JP5421771B2 - ティルティング装置 - Google Patents

ティルティング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5421771B2
JP5421771B2 JP2009515994A JP2009515994A JP5421771B2 JP 5421771 B2 JP5421771 B2 JP 5421771B2 JP 2009515994 A JP2009515994 A JP 2009515994A JP 2009515994 A JP2009515994 A JP 2009515994A JP 5421771 B2 JP5421771 B2 JP 5421771B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
planar
tilting device
pair
axis
planar element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009515994A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009542174A (ja
JP2009542174A5 (ja
Inventor
スロア・イェチエル
ブロンフマン・アーカディ
ツズベリー・ロニ
ゼメル・ダン
Original Assignee
オルボテック リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by オルボテック リミテッド filed Critical オルボテック リミテッド
Publication of JP2009542174A publication Critical patent/JP2009542174A/ja
Publication of JP2009542174A5 publication Critical patent/JP2009542174A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5421771B2 publication Critical patent/JP5421771B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/101Scanning systems with both horizontal and vertical deflecting means, e.g. raster or XY scanners
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16CSHAFTS; FLEXIBLE SHAFTS; ELEMENTS OR CRANKSHAFT MECHANISMS; ROTARY BODIES OTHER THAN GEARING ELEMENTS; BEARINGS
    • F16C19/00Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement
    • F16C19/02Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement with bearing balls essentially of the same size in one or more circular rows
    • F16C19/10Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement with bearing balls essentially of the same size in one or more circular rows for axial load mainly
    • F16C19/12Bearings with rolling contact, for exclusively rotary movement with bearing balls essentially of the same size in one or more circular rows for axial load mainly for supporting the end face of a shaft or other member, e.g. footstep bearings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/18Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
    • G02B7/182Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
    • G02B7/1821Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors for rotating or oscillating mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/18Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
    • G02B7/182Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
    • G02B7/198Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors with means for adjusting the mirror relative to its support
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02KDYNAMO-ELECTRIC MACHINES
    • H02K33/00Motors with reciprocating, oscillating or vibrating magnet, armature or coil system

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Magnetic Bearings And Hydrostatic Bearings (AREA)
  • Reciprocating, Oscillating Or Vibrating Motors (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

この発明は,一般にティルティング装置(tilting devices)に関し,具体的には三次元位置決め装置(three-dimensional positioners)に関する。
ティルティング装置はさまざまな用途において用いられる。ティルティング装置のひとつの典型的な用途は,唯一の用途ではないが,入射するレーザ・ビームが偏向される方向を急速に変化させるために用いられる高速ステアリング・ミラーである。
この発明の目的は,改良されたティルティング装置を提供することである。
この発明の一実施例にしたがって,低慣性平面ティルティング装置(low-inertia flat surface tilting device)を提供する。この装置は,平面を規定する平面要素(flat surface element)と該平面に対してほぼ(実質的に)中心に配置されるピボット位置部分(pivot location portion)とを有する選択的に位置決め(配置)可能な平面要素アセンブリ(selectably positionable flat surface element assembly),前記ピボット位置部分に枢支可能(旋回可能)(pivotably)に係合(係止)するピボット支持要素(pivot support element),前記ピボット支持要素に固定され,前記平面に対してほぼ(実質的に)垂直な方向に磁力を働かせ,これによって前記平面要素を前記ピボット支持要素のまわりに傾かせる(旋回させる)(pivot)ように配置される少なくとも1個の電磁石,前記平面要素の位置を検知する少なくとも1個のセンサ,および前記の少なくとも1個のセンサの少なくとも1つの出力に応答して動作して少なくとも1個の前記電磁石の作用を制御するフィードバック回路を備える。
この発明の実施例は,他の態様において,以下の特徴のひとつ以上を含むことがあり,またはいずれをも含まないことがある。
前記ピボット位置部分は,前記平面要素内に凹部を含む。
前記ピボット支持要素は,ピボット点(ポイント)(pivot point)を有するシャフトを含む。
前記ピボット点は,ほぼ(実質的に)球状の形状を有する。
前記装置は,平面要素の裏側(下側)に設けられる回転保持磁石を含み,この回転保持磁石は,前記平面要素が前記ピボット点のまわりにおいて回転するのに逆らう作用をするよう磁化される。この回転保持磁石は,たとえばリング状磁石を含む。
前記装置は,前記シャフト上に設けられかつ前記平面要素に固定される少なくとも1個の圧縮ばねを含む。この少なくとも1個の圧縮ばねは,平面要素がピボット点のまわりにおいて回転することを防ぐ作用をする。
前記ピボット支持要素は,前記方向に対して垂直に延びる第1の軸に沿って配置される球状体(球体)の第1の対(第1の対の球状体)を含む。この球状体の第1の対は,相互に接触する,または非接触の構成とされうる。
前記ピボット位置部分は,平面要素の裏側(下側)に取付けられる球状体(球体)の第2の対(第2の対の球状体)を含み,この球状体の第2の対は,球状体の前記第1の対とピボット可能に係合する(pivotably engaging)とともに,前記第1の軸および前記方向に対してほぼ(実質的に)垂直に延びる第2の軸に沿って配置される。球状体の第2の対は,相互に接触する構成とされるか,または非接触の構成とされる。
前記第1の対の球状体(球体)および前記第2の対の球状体(球体)のうちの少なくとも1対は,炭化タングステンにより形成される。
前記装置はさらに,平面要素をピボット支持要素とのピボット可能な係合(係止)状態(pivotable engagement)に保持するよう働く保持磁石,たとえば環状磁石を含む。
前記少なくとも1個の電磁石は,ピボット位置部分に関して対称に分布する複数の電磁石を含む。
前記装置は,ピボット位置部分に関して少なくとも1個の前記電磁石の反対側に配置される少なくとも1個のばねを含む。
少なくとも1個の前記センサは容量型センサを含む。
フィードバック回路は,単一の軸のまわりにおける平面要素のティルト(傾き,傾斜)(tilting)を制御し,これによって平面要素の二次元位置決め(配置)を達成する(二次元位置を実現する)。加えて,またはこれに代えて,前記フィードバック回路は,少なくとも2つの軸のまわりにおける平面要素のティルトを制御し,これによって平面要素の三次元位置決め(配置)を達成する(三次元位置を実現する)。
前記フィードバック回路は,第1の位置決め軸のまわりにおける平面要素の配置(位置,位置決め)を制御する作用をする第1の制御回路と,前記第1の位置決め軸に対して垂直に延びる第2の位置決め軸のまわりにおける平面要素の配置(位置,位置決め)を制御する作用をする第2の制御回路とを含む。
前記平面要素は,ミラー要素用のベースを含む。
さらに,この発明の他の実施例にしたがって低慣性平面ティルト装置(low-inertia flat surface tilting device)が提供される。この装置は,平面を有する平面要素と,前記平面に平行に延びる第1の軸に沿って配置される球状体(球体)の第1の対であって前記平面に対してほぼ中心に配置される球状体の前記第1の対を含むピボット位置要素とを含む選択的に配置可能な平面要素アセンブリ(selectably positionable flat surface element assembly),前記第1の軸に対して垂直に延びる第2の軸に沿って配置される球状体(球体)の第2の対であって球状体の前記第1の対にピボット可能に係合(係止)する球状体の第2の対により形成されるピボット支持要素,前記ピボット支持要素に対して固定されるとともに前記平面に磁力を働かせ,それによって前記平面要素を前記ピボット支持要素のまわりにおいてピボットさせる(傾かせる,傾斜させる)(pivot)ように配置される少なくとも1個の電磁石,前記平面要素の位置を検知する少なくとも1個のセンサ,および少なくとも1個の前記センサの少なくとも1つの出力に応答して少なくとも1個の前記電磁石の動作を制御するフィードバック回路を含む。
この発明の実施例は,代替的および追加的に,上に詳述された特徴の1つ以上を含むか,またはいずれをも含まない。
この発明は,図面を参照した以下の詳細な説明により,より完全に理解され,かつ認識されよう。
この発明の実施例にしたがって構成されかつ動作する低慣性(low-inertia)ティルティング装置の一部切欠概略図である図1と,それぞれ中間の姿勢(傾き,傾斜,角度,配向,傾きに関する姿勢)(intermediate orientation),第1の極端な姿勢(extreme orientation)および第2の極端な姿勢にある図1のティルティング装置のそれぞれの側面図である図2A,2Bおよび2Cとを参照する。
図1〜2Cには,一般に約1.5mmの直径の球状の形状の支持点(support point)14を有する中心シャフト(central shaft)12がその上に設けられる(立設される)ベース(base)10を典型的に有する三次元位置決め装置(three-dimensional positioner)などのティルティング装置が図示されている。環状磁石(annular magnet)16は,中心シャフト12に取付けられ,その上面18が支持点14の先端の垂直下方に離隔するように中心軸上に配置される。磁石16は,少なくとも部分的に強磁性材料により適宜に形成され,平板20などの位置決め対象物に磁気吸引力を作用させるように働く。
典型的には平板20の裏側(下側)に取付けられるとともにこの発明の実施例ではリング状の磁石である追加の磁石22は,適切に磁化されている場合は,平板20がシャフト12の縦方向軸のまわりに回転することを防ぐ働きをする。平板20は,ミラー24のベースとして適宜に機能するとともに,シャフト12の支持点14を受ける中央凹部(central recess)26が形成されている。これに代えて,平板20は,他の適切な機能を備えうるとともに,作動装置(アクチュエータ)または位置決め装置の一部分となりうる。
支持シャフト12から径方向外方に離隔して,作動したときに平板20を吸引する好適には電磁石である複数の変位装置(displacers)が配置される。図示されている実施例では,4個のそのような変位装置28,30,32および34が設けられ,通常は互いに等間隔に配置されている。これに代えて,用途によっては,より多数の,もしくは少数の変位装置が,または他の適切な配置が用いられ得ることがわかる。第1の軸(axis)35は,変位装置30と34の間を延びており,第1の軸35と平行ではなく好適には垂直である第2の軸36は,変位装置28と32の間において延びていることがわかる。
図2A〜2Cに最もわかりやすく示されているように,図2Aに示されるように板20がほぼ水平な姿勢(holizontal orientation)にある場合には,変位装置28,30,32および34の上面は,支持点14よりも垂直下方に,したがって,板20の底より下に離隔している。変位装置28,30,32および34の動作は,図9において参照符号37および38により示されるとともに以下に図9を参照してより詳細に説明される制御回路によって制御される。
この発明の実施例によれば,好適には4個の容量型センサである複数の近接センサ(propinquity sensors)40が,ベース10に平行である支持部(サポート(support))42上において,平板20の垂直下方でかつ支持点14に関して径方向外方に取付けられている。近接センサ40は板20の三次元姿勢(傾き)(three-dimensional orientation)の出力指示(output indication)を制御回路に共に供給し,この出力指示は,制御回路が変位装置28,30,32および34の動作を制御するのを補助するフィードバック指示としての役割を果たす。近接センサ40は,変位装置28,30,32および34に対して方位角的に約45度ずれていることがわかる。このずれは,平板20の三次元位置を決定するときに制御回路により考慮される。
図2A,2Bおよび2Cは,それぞれ中間の姿勢,第1の極端な姿勢および第2の極端な姿勢にある図1のティルティング装置のそれぞれの側面図である。図1〜2Cの装置は,図2A〜2Cに図示されている限度内において,板20をいかなる三次元位置にも位置決め可能であることがわかる。
次に,この発明の他の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である図3と,それぞれ中間の姿勢,第1の極端な姿勢および第2の極端な姿勢にある図3のティルティング装置のそれぞれの側面図である図4A,4Bおよび4Cとを参照する。
図3〜4Cに,一般に直径約1.5mmの好適には球状の形状を有する支持点114を備える中心シャフト112がその上に取付けられるベース110を含む三次元位置決め装置などのティルティング装置が図示されている。
平板120などの位置決め対象物は,少なくとも部分的に強磁性材料により好適に形成され,ミラー124のベースとして機能するとともに,典型的にはシャフト112の支持点114を受ける中央凹部126が形成されている。これに代えて,平板120は,他の適切な機能を備えうるとともに,作動装置または位置決め装置の一部分となりうる。
支持シャフト112から径方向外方に離隔して,作動すると板120を吸引する1対の能動的変位装置(active displacers)128および130と,典型的にはばねを含む1対の受動的変位装置(passive displacers)132および134とを含む複数の変位装置が配置される。図示されている実施例において,これらの変位装置は,通常互いに等間隔に配置される。用途に応じて,より多数の,または少数の受動的および能動的変位装置が用いられ得ることがわかる。
能動的変位装置128および130は電磁石を備え,受動的変位装置132および134は,それぞれ変位装置128および130の反対側に配置される。受動的変位装置132および134のそれぞれは,引張コイルばね(tension coil spring)136を含み,これは固定構造(anchoring structure)によりベース110に固定される第1の端部と取付ディスク137により板120の下側に固定される第2の端部とを有する。受動的変位装置132および134は,電磁石128および130により平板120に加えられる力とは反対方向の力を与える。第1の軸138は変位装置130と134と間を延びており,第1の軸138とは平行ではなく,好適には垂直である第2の軸139は変位装置128と132と間において延びていることがわかる。
図4A〜4Cに最もわかりやすく示されているように,変位装置128および130の上面は,図4Aに示されているように板120が水平姿勢にあるときに,支持点114の垂直下方に離隔されており,したがって板120の底より下に離隔している。電磁石128および130の動作は,図9において参照符号37および38により示されるとともに,図9を参照して以下により詳細に説明される制御回路により制御される。
この発明の実施例によれば,好適には4個の容量型センサである複数の近接センサ140が,ベース110に平行である支持部142上において,平板120の垂直下方でかつ支持点114に関して径方向外方に取付けられている。近接センサ140は板120の三次元姿勢の出力指示を制御回路に共に供給し,この出力指示は,制御回路が変位装置128および130の動作を制御するのを補助するフィードバック指示としての役割を果たす。近接センサ140は,変位装置128,130,132および134に対して方位角的に約45度ずれていることがわかる。このずれは,平板120の三次元位置を決定するときに制御回路により考慮される。
図4A,4Bおよび4Cは,それぞれ中間の姿勢,第1の極端な姿勢および平衡姿勢(equilibrium orientation)である第2の極端な姿勢にある図3のティルティング装置のそれぞれの側面図である。
図4Aに示される姿勢において,電磁石128および130により加えられる吸引力は,ばね136により加えられる力と等しく,したがって平板120をベース110に平行な水平な中間の姿勢に維持する。
図4Bに示される第1の極端な姿勢において,電磁石128および130により加えられる吸引力は,ばね136により加えられる力より大きく,したがってばね136を伸長させるとともに,平板120をベース110に対して第1の方向に傾斜(ティルト)させる。電磁石128および130が作動しない場合には,ばね136はその弛緩状態(relaxed state)まで圧縮され,したがって平板120を図4Cに示される平衡姿勢にすることがわかる。
図3〜4Cの装置は,図4A〜4Cに図示されている限度内において,板120をいかなる三次元位置にも位置決め可能であることがわかる。
次に,この発明のさらに他の実施例にしたがって構成されかつ動作する低慣性ティルティング装置の一部切欠概略図である図5と,それぞれ中間の姿勢,第1の極端な姿勢および第2の極端な姿勢にある図5のティルティング装置のそれぞれの側面図である図6A,6Bおよび6Cとを参照する。
図5〜6Cに,典型的には支持点154を有する中心シャフト152がその上に取付けられるベース150を含む三次元位置決め装置などのティルティング装置が図示されている。図5〜6Cに示される実施例において,支持点154は,約1.5mmの直径を有する球状の形状を有するが,このことは必須ではない。圧縮ばね156はシャフト152の周囲に取付けられ,ばね156の下端部はシャフト152に固定され(anchored),ばね156の上端部は取付ディスク158に固定される。取付ディスク158は,好適には少なくとも部分的に強磁性材料により形成される平板160などの位置決め対象物の下側に固定される。取付ディスク158を平板160に固定することは,平板160をシャフト152とピボット(傾動)可能な接触状態(pivotal contact)に保つとともに平板160がシャフト152の縦軸のまわりを回転することを防ぐ作用をする。
平板160は,ミラー164のベースとして適切に機能するとともに,典型的にはシャフト152の支持点154を受ける中央凹部166が形成されている。適切には,中央凹部は,角錐状(pyramidal)の形状を有する。これに代えて,平板160は,他の適切な機能を有しうるとともに,作動装置または位置決め装置の一部分になりうる。
支持シャフト152から径方向外方に離隔して,作動すると平板160を吸引する好適には電磁石である複数の変位装置が配置される。図示されている実施例では,4個のこのような変位装置168,170,172および174が設けられ,これらは互いに等間隔に配置されている。これに代えて,用途に応じて,より多数のまたは少数の,そして好適な構成の変位装置を用いうることがわかる。第1の軸175は変位装置170と174の間を延びており,前記第1の軸175と好適には平行でなく,かつほぼ垂直である第2の軸176は,変位装置168と172の間において延びていることがわかる。
図6A〜6Cに最もわかりやすく示されているように,変位装置168,170,172および174の上面は,図6Aに示されているように板160が水平姿勢にある場合には,支持点154の垂直下方に離隔してあり,したがって,板160の底より下に離隔している。変位装置168,170,172および174の動作は,図9において参照符号37および38により示されるとともに以下に図9を参照してより詳細に説明される制御回路によって制御される。
この発明の実施例によれば,好適には4個の容量型センサである複数の近接センサ180が,ベース150に平行である支持部182上において,平板160の垂直下方でかつ支持点154に関して径方向外方に取付けられている。近接センサ180は板160の三次元姿勢の出力指示を制御回路に共に供給し,この出力指示は,制御回路が変位装置168,170,172および174の動作を制御するのを補助するフィードバック指示としての役割を果たす。近接センサ180は,変位装置168,170,172および174に対して方位角的に約45度ずれていることがわかる。このずれは,平板160の三次元位置を決定するときに制御回路により考慮される。
図6A,6Bおよび6Cは,それぞれ中間の姿勢,第1の極端な姿勢および第2の極端な姿勢にある図5のティルティング装置のそれぞれの側面図である。図5〜6Cの装置は,図6A〜6Cに図示されている限度内において,板160をいかなる三次元位置にも位置決め可能であることがわかる。
次に,典型的には中心シャフト212がその上に取付けられる水平面上に位置するベース210を備える三次元位置決め装置などのティルティング装置が図示されている図7を参照する。中心シャフト212の上面にはピボット支持アセンブリ(pivot support assembly)214が設けられており,それは図示されている実施例では好適には炭化タングステン(tungsten carbide)により形成される1対の球体(球状体)215を備え,それらはベース210に平行な第の軸216に沿って配置されている。球体215は,相互に接触する構造にて配置されるが,このことは必須ではない。
環状磁石217は,中心シャフト212上に取付けられる。磁石217は,好適には少なくとも部分的に強磁性材料により形成される平板220などの位置決め対象物に対して吸引磁力を働かせる作用をする。平板220の下側にはピボット位置アセンブリ(pivot location assembly)221が取付けられており,それは図示される実施例では,好適には炭化タングステンにより形成される1対の球体(球状体)222を備え,これらは第の軸223に沿って配置されている。球体222は,相互に接触する構造にて配置されるが,このことは必須ではない。第の軸223は,第の軸216に対して垂直であり,板220の平面に平行である。
それぞれの軸216および223に沿って球体215および222を配置することは,平板220がベース210に対して垂直に延びるシャフト212の縦軸のまわりに回転することを防ぎ易い。平板220は,好適にはミラー224のベースとして機能する。これに代えて,平板220は,他の適切な機能を有しうるとともに,作動装置または位置決め装置の一部分となりうる。
支持シャフト212から径方向外方に離隔して,作動すると平板220を吸引する好適には電磁石である複数の変位装置が配置される。図示されている実施例では,4個のこのような変位装置228,230,232および234が設けられ,これらは互いに等間隔に配置されている。これに代えて,用途に応じてより多数の,または少数の,そして他の構成が用いられうることがわかる。第1の軸236は,変位装置230と234の間を延びており,前記第1の軸236と平行ではなく,かつ好適には垂直である第2の軸238は,変位装置228と232の間において延びていることがわかる。軸236および238は,必ずしも軸216および223と関係がなくてもよいことがわかる。
図2A〜2Cを参照して既に示し,かつ説明したものと同様に,変位装置228,230,232および234の上面は,板220が水平姿勢にある場合には,板220の垂直下方に離隔している。変位装置228,230,232および234の動作は,図9において参照符号37および38により示されるとともに以下に図9を参照してより詳細に説明される制御回路と同様の制御回路によって制御される。
この発明の実施例によれば,好適には4個の容量型センサである複数の近接センサ240が,ベース210に平行である支持部242上において,平板220の垂直下方でかつ支持シャフト212に関して径方向外方に取付けられている。近接センサ240は板220の三次元姿勢の出力指示を制御回路に共に供給し,この出力指示は,制御回路が変位装置228,230,232および234の動作を制御するのを補助するフィードバック指示としての役割を果たす。近接センサ240は,変位装置228,230,232および234に対して方位角的に約45度ずれていることがわかる。このずれは,平板220の三次元位置を決定するときに制御回路により考慮される。
図7の装置は,少なくとも部分的に変位装置228,230,232および234の高さと配置とにより定められる所定の限度内において,板220をいかなる三次元位置にも位置決め可能であることがわかる。
次に,典型的には好適には中心シャフト312がその上に取付けられる水平面上に位置するベース310を備える三次元位置決め装置などのティルティング装置が図示されている図8を参照する。中心シャフト312の上面にはピボット支持アセンブリ314が取付けられており,それは好適には炭化タングステンにより形成される1対の球体315を備え,それらはベース310に対して平行な第の軸316に沿って配置されている。それらは好適には相互に接触する構成であるが必ずしもそうでなくてもよい。
平板320などの位置決め対象物は,少なくとも部分的に強磁性材料により形成され,その下側面には,好適には1対の球体322を備えるピボット位置アセンブリ321が取付けられている。球体322は,炭化タングステンにより適宜に形成され,第の軸323に沿って,好適には相互に接触する構成であるが必ずしもそうでなくてもよい構成で配置される。第の軸323は,第の軸316に対して垂直であるとともに,板320の平面に対して平行である。
それぞれの軸316および323に沿って球体315および322を配置することは,平板320が,ベース310に対して垂直に延びるシャフト312の縦軸のまわりに回転することを防ぎ易い。平板320は,ミラー324のベースとして適宜に機能する。これに代えて,平板320は,他の適切な機能を有しうるとともに,作動装置または位置決め装置の一部分をなりうる。
支持シャフト312から径方向外方に離隔して,作動すると板320を吸引する1対の能動的変位装置328および330と,典型的にはばねを含む1対の受動的変位装置332および334とを含む複数の変位装置が配置される。図示されている実施例において,これらの変位装置は,互いに等間隔に配置されている。これに代えて,用途に応じて他の構成の,そしてより多数の,または少数の能動的および受動的変位装置が用いられうることがわかる。
能動的変位装置328および330は電磁石を備え,受動的変位装置332および334は,それぞれ変位装置328および330の反対側に配置される。受動的変位装置332および334は,好適には引張コイルばね336を含み,それは固定構造によりベース310に固定される第1の端部と取付ディスク337により平板320の下側に固定される第2の端部とを有する。受動的変位装置332および334は,電磁石328および330により平板320に加えられる力とは反対方向の力を与える。第1の軸338は変位装置330334の間を延び,第1の軸338に対して平行でなく,かつ好適には垂直である第2の軸339は変位装置328332の間において延びていることがわかる。軸338および339は,必ずしも軸316および323と関係がなくてもよいことがわかる。
図4A〜4Cを参照して既に示されかつ説明されたものと同様に,平板320が水平姿勢にある場合には,変位装置328および330の上面は,板320の底の垂直下方に離隔する。電磁石328および330の動作は,図9において参照符号37および38により示されるとともに以下に図9を参照してより詳細に説明される制御回路と同様の制御回路によって制御される。
この発明の実施例によれば,好適には4個の容量型センサである複数の近接センサ340が,ベース310に平行である支持部342上において,平板320の垂直下方でかつシャフト312に関して径方向外方に取付けられている。近接センサ340は板320の三次元姿勢の出力指示を制御回路に共に供給し,この出力指示は,制御回路が変位装置328および330の動作を制御するのを補助するフィードバック指示としての役割を果たす。近接センサ340は,変位装置328,330,332および334に対して方位角的に約45度ずれていることがわかる。このずれは,平板320の三次元位置を判断するときに制御回路により考慮される。
図8の装置は,少なくとも部分的に変位装置328,330,332および334の高さと配置とにより定められる所定の限度内において,板320をいかなる三次元位置にも位置決め可能であることがわかる。
次に,図9を参照する。これは図1〜8のティルティング装置,および図1〜8のティルティング装置の動作を制御するように動作する,図1〜8に示される制御回路などのような制御回路の簡易ブロック図である。
図9に示されているように,変位装置28と32(図1)とを結ぶ軸36(図1)などのような第1の軸のまわりにおける,平板20,120,220および320(図1〜8)などのような位置決め可能要素(positional element)400の傾斜(姿勢)(tilting)は,X軸制御システムなどの第1の制御システム37により制御され,変位装置30と34(図1)を結ぶ軸35(図1)などのような第2の軸のまわりにおける,前記要素400の傾斜(姿勢)は,Y軸制御システムなどの第2の制御システム38により制御される。
制御システム37は,第1の軸に沿った要素400の必要な姿勢(傾き)変更を示す指令(コマンド)信号(command signal),たとえば誤差信号(error signal)を受け取る。X軸に関する指令信号は,外部制御システム(図示略)から与えられる所望の傾き(姿勢)信号(orientation signal)のX軸部分を,要素400の検知されたX軸位置と比較し,要素400の検知されたX軸位置と該要素の所望のX軸位置との差を算出する加算回路408から供給され,第1の軸に沿った要素400の必要とされる姿勢(傾き)変更を指示する。
第1の制御フィルタ410は指令信号を受信し,この指令信号をたとえば増幅により処理して,要素400の位置の少しずつ増大する適切な変更が達成されうるようにする。制御フィルタ410の出力は第1のプリドライバ制御回路412に入力として送られる。このプリドライバ制御回路412は,図1に示される変位装置30および34などのようなX軸変位装置418および420が位置決め可能要素400のX軸に沿った所望の変位を達成(実現)するために必要な動力(power)を算出する。プリドライバ制御回路412は,それぞれX軸変位装置418および420が必要とするそれぞれの所要動力を示す信号を,ドライバ414および416に出力し,ドライバ414および416は,これらの変位装置に適宜に増幅された信号を供給し,要素400のX軸位置決めを達成(実現)する。
同様の態様で,制御システム38は,要素400の第2の軸に沿った必要な姿勢(傾き)変更を示す指令信号,たとえば誤差信号を受け取る。Y軸に関する指令信号は,外部制御システム(図示略)から与えられる所望の傾き(姿勢)信号のY軸部分を,要素400の検知されたY軸位置と比較し,要素400の検知されたY軸位置と該要素の所望のY軸位置との差を算出する加算回路428から供給され,第2の軸に沿った要素400の必要とされる姿勢(傾き)変更を指示する。
第2の制御フィルタ430は指令信号を受信し,この指令信号をたとえば増幅により処理して,要素400の位置の少しずつ増大する適切な変更が達成されうるようにする。制御フィルタ430の出力は第2のプリドライバ制御回路432に入力として送られる。このプリドライバ制御回路432は,図1に示される変位装置28および32などのようなY軸変位装置438および440が位置決め可能要素400のY軸に沿った所望の変位を達成(実現)するために必要な動力を算出する。プリドライバ制御回路432は,それぞれY軸変位装置438および440が必要とするそれぞれの所要動力を示す信号を,ドライバ434および436に出力し,ドライバ434および436は,これらの変位装置に適宜に増幅された信号を供給し,要素400のY軸位置決めを達成(実現)する。
選択された時間間隔で,要素400の位置が,X軸センサ423および424ならびにY軸センサ443および444,たとえばセンサ40(図1〜2C)により検知され,制御回路37および38にフィードバックされる。これらのセンサからの出力はセンサ処理装置(センサ・プロセッサ)(sensor processor)450に送られる。このセンサ処理装置は,対応する変位装置418および420ならびに438および440により規定される,センサ423,424,443および444のそれぞれの軸に関する角度方位(rotational orientation)を考慮に入れて,要素400のX軸の傾き(姿勢)(orientation)およびY軸の傾き(姿勢)をそれぞれ計算する。センサ処理装置450は,制御回路37により用いられるX軸の傾き(姿勢)信号を第1の加算回路408に出力し,制御回路38により用いられるY軸の傾き(姿勢)信号を第2の加算回路428に出力する。制御ループは,このようにしてXおよびY軸のいずれについても閉ループとなる。
図1〜8に示される実施例において,図1〜8の平板20,120,160,220,320などのような要素400の2つの直交軸に沿った位置検知と変位とにより,三次元空間における多数の姿勢(傾き)が達成されうることがわかる。さらに,図3〜4Cおよび8に示される実施例においては,制御回路38は,変位装置130(図3)などの単一の変位装置を制御するだけであるが,1対のセンサからフィードバックを受け取ることがわかる。
この発明が上に具体的に示されかつ説明されたものに制限されないことは当業者には明らかであろう。むしろ,この発明の範囲には,上に説明されかつ示された特徴の組合せおよび部分的な組合せ(サブコンビネーション)だけではなく,上の説明および図を参照することにより当業者が思いつくであろう,そして従来技術に含まれない変形態様も含まれる。
この発明の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である。 中間の姿勢にある図1のティルティング装置の側面図である。 第1の極端な姿勢にある図1のティルティング装置の側面図である。 第2の極端な姿勢にある図1のティルティング装置の側面図である。 この発明の他の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である。 中間の姿勢にある図3のティルティング装置の側面図である。 第1の極端な姿勢にある図3のティルティング装置の側面図である。 第2の極端な姿勢にある図3のティルティング装置の側面図である。 この発明のさらに他の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である。 中間の姿勢にある図5のティルティング装置の側面図である。 第1の極端な姿勢にある図5のティルティング装置の側面図である。 第2の極端な姿勢にある図5のティルティング装置の側面図である。 この発明のさらに他の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である。 この発明のさらなる別の実施例にしたがって構成されかつ動作するティルティング装置の一部切欠概略図である。 図1〜8のティルティング装置およびそのティルティング装置で用いられる制御回路の簡易ブロック図である。

Claims (15)

  1. 平面を有する平面要素と,前記平面に平行に延びる第1の軸に沿って配置される球状体の第1の対であって前記平面に対してほぼ中心に配置される球状体の前記第1の対を含むピボット位置要素とを含む,選択的に位置決め可能な平面要素アセンブリ,
    前記第1の軸に対して垂直に延びる第2の軸に沿って配置される球状体の第2の対であって,球状体の前記第1の対にピボット可能に係合する球状体の前記第2の対により形成されるピボット支持要素,
    前記平面に磁力を働かせて前記平面要素を前記ピボット支持要素のまわりにおいてピボットさせるように配置される少なくとも2個の電磁石変位装置,
    前記平面要素の位置を検知する少なくとも1個のセンサ,および
    少なくとも1個の前記センサの少なくとも1つの出力に応答して少なくとも2個の前記電磁石変位装置の動作を制御するように働くフィードバック回路を備え,
    前記ピボット位置要素は前記平面要素の下面に取付けられ,前記ピボット支持要素は前記平面に対して垂直に延びるシャフトの上面に設けられ,前記平面要素が前記シャフトの縦軸のまわりに回転するのを,球状体の前記第1の対と球状体の前記第2の対が防いでいる,平面ティルティング装置。
  2. 球状体の前記第1の対は相互に接触する構成である,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  3. 球状体の前記第2の対は相互に接触する構成である,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  4. 球状体の前記第1の対および球状体の前記第2の対のうちの少なくとも一方は炭化タングステンにより形成される,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  5. 前記ピボット位置要素が前記ピボット支持要素とピボット可能に係合した状態で前記平面要素を保持するように働く保持磁石をさらに備える,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  6. 前記保持磁石は環状磁石を備える,請求項5に記載の平面ティルティング装置。
  7. 少なくとも2個の前記電磁石変位装置は,前記ピボット位置部分に関して対称に分布する複数の電磁石を備える,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  8. 少なくとも1個の前記センサは容量型センサを備える,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  9. 前記フィードバック回路は,単一の軸のまわりにおいて前記平面要素がティルトするのを制御し,それによって前記平面要素の二次元位置に影響を及ぼす,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  10. 前記フィードバック回路は,2つの軸のまわりにおける前記平面要素のティルトを制御し,それによって前記平面要素の三次元位置に影響を及ぼす,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  11. 前記平面要素はミラー要素用のベースを備える,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  12. 前記フィードバック回路は,第1の位置決め軸のまわりにおける前記平面要素の位置決めを制御する働きをする第1の制御回路と,前記第1の位置決め軸に対して垂直に延びる第2の位置決め軸のまわりにおける前記平面要素の位置決めを制御する働きをする第2の制御回路とを備える,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  13. 前記平面要素が少なくとも部分的に強磁性材料により形成される,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  14. 少なくとも1個の前記センサが前記平面素子の下に配置される,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
  15. 前記フィードバック回路は,少なくとも2個の前記電磁石変位装置の前記動作によって,前記平面要素を位置決めするように働く,請求項1に記載の平面ティルティング装置。
JP2009515994A 2006-06-22 2007-06-20 ティルティング装置 Active JP5421771B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/472,325 2006-06-22
US11/472,325 US7598688B2 (en) 2006-06-22 2006-06-22 Tilting device
PCT/IB2007/003529 WO2008023272A2 (en) 2006-06-22 2007-06-20 Tilting device

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009542174A JP2009542174A (ja) 2009-11-26
JP2009542174A5 JP2009542174A5 (ja) 2010-08-12
JP5421771B2 true JP5421771B2 (ja) 2014-02-19

Family

ID=39027816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009515994A Active JP5421771B2 (ja) 2006-06-22 2007-06-20 ティルティング装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7598688B2 (ja)
EP (1) EP2030069A4 (ja)
JP (1) JP5421771B2 (ja)
KR (1) KR101427432B1 (ja)
CN (1) CN101563638B (ja)
IL (1) IL195388A (ja)
TW (1) TWI456368B (ja)
WO (1) WO2008023272A2 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9765920B2 (en) 2011-06-17 2017-09-19 Abariscan Gmbh Positioning apparatus and system for directing a beam
WO2012171581A1 (en) * 2011-06-17 2012-12-20 Abariscan Gmbh Positioning apparatus and system for directing a beam
CN102313966B (zh) * 2011-09-06 2013-04-17 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种刚性承载式快速控制反射镜
CN102323656B (zh) * 2011-09-28 2013-03-20 哈尔滨工业大学 基于双轴柔性铰链的高频响二维微角摆控制反射镜
JP2013083553A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Sony Corp 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
DE102012214232A1 (de) * 2012-08-10 2013-08-14 Carl Zeiss Smt Gmbh Spiegellagerung für spiegel einer projektionsbelichtungsanlage
CN102928956A (zh) * 2012-11-26 2013-02-13 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种小型化刚性承载式快速反射镜
DE102013211310A1 (de) * 2013-06-17 2014-12-18 Carl Zeiss Smt Gmbh EUV-Abbildungsvorrichtung
JP6190253B2 (ja) * 2013-11-29 2017-08-30 東京パーツ工業株式会社 振動発生装置
DE102013114822B3 (de) * 2013-12-23 2014-11-20 Ernst-Abbe-Fachhochschule Jena Zweiachsige Kippvorrichtung
WO2015112775A1 (en) * 2014-01-22 2015-07-30 Swift Control Systems, Inc. A smart mirror mount device
EP3006975A3 (en) * 2014-10-08 2016-05-25 Optotune AG Device for tilting an optical element, particularly a mirror
CN104777587B (zh) * 2015-04-20 2017-07-14 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种主镜定位安装机构
US10451808B2 (en) * 2015-07-24 2019-10-22 Trustees Of Boston University MEMS devices for smart lighting applications
WO2017111629A1 (en) * 2015-12-23 2017-06-29 Stm Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością Bearing system for the rotary column of a pet preform blow molding machine
KR200494591Y1 (ko) * 2016-03-09 2021-11-10 오르보테크 엘티디. 광학적 처리 시스템을 위한 광학 헤드 및 섀시
TWI777945B (zh) * 2016-03-15 2022-09-21 德商阿莫瓦有限公司 用於在高架倉庫中貯存和獲取或者重排貯存品的運輸和轉移系統
DE102016212853B3 (de) * 2016-07-14 2017-11-09 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren zum Justieren einer optischen Einrichtung
KR101736153B1 (ko) * 2016-12-27 2017-05-16 국방과학연구소 고속 정밀 구동을 위한 가이드 장치 및 그 가이드 장치의 설계 방법
DE102017202182A1 (de) 2017-02-10 2018-08-16 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Reluktanz-Aktor
CN108761772A (zh) * 2018-05-30 2018-11-06 中国科学院光电技术研究所 一种类镜框安装的框架式电调镜
CN108562992B (zh) * 2018-06-20 2024-01-19 中国人民解放军国防科技大学 一种基于柔性铰链的精密反射镜架
DE102020206843A1 (de) 2020-06-02 2021-12-02 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Vorrichtung zum Ausrichten eines Sensors oder Beleuchtungsmittels

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1011463A (fr) * 1949-02-14 1952-06-23 Agencement de palier à billes pour arbres montés sur pivot conique et, par exemple, pour pivots de balancier des montres
US3587335A (en) 1969-04-10 1971-06-28 Massasetts Inst Of Technology Device for providing precise motions
US4157861A (en) * 1977-08-03 1979-06-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Optical beam steering system
JPS5885546U (ja) * 1981-12-05 1983-06-10 株式会社東海理化電機製作所 ミラ−保持装置
JPH01297617A (ja) * 1988-05-26 1989-11-30 Matsushita Electric Works Ltd 光ビーム偏向器
US5239361A (en) * 1991-10-25 1993-08-24 Nicolet Instrument Corporation Dynamic mirror alignment device for the interferometer of an infrared spectrometer
US5459932A (en) * 1993-08-27 1995-10-24 Levelite Technology, Inc. Automatic level and plumb tool
DE19828689A1 (de) * 1997-06-27 1999-01-07 Asahi Optical Co Ltd Spiegelgalvanometereinheit
US6201629B1 (en) 1997-08-27 2001-03-13 Microoptical Corporation Torsional micro-mechanical mirror system
JP2985871B2 (ja) * 1998-03-26 1999-12-06 日本電気株式会社 レーザポインティング装置
US6188502B1 (en) * 1998-03-26 2001-02-13 Nec Corporation Laser pointing apparatus and on-fulcrum drive apparatus
EP0977066A1 (en) * 1998-07-27 2000-02-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation-beam manipulator having a pretensioned thrust bearing
US6552840B2 (en) 1999-12-03 2003-04-22 Texas Instruments Incorporated Electrostatic efficiency of micromechanical devices
JP2001290100A (ja) * 2000-04-10 2001-10-19 Mitsubishi Electric Corp ミラースキャナ
US6717715B2 (en) 2000-07-27 2004-04-06 Holl Technologies Company Flexureless magnetic micromirror assembly
EP1191382A3 (en) 2000-09-20 2003-10-15 Texas Instruments Inc. Stacked micromirror structures
JP4602542B2 (ja) 2000-12-18 2010-12-22 オリンパス株式会社 光偏向器用のミラー揺動体
FR2820833B1 (fr) 2001-02-15 2004-05-28 Teem Photonics Micro-miroir optique a pivot, matrice de tels micro-miroirs et procede de realisation dudit micro-miroir
US6873447B2 (en) 2001-07-03 2005-03-29 Pts Corporation Two-dimensional free-space optical wavelength routing element based on stepwise controlled tilting mirrors
JP3740444B2 (ja) 2001-07-11 2006-02-01 キヤノン株式会社 光偏向器、それを用いた光学機器、ねじれ揺動体
US6538802B2 (en) 2001-07-31 2003-03-25 Axsun Technologies, Inc System and method for tilt mirror calibration due to capacitive sensor drift
US6700688B2 (en) 2001-08-24 2004-03-02 Megasense, Inc. Rolling mirror apparatus and method of use
US20030137716A1 (en) 2002-01-22 2003-07-24 Corning Intellisense Corporation Tilting mirror with rapid switching time
US6856437B2 (en) 2002-02-01 2005-02-15 Terabeam Corporation Fast steering mirror
US6900918B2 (en) 2002-07-08 2005-05-31 Texas Instruments Incorporated Torsionally hinged devices with support anchors
US20040004775A1 (en) 2002-07-08 2004-01-08 Turner Arthur Monroe Resonant scanning mirror with inertially coupled activation
JP4307171B2 (ja) 2002-07-19 2009-08-05 キヤノン株式会社 マイクロ可動体
CN1501108A (zh) * 2002-08-28 2004-06-02 Nec������ʽ���� 光开关
US6758571B2 (en) 2002-09-30 2004-07-06 Texas Instruments Incorporated Scanning MEMS mirror with reluctance force motor
CN100580545C (zh) * 2003-07-17 2010-01-13 纽波特股份有限公司 用于样本检测和处理的高分辨率动态定位机构
US7034415B2 (en) 2003-10-09 2006-04-25 Texas Instruments Incorporated Pivoting mirror with improved magnetic drive
US7061660B1 (en) 2005-04-13 2006-06-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. MEMs device with feedback control
US7643196B2 (en) 2005-12-16 2010-01-05 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Systems, methods and devices for actuating a moveable miniature platform

Also Published As

Publication number Publication date
TWI456368B (zh) 2014-10-11
CN101563638A (zh) 2009-10-21
WO2008023272A2 (en) 2008-02-28
WO2008023272A3 (en) 2009-04-23
JP2009542174A (ja) 2009-11-26
TW200809452A (en) 2008-02-16
US7598688B2 (en) 2009-10-06
EP2030069A4 (en) 2010-07-14
IL195388A0 (en) 2009-08-03
CN101563638B (zh) 2016-10-26
KR20090019802A (ko) 2009-02-25
IL195388A (en) 2012-02-29
US20080028816A1 (en) 2008-02-07
EP2030069A2 (en) 2009-03-04
KR101427432B1 (ko) 2014-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5421771B2 (ja) ティルティング装置
JP2009542174A5 (ja)
JP4550850B2 (ja) 圧電モータシステム
JP6623059B2 (ja) 可動体の傾き調整方法
TW201843498A (zh) 帶抖動修正功能的光學單元
JP7292011B2 (ja) 回転検出ジョイスティック
US6326714B1 (en) Two-axis pointing motor
JPH0968661A (ja) ティルトミラー構造
WO2020039945A1 (ja) 光学ユニット
JP2009247211A (ja) 圧電モータ
EP2721439B1 (en) Positioning apparatus and system for directing a beam
JP4322157B2 (ja) カメラ作動装置
JP2010276390A (ja) 姿勢制御装置
JP2001155601A (ja) 傾斜角度検出センサ
US11077961B2 (en) Satellites attitude control system
JP7367066B2 (ja) 多方向入力装置
JP5439663B2 (ja) 電磁アクチュエータ及び関節装置
JPH11218471A (ja) 運動試験装置
JPH05131389A (ja) 対象物取扱装置
JP5009778B2 (ja) チルトステージ
JP2518649Y2 (ja) 載置台支持装置
KR20170087243A (ko) 물체의 균형을 유지시키기 위한 장치 및 방법
JP2023159915A (ja) 把持装置、把持ロボット、把持装置の制御方法、および把持装置の制御プログラム
JPH10104535A (ja) 傾斜装置を支承する方法及び傾斜装置
JP2020005426A (ja) アクチュエータ及び製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100616

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100616

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120626

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120924

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121001

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20121025

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121101

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20121122

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130702

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20131001

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20131008

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131010

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131119

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131122

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5421771

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250