JP5429788B2 - 非破壊検査方法及びその装置 - Google Patents
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Description
前記検出手段が検出した前記データと、前記検査対象物の基準の状態が保証された同様のデータとを比較することにより前記検査対象物の状態を検査する情報処理部とを有することを特徴とする非破壊検査装置にある。
E 散乱γ線
1 二次元検出器
2 基準対象物
3 検査対象物
5 基準データ記憶部
6 実データ記憶部
7 データ処理部
8 判定部
Claims (7)
- 所定の厚みを有する検査対象物にγ線をその厚さ方向に照射するとともにコンプトン散乱により散乱された散乱γ線のうち特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線を弁別するとともに、前記検査対象物の前記γ線の照射側の面で散乱された散乱γ線と、前記検査対象物の前記γ線の前記照射側とは反対側の面で散乱された散乱γ線とに基づくデータを得、このデータを前記検査対象物の基準の状態が保証された同様の基準のデータと比較することにより前記検査対象物の状態を検査するようにしたことを特徴とする非破壊検査方法。
- 請求項1に記載する非破壊検査方法において、
前記基準のデータは、前記検査対象物と同様の対象物であって前記検査対象物の基準の状態が保証されている基準対象物に対しγ線をその厚さ方向に照射してコンプトン効果により散乱された散乱γ線のうち前記特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線に基づくデータにより得るようにしたことを特徴とする非破壊検査方法。 - 請求項1又は請求項2に記載する非破壊検査方法において、
前記検査対象物は所定の肉厚を有する管路とし、これにより得られた前記データにより前記管路の減肉を検出するようにしたことを特徴とする非破壊検査方法。 - γ線を所定の厚みを有する検査対象物にその厚さ方向に照射してコンプトン散乱により散乱された散乱γ線のうち特定のエネルギーを有する単色の散乱γ線を弁別するとともに、前記検査対象物の前記γ線の照射側の面で散乱された散乱γ線と、前記検査対象物の前記γ線の前記照射側とは反対側の面で散乱された散乱γ線とに基づき前記検査対象物のデータを検出する検出手段と、
前記検出手段が検出した前記データと、前記検査対象物の基準の状態が保証された同様のデータとを比較することにより前記検査対象物の状態を検査する情報処理部とを有することを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項4に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、前記検査対象物の横断面形状である二次元画像データを得る二次元検出器で構成したことを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項4に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、前記検査対象物の中心を通る直線に沿う一次元データを得る一次元ラインセンサであることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項4に記載する非破壊検査装置において、
前記検出手段は、前記検査対象物の中心を通る直線に沿う一次元データを得るよう前記直線に沿ってスキャンされるポイント検出器であることを特徴とする非破壊検査装置。
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