JP5426177B2 - シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム - Google Patents
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Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009003675A JP5426177B2 (ja) | 2009-01-09 | 2009-01-09 | シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム |
| US12/683,135 US20100179792A1 (en) | 2009-01-09 | 2010-01-06 | Monte carlo simulation method, simulation apparatus, and medium storing simulation program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009003675A JP5426177B2 (ja) | 2009-01-09 | 2009-01-09 | シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010161290A JP2010161290A (ja) | 2010-07-22 |
| JP2010161290A5 JP2010161290A5 (enExample) | 2011-07-07 |
| JP5426177B2 true JP5426177B2 (ja) | 2014-02-26 |
Family
ID=42319670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009003675A Expired - Fee Related JP5426177B2 (ja) | 2009-01-09 | 2009-01-09 | シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20100179792A1 (enExample) |
| JP (1) | JP5426177B2 (enExample) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8234295B2 (en) * | 2009-06-03 | 2012-07-31 | International Business Machines Corporation | Managing uncertain data using Monte Carlo techniques |
| JP2015176873A (ja) * | 2014-03-12 | 2015-10-05 | 株式会社東芝 | シミュレーション方法、シミュレーション装置、及び、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| DE102015208026A1 (de) | 2015-03-03 | 2016-09-08 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Anordnung zur ortsaufgelösten Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands und/oder der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit von Proben |
| EP3265788B1 (de) * | 2015-03-03 | 2021-11-17 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Anordnung zur ortsaufgelösten bestimmung des spezifischen elektrischen widerstands und/oder der spezifischen elektrischen leitfähigkeit von proben |
| CN108618796A (zh) * | 2018-02-09 | 2018-10-09 | 南方医科大学 | 一种基于任务驱动的蒙特卡洛散射光子模拟方法 |
| CN112763519B (zh) * | 2020-12-22 | 2022-03-01 | 清华大学 | 一种用拟蒙特卡罗方法模拟光子散射的方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2950253B2 (ja) * | 1996-10-21 | 1999-09-20 | 日本電気株式会社 | シミュレーション方法 |
| JP2000091554A (ja) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Fujitsu Ltd | 中性子ソフトエラー率計算方法及びα線ソフトエラー率計算方法 |
| JP2002203757A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Toshiba Corp | 境界条件表示プログラムおよび半導体装置の製造方法 |
| JP2010080726A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | 半導体デバイスシミュレーション方法およびこれを実行する半導体デバイスシミュレーション装置 |
-
2009
- 2009-01-09 JP JP2009003675A patent/JP5426177B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-01-06 US US12/683,135 patent/US20100179792A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20100179792A1 (en) | 2010-07-15 |
| JP2010161290A (ja) | 2010-07-22 |
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