JP5476238B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は本実施の形態にかかる半導体装置の構成を示すブロック図である。当該半導体装置は、例えばフラッシュ内蔵マイクロコンピュータ、マスクROM(Read Only Memory)搭載マイクロコンピュータ、マルチCPUプロセッサ等の半導体装置に搭載され得る。
本発明の実施の形態2にかかる半導体装置は、診断回路2が正常動作している旨を診断回路1、3に通知することを特徴とする。図3を参照して本実施の形態にかかる半導体装置の基本構成及び動作について、実施の形態1と異なる部分を説明する。
本発明の実施の形態3にかかる半導体装置は、診断回路が相互に動作通知信号を供給することを特徴とする。図5を参照して本実施の形態にかかる半導体装置の基本構成及び動作について、実施の形態1及び2と異なる部分を説明する。
本発明の実施の形態4にかかる半導体装置は、複数のクロックソースを備えることを特徴とする。図7を参照して本実施の形態にかかる半導体装置の基本構成及び動作について、実施の形態1、2、及び3と異なる部分を説明する。なお、本実施の形態にかかる半導体装置においても、異常箇所を一か所として特定するものとする。
本発明の実施の形態5にかかる半導体装置は、診断回路の内部構成が変更され、クロックソースの周波数異常も判定できることを特徴とする。図13を参照して本実施の形態にかかる半導体装置の基本構成及び動作について、実施の形態4と異なる部分を説明する。
100 CPU
200 ウォッチドッグタイマー1
210 ウォッチドッグタイマー2
300 診断回路1
310 診断回路2
320 診断回路3
400 クロックソース1
410 クロックソース2
420 クロックソース3
Claims (10)
- 演算処理部と、
前記演算処理部の暴走監視に用いる第1のウォッチドッグタイマーと、
前記演算処理部の暴走監視に用いる第2のウォッチドッグタイマーと、
第1乃至第3の診断回路と、を備え、
前記第1の診断回路は、前記第2のウォッチドッグタイマーを監視し、監視結果が異常であるか否かを示す第1の診断結果信号を生成し、
前記第3の診断回路は、前記第1のウォッチドッグタイマーを監視し、監視結果が異常であるか否かを示す第2の診断結果信号を生成し、
前記第2の診断回路は、前記第1の診断結果信号に基づいて前記第1の診断回路が異常であるか否かを判定し、前記第2の診断結果信号に基づいて前記第3の診断回路が異常であるか否かを判定する半導体装置。 - 前記第2の診断回路は、前記第1の診断結果信号に基づいて前記第2のウォッチドッグタイマーが異常であるか否かを判定し、前記第2の診断結果信号に基づいて前記第1のウォッチドッグタイマーが異常であるか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記第2の診断回路は、前記第2の診断回路自体が正常に動作しているか否かを示す第1の動作通知信号を生成し、
前記第1の診断回路及び前記第3の診断回路の少なくとも一方は、前記第1の動作通知信号に基づいて前記第2の診断回路が異常であるか否かを判定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体装置。 - 前記第1乃至第3の診断回路の各々は異常箇所判定回路を備え、
前記第2の診断回路は、前記第1の診断回路を監視し、監視結果が異常であるか否かを示す第3の診断結果信号を生成し、
前記第1の診断回路は、前記第1の診断回路自体が正常に動作していることを示す第2の動作通知信号を生成し、
前記第3の診断回路は、前記第3の診断回路自体が正常に動作していることを示す第3の動作通知信号を生成し、
前記第1乃至第3の診断回路の各々に備えられた前記異常箇所判定回路は、前記第1乃至第3の診断結果信号及び前記第1乃至第3の動作通知信号に基づいて異常箇所を特定することを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。 - 前記第1乃至第3の診断回路の各々に備えられた前記異常箇所判定回路は、
前記第1の診断結果信号の供給が無く、前記第2の動作通知信号が正常に通知され、前記第2または前記第3の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第2のウォッチドッグタイマーが異常と判定し、
前記第1の診断結果信号の供給が無く、前記第2の動作通知信号が通知されず、前記第2または前記第3の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第1の診断回路が異常と判定し、
前記第1の診断結果信号の供給が無く、前記第2の動作通知信号が通知されず、前記第2の診断回路による監視結果が異常である場合には前記第1の診断回路が異常と判定し、
前記第3の診断結果信号の供給が無く、前記第1の動作通知信号が正常に通知され、前記第1または前記第3の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第1の診断回路が異常と判定し、
前記第3の診断結果信号の供給が無く、前記第1の動作通知信号が通知されず、前記第1または前記第3の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第2の診断回路が異常と判定し、
前記第2の診断結果信号の供給が無く、前記第3の動作通知信号が正常に通知され、前記第1または前記第2の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第1のウォッチドッグタイマーが異常と判定し、
前記第2の診断結果信号の供給が無く、前記第3の動作通知信号が通知されず、前記第1または前記第2の診断回路による監視結果が正常である場合には前記第3の診断回路が異常と判定することを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。 - 第1乃至第3のクロックソースをさらに備え、
前記第1のクロックソースは、前記第1のウォッチドッグタイマー及び前記第2の診断回路にクロックを供給し、
前記第2のクロックソースは、前記第1の診断回路及び前記演算処理部にクロックを供給し、
前記第3のクロックソースは、前記第2のウォッチドッグタイマー及び前記第3の診断回路にクロックを供給することを特徴とする請求項4または請求項5に記載の半導体装置。 - 前記第1の診断回路は、前記第2のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第2のウォッチドッグタイマーから通知されるカウントがあるか否かに基づいて前記第2のウォッチドッグタイマーの監視結果を判定し、
前記第2の診断回路は、前記第1のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第1の診断回路から通知されるカウントがあるか否かに基づいて前記第1の診断回路の監視結果を判定し、
前記第3の診断回路は、前記第3のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第1のウォッチドッグタイマーから通知されるカウントがあるか否かに基づいて前記第1のウォッチドッグタイマーの監視結果を判定することを特徴とする請求項6に記載の半導体装置。 - 前記第1の診断回路は、前記第2のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第2のウォッチドッグタイマーから通知されるカウント数が所定閾値を超えている場合に前記第3のクロックソースが周波数異常を起こしていると判定し、
前記第2の診断回路は、前記第3のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第1の診断回路から通知されるカウント数が所定閾値を超えている場合に前記第2のクロックソースが周波数異常を起こしていると判定し、
前記第3の診断回路は、前記第3のクロックソースからのクロックが所定数通知される間に、前記第1のウォッチドッグタイマーから通知されるカウント数が所定閾値を超えている場合に前記第1のクロックソースが周波数異常を起こしていると判定することを特徴とする請求項6に記載の半導体装置。 - 前記演算処理部は、周波数異常を起こしているクロックソースを停止させることを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。
- 請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の半導体装置を備える計算機。
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