JP5412196B2 - 磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録再生装置 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録再生装置 Download PDF

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Description

本発明は、ハードディスク装置(HDD)等に用いられる磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録再生装置に関するものである。
近年、磁気ディスク装置、フレキシブルディスク装置、磁気テープ装置等の磁気記録装置の適用範囲は著しく増大され、その重要性が増すと共に、これらの装置に用いられる磁気記録媒体について、その記録密度の著しい向上が図られつつある。特に、MRヘッドやPRML技術の導入以来、面記録密度の上昇は更に激しさを増し、近年ではGMRヘッドやTMRヘッドなども導入されて、1年に約100%ものペースで増加を続けている。
これらの磁気記録媒体については、今後更に高記録密度を達成することが要求されている。このため、磁性層の高保磁力化、高信号対雑音比(SNR)、及び高分解能を達成することが要求されている。また、近年では線記録密度の向上と同時にトラック密度の増加によって面記録密度を上昇させようとする努力も続けられている。
最新の磁気記録装置においては、トラック密度110kTPIにも達している。しかしながら、トラック密度を上げていくと、隣接するトラック間の磁気記録情報が互いに干渉し合い、その境界領域の磁化遷移領域がノイズ源となりSNRを損なうという問題が生じ易くなっており、このことはそのままビットエラーレートの低下につながるため、記録密度の向上に対して障害となっている。
面記録密度を上昇させるためには、磁気記録媒体上の各記録ビットのサイズをより微細なものとし、各記録ビットに可能な限り大きな飽和磁化と磁性膜厚を確保する必要がある。その一方で、記録ビットを微細化していくと、1ビット当たりの磁化最小体積が小さくなり、熱揺らぎによる磁化反転で記録データが消失するという問題が生じてしまう。
また、トラック密度を上げていくと、トラック間距離が近づくために、磁気記録装置では極めて高精度のトラックサーボ技術が要求されると同時に、記録を幅広く実行し、再生は隣接トラックからの影響をできるだけ排除するために記録時よりも狭く実行する方法が一般的に用いられている。しかしながら、この方法ではトラック間の影響を最小限に抑えることができる反面、再生出力を十分得ることが困難であり、その結果十分なSNRを確保することが難しいという問題がある。
このような熱揺らぎの問題やSNRの確保、十分な出力の確保を達成する方法の一つとして、記録媒体表面にトラックに沿った凹凸を形成し、記録トラック同士を物理的に分離することによってトラック密度を上げようとする試みがなされている。このような技術は、一般にディスクリートトラック法と呼ばれており、それによって製造された磁気記録媒体のことをディスクリートトラック媒体と呼んでいる。また、同一トラック内のデータ領域を更に分割した、いわゆるパターンドメディアを製造しようとする試みもある。
ディスクリートトラック媒体の一例として、表面に凹凸パターンを形成した非磁性基板に磁気記録媒体を形成して、物理的に分離した磁気記録トラック及びサーボ信号パターンを形成してなる磁気記録媒体が知られている(例えば、特許文献1を参照。)。
この磁気記録媒体は、表面に複数の凹凸のある基板の表面に軟磁性層を介して強磁性層が形成されており、その表面に保護膜を形成したものである。この磁気記録媒体では、凸部領域に周囲と物理的に分断された磁気記録領域が形成されている。
この磁気記録媒体によれば、軟磁性層での磁壁発生を抑制できるため熱揺らぎの影響が出にくく、隣接する信号間の干渉もないので、ノイズの少ない高密度磁気記録媒体を形成できるとされている。
特開2004−164692号公報
ところで、上述した磁気的に分離された磁気記録パターンを有する、いわゆるディスクリートトラックメディアやパターンドメディアを製造する際に、磁性層をパターニングする方法としては、磁性層の表面にパターニングしたマスク層を設け、このマスク層を用いてイオンミリング等により磁性層を物理的に加工する方法が従来より用いられている。
しかしながら、このような従来の方法を用いた場合には、磁性層がイオンミリングにより加工されると同時に、マスク層自体もイオンによりエッチングされるため、特にマスク層のエッジ部分にダレが生じてしまい、このダレが徐々に広がり、加工される磁性層の断面が台形形状となることがある。この場合、磁性層のエッジ部分がダレてしまうことにより、磁気記録パターンのパターンボケが発生し、この磁気記録パターンからの信号が減少することによって、エラーレートの悪化を招くことになる。
そこで、本発明は、上記課題を解決するために提案されたものであり、鮮明な磁気記録パターンを有する磁気記録媒体を簡便なプロセスで製造することを可能とした磁気記録媒体の製造方法、並びに、そのような製造方法により製造された磁気記録媒体を用い、更なる電磁変換特性の向上を可能とした磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
本発明は、以下の手段を提供する。
(1) 磁気的に分離された磁気記録パターンを有する磁気記録媒体の製造方法であって、
非磁性基板の少なくとも一方の面上に磁性層を形成する工程と、
前記磁性層の面上を覆うマスク層を形成する工程と、
前記マスク層の上に前記磁気記録パターンに対応した形状にパターニングされたレジスト層を形成する工程と、
前記レジスト層を用いて前記マスク層を前記磁気記録パターンに対応した形状にパターニングする工程と、
前記磁性層の前記マスク層で覆われていない箇所を部分的に除去することにより凹部を形成する工程と、
前記凹部が形成された面上を覆う非磁性層を形成する工程と、
前記マスク層が表出するまで前記非磁性層の表面を平坦化する工程と、
前記表出されたマスク層を除去する工程と、
前記凹部の内側から前記磁性層の表面よりも外側に突き出した非磁性層の突起部分を除去する工程と、
前記突起部分が除去された面上を覆う保護層を形成する工程とを含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
(2) 前記非磁性層を前記凹部に埋め込むのに十分な厚みで形成し、前記非磁性層の突起部分を除去する際は、前記凹部に埋め込まれた非磁性層及び前記磁性層の表面を平坦化することを特徴とする前項(1)に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(3) 前記マスク層を形成する工程において、下部マスク層と上部マスク層とを積層して形成することを特徴とする前項(1)又は(2)に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(4) 前記下部マスク層として、Cr,Ni,Tiの何れかを含む合金膜を形成し、前記上部マスク層として、炭素膜を形成することを特徴とする前項(3)に記載の磁気記録媒体の製造方法。
(5) 前項(1)〜(4)の何れか一項に記載の製造方法により製造された磁気記録媒体と、
前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動手段と、
前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドから出力信号の再生とを行うための記録再生信号処理手段とを備えることを特徴とする磁気記録再生装置。
以上のように、本発明によれば、鮮明な磁気記録パターンを有する磁気記録媒体を簡便なプロセスで製造することが可能となるため、記録密度の高い磁気記録媒体を高い生産性で製造することが可能となる。また、このような磁気記録媒体を用いた磁気記録再生装置では、更なる電磁変換特性の向上が可能となる。
本発明を適用して製造される磁気記録媒体の一例を示す断面図である。 本発明を適用して製造される磁気記録媒体の製造工程A〜Fを示す断面図である。 本発明を適用して製造される磁気記録媒体の製造工程G〜Kを示す断面図である。 比較例として示す従来の磁気記録媒体の製造工程L〜Pを示す断面図である。 本発明を適用して製造される磁気記録媒体の別の製造工程G’〜K’を示す断面図である。 本発明を適用した磁気記再生装置の一例を示す斜視図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
(磁気記録媒体の製造方法)
本実施形態では、本発明を適用した磁気記録媒体の製造方法として、ディスクリート型磁気記録媒体を製造する場合を例に挙げて具体的に説明する。
本発明を適用して製造されるディスクリート型磁気記録媒体は、例えば図1に示すように、非磁性基板100の少なくとも一方の面上に、軟磁性層及び中間層200と、磁気記録パターンが形成された磁性領域300及び非磁性領域400と、保護層500とが形成されており、さらに最表面には、図示省略の潤滑膜が形成された構造を有している。また、磁性領域300は記録トラック領域、非磁性領域400は磁性領域300を分離する領域を形成している。
また、本発明を適用して製造されるディスクリート型磁気記録媒体は、磁性領域300の幅Wを200nm以下、非磁性領域400の幅Lを100nm以下とすることが好ましい。したがって、記録密度を高めるために、トラックピッチP(=W+L)は、300nm以下の範囲で、できるだけ狭くすることが好ましい。
なお、図1に示すディスクリート型磁気記録媒体は、非磁性領域400の部分の磁性層が除去された例であるが、この部分の磁性層はその表層部のみを除去し、凹部深さを2〜15nm、望ましくは5〜10nmにすることが浮上特性の観点より望ましい。
本発明の磁気記録パターンとは、磁気記録パターンが1ビットごとに一定の規則性をもって配置された、いわゆるパターンドメディアや、磁気記録パターンが、トラック状に配置されたメディアや、その他、サーボ信号パターン等を含んでいる。この中で、本発明は、磁気的に分離された磁気記録パターンが、磁気記録トラック及びサーボ信号パターンである、いわゆる、ディスクリート型磁気記録媒体に適用するのが、その製造における簡便性から好ましい。
また、本発明の磁気記録パターンは、上述した磁性層の300が非磁性領域400により分離された状態に限らず、磁性層が表面側から見て分離されていれば、磁性層の底部において分離されていなくとも、本発明の目的を達成することが可能であり、本発明の磁気的に分離された磁気記録パターンの概念に含まれる。
次に、本発明を適用した磁気記録媒体の製造方法を図2及び図3に示す工程A〜Kに従って説明する。
本発明を適用した磁気記録媒体の製造方法は、磁気的に分離された磁気記録パターンを有する磁気記録媒体を製造する際に、非磁性基板1の少なくとも一方の面上に磁性層2を形成する工程Aと、磁性層2の面上を覆うマスク層3を形成する工程Bと、マスク層3の上にレジスト層4を形成する工程Cと、スタンプ5を用いてレジスト層4を磁気記録パターンに対応した形状にパターニングする工程Dと、レジスト層4を用いてマスク層3を磁気記録パターンに対応した形状にパターニングする工程Eと、磁性層2のマスク層3で覆われていない箇所を部分的に除去することにより凹部6を形成する工程Fと、凹部6が形成された面上を覆う非磁性層7を形成する工程Gと、マスク層3が表出するまで非磁性層7の表面を平坦化する工程Hと、表出されたマスク層3を除去する工程Iと、凹部6の内側から磁性層2の表面よりも外側に突き出した非磁性層7の突起部分7aを除去する工程Jと、突起部分7aが除去された面上を覆う保護層8を形成する工程Kとを含むことを特徴とする。
具体的に、非磁性基板1としては、Alを主成分とした例えばAl−Mg合金等のAl合金基板や、通常のソーダガラス、アルミノシリケート系ガラス、結晶化ガラス類、シリコン、チタン、セラミックス、各種樹脂からなる基板など、非磁性基板であれば任意のものを用いることができる。その中でも、非磁性基板1には、Al合金基板や、結晶化ガラス等のガラス製基板、シリコン基板を用いることが好ましく、また、これら基板の平均表面粗さ(Ra)は、1nm以下であることが好ましく、さらに好ましくは0.5nm以下であり、その中でも特に0.1nm以下であることが好ましい。
磁性層2は、面内磁気記録媒体用の面内磁性層でも、垂直磁気記録媒体用の垂直磁性層でもかまわないが、より高い記録密度を実現するためには垂直磁性層が好ましい。また、磁性層2は、主としてCoを主成分とする合金から形成することが好ましい。
例えば、垂直磁気記録媒体用の磁性層2としては、例えば軟磁性のFeCo合金(FeCoB、FeCoSiB、FeCoZr、FeCoZrB、FeCoZrBCuなど)、FeTa合金(FeTaN、FeTaCなど)、Co合金(CoTaZr、CoZrNB、CoBなど)等からなる軟磁性層と、Ru等からなる中間層と、60Co−15Cr−15Pt合金や70Co−5Cr−15Pt−10SiO合金からなる記録磁性層とを積層したものを利用できる。また、軟磁性層と中間層との間にPt、Pd、NiCr、NiFeCrなどからなる配向制御膜を積層してもよい。
一方、面内磁気記録媒体用の磁性層2としては、非磁性のCrMo下地層と強磁性のCoCrPtTa磁性層とを積層したものを利用できる。
磁性層2の厚みは、3nm以上20nm以下、好ましくは5nm以上15nm以下とし、使用する磁性合金の種類と積層構造に合わせて、十分なヘッド出入力が得られるように形成すればよい。また、磁性層2は、再生の際に一定以上の出力を得るのにある程度以上の膜厚が必要であり、一方で記録再生特性を表す諸パラメーターは出力の上昇とともに劣化するのが通例であるため、最適な膜厚に設定する必要がある。磁性層2は、通常はスパッタ法により薄膜として形成する。
マスク層3としては、例えば炭素膜を用いることが好ましい。また、炭素膜は、スパッタリング法やCVD法などにより成膜することができるが、CVD法を用いた方がより緻密性の高い炭素膜を成膜することができる。さらに、炭素膜は、酸素ガスを用いたドライエッチング(反応性イオンエッチング又は反応性イオンミリング)が容易であるため、残留物を減らし、磁気記録媒体表面の汚染を減少させることができる。
マスク層3の膜厚は、5nm〜40nmの範囲内とすることが好ましく、より好ましくは10nm〜30nmの範囲である。マスク層3の膜厚が5nmより薄いと、このマスク層3のエッジ部分がだれて磁気記録パターンの形成特性が悪化することになる。また、レジスト層4及びマスク層3を透過したイオンが磁性層2に侵入して、磁性層2の磁気特性を悪化させることになる。一方、マスク層3が40nmより厚くなると、このマスク層3のエッチング時間が長くなり生産性が低下することになる。また、マスク層3をエッチングする際の残渣が磁性層2の表面に残留しやすくなる。
本発明の磁気記録媒体の製造方法では、マスク層3の上にレジスト層4を形成し、このレジスト層4に磁気記録パターンのネガパターン(凹部)9を形成する。レジスト層4にネガパターン9を形成する方法は、通常のフォトリソグラフィー技術を用いることができるが、レジスト層4にスタンプ5を用いて、磁気記録パターンのネガパターン9を転写する方法を用いることが作業効率の点から好ましい。
レジスト層4には、放射線照射により硬化性を有する材料を用い、このレジスト層4にスタンプ5を用いて磁気記録パターンのネガパターン9を転写するに際して、又は、パターン転写工程の後には、レジスト層4に放射線を照射することが好ましい。これにより、レジスト層4にスタンプ5の形状を精度良く転写することが可能となり、後述するマスク層3のエッチング工程において、マスク層3のエッジの部分のダレを無くし、マスク層3のミリングイオンに対する遮蔽性を向上させ、また、マスク層3による磁気記録パターン形成特性を向上させることができる。
具体的に、本発明では、レジスト層4にスタンプ5を用いてネガパターン9を転写する工程に際して、レジスト層4の流動性が高い状態で、レジスト層4にスタンプ5を押圧し、その押圧した状態で、レジスト層4に放射線を照射することによりレジスト層4を硬化させ、その後、スタンプ5をレジスト層4から離すことにより、スタンプ5の形状を精度良く、レジスト層4に転写することが可能となる。
レジスト層4にスタンプ5を押圧した状態で、レジスト層4に放射線を照射する方法としては、スタンプ5の反対側、すなわち非磁性基板1側から放射線を照射する方法、スタンプ5の材料として放射線を透過できる物質を選択し、スタンプ5側から放射線を照射する方法、スタンプ5の側面から放射線を照射する方法、熱線のように固体に対して伝導性の高い放射線を用いて、スタンプ5又は非磁性基板1からの熱伝導により放射線を照射する方法を用いることができる。この中でも特に、レジスト材料として、ノボラック系樹脂、アクリル酸エステル類、脂環式エポキシ類等の紫外線硬化樹脂を用い、スタンプ材料として紫外線に対して透過性の高いガラスもしくは樹脂を用いることが好ましい。なお、本発明で用いる放射線とは、熱線、可視光線、紫外線、X線、ガンマ線等の広い概念の電磁波のことである。また、放射線照射により硬化性を有する材料とは、例えば、熱線に対しては熱硬化樹脂、紫外線に対しては紫外線硬化樹脂である。
また、レジスト層4には、特にSiO系レジストを用いることが好ましい。SiO系レジストは、酸素ガスを用いたドライエッチングに対して耐性が高く、マスク層3にイオンミリングを用いて磁気記録パターンのネガパターンを形成する際に、像のぼけを低減することができる。すなわち、マスク層3は、酸素ガスを用いたドライエッチングによって容易に加工が可能であり、一方で、SiO系レジストは、酸素ガスを用いたドライエッチングに対して耐性が高いため、ドライエッチングによりマスク層3を垂直に切り立った形状に加工することが可能となり、シャープな形状の磁気記録パターンを形成することが可能となる。
レジスト層4に磁気記録パターンのネガパターン(凹部)9を形成した後、このレジスト層4の凹部9における厚みは、0〜20nmの範囲内とすることが好ましい。これにより、後述するマスク層3及び磁性層2のエッチング工程において、マスク層3のエッジの部分のダレを無くし、マスク層3のミリングイオンに対する遮蔽性を向上させ、また、マスク層3による磁気記録パターンの形成特性を向上させることができる。
レジスト層4を用いてマスク層3を磁気記録パターンに対応した形状にパターニングした後に、このマスク層3に形成された凹部10内にレジストが残っている場合は、そのレジストを除去する。このマスク層3のパターニング及びレジストの除去には、反応性イオンエッチングやイオンミリングなどのドライエッチングを用いることができる。
磁性層2のマスク層3で覆われていない箇所を部分的に除去する際は、例えばICP(Inductive Coupled Plasma)装置に酸素ガスを導入して、マスク層3のレジスト層4で覆われていない箇所を反応性イオンエッチングにより除去した後に、引き続き、磁性層2のマスク層3で覆われていない箇所をイオンミリングする。これにより、磁性層2に凹部6を形成することができる。
本発明では、このような方法を採用することにより、残された磁性層2のエッジ部を垂直に形成することが可能となる。これは、磁性層2の上のマスク層3が垂直に切り立った形状であるため、その下の磁性層2も同様の形状となるからである。これにより、フリンジ特性の優れた磁性層2(磁気記録パターン)を形成することができる。
また、本発明では、例えばICP装置を用いて、磁性層2の凹部6が形成された部分を酸素雰囲気に暴露することによって、この磁性層2の凹部6が形成された部分における磁気特性を改質、すなわち磁化を消失又は磁化量を低減させる工程を設けることが好ましい。これにより、磁気記録媒体のフリンジ特性をより向上させることができる。
また、本発明では、上述したICP装置を用いてマスク層3のレジスト層4で覆われていない箇所を反応性イオンエッチングにより除去する際は、酸素ガスを用いることが好ましいものの、その後の磁性層2のドライエッチングについては、例えばICPやRIEなどの反応性イオンエッチング装置を用いて、ArガスやNガス等の不活性ガスを導入して行うことができる。また、上述した磁性層2のイオンミリングを、例えばArガスやNガス等の不活性ガスを用いて行ってもよい。すなわち、マスク層3のミリングイオンと磁性層2のミリングイオンとを、それぞれ最適なもの、例えばマスク層3は酸素ガスを用いたICP、磁性層2はAr、Nガスを用いたイオンシリングに変更することが可能である。
凹部6が形成された面上を覆う非磁性層7としては、例えば、Cr又はCrTiやCrNiなどのCr合金、Ti又はTiB/TiAlやTiAlWなどのTi合金、Al又はAlSiなどのAl合金等を用いることができる。
また、本発明では、磁気記録トラック、サーボ信号パターン部、又は、磁気記録ビットを磁気的に分離する非磁性層7を、磁性層2のイオンミリング加工した凹部6に非磁性材料を埋め込むことにより形成する。これにより、磁気トラック間領域の保磁力、残留磁化を極限まで低減させることができ、磁気記録の際の書きにじみをなくし、高い面記録密度の磁気記録媒体を提供することが可能となる。
非磁性層7を形成した後は、この非磁性層4に対してCMP(Chemical Mechanical Polishing)による研磨加工を施す。これにより、平坦化された非磁性層4の間からマスク層3が表出した状態となる。また、マスク層3が表出するまで非磁性層7を平坦化する方法としては、このような研磨加工の他にも、反応性イオンエッチングやイオンミリングなどのドライエッチングを用いることができる。
マスク層3の除去に際しては、反応性イオンエッチングやイオンミリングなどのドライエッチングを用いることが好ましい。特に、マスク層3を形成する炭素膜は、酸素プラズマにより容易に除去することができる。
マスク層3を除去した後、非磁性層7には、凹部6の内側から磁性層2の表面よりも外側に突き出した突起部分(バリという。)7aが形成される。このバリ7aの除去には、CMPと共に、反応性イオンビームエッチングや反応性イオンエッチング、プラズマエッチングなどのドライエッチングを用いることができる。特に、バリ7aだけを効率良く除去するためには、例えば斜方イオンビームエッチングによりイオンビームを斜め方向から入射させて、凹部6の内側に対するエッチング速度を低下させたり、プラズマエッチングではプラズマを非磁性基板1に近づけて、非磁性層7の表層部分におけるエッチング速度を高め、逆に凹部6のエッチング速度を下げたりする手法を用いることが好ましい。
一方、磁性層2のエッジ部分は、この部分(凹部6の内側面)を被覆する非磁性層7によって保護されるため、バリ7aを除去した後も、垂直に切り立ったシャープな形状(矩形性)を維持することが可能である。
非磁性層7の突起部分7aを除去した後は、その全面を覆う保護層8を形成する。保護層8としては、炭素(C)、水素化炭素(HC)、窒素化炭素(CN)、アルモファスカーボン、炭化珪素(SiC)等の炭素質層やSiO、Zr、TiNなど、通常用いられる保護層材料を用いることができる。また、保護層8が2層以上の層から構成されていてもよい。
保護層8の膜厚は10nm未満とする必要がある。保護層8の膜厚が10nmを越えると磁気ヘッドと磁性層2との距離が大きくなり、十分な出入力信号の強さが得られなくなるからである。通常、保護膜層はスパッタ法もしくはCVD法により形成される。
保護層8の上には潤滑膜を形成することが好ましい。潤滑膜に用いる潤滑剤としては、フッ素系潤滑剤、炭化水素系潤滑剤及びこれらの混合物等が挙げられ、通常1〜4nmの厚さで潤滑膜を形成する。
以上のように、本発明を適用した磁気記録媒体の製造方法では、上述した工程Fの後に工程Gを行う。すなわち、磁気記録パターンに対応した形状にパターニングされたマスク層3を用いて磁性層2に凹部6を形成した後に、凹部6が形成された面上を覆う非磁性層7を形成する。
この場合、保護層8を形成するまでの間に磁性層2のエッジ部分がダレてしまうことを未然に防ぐことが可能である。すなわち、上記工程Gの後に、マスク層3が表出するまで非磁性層7の表面を平坦化する工程Hと、表出されたマスク層3を除去する工程Iと、凹部6の内側から磁性層2の表面よりも外側に突き出した非磁性層7のバリ7aを除去する工程Jとを行う場合、磁性層2のエッジ部分は、この部分(凹部6の内側面)を被覆する非磁性層7によって保護されるため、バリ7aを除去した後も、垂直に切り立ったシャープな形状(矩形性)を維持することが可能である。
一方、図4に示すように、上記工程Fの後に、マスク層3をエッチングにより除去する工程Lを行った場合には、磁性層2のエッジ部分もエッチングされるため、この磁性層2のエッジ部分に工程Mに示すようなダレが発生してしまう。
したがって、この工程Mの後に、マスク層3が除去された面上を覆う非磁性層7を形成する工程Nと、磁性層2が表出するまで非磁性層7の表面を平坦化する工程Oと、この平坦化された面上を覆う保護層8を形成する工程Kとを経ることによって作製された磁気記録媒体では、最終的に磁性層2(磁気記録パターン)の断面が台形形状となり、この磁性層2の平坦部分の幅が狭くなるため、信号強度が低下し、SN比の低下を招くことになる。さらに、上記工程Nにおいては、凹部6に非磁性層7を埋め込むのに必要な膜厚も上記工程Gに比べて2倍以上となるため、その分だけ工程にかかる時間が増すことになる。
これに対して、本発明を適用して製造された磁気記録媒体では、磁性層2のエッジ部分が垂直に切り立ったシャープな形状(矩形性)を維持しており、この磁性層2の平坦部分の幅も広いため、高い信号強度が得られるだけでなく、高ビットエラーレートを確保できる。さらに、磁性層2のエッジ部分は、この部分(凹部6の内側面)を被覆する非磁性層7によって保護されるため、耐食性も良好なものとなる。
また、本発明を適用した磁気記録媒体の製造方法では、例えば図5に示す工程G’〜K’のように、非磁性層7を凹部6に埋め込むのに十分な厚みで形成し、非磁性層7の突起部分7aを除去する際は、非磁性層7及び磁性層2の表面が平ら面を形成するまで平坦化を行うようにしてもよい。
この場合も、上述した磁性層2のエッジ部分における矩形性を維持できると共に、凹部6に埋め込まれた非磁性層7が磁性層2(磁気記録パターン)の間を磁気的に分離することによって、磁気トラック間領域の保磁力、残留磁化を極限まで低減させることができる。したがって、磁気記録の際の書きにじみをなくし、高い面記録密度の磁気記録媒体を製造することができる。
また、本発明では、上記マスク層3として、例えばTiAl、NiW、NiTiなどのCr,Ni,Tiの何れかを含む合金膜からなる下部マスク層と、炭素膜からなる上部マスク層とを積層して形成することも可能である。この場合、上記工程Iにおいて、表出された上部マスク層を除去した後、上記工程Jにおいて、凹部6の内側から磁性層2の表面よりも外側に突き出した非磁性層7のバリ7aを除去する際に、下部マスク層が磁性層2の表面を保護することで、バリ7aを除去した後に、磁性層2の垂直に切り立ったシャープな形状(矩形性)を更に良好に保つことが可能である。
以上のように、本発明によれば、鮮明な磁気記録パターンを有する磁気記録媒体を簡便なプロセスで製造することが可能となるため、記録密度の高い磁気記録媒体を高い生産性で製造することが可能となる。また、このような磁気記録媒体を用いた磁気記録再生装置では、更なる電磁変換特性の向上が可能となる。
(磁気記録再生装置)
次に、本発明を適用した磁気記録再生装置(HDD)の一構成例を図6に示す。
本発明を適用した磁気記録再生装置は、図3に示すように、上記本発明を適用して製造された磁気記録媒体30と、この磁気記録媒体を回転駆動する回転駆動部(磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部)31と、磁気記録媒体30に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッド32と、磁気ヘッド32を磁気記録媒体30の径方向に移動させるヘッド駆動部(磁気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動手段)33と、磁気ヘッド32への信号入力と磁気ヘッド32から出力信号の再生とを行うための記録再生信号処理系(記録再生信号処理手段)34とを備えている。
この磁気記録再生装置では、上記ディスクリートトラック型の磁気記録媒体30を用いることにより、この磁気記録媒体30に磁気記録を行う際の書きにじみをなくし、高い面記録密度を得ることが可能である。すなわち、上記本発明を適用した磁気記録媒体30を用いることで記録密度の高い磁気記録再生装置を構成することが可能となる。また、磁気記録媒体30の記録トラックを磁気的に不連続に加工したことによって、従来はトラックエッジ部の磁化遷移領域の影響を排除するために再生ヘッド幅を記録ヘッド幅よりも狭くして対応していたものを、両者をほぼ同じ幅にして動作させることができる。これにより十分な再生出力と高いSNRを得ることができるようになる。
さらに、磁気ヘッド32の再生部をGMRヘッド又はTMRヘッドで構成することにより、高記録密度においても十分な信号強度を得ることができ、高記録密度を持った磁気記録再生装置を実現することができる。またこの磁気ヘッド32の浮上量を0.005μm〜0.020μmの範囲内とし、従来より低い高さで浮上させると、出力が向上して高い装置SNRが得られ、大容量で高信頼性の磁気記録再生装置を提供することができる。また、最尤復号法による信号処理回路を組み合わせるとさらに記録密度を向上でき、例えば、トラック密度100kトラック/インチ以上、線記録密度1000kビット/インチ以上、1平方インチ当たり100Gビット以上の記録密度で記録・再生する場合にも十分なSNRが得られる。
以下、実施例により本発明の効果をより明らかなものとする。なお、本発明は、以下の実施例に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することができる。
(実施例1)
実施例1では、上記図2及び図3に示す工程A〜Kに従って磁気記録媒体を製造した。具体的には、HD用ガラス基板をセットした真空チャンバをあらかじめ1.0×10−5Pa以下に真空排気した。ここで使用したガラス基板はLiSi、Al−KO、Al−KO、MgO−P、Sb−ZnOを構成成分とする結晶化ガラスを材質とし、外径65mm、内径20mm、平均表面粗さ(Ra)は2オングストロームである。
該ガラス基板にDCスパッタリング法を用いて、軟磁性層としてFeCoB、中間層としてRu、磁性層として70Co−5Cr−15Pt−10SiO合金、メタル保護層としてCrTiを積層し、さらに、スパッタ法を用いて、マスク層としてCを積層した。各層の厚みは、軟磁性層は60nm、中間層は10nm、磁性層は16nm、メタル保護層は5nm、マスク層は33nmとした。
その上に、SiOレジストをスピンコート法により塗布した。膜厚は60nmとした。その上に、磁気記録パターンのネガパターンを有するガラス製のスタンプを用いて、スタンプを1MPa(約8.8kgf/cm)の圧力で、レジスト層に押圧した。その後、スタンプをレジスト層から分離し、レジスト層に磁気記録パターンを転写した。レジスト層に転写した磁気記録パターンは、レジストの凸部が幅62nmの円周状、レジストの凹部が幅20nmの円周状であり、レジスト層の層厚は40nm、レジスト層の凹部の厚さは約10nmであった。また、レジスト層凹部の基板面に対する角度は、ほぼ90度であった。
その後、レジスト層の凹部の箇所について、マスク層をドライエッチングで、また、磁性層をイオンビームエッチングで除去した。ドライエッチングの条件は、マスク層についてはOガスを40sccm、圧力0.3Pa、高周波プラズマ電力300W、DCバイアス30W、エッチング時30秒とした。また、イオンビームエッチングは、Arガスを10sccm、圧力0.1Pa、加速電圧300Vでエッチング時間を30秒とした。磁性層の凹部の深さは約10nmであった。
その後、凹部が形成された面上を覆う非磁性層として、膜厚10nmのCrTi膜を形成した後、この非磁性層の表面に対してCMPによる研磨加工を200〜300秒行い、マスク層3が表出するまで平坦化を行った。そして、表出されたマスク層3を酸素プラズマにより除去した後、凹部の内側から磁性層の表面よりも外側に突き出した非磁性層のバリをArガスによるプラズマエッチングにより除去した。
その後、CVD法によりカーボン保護膜5nmを成膜し、最後にフッ素系潤滑膜2nmを塗布し、磁気記録媒体の製造を完了した。
(実施例2)
実施例2では、上記図2及び図5に示す工程A〜F,G’〜K’に従って磁気記録媒体を製造した。具体的には、非磁性層として膜厚45nmのCrTi膜を形成し、この非磁性層を凹部に埋め込むのに十分な厚みで形成した以外は、実施例1と同様の条件にて磁気記録媒体を製造した。
(比較例1)
比較例1では、上記図2及び図4に示す工程A〜F,L〜Pに従って磁気記録媒体を製造した。具体的には、磁性層に凹部を形成した後に、マスク層をエッチングにより除去し、マスク層が除去された面上を覆う非磁性層を形成し、磁性層が表出するまで非磁性層の表面を平坦化し、平坦化された面上を覆う保護層を形成した以外は、実施例1と同様の条件にて磁気記録媒体を製造した。
そして、これら実施例1,2及び比較例1の磁気記録媒体について、スピンスタンドを用いて信号強度及び電磁変換特性の評価を実施した。このとき評価用のヘッドには、記録には垂直記録ヘッド、読み込みにはTuMRヘッドを用いた。そして、読み出し時の信号強度として、TAA値(μVpp)と、電磁変換特性として、750kFCIの信号を記録したときの2T−squash(dB)を測定した。
その結果、実施例1の磁気記録媒体では、信号強度が7200μVpp、電磁変換特性が13.3dBであった。
また、実施例2の磁気記録媒体では、信号強度が7140μVpp、電磁変換特性が13.2dBであった。
一方、比較例1の磁気記録媒体では、信号強度が6621μVpp、電磁変換特性が12.6dBであった。
本発明によれば、磁気記録パターンを形成する磁気記録媒体において、ヘッド浮上の安定性を確保でき、優れた磁気記録パターンの分離性能を有し、隣接パターン間の信号干渉の影響を受けず、高記録密度特性に優れた磁気記録媒体として利用することができる。
100…非磁性基板
200…軟磁性層及び中間層
300…磁性領域
400…非磁性領域
500…保護層
1…非磁性基板
2…磁性層
3…マスク層
4…レジスト層
5…スタンプ
6…凹部
7…非磁性層
7a…バリ(突起部分)
8…保護層
9…ネガパターン(凹部)
10…凹部
30…磁気記録媒体
31…媒体駆動部
32…磁気ヘッド
33…ヘッド駆動部
34…記録再生信号系

Claims (5)

  1. 磁気的に分離された磁気記録パターンを有する磁気記録媒体の製造方法であって、
    非磁性基板の少なくとも一方の面上に磁性層を形成する工程と、
    前記磁性層の面上を覆うマスク層を形成する工程と、
    前記マスク層の上に前記磁気記録パターンに対応した形状にパターニングされたレジスト層を形成する工程と、
    前記レジスト層を用いて前記マスク層を前記磁気記録パターンに対応した形状にパターニングする工程と、
    前記磁性層の前記マスク層で覆われていない箇所を部分的に除去することにより凹部を形成する工程と、
    前記凹部が形成された面上を覆う非磁性層を形成する工程と、
    前記マスク層が表出するまで前記非磁性層の表面を平坦化する工程と、
    前記表出されたマスク層を除去して、前記磁性層と接する箇所において、前記非磁性層の一部を、前記磁性層の表面よりも外側に突き出させる工程と
    記磁性層の表面よりも外側に突き出した非磁性層の突起部分を除去する工程と、
    前記突起部分が除去された面上を覆う保護層を形成する工程とを含むことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
  2. 前記非磁性層を前記凹部に埋め込むのに十分な厚みで形成し、前記非磁性層の突起部分を除去する際は、前記凹部に埋め込まれた非磁性層及び前記磁性層の表面が平らな面を形成するまで平坦化を行うことを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体の製造方法。
  3. 前記マスク層を形成する工程において、下部マスク層と上部マスク層とを積層して形成することを特徴とする請求項1又は2に記載の磁気記録媒体の製造方法。
  4. 前記下部マスク層として、Cr,Ni,Tiの何れかを含む合金膜を形成し、前記上部マスク層として、炭素膜を形成することを特徴とする請求項3に記載の磁気記録媒体の製造方法。
  5. 請求項1〜4の何れか一項に記載の製造方法により製造された磁気記録媒体と、
    前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
    前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
    前記磁気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動手段と、
    前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドから出力信号の再生とを行うための記録再生信号処理手段とを備えることを特徴とする磁気記録再生装置。
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