこれらの組合せからなる群から選択された少なくとも一つを含むことができる。
本実施の形態で、パターン140、150、163、165の形成順序は変更可能であり、これらパターン140、150、163、165は同時にまたは別個にパターニングするか熱処理することができる。
次に、約750℃乃至800℃の温度で基板110を焼結(sinter)し、複数の前面電極141、複数の前面電極141と電気的に接続される複数の前面電極用集電部161、基板110と接続される後面電極151、後面電極151と電気的に接続される複数の後面電極用集電部162及び後面電界部171を形成する(図10)。
すなわち、熱処理が施行されれば、前面電極用パターン140に含有された鉛(Pb)による接触部位の反射防止膜130が貫通されるパンチスルー現象によって前面電極パターン140が下部の反射防止膜130を貫くエミッタ層120と接触し、複数の前面電極141が形成される。
また、図10に示すように、後面電極パターン150の含有物であるアルミニウム(Al)が後面電極パターン150と接触した基板110の方へ拡散し後面電極パターン150と基板110の間に後面電界部171を形成する。この時、後面電界部171は基板110と同一の導電性タイプであるp型導電性タイプを有しており、後面電界部171の不純物濃度は基板110より高くp+の導電型を有する。また、各パターン140、163、165、150に含有された金属成分と各接触する層120、110との化学的に結合し接触抵抗が減少して電流が向上する。
この時、ビアホール181の内部空間大部分はパンチスルー現象を発生させる鉛(Pb)を含まない前面電極用集電部パターン163で満たされる。
したがって、パンチスルー現象によってビアホール181の内部に位置するエミッタ層120の損傷の危険が防止される。
既に説明したように、前面電極パターン140、すなわち前面電極ペーストの鉛含有量は前面電極ペーストを構成するすべての成分の総含有量の約1%ないし3%であり、約1%以下である場合、エミッタ層120までのパンチスルー現象が発生しないで、約3%以上の場合、基板110までパンチスルー現象が発生される恐れがある。
その後、レーザを利用し前面電極用集電部161周りの基板110の一部を現わす露出部182(例えば、図4に示すように)を形成し、基板110と電気的に接続される後面電極151と前面電極用集電部161を分離し基板110の前面の端部分に形成された反射防止膜130及びその下部のエミッタ層120の一部をとり除いて基板110の前面の一部を現わす露出部(図示せず)を形成する側面分離(edge isolation)を実施し太陽電池1を完成する(図1及び図2)。代案的に、複数の露出部182の形成と側面分離はレーザの代わりにPECVD法などを利用して行われることができる。
次に、図11を参照にして本発明の他の実施の形態に対して説明する。
図11は本発明の他の実施の形態によって図1に示された太陽電池をII−II線に沿った断面図である。
図1と比べる時、同一である機能を行う部分に対しては同じ図面符号を付与し、それに対する詳細な説明も省略する。
図11に示した太陽電池10は図1に示した太陽電池1とほとんど同様な構造を有している。すなわち、図11に示した太陽電池10は複数のビアホール181を備えている基板110、基板110に位置したエミッタ層120、エミッタ層120上に位置する反射防止膜130(図示せず)、エミッタ層120上に位置した複数の前面電極141、基板110の後面に位置する後面電極151、後面電極151と電気的に分離して、ビアホール181を通じて前面電極141と電気的に接続される複数の前面電極用集電部161、後面電極151と電気的に接続される複数の後面電極用集電部162、そして後面電極151とその下部の基板110の間に位置する後面電界部171を備える。
本実施の形態に係る太陽電池10で、各ビアホール181の内部空間を満たしている前面電極141と前面電極用集電部161の比が図1とは異なる。
すなわち、図1とは異なり、本実施の形態で、鉛(Pb)を含む前面電極141が各ビアホール181の内部空間の大部分を満たし、この時、各ビアホール181の内部空間の約80%乃至約100%が前面電極141で満たされる。これによって、鉛(Pb)を含まない前面電極用集電部161は各ビアホール181の残り空間の約20%乃至0%を満たしている。図2と比べる時、ビアホール181の内部には存在する前面電極141と前面電極用集電部161の量と前面電極141と前面電極用集電部161の位置は異なるが、図11に示すように、各ビアホール181の内部には前面電極141と前面電極用集電部162全てが存在する。このように、各ビアホール181の内部空間の大部分が前面電極141で満たされることによって、前面電極141で前面電極用集電部161に移動する電荷の移動度が増加する。すなわち、導電性物質である鉛(Pb)によって、前面電極141の伝導度は前面電極用集電部161の伝導度より良い。したがって、ビアホール181の内部空間の大部分を満たしている前面電極141を通じて電荷が前面電極用集電部161に移動するので、電荷の移動度が向上する。
このような太陽電池10を製造する方法について既に説明した図3乃至図10だけでなく図12乃至図15を参照して説明する。
図12乃至図15は本発明の他の実施の形態に係る太陽電池の一部製造方法を順に示した図である。
既に図3乃至図6を参照して説明したように、シリコンの基板110に複数のビアホール181を形成し、基板110の前面にテクスチャリングし基板110にテクスチャリング表面を形成した後、基板110の導電型と反対の導電型の不純物を基板110に注入しエミッタ層120を形成して、基板110の前面部に反射防止膜130を形成する。
その後、図7と図8とは反対に、図12及び図13に示すように、スクリーン印刷法を利用し前面電極ペーストを基板110の前面の該当の部分に塗布し前面電極パターン140を形成した後、集電部ペーストを基板110の後面のエミッタ層120上の該当の位置に塗布し前面電極用集電部パターン163と後面電極用集電部パターン165を形成する。既に説明したように、前面電極ペーストには約1%乃至3%の鉛(Pb)が含有されている。
このように、前面電極パターン140を前面電極用集電部パターン163より先に印刷することで、各ビアホール181の内部空間の約80%乃至約100%が前面電極パターン140で満たされ、残り約20%乃至約0%が前面電極用集電部用パターン163で満たされる。
次に、図9乃至図10に示すように、スクリーン印刷法を利用し前面電極用パターン163と後面電極用集電部パターン165が形成された部分を除いた基板110の後面のエミッタ層120上に後面電極ペーストを印刷し後面電極パターン150を形成した後乾燥させ(図14)、熱処理してエミッタ層120と電気的に接続される複数の前面電極141、複数の前面電極141と接続された複数の前面電極用集電部161、後面電極151、後面電極151と電気的に接続される後面電極用集電部162及び基板110と後面電極151の間に後面電界部171を形成する(図15)。
その後、レーザを利用し前面電極用集電部161周りの基板110の一部を現わす複数の露出部182(例えば、図11に示すように)を形成し後面電極151と前面電極用集電部161の電気的な分離を行って、側面分離を実施し太陽電池10を完成する(図11)。
以上で本発明の実施の形態に対して詳細に説明したが本発明の権利範囲はこれに限定されるのではなく次の請求範囲で定義している本発明の基本概念を利用した当業者の多くの変形及び改良形態も本発明の権利範囲に属するのである。

Claims (9)

  1. 少なくとも一つのビアホールを備えた第1導電型の基板と、
    前記基板に形成されて前記第1導電型と反対の第2導電型のエミッタ層と、
    前記エミッタ層と電気的に接続され前記基板の前面と前記ビアホールの内部空間の長さの0%乃至20%を満たしている前面電極と、
    前記ビアホールを通じて前記前面電極と接続され、前記基板の後面と前記ビアホールの内部空間の長さの80%乃至100%を満たしている前面電極用集電部と、
    前記基板の後面に位置し前記前面電極部用集電部と電気的に分離され、前記基板と電気的に接続される後面電極用集電部を含み、
    前記前面電極は、鉛(Pb)を含み、前記前面電極用集電部は実質的に鉛を含まない太陽電池。
  2. 前記ビアホール内で前記前面電極の長さは前記前面電極用集電部の長さと異なる請求項1記載の太陽電池。
  3. 前記ビアホール内で前記前面電極の長さは前記前面電極用集電部の長さより短い請求項2記載の太陽電池。
  4. 前記エミッタ層と前記ビアホールの側壁の一部に位置した反射防止膜をさらに含む請求項1記載の太陽電池。
  5. 前記エミッタ層は前記ビアホール内に追加で位置する請求項1記載の太陽電池。
  6. 第1導電型の基板に少なくとも一つのビアホールを形成する段階と、
    前記基板に前記第1導電型と反対の第2導電型のエミッタ層を形成する段階と、
    前記基板の後面と前記ビアホール内部の長さの80%乃至100%を第1ペーストで満たして前面電極用集電部パターンと後面電極用集電部パターンを形成する段階と、
    前記基板の前面に位置する前記エミッタ層上と前記第1ペーストで満たされない前記ビアホールの残り内部空間に第2ペーストを印刷し、前記前面電極用集電部パターンと接続される前面電極パターンを形成する段階と、
    前記前面電極用集電部パターンと前記後面電極用集電極部パターンが形成された部分を除いた基板後面のエミッタ層上に第3ペーストを塗布し後面電極パターンを形成する段階と、
    前記前面電極用集電部パターン、前記前面電極パターン、前記後面電極パターン及び前記後面電極用集電部パターンを同時に熱処理し、前記前面電極用集電部パターンを前面電極用集電部に形成し、前記前面電極パターンを前記エミッタ層及び前記前面電極用集電部に接続される前面電極に形成し、前記後面電極パターンを前記基板と接続される後面電極に形成し、前記後面電極用集電部パターンを前記後面電極と接続される後面電極用集電部に形成する段階を含み、
    前記第1ペーストの物質は実質的に鉛を含まず、前記第2ペーストの物質は鉛を含む
    太陽電池の製造方法。
  7. 前記第2ペーストの鉛含有量は前記第2ペーストのすべての成分の総含有量の内で1%乃至3%である請求項6記載の太陽電池の製造方法。
  8. 前記前面電極用集電部と前記後面電極用集電部の間の基板の一部が現われる第1露出部を形成し、前記前面電極用集電部と前記後面電極用集電部を電気的に分離する段階をさらに含む請求項6記載の太陽電池の製造方法。
  9. 前記基板の前面の端部分に形成された前記エミッタ層の一部をとり除いて前記基板の前面の一部を現わす第2露出部を形成する段階をさらに含む請求項8記載の太陽電池の製造方法。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7057256B2 (en) 2001-05-25 2006-06-06 President & Fellows Of Harvard College Silicon-based visible and near-infrared optoelectric devices
US7442629B2 (en) 2004-09-24 2008-10-28 President & Fellows Of Harvard College Femtosecond laser-induced formation of submicrometer spikes on a semiconductor substrate
KR20110024947A (ko) * 2009-09-03 2011-03-09 삼성전자주식회사 태양 전지
US9673243B2 (en) 2009-09-17 2017-06-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
US9911781B2 (en) 2009-09-17 2018-03-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
KR101125322B1 (ko) 2009-11-03 2012-03-27 엘지이노텍 주식회사 태양전지 및 이의 제조방법
TWI415277B (zh) * 2009-11-20 2013-11-11 Ind Tech Res Inst 太陽能電池結構
WO2011119618A2 (en) * 2010-03-24 2011-09-29 Sionyx, Inc. Devices having enhanced electromagnetic radiation detection and associated methods
US8692198B2 (en) 2010-04-21 2014-04-08 Sionyx, Inc. Photosensitive imaging devices and associated methods
CN103081128B (zh) 2010-06-18 2016-11-02 西奥尼克斯公司 高速光敏设备及相关方法
KR101624989B1 (ko) * 2010-09-10 2016-05-27 주식회사 원익아이피에스 태양전지기판의 표면처리방법 및 태양전지 제조방법
KR101729304B1 (ko) 2010-12-21 2017-04-21 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 그 제조 방법
US20120167978A1 (en) * 2011-01-03 2012-07-05 Lg Electronics Inc. Solar cell and method for manufacturing the same
US9153713B2 (en) 2011-04-02 2015-10-06 Csi Cells Co., Ltd Solar cell modules and methods of manufacturing the same
US8916410B2 (en) 2011-05-27 2014-12-23 Csi Cells Co., Ltd Methods of manufacturing light to current converter devices
US9496308B2 (en) 2011-06-09 2016-11-15 Sionyx, Llc Process module for increasing the response of backside illuminated photosensitive imagers and associated methods
US20130016203A1 (en) 2011-07-13 2013-01-17 Saylor Stephen D Biometric imaging devices and associated methods
CN102361040A (zh) * 2011-11-08 2012-02-22 天威新能源控股有限公司 一种太阳能电池及其制备方法
US9064764B2 (en) 2012-03-22 2015-06-23 Sionyx, Inc. Pixel isolation elements, devices, and associated methods
KR20150130303A (ko) 2013-02-15 2015-11-23 사이오닉스, 아이엔씨. 안티 블루밍 특성 및 관련 방법을 가지는 높은 동적 범위의 cmos 이미지 센서
WO2014151093A1 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Sionyx, Inc. Three dimensional imaging utilizing stacked imager devices and associated methods
US9209345B2 (en) 2013-06-29 2015-12-08 Sionyx, Inc. Shallow trench textured regions and associated methods
CN103594529A (zh) * 2013-11-27 2014-02-19 奥特斯维能源(太仓)有限公司 Mwt与背钝化结合的晶硅太阳能电池及其制造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6482570A (en) * 1987-09-24 1989-03-28 Mitsubishi Electric Corp Manufacture of photoelectric conversion device
GB2260220B (en) 1991-09-10 1996-01-03 Sanyo Electric Co An amorphous silicon solar cell and method of the solar cell manufacture
JP2911272B2 (ja) * 1991-09-10 1999-06-23 三洋電機株式会社 アモルファスシリコン太陽電池とその製造方法
DE10020541A1 (de) * 2000-04-27 2001-11-08 Univ Konstanz Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle und Solarzelle
US6613973B2 (en) * 2000-06-27 2003-09-02 Canon Kabushiki Kaisha Photovoltaic element, producing method therefor, and solar cell modules
JP4797272B2 (ja) * 2001-04-12 2011-10-19 住友化学株式会社 太陽電池用外装体
JP4203247B2 (ja) * 2002-03-20 2008-12-24 京セラ株式会社 太陽電池素子の形成方法
JP3998619B2 (ja) * 2003-09-24 2007-10-31 三洋電機株式会社 光起電力素子およびその製造方法
US20060060238A1 (en) * 2004-02-05 2006-03-23 Advent Solar, Inc. Process and fabrication methods for emitter wrap through back contact solar cells
DE102004050269A1 (de) 2004-10-14 2006-04-20 Institut Für Solarenergieforschung Gmbh Verfahren zur Kontakttrennung elektrisch leitfähiger Schichten auf rückkontaktierten Solarzellen und Solarzelle
US7556748B2 (en) 2005-04-14 2009-07-07 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method of manufacture of semiconductor device and conductive compositions used therein
KR20070009160A (ko) * 2005-07-15 2007-01-18 삼성에스디아이 주식회사 함몰전극형 태양전지 및 그 제조방법
KR101212198B1 (ko) * 2006-04-06 2012-12-13 삼성에스디아이 주식회사 태양 전지
US20070277875A1 (en) * 2006-05-31 2007-12-06 Kishor Purushottam Gadkaree Thin film photovoltaic structure
JP5025184B2 (ja) * 2006-07-28 2012-09-12 京セラ株式会社 太陽電池素子及びこれを用いた太陽電池モジュール、並びに、これらの製造方法
KR20080032866A (ko) * 2006-10-11 2008-04-16 삼성에스디아이 주식회사 박형 기판으로 제작할 수 있는 후면 전극형 태양 전지
JP2009152222A (ja) * 2006-10-27 2009-07-09 Kyocera Corp 太陽電池素子の製造方法
EP2105970A4 (en) 2006-12-26 2015-08-05 Kyocera Corp SOLAR CELL MODULE
EP2104147B1 (en) * 2006-12-26 2015-04-15 Kyocera Corporation Solar cell element and solar cell element manufacturing method
JP5258325B2 (ja) * 2007-03-29 2013-08-07 京セラ株式会社 太陽電池モジュール
JP2009088203A (ja) 2007-09-28 2009-04-23 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池、太陽電池モジュール及び太陽電池の製造方法
EP2068369A1 (en) * 2007-12-03 2009-06-10 Interuniversitair Microelektronica Centrum (IMEC) Photovoltaic cells having metal wrap through and improved passivation

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