JP5371268B2 - ガス濃度計測方法および装置 - Google Patents

ガス濃度計測方法および装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5371268B2
JP5371268B2 JP2008066767A JP2008066767A JP5371268B2 JP 5371268 B2 JP5371268 B2 JP 5371268B2 JP 2008066767 A JP2008066767 A JP 2008066767A JP 2008066767 A JP2008066767 A JP 2008066767A JP 5371268 B2 JP5371268 B2 JP 5371268B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
modulation
component
light
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008066767A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009222526A (ja
Inventor
昌純 田浦
研二 牟田
明生 近藤
英治 加藤
慎一郎 浅海
伊智郎 粟屋
篤史 瀧田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2008066767A priority Critical patent/JP5371268B2/ja
Publication of JP2009222526A publication Critical patent/JP2009222526A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5371268B2 publication Critical patent/JP5371268B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、ボイラー、ごみ焼却炉、燃焼機関の燃焼室等の密閉容器内に発生するガス、あるいは該密閉容器から外部に排出されるガス、あるいは排出されたガスが滞留する可能性の高い場所におけるガス等の濃度を、レーザ光を用いて計測する計測方法および計測装置に関する。
従来から、ボイラー、ごみ焼却炉、燃焼機関の燃焼室等の密閉容器内に発生するガスの濃度を測定するための手法として、レーザ光を用いる技術が開発されている。このレーザ光を用いるガス濃度測定技術は、ガス種別毎に特有波長を吸収する性質を持つことを利用し、ガス雰囲気中に特定波長のレーザ光を照射して、ガス雰囲気を通過したレーザ光のスペクトルを分析することで、特定ガス種別の濃度を把握するものであり、吸収分光法といわれている。
その例として、特許文献1(特開平10−142148号公報)が知られており、該特許文献1には、背景光(バックグラウンドノイズ)がある条件下でも、特定種別のガス濃度を正確に測定することができるように、レーザ光を周波数変調して計測する主計測光と、別のセンサで計測する背景光とを用いて、主計測光と背景光との差分を演算することで(差分回路方式)、バックグラウンドノイズを低減する手法が示されている。
また、特許文献2(特許3342446号公報)においては、前記特許文献1と同様に主計測光と、別のセンサで計測する背景光とを用いて、主計測光と背景光との差分を演算することでバックグラウンドノイズを低減する手法が示されており、さらには、レーザ光の変調を単一の周波数でなく2つの異なる周波数で変調(二重変調)することによって、単一周波数による変調では計測用レーザの多重反射(フリンジ)に起因する計測値のドリフトが発生しやすいが、その計測値のドリフトを抑制する技術が示されている。
該特許文献2に示されるガス濃度計測装置の概要を図7、図8を参照して説明する。
図7に示すように、レーザ光を発振するための半導体レーザダイオード(LD)01からなる光源は、LDドライバ02の制御回路に接続され、LDの温度と電流が制御されるようになっている。発振されたレーザ光は、ハーフミラー03では反射されて一方の光学窓から他方の光学窓に向けてレーザ光Lが計測領域に入射される。計測領域を通過したレーザ光は、他方の光学窓の近傍に配置された受光手段としての2つのフォトダイオード(PD2、PD3)04、05によって受光されるようになっている。
一方のフォトダイオード04は光軸上に配置されて計測領域を通過したレーザ光Lを受光するようになっていて、他方のフォトダイオード05は、レーザ光軸から外れたところに配置され、計測領域の火炎から発せられる光を背景光として受光するようになっている。この二つのフォトダイオード04、05からの受光信号は、測定ユニット06を経由してAD変換器07に入力されて、そこからコンピュータ08に送られる。
測定ユニット06内は、図8に示すように、2つのサイン波発生器09、010が設けられ、レーザ振動波長を変調するために、それぞれ異なる周波数のサイン波を半導体レーザダイオード(LD)01の注入電流に重ねて印加するようになっている。また、測定対象ガス固有の吸収スペクトルのところでレーザ発振波長をゆっくりと掃引させるために、ランプ波011を半導体レーザダイオード01の注入電流に重ねて印加するようになっている。そして、これら2つのサイン波およびランプ波は加算器012を経由してLDドライバ02に印加される。
受光手段のフォトダイオード04は、増幅器013、2つの復調手段014、015、ローパスフィルタ016からなる直列回路を経由してAD変換器07へ接続されるとともに、別のローパスフィルタ017を経由してAD変換器07へバイパス接続されている。また、背景光用のフォトダイオード05は、ローパスフィルタ018を経由してAD変換器07へ接続される。
このように2つの復調手段014、015で、2つのサイン波発生器09、010で変調した変調信号を復調して目的の信号を取り出すとともに、フォトダイオード05によって背景光を受光して、バックグラウンドノイズを低減している技術が示されている。
特開平10−142148号公報 特許3342446号公報
しかし、前記特許文献1、2に示されるようなレーザ光を周波数変調して計測する主計測光と、別のセンサで計測する背景光とを用いて、主計測光と背景光との差分を演算することでバックグラウンドノイズを低減する手法では、内燃機関の燃焼室等の圧力および温度が急変するような、現象スピードが速いガス雰囲気中のガス濃度の測定を行う場合には、燃焼火炎による背景光(バックグラウンドノイズ)のレベル変化スピードが速く、従来のような差分回路方式ではバックグランドノイズから目的信号を精度よく抽出することが困難で、正確なガス濃度測定を行うことができないことがあった。
また、燃焼室の密閉容器内でなく、内燃機関からの排ガス配管内において排ガス濃度を計測する場合には、排気管では排気煤等の粒状物のために透過光量の減少により、感度が低下する問題があった。
そこで、本発明は、このような背景に鑑みてなされたものであり、内燃機関の燃焼室内での燃焼火炎のように現象スピードが速いガス雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能な、また、内燃機関からの排ガス配管内のような透過光量が少ない雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能な、高い耐ノイズ性と測定感度を確保したガス濃度計測方法および計測装置を提供することを課題とする。
前記課題を解決するため、本第1発明は、内燃機関の燃焼室内若しくは内燃機関からの排ガス配管内の被測定ガス雰囲気内に、ロックインアンプによって所定の振幅変調と所定の波長変調とを施した複合変調のレーザ光を照射し、該レーザ光を受光して得られる測定信号のうち、前記振幅変調に同期した成分を取出した後に、該振幅変調に同期した成分から前記波長変調に同期する成分を取出して、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の特定種別のガス濃度を求め、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した受光パワーとなるようにレーザダイオードからの発光パワーを光減衰器で減衰し、該光減衰器の減衰量を、受光ダイオードによる受光信号から得られる直流成分の大きさに基づいて調整し、前記ロックインアンプが飽和領域に達さないように、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を予め測定レンジ設定手段で設定し、該測定レンジ設定手段での測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として、前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御することを特徴とする。
かかる発明によれば、所定の振幅変調と所定の波長変調とを施した複合変調のレーザ光を照射し、該レーザ光から振幅変調と同期する光を取出すことによって、内燃機関の燃焼火炎光を含む背景光(バックグラウンドノイズ)と照射レーザ光との区別が可能になり、照射レーザ光の成分を精度よく検出でき、バックグラウンドノイズを低減できる。
そして、振幅変調に同期した成分を取出した後にレーザ光から波長変調と同期する成分を取出して目的とするガス濃度の検出ができるようになる。
従って、内燃機関の燃焼室内での燃焼火炎のように現象スピードが速いガス雰囲気内においてもレーザ光を背景光と区別して認識できるため、ガス濃度計測が可能となり、また、内燃機関からの排ガス配管内のような透過光量が少ない雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能になり、高い耐ノイズ性および高い測定感度を確保できる。
また、先に、波長変調と同期する成分を取出して、その後振幅変調と同期する光を取出すことによって、背景光(バックグラウンドノイズ)と照射レーザ光との区別を行ってもよい。
かかる発明において好ましくは、前記振幅変調がパルス状の矩形波による振幅変調であるとよい、パルス状の矩形波で変調するため、背景光(バックグラウンドノイズ)と区別しやすく、レーザ光だけを取出しやすい。
また、パルス状の矩形波であるため、ON、OFFのそれぞれの部分に波長変調された成分が重なっている状態であるので、OFFの部分に乗っている波長変調成分とONの部分に乗っている波長変調成分は同じものであるため、OFFの部分は無視して、OFFの部分に乗っているノイズを除去して、パワーの強いONの部分に乗っている波長変調成分だけを復調して目的信号を取得することで、バックグラウンドノイズを低減した、感度の高い計測が可能になる。
また、かかる発明において好ましくは、波長変調されたレーザ光を矩形波生成の光変調器に通してパルス状の矩形波に波長変調された成分を重ねるようにして複合変調するとよく、また、波長変調されたレーザ光を光チョッパに通してパルス状の矩形波に波長変調された成分を重ねるようにして複合変調するとよい。
このように電気的には光変調器を用いて、または機械的には光チョッパを用いて複合変調をすることで、簡単な構成によって複合変調を行なうことができる。
また、好ましくは、前記パルス状の矩形波を生成する際のON、OFFタイミング信号を用いて、AD変換器へ取り込まれた波長復調後の信号から前記矩形波ON時の成分をデジタル的に取り出すとよい、かかる構成によれば、パルス信号のON、OFFタイミング信号を用いて、同期信号を取りだすことができるため、振幅復調器を設置する必要がないため簡単な構成で目的とする信号を取出すことができる。
本発明では、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した受光パワーとなるようにレーザダイオードからの発光パワーを光減衰器で減衰し、該光減衰器の減衰量を、受光ダイオードによる受光信号から得られる直流成分の大きさに基づいて調整する。
かかる構成によれば、受光パワーを受光ダイオードによる受光信号から得られる直流成分の大きさによって求めて、該直流成分の大きさに基づいて光減衰器の減衰量を調整することで、測定すべき濃度範囲に適した受光パワーに調整できる。
すなわち、受光パワーと測定ガス濃度との関係が図6に示すように、受光ダイオードのプリアンプ飽和領域および受光信号から波長変調に同期する信号を検出するロックインアンプの飽和領域との関係で、受光パワーが大きくなるに従って測定範囲が小さくなる。
そのため、高濃度範囲まで測定しようとする場合には、受光パワーを絞るようにして測定レンジを広げる必要があり、受光パワーを受光信号の直流成分から判断して、光減衰器の減衰量を調整することで、測定すべき濃度範囲に発光パワーを調整することができる。
この光減衰器の減衰量の調整は、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を予め測定レンジ設定手段で設定し、該設定された測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として、該目標直流値になるように前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御する。
次に、本第2発明は、第1発明のガス濃度計測方法を実施するための計測装置に関するものであり、内燃機関の燃焼室内若しくは内燃機関からの排ガス配管内の被測定ガス雰囲気内に、レーザ光を発振する光源と、
該光源から発振されるレーザ光に所定の強度で変調する振幅変調手段と、
前記光源から発振されるレーザ光に所定の周波数で変調する波長変調手段と、
前記振幅変調手段と前記波長変調手段とによる複合変調が施されたレーザ光を前記燃焼室内若しくは排ガス配管内に導くレーザ光路と、
被測定ガス雰囲気内を透過したレーザ光を受光する受光手段と、
受光信号のうち前記振幅変調に同期する成分を取出す第1のロックインアンプである振幅復調手段と、
該振幅復調手段によって前記振幅変調に同期する成分が取出された受光信号のうち前記波長変調に同期する成分を取出す第2のロックインアンプである波長復調手段と、
レーザダイオードから発光されたレザーパワーを減衰する光減衰器と、前記受光ダイオードから得られる受光信号から直流成分を取り出す直流成分検出手段と、該直流成分検出手段によって生成された直流成分の大きさに基づいて前記光減衰器の減衰量を制御する減衰量調整手段と、
前記第1のロックインアンプ及び前記第2のロックインアンプが飽和領域に達しないように、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を設定する測定レンジ設定手段と
を備え
前記振幅復調手段と前記波長復調手段とによって目的とする信号を取得して前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の特定種別ガスの濃度を求め
前記測定レンジ設定手段で設定された測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として設定し、前記減衰量調整手段は前記目標直流値になるように前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御することを特徴とする。
かかる装置発明によれば、波長変調と振幅変調との複合変調が施されたレーザ光を被測定ガス雰囲気中に照射して、透過後のレーザ光から、該振幅変調と同期する光を取出すことによって、内燃機関の燃焼火炎光のような背景光(バックグラウンドノイズ)と照射レーザ光との区別が明確にでき、照射レーザ光の成分を精度よく検出でき、バックグラウンドノイズを低減できる。
そして、背景光(バックグラウンドノイズ)と区別したレーザ光から波長変調と同期する成分を取出して目的の種別のガス濃度の検出ができるようになるので、内燃機関の燃焼室内での燃焼火炎のように現象スピードが速いガス雰囲気内においてもレーザ光を背景光と区別して認識できるため、ガス濃度計測が可能となり、また、内燃機関からの排ガス配管内のような透過光量が少ない雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能になり、高い耐ノイズ性、測定感度を確保できる。
また、装置発明において、好ましくは、前記振幅変調手段は、光変調器または光チョッパからなり、パルス状の矩形波による振幅変調を行うとよい。
つまり、レーザ光を矩形波生成の光変調器に通してパルス状の矩形波に波長変調され、または、レーザ光を光チョッパに通してパルス状の矩形波に波長変調される。
このように電気的には光変調器を用いて、または機械的には光チョッパを用いてパルス状の矩形波を生成するので、該矩形波のON、OFFのそれぞれの部分に波長変調された成分を重ねることで複合変調をすることができる。
しかも、OFFの部分に乗っているノイズ成分とONの部分に乗っているノイズ成分は同じものであるため、ONの部分に乗っているノイズから、OFFの部分に乗っているノイズ成分を差し引くことにより、目的信号を取得することで、バックグラウンドノイズを低減した、感度の高い計測が可能になる。
また、装置発明において、好ましくは、レーザダイオードから発光されたレザーパワーを減衰する光減衰器と、前記受光ダイオードから得られる受光信号の直流成分を取り出す直流成分検出手段と、該直流成分検出手段によって生成された直流成分の大きさに基づいて前記光減衰器の減衰量を制御する減衰量調整手段とを有するとよい。
かかる構成によれば、直流成分検出手段によって取り出された直流分の大きさによって受光パワーを評価することで適切な受光パワーを判定でき、その受光パワーに基づいて光減衰器の減衰量を調整できる。
すなわち、受光信号の内直流成分は、背景光の強さや測定対象雰囲気内のガス粒子による光の吸収、散乱による光の強さを示すため、受光ダイオードの受光パワーを示すのに適切である。
また、装置発明において、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を設定する測定レンジ設定手段を備え、該測定レンジ設定手段で設定された測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として設定し、前記減衰量調整手段は前記目標直流値になるように前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御する。さらに、測定レンジ設定手段は測定したいレンジ領域が広範囲の高濃度レンジと中範囲の標準濃度レンジと低範囲の低濃度レンジとを有し、高濃度レンジになるに従って前記目標直流値が下がるように設定される。
このように、測定すべき濃度範囲に基づいて測定レンジ設定手段によって、高濃度レンジ、標準濃度レンジ、低濃度レンジから適切なレンジを設定することで、目標直流値に基づいて光減衰器の減衰量が、フィードバック制御がされるので、手動での光減衰器の減衰量調整に比べて簡単に適切な測定レンジの設定ができる。
本発明によれば、内燃機関の燃焼室内での燃焼火炎のように現象スピードが速いガス雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能な、また、内燃機関からの排ガス配管内のような透過光量が少ない雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能な、高い耐ノイズ性と測定感度を確保したガス濃度計測方法および計測装置を提供できる。
以下、図面を参照して本発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。但しこの実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
(第1実施形態)
図1は本発明の第1実施形態に係るガス濃度計測装置2の概要示す全体構成図ブロック図である。
図1に示すように、レーザ光を発振するための半導体レーザダイオード(LD)4からなる光源は、LDドライバのLD温度・LD電流駆動回路6に接続され、該駆動回路でLD4の温度と電流が制御されるようになっている。
LD温度・LD電流駆動回路6には、加算器8を経由してLD電流設定回路10から、直流電流DC、ランプ波、波長変調波12がそれぞれ印加される。
直流電流DCは、半導体レーザダイオード4を駆動するための電流であり、波長変調波12は、レーザ光Lの発振波長に対して変調を施すために印加するものであり、この波長変調波12および加算器8によって波長変調手段14を構成している。
また、ランプ波は、測定対象ガス固有の吸収スペクトルのところでレーザ発振波長をゆっくりと掃引させるために印加するものである。
次に、半導体レーザダイオード4から発振されたレーザ光は、光ファイバのレーザ光路16を通って、光偏波面コントローラ18を経由して光変調器20に導かれる。この光偏波面コントローラ18ではレーザ光の偏波面を一定に整えて、次の光変調器20での振幅変調を行いやすいようにしている。光変調器20には振幅変調のために振幅変調波22が供給され、該振幅変調波22には、例えばサイン波が用いられる。サイン波を光変調器20に供給することでパルス状の矩形波が生成されて、該矩形波による振幅変調が施される。この振幅変調波22および光変調器20で振幅変調手段24を構成している。
光変調器20を通ったレーザ光Lは、エンジンの燃焼室内、またはエンジンの排気管内のガス流通領域に一方のコリメータ(光学レンズ)26から他方のコリメータ(光学レンズ)28に向けて計測領域に入射される。計測領域を通過したレーザ光は、他方のコリメータ28の近傍に配置された受光手段30としてのフォトダイオード(PD)(受光ダイオード)32によって受光されるようになっている。
フォトダイオード32によって受光され受光信号は、プリアンプ34によって増幅されて、受光信号の復調を行う復調処理手段36と受光信号から直流成分を取り出す直流成分検出手段38とに送られる。
この復調処理手段36の部分は、バンドパスフィルタ(BPF)40と、ACアンプ42と、第1ロックインアンプ(振幅復調手段)44と、第2ロックインアンプ(波長復調手段)46と、DCアンプ48とが直列に接続されて構成されている。
また、直流成分検出手段38の部分は、ローパスフィルタ(LPF)50と、DCアンプ52とが直列に接続されて構成されている。復調処理手段36からの出力、および直流成分検出手段38からの出力はAD変換器54に入力されて、そこからコンピュータ56に送られる。
復調処理手段36に送られた受光信号は、バンドパスフィルタ40によって一定周波数帯域の信号を通過させ、ACアンプ42で増幅する。その後、第1ロックインアンプ(振幅復調手段)44へ入力させて、この第1ロックインアンプ44では、振幅変調手段24から参照信号S1が入力されて該参照信号S1と等しい信号、すなわち振幅変調手段24で変調したパルス状の矩形波、すなわちON、OFFパルス信号と同期する信号を取り出す。
次に、その振幅変調に同期した信号をさらに、第2ロックインアンプ(波長復調手段)46に入力させて、この第2ロックインアンプ46では、波長変調手段14から参照信号S2が入力されて該参照信号S2と等しい信号、すなわち波長変調手段14で変調した波長信号と同期する信号を取り出す。
このようにして、取り出した目的信号をDCアンプ48によって増幅して、AD変換器54に入力する。
また、直流成分検出手段38に送られた受光信号は、ローパスフィルタ50によって低周波成分だけを通過させて、DCアンプ52によって増幅して、AD変換器54に入力する。
復調処理手段36からの出力および直流成分検出手段38からの出力はAD変換器54を通過後、コンピュータ56に入力されて、対象ガス濃度の解析処理が行われる。
以上のように、振幅変調手段24による振幅変調と波長変調手段14による波長変調とを施した複合変調のレーザ光を、振幅変調の信号と同期する信号を取り出すことでレーザ光を背景光と区別して取り出すことができる。
特に、ON、OFFパルス信号による振幅変調を施した場合には、OFFの部分に乗っているノイズ成分とONの部分に乗っているノイズ成分は同じものであるため、ONの部分に乗っているノイズから、OFFの部分に乗っているノイズ成分を差し引くことにより、目的信号を取得することで、バックグラウンドノイズを低減した、感度の高い計測が可能になる。
(第2実施形態)
次に、図2を参照して、第2実施形態について説明する。
第2実施形態は、第1実施形態に対して、振幅変調を行う部分が相違するのみで、他の構成要素は第1実施形態と同様であるため、同一符号を付してして説明は省略する。
半導体レーザダイオード4から発振されたレーザ光は、光ファイバのレーザ光路16を通って、コリメータ(光学レンズ)60へと送られて、コリメータ60から照射されたレーザ光は、光チョッパ62に照射され、その光チョッパ62によって振幅変調波に応じたON、OFFパルス状のレーザ光を生成することができる。光チョッパ62はコリメータ60からのレーザ光を一定の周期で断続光にするものであり、円板にスリットが形成され、回転された円板の一方面から照射されたレーザ光がスリットを通過するタイミングで振幅変調されたON、OFFパルス状のレーザ光が生成される。
前記第1実施形態においては、電気的にON、OFFパルス状の振幅変調を行ったが、本第2実施形態では、光チョッパ62を用いて機械的にON、OFFパルス状の振幅変調を行うものである。
第2実施形態では、第1実施形態と同様の作用効果を有し、さらに、機械的にON、OFFパルス状の振幅変調を行うので、計測装置全体の構造が単純化されるとともに、制御装置も簡単化される。
(第3実施形態)
次に、図3を参照して、第3実施形態について説明する。
第3実施形態は、第2実施形態に対して、第1ロックインアンプ44を設けず、さらに、参照信号S1を直接AD変換器54に入力する点が相違し、その他の構成要素は第2実施形態と同様である。そのため、同一符号を付してして説明は省略する。
本第3実施形態は、第2実施形態の第1ロックインアンプ44を取り除き、第1ロックインアンプ44に入力されていた振幅変調手段24からの参照信号S1をAD変換器54へ入力する構成である。
第2実施形態では第1ロックインアンプ44に入力されていた振幅変調手段24からの参照信号S1は、パルス状の矩形波を生成する際のON、OFFタイミング信号であるため、そのタイミング信号を用いて、タイミング信号をAD変換器54へ直接入力して、ONタイミング信号を用いて、第2ロックインアンプ46およびDCアンプ48を通過して生成された波長復調後の信号から、ONタイミングのときの信号だけをAD変換器54からデジタル信号として取出してコンピュータ56に出力するものである。
かかる第3実施形態によれば、第1ロックインアンプ(振幅復調手段)44を設けないため、簡単な構成で目的とする信号を取出すことができるので、計測装置全体の構造が単純化されるとともに、制御装置も簡単化される。
(第4実施形態)
次に、図4を参照して、第4実施形態について説明する。
第4実施形態は、第2実施形態に対して、半導体レーザダイオード4から発振されたレーザ光の発光パワーを調整する光減衰器70およびその減衰量を調整する減衰量調整手段72を設けた点が相違し、その他の構成要素は第2実施形態と同様である。そのため、同一符号を付してして説明は省略する。
半導体レーザダイオード4から発振されたレーザ光が、光ファイバのレーザ光路16を通って、コリメータ(光学レンズ)60へと送られる。このレーザ光路16の途中に、レーザ光の発光パワーを減衰する光減衰器70を設け、該光減衰器70の減衰量を、直流成分検出手段38のDCアンプ52の出力信号に基づいて調整する。
この調整は、具体的には、操作者がDCアンプ52の出力信号を見て、測定したいガス濃度範囲が測定できるか否かを判断して、減衰量調整手段72を操作して光減衰器70の減衰量を調整する。
すなわち、受光手段30のフォトダイオード32によって受光される受光パワーと、測定可能な濃度レンジとの関係は、図6に示すように、受光パワーが大きくなるに従って、測定濃度レンジは小さくなり、受光パワーが小さいほど広レンジまで濃度測定が可能である。
これは、受光パワーが大きくなると、受光手段30のプリアンプ34が飽和領域Aに達して測定困難となり、また、濃度が高くなると、ロックインアンプ44、46の飽和領域Bに達してしまい測定困難となるため、測定可能領域はC領域となる。
従って、測定したい濃度範囲を含む測定レンジになる受光パワーになるように、DCアンプ52の出力を見て減衰量調整手段72を手動で操作して、レーザ光の発光パワーを調整する。
直流成分検出手段38から出力される直流分の大きさによって受光パワーを評価することで適切な受光強度を判定できる。すなわち、フォトダイオード32によって受光される受光信号のうち直流成分は、背景光の強さや測定対象雰囲気内のガス粒子による光の吸収、散乱による光の強さを示すため、フォトダイオード32からの受光パワーを評価するのに適しているからである。
(第5実施形態)
次に、図5を参照して、第5実施形態について説明する。
第5実施形態は、第4実施形態に対して、手動による減衰量調整手段72の調整ではなく、測定レンジ設定手段74によって、予め設定した測定レンジにおける目標受光パワーとなるようにフィードバック制御をする点が相違し、その他の構成要素は第4実施形態と同様である。そのため、同一符号を付してして説明は省略する。
減衰量調整手段72には、直流成分検出手段38のDCアンプ52の出力信号が入力され、さらに、測定レンジ設定手段74によって設定された測定レンジ信号が入力される。設定される測定レンジは、例えば、低濃度レンジ76と、標準濃度レンジ78と、高濃度レンジ80の3レンジが設定されており、測定しようとするガス濃度に応じてレンジの設定をする。
低濃度レンジを設定した場合には、例えば、図6の低濃度レンジの受光パワーのP3を、DCアンプ52の目標直流値として設定して、DCアンプ52の出力値がP3になるように減衰量調整手段72が光減衰器70の減衰量をフィードバック制御する。
また、標準濃度レンジを設定した場合には受光パワーのP2を目標直流値として設定し、高濃度レンジを設定したときは受光パワーのP1を目標直流値として設定する。
以上のように、測定レンジ設定手段74によって設定された目標直流値に基づいて光減衰器70の減衰量が、減衰量調整手段72によってフィードバック制御がされるので、手動での光減衰器70の減衰量調整に比べて簡単に適切な測定レンジの設定ができる。
なお、第1〜5実施形態では、光源として半導体レーザダイオード4を例に説明したが、その他の波長変調、振幅変調可能なレーザ発振器に適用可能である。
本発明によれば、内燃機関の燃焼室内での燃焼火炎のように現象スピードが速いガス雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能になり、また、内燃機関からの排ガス配管内のような透過光量が少ない雰囲気内においてもレーザ光を用いたガス濃度計測が可能になり、高い耐ノイズ性と測定感度を確保するので、ガス濃度計測方法および計測装置燃焼診断装置への適用に際して有益である。
本発明の第1実施形態に係るガス濃度計測装置の概要示す全体構成図ブロック図である。 第2実施形態に係るガス濃度計測装置の概要示す全体構成図ブロック図である。 第3実施形態に係るガス濃度計測装置の概要示す全体構成図ブロック図である。 第4実施形態に係るガス濃度計測装置の概要示す全体構成図ブロック図である。 第5実施形態に係るガス濃度計測装置の概要示す全体構成図ブロック図である。 受光パワーと測定ガス濃度との関係を示す関係図である。 従来技術を示す説明図である。 従来技術を示す説明図である。
符号の説明
2 ガス濃度計測装置
4 半導体レーザダイオード(LD)(光源)
10 LD電流設定回路
12 波長変調波
14 波長変調手段
16 レーザ光路
22 振幅変調波
24 振幅変調手段
26、28、60 コリメータ(光学レンズ)
30 受光手段
36 復調処理手段
38 直流成分検出手段
44 第1ロックインアンプ(振幅復調手段)
46 第2ロックインアンプ(波長復調手段)
70 光減減衰器
72 減衰量調整手段
74 測定レンジ設定手段

Claims (9)

  1. 内燃機関の燃焼室内若しくは内燃機関からの排ガス配管内の被測定ガス雰囲気内に、プリアンプを介して所定の振幅変調と所定の波長変調とを施した複合変調のレーザ光を照射し、該レーザ光を受光して得られる測定信号のうち、ロックインアンプを用いて前記振幅変調に同期した成分を取出した後に、該振幅変調に同期した成分から前記波長変調に同期する成分を取出して、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の特定種別のガス濃度を求め
    前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した受光パワーとなるようにレーザダイオードからの発光パワーを光減衰器で減衰し、該光減衰器の減衰量を、受光ダイオードによる受光信号から得られる直流成分の大きさに基づいて調整し、
    前記プリアンプ及びロックインアンプが飽和領域に達さないように、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を予め測定レンジ設定手段で設定し、該測定レンジ設定手段での測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として、前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御することを特徴とするガス濃度計測方法。
  2. 前記振幅変調がパルス状の矩形波による振幅変調であることを特徴とする請求項1記載のガス濃度計測方法。
  3. 波長変調されたレーザ光を矩形波生成の光変調器に通してパルス状の矩形波に波長変調された成分を重ねるようにして複合変調することを特徴とする請求項2記載のガス濃度計測方法。
  4. 波長変調されたレーザ光を光チョッパに通してパルス状の矩形波に波長変調された成分を重ねるようにして複合変調することを特徴とする請求項2記載のガス濃度計測方法。
  5. 前記パルス状の矩形波を生成する際のON、OFFタイミング信号を用いて、AD変換器へ取り込まれた波長復調後の信号から前記矩形波ON時の成分をデジタル的に取り出すことを特徴とする請求項3または請求項4記載のガス濃度計測方法。
  6. 前記直流成分の大きさに基づいて測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲になるように前記光減衰器の減衰量を手動で切換え調整することを特徴とする請求項記載のガス濃度計測方法。
  7. 内燃機関の燃焼室内若しくは内燃機関からの排ガス配管内の被測定ガス雰囲気内に、レーザ光を発振する光源と、
    該光源から発振されるレーザ光に所定の強度で変調する振幅変調手段と、
    前記光源から発振されるレーザ光に所定の周波数で変調する波長変調手段と、
    前記振幅変調手段と前記波長変調手段とによる複合変調が施されたレーザ光を前記燃焼室内若しくは排ガス配管内に導くレーザ光路と、
    被測定ガス雰囲気内を透過したレーザ光をプリアンプを介して受光する受光手段と、
    受光信号のうち前記振幅変調に同期する成分を取出す第1のロックインアンプである振幅復調手段と、
    該振幅復調手段によって前記振幅変調に同期する成分が取出された受光信号のうち前記波長変調に同期する成分を取出す第2のロックインアンプである波長復調手段と、
    レーザダイオードから発光されたレザーパワーを減衰する光減衰器と、前記受光ダイオードから得られる受光信号から直流成分を取り出す直流成分検出手段と、該直流成分検出手段によって生成された直流成分の大きさに基づいて前記光減衰器の減衰量を制御する減衰量調整手段と、
    前記プリアンプ、前記第1のロックインアンプ及び前記第2のロックインアンプが飽和領域に達しないように、前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の測定すべきガス種別の濃度に適した測定濃度範囲を設定する測定レンジ設定手段と
    を備え
    前記振幅復調手段と前記波長復調手段とによって目的とする信号を取得して前記燃焼室内若しくは排ガス配管内の特定種別ガスの濃度を求め
    前記測定レンジ設定手段で設定された測定レンジに適した直流成分出力を目標直流値として設定し、前記減衰量調整手段は前記目標直流値になるように前記光減衰器の減衰量をフィードバック制御することを特徴とするガス濃度計測装置。
  8. 前記振幅変調手段は、光変調器または光チョッパからなり、パルス状の矩形波による振幅変調を行うことを特徴とする請求項記載のガス濃度計測装置。
  9. 測定レンジ設定手段は測定したいレンジ領域が広範囲の高濃度レンジと中範囲の標準濃度レンジと低範囲の低濃度レンジとを有し、高濃度レンジになるに従って前記目標直流値が下がるように設定されることを特徴とする請求項記載のガス濃度計測装置。
JP2008066767A 2008-03-14 2008-03-14 ガス濃度計測方法および装置 Expired - Fee Related JP5371268B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008066767A JP5371268B2 (ja) 2008-03-14 2008-03-14 ガス濃度計測方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008066767A JP5371268B2 (ja) 2008-03-14 2008-03-14 ガス濃度計測方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009222526A JP2009222526A (ja) 2009-10-01
JP5371268B2 true JP5371268B2 (ja) 2013-12-18

Family

ID=41239476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008066767A Expired - Fee Related JP5371268B2 (ja) 2008-03-14 2008-03-14 ガス濃度計測方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5371268B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6473367B2 (ja) 2015-03-31 2019-02-20 三菱重工業株式会社 ガス分析システム
JP6513762B2 (ja) * 2016-12-15 2019-05-15 株式会社堀場製作所 分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法
US20220187230A1 (en) * 2019-04-05 2022-06-16 H2Scan Corporation Methods and Systems for Determining a Target Gas Concentration in a Fluid Environment
WO2021205988A1 (ja) * 2020-04-10 2021-10-14 国立大学法人徳島大学 ガス分析装置及びガス分析方法
CN114413935B (zh) * 2022-01-26 2023-08-22 西安交通大学 一种法布里珀罗传感器的噪声抑制系统及方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS649342A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Fujitsu Ltd Pulsed excitation of semiconductor laser beam source
JP3229391B2 (ja) * 1992-11-05 2001-11-19 東京電力株式会社 光ファイバを用いた多点ガス濃度測定方法及び装置
JP3861059B2 (ja) * 2003-01-17 2006-12-20 三菱重工業株式会社 ガス濃度モニタリングシステム
JP4317728B2 (ja) * 2003-09-29 2009-08-19 三菱重工業株式会社 ガス濃度フラックス計測装置
JP4713227B2 (ja) * 2005-06-06 2011-06-29 トヨタ自動車株式会社 排ガス分析装置および排ガス分析方法
DE102005030151B3 (de) * 2005-06-28 2006-11-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Photoakustischer Freifelddetektor
JP2007193034A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長変換装置および光吸収測定装置
JP4732277B2 (ja) * 2006-08-23 2011-07-27 トヨタ自動車株式会社 ガス分析装置及びガス分析方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009222526A (ja) 2009-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2717704C (en) Method and apparatus for measuring density
JP4331741B2 (ja) ガス検出方法及びガス検出装置
JP5907442B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP5371268B2 (ja) ガス濃度計測方法および装置
JP6044760B2 (ja) レーザ式ガス分析計
KR100873550B1 (ko) 가스 검출 방법 및 가스 검출 장치
EP1906169A1 (en) Gas detection method and gas detection device
KR20140033368A (ko) 집적 회로 검사 장치
CN101153860A (zh) 气体检测方法和气体检测装置
CN112577923A (zh) 测量测量气体中气体成分的浓度的方法和气体分析仪
JP2009222527A (ja) ガス濃度計測方法および装置
US7414727B2 (en) Gas detection method and gas detection device
JP6668841B2 (ja) レーザ式ガス分析計
JP2010169449A (ja) 濃度計測装置及び濃度計測方法
JP2010169487A (ja) 濃度計測装置及び濃度計測方法
JP2011153980A (ja) ガス濃度計測装置および方法
JP2012108156A (ja) ガス濃度計測方法および装置
RU2492450C2 (ru) Система биодатчика на основе нарушенного полного внутреннего отражения (нпво) и способ обнаружения сигнала датчика, основанного на нпво
JP2012159389A (ja) ガス濃度計測装置及びガス濃度算出方法
JP2009063364A (ja) ガス検知装置
JPH1183812A (ja) レーザ光による超音波検出方法及びその装置
JPS6222105B2 (ja)
JP2012225730A (ja) ガス濃度測定装置
JP2010038875A (ja) ガス分析装置
JP2004125584A (ja) 光変調励起反射分光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100107

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120127

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20120206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120322

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120904

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130409

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130703

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130710

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130820

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130917

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees