JP5410086B2 - シリコン単結晶引上装置 - Google Patents

シリコン単結晶引上装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5410086B2
JP5410086B2 JP2008323760A JP2008323760A JP5410086B2 JP 5410086 B2 JP5410086 B2 JP 5410086B2 JP 2008323760 A JP2008323760 A JP 2008323760A JP 2008323760 A JP2008323760 A JP 2008323760A JP 5410086 B2 JP5410086 B2 JP 5410086B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample chamber
single crystal
silicon single
support
pulling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008323760A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010143795A (ja
Inventor
朋広 福田
研一 西岡
歩 須田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumco Techxiv Corp
Original Assignee
Sumco Techxiv Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumco Techxiv Corp filed Critical Sumco Techxiv Corp
Priority to JP2008323760A priority Critical patent/JP5410086B2/ja
Publication of JP2010143795A publication Critical patent/JP2010143795A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5410086B2 publication Critical patent/JP5410086B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

本発明は、シリコン単結晶引上装置に関し、具体的には、引上炉内の坩堝に融液を貯留し、チョクラルスキー(CZ)法により、ドープされたシリコン単結晶を融液から引き上げるシリコン単結晶引上装置に関する。
例えば、ドーパントをシリコン結晶に添加する方法としては、昇華性ドーパントが収容されたドープ管を引上炉内の所定位置まで下降させることにより、融液から輻射される輻射熱によって昇華され気体となったドープ管内の昇華性ドーパントを、融液に導入する方法が知られている。
この方法によると、昇華性ドーパントは、昇華して気体となった後、ドープ管から引上炉内の融液の上方に配置された供給部へ送られ、アルゴンガス等の不活性ガスからなるキャリアガスによって搬送されると共に、供給部から融液に向けて吹き付けられる。
ここで、昇華した昇華性ドーパントをドープ管から供給部へ送る方法として、本願出願人は、ドープ管が収容される試料室を引上炉に外付けして設け、ワイヤを使用してドープ管を試料室から供給部に向かって昇降させる技術を発明し、特許出願を行った(特願2008−61659)。この特許出願の明細書に記載された発明は、例えば、耐熱性を有するアーム等を使用してドープ管を供給部へ送る場合等と異なり、ドープ管を供給部に送る装置全体を大型化することなく、簡易な構成でドープ管を供給部に送ることが可能になる。また、試料室から供給部に向かってドープ管を送るガイドレールを設置した場合には、ドープ管の位置決めや位置の修正等の修正が不要となる。
しかしながら、試料室から供給部に向かってガイドレールを設置した場合には、ドープ管を供給部へ送る供給路の一部がガイドレールにより占有されることとなる。そのため、例えば、昇華性ドーパントを大量投入させる場合等のようにドープ管を大型化(大容量化)したい場合に、ガイドレールによってドープ管の大きさが規制されるという問題がある。また、供給路の一部がガイドレールにより占有されるため、引上炉内のメンテナンスを行いにくい場合がある。
本発明は、簡易な構成で試料管を供給部に送ることが可能であると共に、引上炉内のメンテナンス性の向上したシリコン単結晶引上装置を提供することを目的とする。
(1) 本発明のシリコン単結晶引上装置は、ドープされたシリコン単結晶をチョクラルスキー法により融液から引き上げるシリコン単結晶引上装置であって、前記融液が収容される引上炉と、前記引上炉に外付けされ、前記引上炉の内部と連通する中空の試料室と、前記融液に供給する昇華性ドーパントが収容される試料管と、前記試料管を支持する支持体と、前記支持体を前記試料室の内部で支持した状態で移動させることにより、前記支持体に支持された前記試料管を前記引上炉の内部に移動させる移動手段と、を備えることを特徴とする。
(2) 前記移動手段は、雄ネジを有するボールネジ部と、前記支持体に連結されると共に、前記雄ネジと螺合可能な雌ネジを有し、前記雄ネジに前記雌ネジを螺合させることにより、前記ボールネジ部の軸方向に移動可能な雌ネジ部と、前記ボールネジ部を回転させる駆動源と、前記雌ネジ部の回転を規制するガイド部と、を有することが好ましい。
(3) また、前記ボールネジ部は、前記試料室の外部に配置されており、前記試料室は、前記支持体の少なくとも一部が収容される第1試料室と、前記試料管を収容可能な第2試料室と、を有し、前記第1試料室は、前記雌ネジ部に接合され、前記雌ネジ部の移動に連動して前記軸方向に伸縮可能に形成されることを特徴とする。
(4) 前記雌ネジ部は、前記支持体に連結され、第1磁石を有する第1磁石部と、前記第1磁石と引かれあう第2磁石及び前記雌ネジを有する第2磁石部と、を備え、前記ガイド部は、前記第2磁石部の回転を規制することが好ましい。
本発明によれば、簡易な構成で試料管を供給部に送ることが可能であると共に、メンテナンス性の向上したシリコン単結晶引上装置を提供することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
[1]第1実施形態
図1を参照して、本発明の第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置を模式的に示す断面図である。図1に示すように、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2と、坩堝3と、ヒータ9と、保温筒13と、整流筒15(15a、15b)と、引き上げ機構4と、試料室100と、遮蔽部24と、試料管としてのドープ管6と、供給部7と、熱遮蔽部材8と、を備えて構成されている。
引上炉2は、シリコン単結晶41を引き上げるための炉である。引上炉2は、その上方に開口を有する。引上炉2においては、この開口からシリコン単結晶41が引き上げられる。引上炉2は、その内部を真空に保ち、CZ法による結晶成長に用いられる。
坩堝3は、引上炉2の内部に設けられている。坩堝3は、石英坩堝31と、石英坩堝を収容する黒鉛坩堝32と、を有する。坩堝3は、多結晶シリコン(Si)からなる原料を溶融した融液5を収容する。ヒータ9は、坩堝3の周囲に設けられている。ヒータ9は、坩堝3の中にあるシリコン原料を加熱して溶融する。保温筒13は、ヒータ9と引上炉2の内側の面との間に設けられている。保温筒13は、ヒータ9からの輻射熱を遮断し、保温する。なお、本明細書において「内側」とは引上炉2の中心側を意味し、「外側」とは引上炉2の中心から反対側へ離れた側を意味する。
整流筒15は、供給部7よりも内側における坩堝3の上方に設けられている。整流筒15は、上方のカーボン製の第1整流筒15aと、第1整流筒15aの下方に接続された石英製の第2整流筒15bとを有する。整流筒15は、パージガス(引上炉2の内部の不純物を除去するように排出されるガス)を引上炉2の上下方向に流通させる。
引上げ機構4は、坩堝3の上方における整流筒15の内側に設けられている。引上げ機構4は、引上げ用ケーブル4aと、引上げ用ケーブル4aの下端に取り付けられた種結晶ホルダ4bとを有する。引上げ機構4は、種結晶ホルダ4bによって種結晶が把持される。
試料室100は、引上炉2の上方に外付けされている。試料室100は、中空に形成されている。試料室100は、その内部が引上炉2と連通している。試料室100の内部には、ドープ管6を引上炉2の内部に移動させる後述の移動手段110が取り付けられている。
遮蔽部24は、試料室100と引上炉2との間に設けられており、遮蔽部24を閉めることにより、引上炉2の内部と試料室100の内部とを熱的に遮蔽する。引上炉2の内部の輻射熱及び雰囲気は、遮蔽部24を閉めることにより、試料室100と遮断される。つまり、遮蔽部24を開閉することにより、試料室100の内部の気圧を調整可能になる。
ドープ管6は、移動手段110に取り付けられている後述の支持体120に支持されている。ドープ管6は、移動手段110による支持体120の移動により、試料室100の内部と引上炉2の内部との間を移動する。また、ドープ管6には、融液5に供給する昇華性ドーパントが収容されている。昇華性ドーパントは、ドープ管6が坩堝3の上方の所定の位置まで移動されると、融液5から輻射される輻射熱によって加熱される。加熱された昇華性ドーパントは、昇華して気体となる。ドープ管6は、この気体となった昇華性ドーパントを引上炉2の内部に設けられた供給部7に供給する。
供給部7は、第2整流筒15bの外面と一体化して引上炉2の内部に設けられている。供給部7は、中空に形成されている。供給部7は、供給部7のドープ管6側の端部に設けられた凹状の接合部71により、引上炉2の内部へ移動してきたドープ管6と接合される。供給部7は、ドープ管6と接合されることにより、ドープ管6から排出される気化した昇華性ドーパントの供給を受ける。さらに、供給部7は、気化した昇華性ドーパントを融液5に供給する。
熱遮蔽部材8は、引上炉2の内部における供給部7よりも外側に設けられる。熱遮蔽部材8は、融液5の輻射熱を遮蔽する。熱遮蔽部材8の内壁面には、整流筒15を載置するための載置部18が設けられている。
次に、図1から図5を参照して、シリコン単結晶引上装置1の各部について詳細に説明する。
図2は、第1実施形態に係る試料室の正面側からみた内部構成を示す断面図である。図3は、第1実施形態に係る試料室の側面側からみた内部構成を示す断面図である。図4(a)は、図3に示す試料室のA−A断面図であり、図4(b)は、図3に示す試料室のB−B断面図であり、図4(c)は、図3に示す試料室のC−C断面図である。図5は、第1実施形態に係る試料室の内部から外部にドープ管が移動した状態を示す断面図である。なお、試料室は、軸方向に立たせた状態で説明する。
まず、試料室100について説明する。
上述の通り、試料室100は、引上炉2の上方に外付けされている。具体的には、試料室100は、遮蔽部24を介して引上炉2に外付けされている。また、試料室100は、中空に形成されている。試料室100は、引上炉2の内部と試料室100の内部とが連通するように引上炉2の上方に取り付けられている。試料室100の内部には、移動手段110が取り付けられている。
図2から図5に示すように、試料室100は、試料室本体101と、フランジ部102とを有して構成されている。
試料室本体101は、上方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における上方側)が封止され、下方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における下方側)が開口した円筒状に形成されている。フランジ部102は、試料室本体101の下方側に連結されている。フランジ部102は、遮蔽部24に設けられたフランジ部(図示せず)と連結可能に形成されている。
図1に示すように、試料室本体101は、その周面に、開閉可能な第1開閉部103と、開閉可能な第2開閉部104とを備えている。第1開閉部103は、試料室本体101の上方側に設けられている。第1開閉部103は、第1開口部103aと、第1扉部103bと、を有している。第1開口部103aは、試料室本体101の内部と外部とを連通させている。第1扉部103bは、第1開口部103aを開閉可能に取り付けられている。
第2開閉部104は、試料室本体101の下方側に設けられている。具体的には、第2開閉部104は、試料室100の内部に収容された状態にあるドープ管6と対向する位置に設けられている。第2開閉部104は、第1開閉部103と同様に、第2開口部104aと、第2扉部104bと、を有している。第2開口部104aは、試料室本体101の内部と外部とを連通させており、試料室100の内部に収容されているドープ管6を取り出し可能に形成されている。第2扉部104bは、第2開口部104aを開閉可能に取り付けられている。
次に、移動手段110、支持体120及びドープ管6について説明する。
移動手段110は、主として、試料室100の内部に設けられている。移動手段110は、ドープ管6を支持した支持体120を供給部7に向かって移動させる。具体的には、移動手段110は、支持体120に支持されたドープ管6を引上炉2の内部に設けられた供給部7に接合させるために、支持体120を供給部7に向かって移動させる。
図2から図5に示すように、移動手段110は、ボールネジ部111と、雌ネジ部112と、ガイド部113と、駆動源としてのモータ部114と、を有して構成されている。
図2及び図3に示すように、ボールネジ部111は、ボールネジ111aと、第1軸受け部111bと、第2軸受け部111cと、を有している。ボールネジ111aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ111aは、試料室本体101の上方側の端面106を貫通している。ボールネジ111aは、端面106を貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア114aに連結されている。
第1軸受け部111bは、試料室本体101の上方側の端面106に固定されている。第1軸受け部111bは、ボールネジ111aの上方側を回転自在に支持している。第2軸受け部111cは、試料室本体101の下方側の端部において、フランジ部102から試料室本体101の中心軸方向に延出した延出部105に固定されている。第2軸受け部111cは、ボールネジ111aの下方側の端部を回転自在に支持している。
雌ネジ部112は、ナット部112aと、第1プレート112bと、第2プレート112cと、を有している。ナット部112aは、ボールネジ111aの雄ネジと螺合可能な雌ネジを備えている。つまり、ナット部112aは、ボールネジ111aと螺合可能に形成されている。ボールネジ111aに螺合されたナット部112aは、ボールネジ111aに対して相対的に回転することによりボールネジ111aの軸方向に移動する。
第1プレート112bは、第1の面115aと第2の面115bとを有している。第1の面115aと第2の面115bとは、互いに直交した状態で連結されている。つまり、第1プレート112bは、断面が直角に屈曲した略L字状に形成されている。
第1の面115aは、ボールネジ111aの軸方向と直交するように、ボールネジ111aに螺合されたナット部112aに連結されている。一方、第2の面115bは、第1の面115aをナット部112aに連結させることにより、ボールネジ111aの軸方向と略平行になる。
第2プレート112cは、矩形板状に形成されており、ネジ部材116により第1プレート112bの第2の面115bに連結されている。また、第2プレート112cは、後述の第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cと当接しており、第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cに摺動可能に形成されている。第2プレート112cは、第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cと当接した状態で第2の面115bに連結されることにより、ナット部112aの回転を規制する。また、第2プレート112cは、第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cに摺動可能に形成されることにより、ボールネジ111aが回転した場合に、相対的にナット部112aをボールネジ111aの軸方向に移動可能にする。
図4(a)から図4(c)に示すように、ガイド部113は、ガイド支持板113aと、第1ガイドレール113bと、第2ガイドレール113cと、を有している。ガイド支持板113aは、試料室本体101の内周面の一部に沿うように半月状に形成されている。また、ガイド支持板113aは、第1開閉部103及び第2開閉部104と対向する位置に設けられている。ガイド支持板113aは、試料室本体101の内周面に沿うように内周面に接合されている。
第1ガイドレール113bは、縦長の矩形板状に形成されている。第1ガイドレール113bは、長手方向がボールネジ111aの軸方向と同じになるように配置される。また、第1ガイドレール113bは、軸方向と直交する方向が第1扉部103bの厚み方向及び第2扉部104bの厚み方向と同じになるように配置される。つまり、第1ガイドレール113bは、板厚を構成する一方の面が第1扉部103b及び第2扉部104bと略平行になるように設けられている。また、板厚を構成する一方の面には、摺動部113dが設けられている。摺動部113dは、第2プレート112cと当接している。摺動部113dは、第2プレート112cを第1ガイドレール113bの長手方向に沿って摺動させるために設けられる。一方、第1ガイドレール113bの一方の面と反対側の他方の面は、ガイド支持板113aに接合されている。第1ガイドレール113bは、他方の面がガイド支持板113aに接合されることにより固定される。
同様に、第2ガイドレール113cは、長手方向と短手方向を有する縦長の矩形板状に形成されている。第2ガイドレール113cは、ボールネジ111aを挟んで第1ガイドレール113bと対向するように設けられている。第2ガイドレール113cは、上述の第1ガイドレール113bと同様の構成で、第1ガイドレール113bと略平行に配置されている。また、第2ガイドレール113cの一方の面には、第1ガイドレール113bと同様に、摺動部113dが設けられている。摺動部113dは、第2プレート112cと当接している。摺動部113dは、第2プレート112cを第2ガイドレール113cの長手方向に沿って摺動させるために設けられる。一方、第2ガイドレール113cの一方の面と反対側の他方の面は、ガイド支持板113aに接合されている。第2ガイドレール113cは、他方の面がガイド支持板113aに接合されることにより固定される。
モータ部114は、ヘッドギア114aと、モータ本体114bと、を有している。ヘッドギア114aは、第1ギア(図示せず)と、第2ギア(図示せず)と、を有している。第1ギアは、ボールネジ111aと連結されている。また、第2ギアは、モータ本体114bと連結されている。モータ本体114bから出力される動力は、モータ本体114bに連結された第2ギアと、ボールネジ111aに連結された第1ギアとが噛み合うことにより、ボールネジ111aに伝達される。
図2から図5に示すように、支持体120は、縦長の矩形板状に形成されている。支持体120は、長手方向における上方側が第2プレート112cと連結されている。支持体120は、ネジ部材により第2プレート112cと連結される。一方、支持体120の長手方向における下方側には、ドープ管6が連結されている。ドープ管6は、支持体120に取り外し可能に連結されている。また、支持体120は、長手方向における長さが、試料室本体101の軸方向における長さよりも短くなるように形成されている。具体的には、支持体120は、ドープ管6を含めた長手方向における長さが、試料室本体101の軸方向における長さよりも短くなるように形成されている。つまり、支持体120は、連結される第2プレート112cが試料室本体101の上方にある場合には、ドープ管6と共に試料室本体101の内部に収容されるように形成されている。
支持体120は、第1開閉部103及び第2開閉部104と、ボールネジ111aとの間に配置される。支持体120は、剛体により形成されている。なお、ここでいう剛体には、多少の撓みや歪み等が生じる剛体も含む。
ドープ管6は、成長させるシリコン単結晶41にドープさせる昇華性ドーパント(不純物)を収容する。ドープ管6は、支持体120の下方側の端部に連結されている。
図1に示すように、ドープ管6は、供給部7側に向かって突出する凸部61と、管状のドープ管本体64と、を備える。凸部61は、ドープ管6を支持体120に連結させた場合に、供給部7側となるドープ管本体64の端部に設けられている。具体的には、凸部61は、ドープ管本体64の供給部7側の端部における略中央部から、供給部7側に突出している。また、凸部61は、略球状に形状されている。なお、「略球状の形状」とは、完全な球状ではないが、大部分が球状の曲面を備えていることを意味する。
ドープ管6に収容する昇華性ドーパントとしては、シリコン単結晶41にN型の電気的特性を与えるためのN型用のドーパントである、砒素As及び赤燐Pが挙げられる。砒素As及び赤燐Pは、昇華可能な昇華性ドーパントであるため、比較的低い温度で固相から気相に気化させることができる。
次に、第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1の使用の例について説明する。
まず、シリコン単結晶引上装置1においては、種結晶ホルダ4bによって種結晶(図示せず)が把持された状態で、坩堝3の中にシリコン原料を入れ、ヒータ9を用いて加熱すると、シリコン原料が溶融して融液5になる。融液5の溶融状態が安定化したところで、引上げ用ケーブル4aを降下して種結晶ホルダ4bに把持させた種結晶を融液5に浸漬させる。融液5に浸漬させ、種結晶を融液5になじませると、次に、引上げ用ケーブル4aを上昇させ、融液5からシリコン単結晶(シリコン単結晶インゴット)41を引上げる。融液5からシリコン単結晶41が引上げられると、シリコン単結晶41は、成長を開始する。シリコン単結晶41を成長させる際においては、坩堝3を回転軸16によって回転させるとともに、引上げ機構4の引上げ用ケーブル4aを、回転軸16の回転方向と同じ方向又は逆の方向に回転させる。なお、回転軸16は鉛直方向にも駆動することができ、坩堝3を任意の上方方向の位置に上下動させることもできるように構成されている。
このとき、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部を外気と遮断して真空状態(例えば数KPa程度)に減圧し、パージガスとして不活性ガスのアルゴンガス17を供給しつつ、ポンプ(図示せず)を用いてアルゴンガス17を排気する。つまり、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部にアルゴンガス17を流通させることにより、引上炉2の内部で発生した蒸発物を、アルゴンガス17とともに引上炉2の外部に除去する。なお、このときのアルゴンガス17の供給流量は、結晶成長の各プロセスによって各々設定することができる。
シリコン単結晶41が成長してくると、融液5の減少によって融液5と坩堝3との接触面積が変化し、坩堝3からの酸素溶解量が変化する。そのため、引き上げられるシリコン単結晶41中の酸素濃度分布に影響が出る。ここで、坩堝3の上方及びシリコン単結晶41の周囲には、熱遮蔽部材8が設けられている。そのため、引上炉2の上方より供給されるアルゴンガス17は、熱遮蔽部材8により融液表面5aの中央に導かれ、さらに融液表面5aを経由して融液表面5aの周縁部に導かれる。これにより、アルゴンガス17は、融液5からの蒸発物とともに、引上炉2の下部に設けた排気口(図示せず)から排出される。このようにして、シリコン単結晶引上装置1は、融液表面5a上のガス流速を安定化させ、融液5から蒸発する酸素を安定な状態に保つように構成されている。
また、坩堝3、融液5、ヒータ9等の高温部で発生する輻射熱の大部分は、熱遮蔽部材8により、種結晶及び成長するシリコン単結晶41に対して遮断される。熱遮蔽部材8の下端と融液表面5aとの距離は、坩堝3の上下動によって調整してもよく、熱遮蔽部材8の昇降装置による上下動によって調整してもよい。
次に、図6及び図7を参照して、昇華性ドーパント(図示せず)の投入の例について説明する。図6は、第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1に設けられる試料室と遮蔽部とドープ管との位置関係を模式的に示す断面図である。図7は、図6に示す試料室の内部から引上炉の内部にドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
稼働中の上述の引上炉2の内部に昇華性ドーパント(図示せず)を投入するにあたっては、まず、作業者がドープ管6に昇華性ドーパントを投入することから開始される。昇華性ドーパントのドープ管6への投入は、遮蔽部24を閉じた状態で試料室100の第2扉部104bを開き、第2開口部104aから、試料室27に収容されているドープ管6を取り出して行われる。ここで、支持体120に連結されるドープ管6は、通常、図6に示すように、遮蔽部24が閉じられ、支持体120とともに試料室100の内部に収容された状態にある。つまり、ドープ管6は、第2開閉部104と対向する位置にある。そのため、作業者は、第2開閉部104の第2扉部104bを開くことにより、容易にドープ管6を取り出すことができる。
作業者は、ドープ管6を取り出すと、所定の昇華性ドーパントをドープ管6に投入する。昇華性ドーパントをドープ管6に投入すると、作業者は、ドープ管6を再び支持体120に連結させ、第2扉部104bを閉める。
作業者によりドープ管6が再び支持体120に連結されると、シリコン単結晶41に昇華性ドーパントをドープし始めるタイミング、すなわちシリコン単結晶41の肩部から直胴部の前半部まで成長したタイミングで、シリコン単結晶引上装置1は、遮蔽部24を開放する。なお、遮蔽部24を開放する際には、昇華性ドーパントを試料室100の所定の位置に収納して第2扉部104bを閉めた後、試料室100側の真空ポンプ(図示せず)を作動させて引上炉2の内部と試料室100の内部とを調圧してから、遮蔽部24を開放するようにする。
遮蔽部24を開放すると、次に、シリコン単結晶引上装置1は、ドープ管6を引上炉2の内部に移動させる。ドープ管6の移動は、モータ本体114bを駆動させることにより行われる。具体的には、モータ本体114bを駆動させると、モータ本体114bに連結された第2ギアとボールネジ111aに連結された第1ギアとが噛み合い、モータ本体114bの回転力(動力)が第1ギア及び第2ギアを介してボールネジ111aに伝達される。ボールネジ111aにモータ本体114bの回転力(動力)が伝達されると、この回転力によりボールネジ111aが回転する。
ここで、ボールネジ111aには、ナット部112aが螺合されている。一方、ナット部112aは、第1プレート112bを介して第2プレート112cと連結されている。第2プレート112cは、第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cに当接しており、ナット部112aは、回転が規制されている。そのため、ボールネジ111aが回転しても、ボールネジ111aに螺合されているナット部112aは回転できない。これにより、ボールネジ111aが回転すると、ナット部112aは、ボールネジ111aのボールネジ111aの軸方向に引上炉2の内部側に移動する。
図7に示すように、ナット部112aが引上炉2の内部側に移動を開始すると、ナット部112aに連結される第2プレート112cが第1ガイドレール113b及び第2ガイドレール113cに沿って引上炉2側に摺動を開始する。第2プレート112cが摺動を開始すると、第2プレート112cと連結される支持体120も移動を開始する。支持体120は、遮蔽部24を介して引上炉2と連通される引上炉2の内部に向かって移動を開始する。支持体120が引上炉2の内部に移動を開始すると、支持体120の端部に連結されたドープ管6も引上炉2の内部に向かって移動する。
ここで、図1に示すように、ドープ管6は、引上炉2の内部に配置される供給部7に向かって移動するように支持体120に支持されている。そのため、ドープ管6が引上炉2の内部の所定の位置に移動すると、ドープ管6は、ドープ管6の下方に配置されている供給部7に接合される。具体的には、ドープ管6の供給部7側の端部に設けられた凸部61が、供給部7のドープ管6側の端部に設けられた接合部71と嵌合する。ドープ管6の供給部7側の端部には、排出口(図示せず)が形成されており、排出口には、細かい複数の貫通孔(図示せず)を備える板状体(図示せず)が取り付けられている。このため、凸部61と接合部71とが接合されると、板状体の複数の貫通孔を介してドープ管6と供給部7との間を連通する通路(図示せず)が形成される。気化した昇華性ドーパントは、この通路を流通し、ドープ管6から供給部7へ供給される。
以上のように構成された本実施形態に係るシリコン単結晶引上装置によれば、以下のような効果が奏される。
第1実施形態によると、シリコン単結晶引上装置1は、ドープ管6を支持する支持体120を試料室100の内部で支持した状態で移動させることにより、支持体120に支持されたドープ管6を引上炉2の内部に移動可能な移動手段110を備えて構成されている。そのため、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部のドープ管6の投入経路において、試料管100の内部から引上炉2の内部にまで至るドープ管6を褶動させるガイドレールを設ける必要がなくなり、ドープ管6を投入させる投入経路を広く使用することが可能になる。これにより、シリコン単結晶引上装置1は、例えば、投入するドープ管6の形状や直径を大きくすること等が可能になる。また、シリコン単結晶引上装置1は、例えば、ドープ管6の容量を大きくすることが可能になる。つまり、シリコン単結晶引上装置1は、使用するドープ管6の大きさ等を選択する自由度が広がる。
また、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部にまで至るガイドレールがなくなるため、通常の状態における投入経路が広くなる。そのため、シリコン単結晶引上装置1は、例えば、引上炉や引上炉2におけるドープ管6の投入経路等のメンテナンスが容易になる。
また、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部にまで至るガイドレールがなくなるため、例えば、引上炉2の内部を構成する部品点数を減少させることが可能になる。
また、第1実施形態によると、移動手段110は、ボールネジ部111と、雌ネジ部112と、ガイド部113と、モータ部114と、を有して構成されている。そのため、シリコン単結晶引上装置1は、例えば、耐熱性を有するアーム等を使用してドープ管6を移動させる場合等よりも装置全体を小型化することが可能になる。また、シリコン単結晶引上装置1は、主として、ボールネジ部111と雌ネジ部112とで支持体120を介してドープ管6を移動させる。そのため、シリコン単結晶引上装置1は、例えば、簡易な構成で引上炉の内部にドープ管6を移動させることが可能になる。
また、第1実施形態によると、シリコン単結晶引上装置1は、試料室100に試料室100の内部を視認可能な第1開閉部103が設けられている。そのため、作業者は、第1開閉部103を開閉させることにより、容易に試料室100の内部を視認することが可能になる。これにより、シリコン単結晶引上装置1は、容易にメンテナンスを行うことが可能になる。また、シリコン単結晶引上装置1は、試料室100の下方側に試料室100の内部を視認可能な第2開閉部104が設けられている。第2開閉部104は、試料室100に収容されたドープ管6と対向する位置に設けられている。そのため、作業者は、容易にドープ管6の交換等を行うことが可能になる。これにより、シリコン単結晶引上装置1は、ドープ管6のメンテナンスが容易になる。
次に、図8から図11を参照して、本発明の第2実施形態に係るシリコン単結晶引上装置及び第3実施形態に係るシリコン単結晶引上装置について説明する。なお、第2実施形態及び第3実施形態においては、主として、第1実施形態との相違点を説明し、第1実施形態と同様の構成については同じ符号を付し、説明を省略する。つまり、第2実施形態及び第3実施形態において特に説明されない点については、第1実施形態についての説明が適宜適用される。また、第2実施形態及び第3実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果が奏される。
[2]第2実施形態
第2実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、主として、試料室200の形状、移動手段210及び支持体220の形状が異なる点において、第1実施形態と相違する。以下、試料室200の形状、移動手段210及び支持体220を中心に説明する。
なお、第2実施形態においては、第1実施形態と同様又は対応する構成については、符号の百の位に付される数字を1から2に変更したものを用いて説明する。
図8は、第2実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。図9は、第2実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
図8及び図9に示すように、第2実施形態に係る試料室200は、第1試料室201aと、第2試料室201bと、フランジ部202と、支持台部204と、を有して構成されている。
第1試料室201aは、円筒状に形成されており、その周壁が蛇腹状に形成されている。つまり、第1試料室201aは、軸方向に伸縮自在に形成されている(図8及び図9参照)。第1試料室201aは、上方側が移動手段210を構成する後述の第2プレート212cに接合されている。第1試料室201は、その内部が第2プレート212cに封止された状態で第2プレート212cと接合されている。一方、第1試料室201aの下方側は、第2試料室201bと連結されている。第1試料室201aは、その内部に支持体220の少なくとも一部を収容する。
第2試料室201bは、円筒状に形成されている。また、第2試料室201bは、上方側に支持体220を挿通可能な挿通穴203を備えている。挿通穴203には、支持体220が挿通される。第2試料室201bは、支持体220に支持されたドープ管6を収容可能に形成されている。
フランジ部202は、第2試料室201bの下方側に連結されている。フランジ部202は、遮蔽部24に設けられたフランジ部(図示せず)と連結可能に形成されている。
支持台部204は、フランジ部202に連結されている。支持台部204は、立設部204aと、支持部204bとを有する。立設部204aと支持部204bとは、直交した状態で連結されている。つまり、支持台部204は、断面が略L時状になるように形成されている。立設部204aは、第1試料室201a及び第2試料室201bと略平行にフランジ部202から立設している。支持部204bには、後述のボールネジ211aを支持する第1軸受け部211bが固定される。
図8及び図9に示すように、第2実施形態に係る移動手段210は、試料室200の外部に設けられている。具体的には、移動手段210は、試料室200の外部に設けられた支持台部204及びフランジ部202に支持される。
移動手段210は、ボールネジ部211と、雌ネジ部212と、駆動源としてのモータ部214と、を有して構成されている。ボールネジ部211は、ボールネジ211aと、第1軸受け部211bと、第2軸受け部211cと、を有している。ボールネジ211aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ211aは、支持部204bを貫通している。つまり、第2実施形態におけるボールネジ211aは、支持部204bを貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア214aに連結されている。
第1軸受け部211bは、支持部204bに固定されている。第1軸受け部211bは、ボールネジ211aの上方側を回転自在に支持している。第2軸受け部211cは、フランジ部202から第2試料室202の中心軸方向に延出した延出部205に固定されている。第2軸受け部211cは、ボールネジ211aの下方側の端部を回転自在に支持している。
雌ネジ部212は、ナット部212aと、第1プレート212bと、第2プレート212cと、を有している。ナット部212aは、ボールネジ211aの雄ネジと螺合可能な雌ネジを備えている。つまり、ナット部212aは、ボールネジ211aと螺合可能に形成されている。ボールネジ211aに螺合されたナット部212aは、ボールネジ211aに対して相対的に回転することによりボールネジ211aの軸方向に移動する。
第1プレート212bは、平板状に形成されている。第1プレート212bは、ボールネジ211aの軸方向と直交するように、ボールネジ211aに螺合されたナット部212aに連結されている。
第2プレート212cは、平板状に形成されている。第2プレート212cは、第1試料室201の内部を封止可能に円形状に形成されている。第2プレート212cの一方側は、第1プレート212bに連結されている。また、第2プレート212cの他方側は、第1試料室201aに接合されている。第2プレート112cは、円筒形に形成された第1試料室201に接合されることにより、ボールネジ211aの軸方向と直交する方向への動きが規制される。つまり、第2プレート212cと連結するナット部212aの回転が規制される。
モータ部214は、ヘッドギア214aと、モータ本体214bと、を有している。ヘッドギア214aは、第1ギア(図示せず)と、第2ギア(図示せず)と、を有している。第1ギアは、ボールネジ211aと連結されている。また、第2ギアは、モータ本体214bと連結されている。モータ本体214bから出力される動力は、モータ本体214bに連結された第2ギアと、ボールネジ211aに連結された第1ギアとが噛み合うことにより、ボールネジ211aに伝達される。
支持体220は、棒状に形成されている。支持体220は、上述の挿通穴203に挿通可能に形成されている。支持体220は、上方側の端部が第2プレート212cに接合されている。また、支持体220の下方側は、ドープ管6を支持している。
次に、第2実施形態に係るドープ管6の投入の例について説明する。
まず、作業者がドープ管6に昇華性ドーパントを投入し、ドープ管6を支持体220に装着すると、シリコン単結晶41に昇華性ドーパントをドープし始めるタイミング、すなわちシリコン単結晶41の肩部から直胴部の前半部まで成長したタイミングで、シリコン単結晶引上装置は、遮蔽部24を開放する。なお、遮蔽部24を開放する際には、昇華性ドーパントを試料室200の所定の位置に収納して試料室200側の真空ポンプ(図示せず)を作動させて引上炉2の内部と試料室200の内部とを調圧してから、遮蔽部24を開放するようにする。
遮蔽部24を開放すると、次に、シリコン単結晶引上装置は、ドープ管6を引上炉2の内部に移動させる。ドープ管6の移動は、モータ本体214bを駆動させることにより行われる。具体的には、モータ本体214bを駆動させると、モータ本体214bに連結された第2ギアとボールネジ211aに連結された第1ギアとが噛み合い、モータ本体214bの回転力(動力)が第1ギア及び第2ギアを介してボールネジ211aに伝達される。ボールネジ211aにモータ本体214bの回転力(動力)が伝達されると、この回転力によりボールネジ211aが回転する。
ここで、ボールネジ211aには、ナット部212aが螺合されている。一方、ナット部212aは、第1プレート212bを介して第2プレート212cと連結されている。第2プレート212cは、第1試料室201aに接合されている。つまり、第2プレート212cが第1試料室201aに接合されることにより、ナット部212aは、回転が規制される。そのため、ボールネジ211aが回転しても、ボールネジ211aに螺合されているナット部212aは回転できない。これにより、ナット部212aは、ボールネジ211aの回転に対して相対的にボールネジ211aの軸方向に移動する。
図9に示すように、ナット部212aが移動を開始すると、ナット部212aに連結される第2プレート212cがナット部212aの移動に連動して移動する。第2プレート212cが移動を開始すると、第2プレート212cに接続される第1試料室201aが変形を開始する。ここで、第1試料室201aは、伸縮可能に蛇腹状に形成されている。そのため、第1試料室201aは、第2プレート212cの移動に連動して縮まる方向に変形する。これにより、第2プレート212cに接続された支持体220は、遮蔽部24を介して引上炉2と連通される引上炉2の内部に向かって移動可能になる。支持体220が引上炉2の内部に移動を開始すると、支持体220の端部に連結されたドープ管6も引上炉2の内部に向かって移動する。このようにして、ドープ管6は、引上炉2の内部に投入される。
第2実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、前記第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1と同様の構成により生じる効果に加え、以下の効果を奏する。
第2実施形態によると、シリコン単結晶引上装置は、第2試料室201bにドープ管6を収容させ、蛇腹状に形成された第1試料室201aに支持体220を収容させている。また、第1試料室201aは、移動手段210に連結されている。そのため、第1試料室201aを移動手段210の動きに連動させて伸縮させることにより、移動手段210を試料室200の外部に設けることが可能になる。これにより、例えば、試料室200の内部を清潔に保った状態で、移動手段210のメンテナンスを行うことが可能になる。また、移動手段210を試料室200の外部に設けることにより、試料室200の内部の不純物汚染要素を軽減させることが可能になる。
また、例えば、移動手段210の故障等によりメンテナンスが必要になった場合においても、試料室200を外したりすることなく容易にメンテナンスを行うことが可能になる。
[3]第3実施形態
第3実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、試料室300、移動手段310及び支持体320の形状が異なる点において、第1実施形態と相違する。以下、試料室300、移動手段310及び支持体320を中心に説明する。
なお、第3実施形態においては、第1実施形態と同様又は対応する構成については、符号の百番台に付される符号の百の位に付される数字を1から3に変更したものを用いて説明する。
図10は、第3実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。図11は、第3実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
図10及び図11に示すように、試料室300は、中空に形成されている。試料室300の内部には、移動手段310の一部が配置されている。
試料室300は、試料室本体301と、フランジ部302と、突起部303と、を有して構成されている。
試料室本体301は、上方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における上方側)が封止され、下方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における下方側)が開口した円筒状に形成されている。また、図10(b)に示すように、試料室本体301には、後述の第2磁石部312cが試料室本体301の内部において回転することを規制する溝部301aが形成されている。溝部301aは、試料室本体301の軸方向に延びるように形成されている。
フランジ部302は、試料室本体301の下方側に連結されている。フランジ部302は、遮蔽部24に設けられたフランジ部(図示せず)と連結可能に形成されている。突起部303は、試料室本体301の中心軸方向に突起した状態で設けられている。突起部303は、後述の第2磁石部312cが試料室300の内部から脱落することを防止する。
図10及び図11に示すように、第3実施形態に係る移動手段310は、ボールネジ部311と、雌ネジ部312と、支持台部313と、駆動源としてのモータ部314と、を有して構成されている。
ボールネジ部311は、ボールネジ311aと、第1軸受け部311bと、第2軸受け部311cと、を有している。ボールネジ311aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ311aは、支持台部313の上面313aを貫通している。つまり、第3実施形態のボールネジ311aは、支持台部313の上面313aを貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア314aに連結されている。
第1軸受け部311bは、支持台部313の上面313aに固定されている。第1軸受け部311bは、ボールネジ311aの上方側を回転自在に支持している。第2軸受け部311cは、フランジ部302に固定されている。第2軸受け部311cは、ボールネジ311aの下方側の端部を回転自在に支持している。
雌ネジ部312は、ナット部312aと、第1磁石部312bと、第2磁石部312cと、を有している。ナット部312aは、ボールネジ311aの雄ネジと螺合可能な雌ネジを備えている。つまり、ナット部312aは、ボールネジ311aと螺合可能に形成されている。ボールネジ311aに螺合されたナット部312aは、ボールネジ311aに対して相対的に回転することによりボールネジ311aの軸方向に移動する。第1磁石部312bは、直方体状に形成されている。第1磁石部312bは、ナット部312aを内部に収容している。第1磁石部312bは、直方体状に形成されることにより、円筒状に形成された支持台部313の内壁に係合し、ナット部212aの回転を規制する。
第2磁石部312cは、試料室本体301の内部に配置されている。第2磁石部312cは、第2磁石312dと、連結部312eとを有している。第2磁石312dは、試料室本体301の周壁を介して第1磁石部312bと対向する位置に配置されている。第2磁石部312cは、第2磁石312dが第1磁石部312bと磁力により引き合うことにより、試料室300の内部に保持されている。また、第2磁石312dには、試料室300に設けられた溝部301aに係合可能な凸部312fが設けられている。第2磁石312dは、凸部312fが溝部301aと係合することにより、回転することが規制され、試料室本体301の軸方向にのみ移動可能になる。
支持台部313は、中空に形成されている。支持台部313は、上方側が封止され、下方側が開口した円筒状に形成されている。また、支持台部313は、その内部に試料室300を収容可能に形成されている。また、支持台部313は、試料室300と支持台部313との間に形成される空間にボールネジ部311と、雌ネジ部312と、が配置可能に形成されている。支持台部313は、フランジ部302に接合されている。
モータ部314は、ヘッドギア314aと、モータ本体314bと、を有している。ヘッドギア314aは、第1ギア(図示せず)と、第2ギア(図示せず)と、を有している。第1ギアは、ボールネジ311aと連結されている。また、第2ギアは、モータ本体314bと連結されている。モータ本体314bから出力される動力は、モータ本体314bに連結された第2ギアと、ボールネジ311aに連結された第1ギアとが噛み合うことにより、ボールネジ311aに伝達される。
支持体320は、棒状に形成されている。支持体320は、上述の連結部312eに連結されている。
次に、第3実施形態に係るドープ管6の投入の例について説明する。
まず、作業者がドープ管6に昇華性ドーパントを投入し、ドープ管6を支持体320に装着すると、シリコン単結晶41に昇華性ドーパントをドープし始めるタイミング、すなわちシリコン単結晶41の肩部から直胴部の前半部まで成長したタイミングで、シリコン単結晶引上装置は、遮蔽部24を開放する。なお、遮蔽部24を開放する際には、昇華性ドーパントを試料室300の所定の位置に収納して試料室300側の真空ポンプ(図示せず)を作動させて引上炉2の内部と試料室300の内部とを調圧してから、遮蔽部24を開放するようにする。
遮蔽部24を開放すると、次に、シリコン単結晶引上装置は、ドープ管6を引上炉2の内部に移動させる。ドープ管6の移動は、モータ本体314bを駆動させることにより行われる。具体的には、モータ本体314bを駆動させると、モータ本体314bに連結された第2ギアとボールネジ311aに連結された第1ギアとが噛み合い、モータ本体314bの回転力(動力)が第1ギア及び第2ギアを介してボールネジ311aに伝達される。ボールネジ311aにモータ本体314bの回転力(動力)が伝達されると、この回転力によりボールネジ311aが回転する。
ここで、ボールネジ311aには、ナット部312aが螺合されている。ナット部312aは、第1磁石部312bの内部に収容されている。第1磁石部312bは直方体状に形成されており、支持台部313により回転することが規制されている。そのため、ボールネジ111aが回転しても、ボールネジ311aに螺合されているナット部312aは回転できない。これにより、ナット部312aは、ボールネジ311aの回転に対して相対的にボールネジ311aの軸方向に移動する。
図11に示すように、ナット部312aが移動を開始すると、ナット部312aが収容される第1磁石部312bと引き合う第2磁石部312cがナット部312aの移動に連動して移動する。第2磁石部312cが移動を開始すると、第2磁石部312cの連結部に接続される支持体320も移動を開始する。これにより、第2磁石部312cに接続された支持体320は、遮蔽部24を介して引上炉2と連通される引上炉2の内部に向かって移動可能になる。支持体320が引上炉2の内部に移動を開始すると、支持体320の端部に連結されたドープ管6も引上炉2の内部に向かって移動する。このようにして、ドープ管6は、引上炉2の内部に投入される。
第3実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、前記第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1と同様の構成により生じる効果に加え、以下の効果を奏する。
第3実施形態によると、シリコン単結晶引上装置は、磁石により引き合う雌ネジ部312により、移動手段310を構成している。そのため、支持体を滑らかに移動させることが可能になる。
また、第3実施形態によると、シリコン単結晶引上装置は、磁石により、支持体320を移動させるため、複雑な構成を有しない。そのため、シリコン単結晶引上装置は、例えば、引上炉2の内部を構成する部品点数を減少させることが可能になる。
本発明の実施形態は、上記の実施形態に何ら限定されることなく、本発明の技術的範囲は、これに限定されるものではない。例えば、本実施形態においては、吹き付け法により昇華性ドーパントを融液5に供給するようにしているが、供給部7の供給管を融液5に浸漬する浸漬法を用いて昇華性ドーパントを融液5に供給してもよい。
本発明の第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1を模式的に示す断面図である。 第1実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。 第1実施形態に係る試料室の側面側からみた内部構成を示す断面図である。 (a)は、図3に示す試料室のA−A断面図であり、(b)は、図3に示す試料室のB−B断面図であり、(c)は、図3に示す試料室のC−C断面図である。 第1実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。 第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1に設けられる試料室と遮蔽部とドープ管との位置関係を模式的に示す断面図である。 図6に示す試料室の内部から引上炉の内部にドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。 第2実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。 第2実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。 第3実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。 第3実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
符号の説明
1 シリコン単結晶引上装置
2 引上炉
5 融液
6 ドープ管
7 供給部
100 試料室
103 第1開閉部
104 第2開閉部
110 移動手段
111 ボールネジ部
112 雌ネジ部
113 ガイド部
114 モータ部
120 支持体

Claims (4)

  1. ドープされたシリコン単結晶をチョクラルスキー法により融液から引き上げるシリコン単結晶引上装置であって、
    前記融液が収容される坩堝と、
    前記坩堝の上方を覆う整流筒と、
    内部に前記坩堝及び前記整流筒が設けられる引上炉と、
    前記引上炉に外付けされ、前記シリコン単結晶及びその引き上げ機構と干渉しない位置に配置されると共に、前記引上炉の内部と連通する中空の試料室と、
    前記融液に供給する昇華性ドーパントが収容される試料管と、
    前記整流筒の外面に設けられ、前記試料管から供給される前記昇華性ドーパントを前記融液に供給する中空の供給部と、
    前記引上炉と前記試料室との間に配置され、前記引上炉の内部と前記試料室の内部との間を熱的に遮蔽可能な遮蔽部と
    前記試料管を支持する支持体と、
    駆動源から与えられる回転力を前記試料室の長手方向に沿って前記支持体を移動させる動力に変換し、当該動力により前記支持体を前記試料室の内部で支持した状態で移動させることにより、前記支持体に支持された前記試料管を前記引上炉の内部に移動させる移動手段と、
    を備え、
    前記シリコン単結晶の引き上げ中に、前記移動手段により前記融液に前記昇華性ドーパントを供給することを特徴とするシリコン単結晶引上装置。
  2. 前記移動手段は、
    雄ネジを有するボールネジ部と、
    前記支持体に連結されると共に、前記雄ネジと螺合可能な雌ネジを有し、前記雄ネジに前記雌ネジを螺合させることにより、前記ボールネジ部の軸方向に移動可能な雌ネジ部と、
    前記ボールネジ部を回転させる駆動源と、
    前記雌ネジ部の回転を規制するガイド部と、
    を有することを特徴とする請求項1に記載のシリコン単結晶引上装置。
  3. 前記ボールネジ部は、前記試料室の外部に配置されており、
    前記試料室は、
    前記支持体の少なくとも一部が収容される第1試料室と、
    前記試料管を収容可能な第2試料室と、を有し、
    前記第1試料室は、前記雌ネジ部に接合され、前記雌ネジ部の移動に連動して前記軸方向に伸縮可能に形成されることを特徴とする請求項2に記載のシリコン単結晶引上装置。
  4. 前記雌ネジ部は、
    前記支持体に連結され、第1磁石を有する第1磁石部と、
    前記第1磁石と引かれあう第2磁石及び前記雌ネジを有する第2磁石部と、を備え、
    前記ガイド部は、前記第2磁石部の回転を規制することを特徴とする請求項2に記載のシリコン単結晶引上装置。
JP2008323760A 2008-12-19 2008-12-19 シリコン単結晶引上装置 Active JP5410086B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008323760A JP5410086B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 シリコン単結晶引上装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008323760A JP5410086B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 シリコン単結晶引上装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010143795A JP2010143795A (ja) 2010-07-01
JP5410086B2 true JP5410086B2 (ja) 2014-02-05

Family

ID=42564612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008323760A Active JP5410086B2 (ja) 2008-12-19 2008-12-19 シリコン単結晶引上装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5410086B2 (ja)

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS606920B2 (ja) * 1982-11-12 1985-02-21 工業技術院長 ガリウム砒素単結晶製造装置
JP3478406B2 (ja) * 1992-09-09 2003-12-15 アルベマール・コーポレーシヨン 粒状物質の供給装置
JP2785615B2 (ja) * 1992-09-30 1998-08-13 信越半導体株式会社 Cz法による単結晶成長装置
IT1271233B (it) * 1994-09-30 1997-05-27 Lpe Reattore epitassiale munito di suscettore discoidale piano ed avente flusso di gas parallelo ai substrati
JPH09227275A (ja) * 1996-02-28 1997-09-02 Sumitomo Sitix Corp ドープ剤添加装置
JP3606037B2 (ja) * 1998-03-13 2005-01-05 信越半導体株式会社 単結晶引上げ装置の原料追加供給装置
JP4104242B2 (ja) * 1999-03-31 2008-06-18 株式会社スーパーシリコン研究所 単結晶引き上げ装置及び単結晶引き上げ方法
KR20030015239A (ko) * 2000-05-10 2003-02-20 엠이엠씨 일렉트로닉 머티리얼즈 인코포레이티드 비소 도펀트를 실리콘 결정 성장 프로세스에 공급하기위한 방법 및 장치
JP4356517B2 (ja) * 2004-05-28 2009-11-04 株式会社Sumco シリコン単結晶引上装置およびシリコン単結晶の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010143795A (ja) 2010-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5302556B2 (ja) シリコン単結晶引上装置及びシリコン単結晶の製造方法
JP5462479B2 (ja) シリコン単結晶引上装置
US20100175612A1 (en) Manufacturing method for silicon single crystal
US8920561B2 (en) Silicon single crystal pull-up apparatus that pulls a doped silicon single crystal from a melt
WO2010013718A1 (ja) シリコン単結晶引上装置
JP2012066965A (ja) シリコン単結晶引上装置
WO2009119342A1 (ja) シリコン単結晶引上装置及びシリコン単結晶の製造方法
JP4780705B2 (ja) 単結晶半導体の製造装置および製造方法
JPH09227275A (ja) ドープ剤添加装置
JP5410086B2 (ja) シリコン単結晶引上装置
JPH10158091A (ja) 単結晶の製造装置および製造方法
CN111501088B (zh) 吹扫管、单晶提拉装置及硅单晶的制造方法
JP5437565B2 (ja) 半導体単結晶の製造装置
JP5226496B2 (ja) シリコン単結晶引上装置
US20130000552A1 (en) Device and method for producing bulk single crystals
JP2010163305A (ja) シリコン単結晶引上装置
JP5144546B2 (ja) シリコン単結晶引上装置
TWI806139B (zh) 單結晶製造裝置
JP2009242143A (ja) シリコン単結晶引上装置及びシリコン単結晶の製造方法
JP2002255684A (ja) シリコン単結晶インゴットの製造方法
JPS62283895A (ja) 単結晶の引上げ装置
WO2013071484A1 (zh) 薄膜沉积设备及薄膜沉积方法
WO2008018321A1 (fr) MONOCRISTAL SiC, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE CELUI-CI ET APPAREIL DE PRODUCTION DE MONOCRISTAL SiC

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120710

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121023

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130618

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130730

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131022

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131106

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5410086

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250