JP5516513B2 - 印刷状態不良原因の解析装置および解析方法 - Google Patents
印刷状態不良原因の解析装置および解析方法 Download PDFInfo
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Description
また請求項2に記載の本発明の印刷状態不良原因の解析装置は、基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析装置であって、前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手手段と、前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理部と、前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理部と、特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力部とを備え、前記処理アルゴリズムは、前記基板の印刷対象面を複数の領域に分割して設定された要素エリア毎に前記面積率を分類して、それぞれの要素エリア毎に求められた当該要素エリアに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの要素エリアに対応させるエリア別面積率分布のいずれかの面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成するように設定されている。
また請求項7に記載の本発明の印刷状態不良原因の解析方法は、基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析方法であって、前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手工程と、前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理工程と、前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理工程と、特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力工程とを含み、前記解析用データ作成処理工程において、前記基板の印刷対象面を複数の領域に分割して設定された要素エリア毎に前記面積率を分類して、それぞれの要素エリア毎に求められた当該要素エリアに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの要素エリアに対応させるエリア別面積率分布のいずれかの面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成する。
3 基板
28 印刷状態不良原因の解析装置
32 要素基板
33 ランド
33a、33b、33c、33d 個別ランド
34、34a、34b、34c、34d 印刷パターン
PA、PB、PC、PD 電子部品
P1 分布パターン
P2 経時変動パターン
M1 スクリーン印刷装置
M2 印刷検査装置
M3 部品実装装置
Claims (10)
- 基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析装置であって、
前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手手段と、
前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理部と、
前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理部と、
特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力部とを備え、
前記処理アルゴリズムは、印刷されたペーストによって接合される単一部品に対応する複数のランドの集合によって構成される印刷パターン毎に前記面積率を分類して、それぞれの印刷パターン毎に求められた当該印刷パターンに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの印刷パターンに対応させるパターン別面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成するように設定されていることを特徴とする印刷状態不良原因の解析装置。 - 基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析装置であって、
前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手手段と、
前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理部と、
前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理部と、
特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力部とを備え、
前記処理アルゴリズムは、前記基板の印刷対象面を複数の領域に分割して設定された要素エリア毎に前記面積率を分類して、それぞれの要素エリア毎に求められた当該要素エリアに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの要素エリアに対応させるエリア別面積率分布のいずれかの面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成するように設定されていることを特徴とする印刷状態不良原因の解析装置。 - 前記解析用データは、印刷対象となった複数の前記基板についての前記分布パターンデータの変動を時系列的に統計処理した経時変動パターンを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の印刷状態不良原因の解析装置。
- 前記不良原因特定用のデータテーブルは、スクリーン印刷装置において、前記基板自体の異常に起因する基板異常、前記ペーストの異常に起因するペースト異常、前記基板を下受けして固定する基板下受け状態に起因する基板下受け異常、スクリーン印刷に用いられるスクリーンマスクの異常に起因するマスク異常、スクリーン印刷に用いられるスキージの異常に起因するスキージ異常のうちの少なくとも1つに起因する不良原因についての対比データを含むことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の印刷状態不良原因の解析装置。
- 前記出力フォーマットは、特定された前記印刷状態の不良原因を表示画面に所定の表示フォーマットにしたがって表示するように設定されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の印刷状態不良原因の解析装置。
- 基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析方法であって、
前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手工程と、
前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理工程と、
前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理工程と、
特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力工程とを含み、
前記解析用データ作成処理工程において、印刷されたペーストによって接合される単一部品に対応する複数のランドの集合によって構成される印刷パターン毎に前記面積率を分類して、それぞれの印刷パターン毎に求められた当該印刷パターンに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの印刷パターンに対応させるパターン別面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成することを特徴とする印刷状態不良原因の解析方法。 - 基板に形成された複数のランドにスクリーン印刷によって印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析する印刷状態不良原因の解析方法であって、
前記複数のランドのそれぞれの印刷状態を示す印刷指標データとして用いられ当該ランドに印刷されたペーストの平面形状における面積値の正規の印刷面積に対する比率を示す面積率を前記複数のランドのそれぞれについて求めた面積率計測データを入手するデータ入手工程と、
前記面積率計測データを所定の処理アルゴリズムにしたがってデータ処理することにより、前記基板に印刷されたペーストの印刷状態の不良原因を解析するための解析用データを作成する解析用データ作成処理工程と、
前記作成された解析用データを予め設定された不良原因特定用のデータテーブルと対比することにより前記印刷状態の不良原因を特定する不良原因特定処理工程と、
特定された前記印刷状態の不良原因を所定の出力フォーマットにしたがって出力する出力工程とを含み、
前記解析用データ作成処理工程において、前記基板の印刷対象面を複数の領域に分割して設定された要素エリア毎に前記面積率を分類して、それぞれの要素エリア毎に求められた当該要素エリアに属する複数の面積率の代表値をそれぞれの要素エリアに対応させるエリア別面積率分布のいずれかの面積率分布にしたがって、当該基板における面積率の位置的分布のパターンを示す分布パターンデータを前記解析用データとして作成することを特徴とする印刷状態不良原因の解析方法。 - 前記解析用データは、印刷対象となった複数の前記基板についての前記分布パターンデータの変動を時系列的に統計処理した経時変動パターンを含むことを特徴とする請求項6又は7に記載の印刷状態不良原因の解析方法。
- 前記不良原因特定用のデータテーブルは、スクリーン印刷装置において、前記基板自体の異常に起因する基板異常、前記ペーストの異常に起因するペースト異常、前記基板を下受けして固定する基板下受け状態に起因する基板下受け異常、スクリーン印刷に用いられるスクリーンマスクの異常に起因するマスク異常、スクリーン印刷に用いられるスキージの異常に起因するスキージ異常のうちの少なくとも1つに起因する不良原因についての対比データを含むことを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載の印刷状態不良原因の解析方法。
- 前記出力工程において、特定された前記印刷状態の不良原因を表示画面に所定の表示フォーマットにしたがって表示することを特徴とする請求項6乃至9のいずれかに記載の印刷状態不良原因の解析方法。
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JP2011131952A JP5516513B2 (ja) | 2011-06-14 | 2011-06-14 | 印刷状態不良原因の解析装置および解析方法 |
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JP2007081318A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Omron Corp | 検査結果出力方法、検査結果出力装置、検査結果出力用プログラム、および検査結果出力用プログラムを記録した記録媒体 |
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