JP5452983B2 - プロセスモニタ回路およびプロセス特性の判定方法 - Google Patents
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Description
以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
12 パルス発生回路
14 第1の選択回路
16 遅延回路
18 第2の選択回路
20 カウンタ
22,28,30,38,42,44,46 インバータ
24,26,32,34 AND回路
36 OR回路
40,48 セレクタ
Claims (5)
- トランジスタのプロセス特性を測定するプロセスモニタ回路であって、
第1のレベルと第2のレベルの間の遷移を含む信号を生成する生成回路と、
該遷移を含む信号が通過する遅延回路と、
該遅延回路の出力信号の遷移を検出する検出回路とを備え、
該遅延回路は、相対的に伝播遅延時間が短いインバータと伝播遅延時間が長いインバータとが交互に接続され、
該生成回路は、該検出回路が該遅延回路の出力信号の遷移を検出したことを受けて、該遷移を含む信号を生成する
ことを特徴とするプロセスモニタ回路。 - 前記相対的に伝播遅延時間が長いインバータは、P型MOSトランジスタとN型MOSトランジスタによって構成されていることを特徴とする請求項1に記載のプロセスモニタ回路。
- 前記プロセスモニタ回路は、前記遷移を含む信号を正転または反転して前記遅延回路に出力する選択回路を備えることを特徴とする、請求項1または2に記載のプロセスモニタ回路。
- さらに、前記遅延回路の出力信号の遷移をカウントするカウンタを備え、
前記検出回路は、前記カウンタの最下位ビットの出力によって前記遅延回路の出力信号の遷移を検出することを特徴とする、請求項1から3のいずれかに記載のプロセスモニタ回路。 - 相対的に伝播遅延時間が短いインバータと伝播遅延時間が長いインバータとを交互に接続した遅延回路を用いて、トランジスタのプロセス特性を判定する方法であって、
第1のレベルと第2のレベルの間の遷移を含む信号を生成し、
該遅延回路により前記遷移を含む信号を遅延し、
該遅延回路の出力信号の遷移を検出し、
該遅延回路の出力信号の遷移を検出したことを受けて、該遷移を含む信号を生成する
ことを特徴とするプロセス特性の判定方法。
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