JP2010169449A - 濃度計測装置及び濃度計測方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学面の曇りの影響を考慮して参照用信号の強度を決定することのできる、濃度計測装置及び濃度計測方法を提供する。
【解決手段】計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部と、前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を算出する受光処理部とを具備する。前記受光処理部は、前記受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求める振幅抽出部と、前記振幅抽出部で求めた振幅に基づいて、参照信号を生成する参照信号生成部と、前記受光信号と前記参照信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器と、前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出する濃度算出部とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部と、前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を算出する受光処理部とを具備する。前記受光処理部は、前記受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求める振幅抽出部と、前記振幅抽出部で求めた振幅に基づいて、参照信号を生成する参照信号生成部と、前記受光信号と前記参照信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器と、前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出する濃度算出部とを備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、濃度計測装置及び濃度計測方法に関する。
計測対象の濃度を測定する技術として、レーザ光を利用した技術が知られている。この技術は、物質が、物質固有の波長(以下、固有吸収波長)の光を吸収する性質を有することを利用している。計測対象にレーザ光を照射する。レーザ光の波長が、計測対象物質の固有吸収波長と一致していれば、レーザ光は計測対象により吸収される。このときの吸収量は、物質の濃度に依存する。そこで、計測対象を透過したレーザ光の強度を測定し、計測対象によるレーザ光の吸収量を求める。求めた吸収量に基づいて、計測対象の濃度を算出することができる。
計測対象の濃度を計測するにあたり、計測精度を向上させることが望まれる。精度を向上させるために、レーザ光の波長を変調させる手法が知られている。レーザ光の波長を所定の周波数で変調する。そして、受光側にて得られた受光信号を、変調波の周波数に基づいて復調する。これにより、ノイズ成分が除去され、計測対象によるレーザ光の吸収量を正確に知ることができる。
さらに精度を高めるための技術が、特許文献1(特許第3861059号公報)及び特許文献2(特許第3342446号公報)に記載されている。特許文献1及び特許文献2には、レーザ光の発振波長を少なくとも2つの異なる周波数で変調し、受光した信号の中から変調された信号を周波数毎に順次それぞれ復調するガス濃度計測装置が記載されている。特許文献1及び2に記載された技術によれば、レーザ光を少なくとも二重で変調することにより、ミラーなどの光学部品で発生するフリンジの影響を除去することができ、計測精度を更に高めることができる。
ところで、計測対象によるレーザ光の吸収量を求めるためには、吸収がないときのレーザ光の受光強度を知っていなければならない。このため、計測対象を透過しない光路を参照用に設けることが考えられる。この参照用信号と計測対象を透過して得られた受光信号との差分(以下、吸収信号という)を求めることにより、レーザ光の吸収量を求めることができる。しかしこの場合、レーザ光の光路を2光路にするためのコストが発生してしまう。
コストを抑制するため、参照用信号を、模擬により生成することが考えられる。しかし、模擬により参照用信号を生成する場合には、信号の強度が問題となる。例えば、計測対象が排気ガスなどである場合、フォトダイオードの受光面やレーザ光路の途中に設けられたレンズなどが、時間の経過と共に汚れ、曇ってしまうことがある。このような曇りにより、受光信号の強度は、変動する。従って、受光信号の強度と参照用信号の強度が対応せず、吸収信号に余分な成分が含まれてしまうことがある。吸収信号に余分な成分が含まれていることにより、正確に濃度を計測することが困難となる。また、吸収信号の強度が大きくなりすぎ、濃度算出に用いる機器の入力レンジも不必要に大きくしなければならない。
そこで、本発明の目的は、レーザ光の吸収量を示す成分だけを正確に取り出すことができる、濃度計測装置及び濃度計測方法を提供することにある。
以下に、[発明を実施するための形態]で使用される番号を括弧付きで用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号は、[特許請求の範囲]の記載と[発明を実施するための形態]との対応関係を明らかにするために付加されたものである。ただし、それらの番号を、[特許請求の範囲]に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。
本発明に係る濃度計測装置(1)は、計測対象(9)に向けてレーザ光を出射するレーザダイオード(8)を、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部(2)と、計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオード(10)から受光信号を取得し、受光信号に基づいて計測対象(9)の濃度を算出する受光処理部(3)とを具備する。受光処理部(3)は、受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求める振幅抽出部(18)と、振幅抽出部(18)で求めた振幅に基づいて、参照信号を生成する参照信号生成部(15)と、受光信号と参照信号とに基づいて、計測対象(9)によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器(16)と、吸収信号に基づいて、計測対象(9)の濃度を算出する濃度算出部(17)とを備える。
上述の発明によれば、振幅抽出部(18)により、受光信号のうちの周波数fの成分の振幅が求められる。この振幅は、受光信号のうちの変調波に対応する成分の振幅である。この振幅を参照信号の振幅とすることにより、受光信号のうちの変調波に対応する成分を正確に再現することができる。また、受光信号を元にして参照信号の振幅が決定されているため、光学面の曇りによる影響はない。このようにして得られた参照信号を受光信号と比較することにより、レーザ光の吸収量を正確に示す吸収信号を得ることができ、計測対象の濃度を正確に算出することができる。
本発明に係る濃度計測装置(1)の他の形態は、計測対象(9)に向けてレーザ光を出射するレーザダイオード(8)を、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部(2)と、計測対象(9)を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオード(10)から受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象(9)の濃度を算出する受光処理部(3)とを具備する。受光処理部(3)は、受光信号のうちの周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するf成分バンドパスフィルタ(20)と、受光信号と前記f成分信号とに基づいて、前記計測対象(9)によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器(16)と、吸収信号に基づいて、計測対象(9)の濃度を算出する濃度算出部(17)とを備える。
上述の発明によれば、f成分バンドパスフィルタ(20)により、受光信号のうちの周波数fの成分の信号(f成分信号)が求められる。f成分信号は、受光信号のうちの変調波に対応する成分の信号である。すなわち、f成分信号は、受光信号のうちの変調波に対応する成分を示している。このf成分信号は、受光信号から抽出されているため、光学面の曇りによる影響はない。このようにして得られたf成分信号を参照信号とすることにより、レーザ光の吸収量を正確に示す吸収信号を得ることができ、計測対象の濃度を正確に算出することができる。
本発明に係る濃度計測方法は、計測対象(9)に向けてレーザ光を出射するレーザダイオード(8)を、レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御するステップと、計測対象(9)を透過したレーザ光を受光するフォトダイオード(10)から受光信号を取得し、受光信号に基づいて計測対象(9)の濃度を計測するステップとを具備する。濃度を計測するステップは、受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求めるステップと、振幅を求めるステップで求められた振幅に基づいて、参照信号を生成するステップと、受光信号と前記参照信号とに基づいて、計測対象(9)によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成するステップと、吸収信号に基づいて、計測対象(9)の濃度を算出するステップとを備える。
本発明に係る濃度計測方法の他の形態は、計測対象(9)に向けてレーザ光を出射するレーザダイオード(8)を、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御するステップと、計測対象(9)を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオード(10)から受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を計測するステップとを具備する。濃度を計測するステップは、受光信号のうちの周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するステップと、受光信号と前記f成分信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成するステップと、吸収信号に基づいて、計測対象(9)の濃度を算出するステップとを備える。
本発明によれば、光学面の曇りなどに関係なく、参照用信号の強度を決定することのできる、濃度計測装置及び濃度計測方法が提供される。
(第1の実施形態)
以下に、図面を参照しつつ、本発明の第1の実施形態について説明する。
以下に、図面を参照しつつ、本発明の第1の実施形態について説明する。
図1は、本実施形態に係る濃度計測装置1を示すブロック図である。この濃度計測装置1は、発光制御部2と、受光処理部3とを備えている。発光制御部2は、レーザーダイオード8を制御する部分である。発光制御部2により、レーザーダイオード8から所定波長のレーザ光が出射される。レーザ光は、計測対象ガス領域9に導かれる。レーザ光は、計測対象による吸収を受けた後、フォトダイオード10により受光される。レーザ光を受光したフォトダイオード10は、受光信号dを生成し、受光処理部3に供給する。受光処理部3は、受光信号dに基づいて、計測対象の濃度を計算する。
発光制御部2は、搬送波発生器4と、変調波発生器5と、加算器6と、レーザーダイオードドライバ7とを備えている。
搬送波発生器4は、搬送波信号aとして、ランプ波を発生させる。搬送波信号aの周波数は、例えば、0.5(Hz)である。
変調波発生器5は、変調波信号bを発生させる。変調波信号bは、正弦波である。変調波信号bの周波数は、搬送波信号aの周波数よりも十分に大きく、fである。fは、例えば、100(kHz)である。
加算器6は、搬送波信号aと変調波信号bとを加算して、合成信号cを生成する。
レーザーダイオードドライバ7は、合成信号cにより、レーザーダイオード8に対する注入電流を変化させる。
レーザーダイオード8は、注入電流の供給を受けて、計測対象ガス領域9に向けてレーザ光を出射する。レーザーダイオード8は、計測対象が吸収する光の波長(以下、固有吸収波長と称す)に概ね一致する波長の光を発振するように構成されている。また、レーザーダイオード8は、レーザ光の発振波長が注入電流に応じて変化するように構成されている。従って、レーザ光の波長は、注入電流の波形と同じ波形で変化する。注入電流の波形は、合成信号cの波形と同じであるので、レーザ光の波長は、合成信号cと同じ波形で変化することになる。
図2Aは、レーザ光の波長と時刻との関係を示すグラフである。レーザ光の波長は、直流成分に対して、搬送波信号Aによるランプ波と、正弦波である変調波信号cとが重畳された波形で変化する。
レーザーダイオード8より発振されたレーザ光は、計測対象ガス領域9に導かれる。レーザ光の波長が、計測対象の固有吸収波長λ0付近を通過するとき、(時刻t0近傍)、レーザ光は計測対象による吸収を受ける。但し、レーザ光の波長を、直流成分だけで固有吸収波長λ0と正確に一致させることは難しい。そこで、搬送波信号aとしてランプ波が用いられている。搬送波信号aを用いることにより、レーザ光の波長を、確実に固有吸収波長λ0を通過するように変化させることができる。計測対象ガス領域9を透過したレーザ光は、フォトダイオード10によって受光される。
フォトダイオード10は、レーザ光を受光すると、そのレーザ光の強度を示す受光信号dを生成する。受光信号dは、受光処理部3に供給される。
受光処理部3は、バンドパスフィルタ11と、アナログ/デジタルコンバータ12と、振幅抽出部18と、正弦波発振器15(参照信号生成部)と、差動増幅器16と、濃度算出部17とを備えている。
バンドパスフィルタ11は、受光信号dのうち、周波数がfと2fである成分を通過させるフィルタである。バンドパスフィルタ11は、受光信号dから、バンドパス信号eを生成する。バンドパス信号eは、差動増幅器16と、アナログ/デジタルコンバータ12に供給される。アナログ/デジタルコンバータ12に供給されたバンドパス信号eは、デジタル信号に変換された後、振幅抽出部18に供給される。
図2Bは、時刻t0近傍におけるバンドパス信号eを示すグラフである。バンドパスフィルタ11により、受光信号dから、直流成分と搬送波信号aに対応する成分とが除去されている。バンドパス信号eは、概ね正弦波形を示し、この振幅がAと示されている。但し、振幅の中心では、計測対象による吸収を受けているため、強度が下がっている。
振幅抽出部18は、バンドパス信号eの振幅を抽出する部分である。バンドパス信号eは、受光信号dのうちの変調波に対応する成分である。従って、バンドパス信号eの振幅は、受光信号dのうちの変調波に対応する成分の振幅を示していることになる。
振幅抽出部18は、同期検波器13と、ローパスフィルタ14と、同調波発生器29と、位相調整器19とを備えている。
同調波発生器29は、周波数fの正弦波信号を発生させる。発生した正弦波信号は、位相調整器19によりバンドパス信号eと位相を一致させられた後、同期検波器13に供給される。
同期検波器13は、例えばロックインアンプである。同期検波器13は、バンドパス信号eを、位相調整器19からの正弦波信号によって同期検波し、同期検波信号fを生成する。
図2Cは、同期検波信号fを示すグラフである。図2C中、点線は、バンドパス信号eを示している。図2Cに示されるように、同期検波信号fでは、バンドパス信号eに位相のあった正弦波が乗算されるので、負の部分も「(−1)2」の効果により、全て正側に折り返される。
ローパスフィルタ14は、同期検波信号fの低周波成分を抽出し、ローパス信号gを生成する。図2Cには、ローパス信号gも描かれている。このとき、バンドパス信号eの振幅をAとすれば、ローパス信号gの強度は、A/2になる。すなわち、ローパス信号gによって、バンドパス信号eの振幅の1/2が抽出される。尚、厳密には、ローパス信号gの強度は、計測対象による吸収部分の影響により、A/2にはならない。但し、変調波信号bの波形が、吸収による強度低下量がバンドパス信号eの振幅に対して十分小さくなるような波形であれば、計測対象による吸収の影響は無視できる。もし、吸収信号が大きく誤差が無視できない場合には、図1に示したA/D(12)と同期検波器13の間にデジタルローパスフィルタを挿入し、変調信号のf成分を通し、2f成分をカットすればよい。
正弦波発生器15は、例えばオシレータである。正弦波発生器15は、周波数fの正弦波を発振する。このとき、正弦波発生器15は、ローパス信号gの強度の2倍の振幅(A/2×2=A)で、正弦波を発振する。発振された正弦波は、参照信号hとして、デジタルアナログコンバータ31を介して差動増幅器16に供給される。参照信号hは、図示しない位相調整器によりバンドパス信号eと位相を一致させられた後、差動増幅器16に供給されてもよい。
図2Dは、参照信号hを示すグラフである。参照信号hの振幅は、バンドパス信号eの振幅に一致している。すなわち、参照信号hは、受光信号dのうちの変調波に対応する成分を正確に再現している。
差動増幅器16は、バンドパス信号eを参照信号hにより差動増幅し、吸収信号iを生成する。
図2Eは、吸収信号iを示すグラフである。吸収信号iには、計測対象によるレーザ光の吸収量を示す成分だけが現れる。
濃度算出部17は、吸収信号iに基づいて、計測対象の濃度を算出する。既述のように、レーザ光の吸収量は、計測対象の濃度に依存するので、吸収信号iの強度から計測対象の濃度を求めることができる。また、この際、光学面の曇りの影響を除去するために、予め、初期(光学面に曇りがないとき)に振幅抽出部18で得られる振幅を初期値A0として求めておく。そして、振幅抽出部18で求められた振幅Aと初期値A0との比を用いることにより、光学面の曇りの影響を除くことができる。
尚、既述の振幅抽出部18及び正弦波発振器15は、コンピュータにインストールされたプログラムによって実現可能である。
以上説明したように、本実施形態によれば、受光信号d(バンドパス信号e)に基づいて、変調波成分の振幅が求められる。そして、求められた振幅に基づいて、参照信号hが生成される。従って、受光信号dのうちの変調波に対応する成分の強度を、光学面の曇りなどの影響を受けることなく、決定することができる。その結果、純粋にレーザ光の吸収量を示す成分だけを吸収信号iとして抽出することができ、精度良く計測対象の濃度を測定することが可能である。
(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態について説明する。図3は、本実施形態に係る濃度計測装置1の受光処理部3を示すブロック図である。本実施形態に係る濃度計測装置1は、第1の実施形態に対して、受光処理部3にフィードバック制御器23が追加されている。その他の点については、第1の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
続いて、本発明の第2の実施形態について説明する。図3は、本実施形態に係る濃度計測装置1の受光処理部3を示すブロック図である。本実施形態に係る濃度計測装置1は、第1の実施形態に対して、受光処理部3にフィードバック制御器23が追加されている。その他の点については、第1の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
フィードバック制御器23は、吸収信号iを取得する。そして、吸収信号iに基づいて、参照信号hの位相がバンドパス信号eの位相と一致しているかを判定する。そして、参照信号hの位相がバンドパス信号eの位相からずれている場合には、参照信号hの位相がバンドパス信号eの位相と一致するように、正弦波発振器15の動作を制御する。
参照信号hの位相がバンドパス信号eの位相と一致していなければ、レーザ光の吸収量を示す成分だけを吸収信号iとして生成することができない。本実施形態によれば、フィードバック制御器23によって、参照信号hの位相をバンドパス信号eの位相に正確に一致させることができる。これにより、より正確に吸収信号iを生成することができ、より正確に計測対象の濃度を算出することができる。
(第3の実施形態)
続いて、本発明の第3の実施形態について説明する。本実施形態に係る濃度計測装置1では、発光制御部2が、二つの変調波により、レーザ光の発振波長を変調する。また、受光処理部3には、二つの変調波に対応して、振幅抽出部18が二つ設けられている。その他の点については、既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
続いて、本発明の第3の実施形態について説明する。本実施形態に係る濃度計測装置1では、発光制御部2が、二つの変調波により、レーザ光の発振波長を変調する。また、受光処理部3には、二つの変調波に対応して、振幅抽出部18が二つ設けられている。その他の点については、既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
図4A及び4Bは、本実施形態に係る濃度計測装置1を示すブロック図である。
図4Aに示されるように、発光制御部2には、第1変調波発生器5−1と、第2変調波発生器5−2とが設けられている。第1変調波発生器5−1は、周波数f1(例えば100kHz)で、第1変調波信号b−1を生成する。第2変調波発生器5−2は、周波数f2(例えば5kHz)で、第2変調波信号b−2を生成する。第1変調波信号5−1と第2変調波信号5−2とは、いずれも、正弦波であるものとする。加算器6では、搬送波信号aと、第1変調波信号b−1と、第2変調波信号b−2とが加算され、合成信号cが生成される。
一方、図4Bに示されるように、受光処理部3は、二つのバンドパスフィルタ(11−1及び11−2)と、二つの振幅抽出部(18−1及び18−2)と、二つの正弦波発振器(15−1及び15−2)と、二つの位相調整器(24−1及び24−2)と、加算器25と、加算器30とを備えている。
バンドパスフィルタ11−1は、受光信号dから、周波数f1〜2×f1までの成分を抽出し、第1バンドパス信号e1を生成する。第1バンドパス信号e1は、第1振幅抽出部18−1に供給される。第1抽出部18−1は、同調波発生器29−1、位相調整器19−1、同期検波器13−1、及びローパスフィルタ14−1を備えている。これらは、既述の実施形態の振幅抽出部18と同様に動作し、受光信号dのうちの第1変調波に対応する成分の振幅を抽出する。更に、正弦波発振器15−1は、既述の実施形態と同様に、第1振幅抽出部18−1で求められた振幅に基づいて、周波数f1の正弦波を生成する。生成した正弦波は、位相調整器24−1により位相が調整された後、第1参照信号要素h1として加算器25に供給される。
一方、バンドパスフィルタ11−2は、受光信号dから、周波数f2〜2×f2までの成分を抽出し、第2バンドパス信号e2を生成する。第2バンドパス信号e2は、第2振幅抽出部18−2に送られる。第2振幅抽出部18−2は、第1振幅抽出部18−1と同様に、第2変調波に対応する成分の振幅を抽出する。正弦波発振器15−2は、第2振幅抽出部18−2で抽出された振幅に基づいて、周波数f2の正弦波を発振する。この正弦波は、位相調整器24−2で位相が調整された後、第2参照信号要素h2として加算器25に供給される。
加算器25は、第1参照信号要素h1と第2参照信号要素h2とを加算し、参照信号hとして、デジタルアナログコンバータ31を介して差動増幅器16に供給する。
一方、加算器30は、第1バンドパス信号e1と第2バンドパス信号e2とを加算し、バンドパス信号eとして差動増幅器16に供給する。
差動増幅器16は、バンドパス信号eを参照信号hにより差動増幅し、吸収信号iを生成する。既述の実施形態と同様に、濃度算出部17は、吸収信号iに基づいて、計測対象の濃度を算出する。
本実施形態によれば、変調波を二つ用いているため、吸収信号に含まれるノイズ成分をより確実に除去することができる。また、変調波を二つ用いる場合でも、受光信号dから二つの変調波の各々に対応する成分の振幅を求めることにより、既述の実施形態と同様の作用を奏することができる。
(第4の実施形態)
続いて、本発明の第4の実施形態について説明する。図5は、本実施形態に係る濃度計測装置を示すブロック図である。本実施形態では、第1の既述の実施形態に対して、受光処理部3の構成が変更されている。その他の点については、第1の既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
続いて、本発明の第4の実施形態について説明する。図5は、本実施形態に係る濃度計測装置を示すブロック図である。本実施形態では、第1の既述の実施形態に対して、受光処理部3の構成が変更されている。その他の点については、第1の既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
図5に示されるように、受光処理部3は、バンドパスフィルタ11と、アナログ/デジタルコンバータ12と、バンドパスフィルタ20と、増幅器21と、位相調整器22と、差動増幅器16と、濃度算出部17とを備えている。
バンドパスフィルタ11は、受光信号dのうちの周波数がf及び2×fの成分を通過させ、バンドパス信号eを生成する。バンドパス信号eは、アナログ/デジタルコンバータ12及び差動増幅器16に供給される。
アナログ/デジタルコンバータ12に供給されたバンドパス信号eは、デジタル信号に変換され、バンドパスフィルタ20に供給される。
バンドパスフィルタ20は、バンドパス信号eのうちの周波数がfの成分を抽出し、f成分信号jを生成する。f成分信号jは、増幅器21により増幅された後、位相調整器22によって位相が調整され、参照信号hとされる。参照信号hは、デジタル/アナログコンバータ31によってアナログ信号に変換され、差動増幅器16に供給される。参照信号hは、バンドパス信号eの周波数f成分を正確に再現している。
差動増幅器16は、既述の実施形態と同様に、バンドパス信号eを参照信号hにより差動増幅し、吸収信号iを生成する。バンドパス信号eの周波数f成分は、差動増幅器により、吸収信号iでは相殺される。すなわち、吸収信号iは、周波数2×f成分だけを示すことになる。
多くの物質では、光の吸収量の波長分布は、ガウス分布になる。この場合、レーザ光の発振波長を周波数fの正弦波で変調すると、レーザ光の吸収量は、周波数が2×fである波形を示す。従って、濃度算出部17では、吸収信号iに基づいて、周波数2×f成分が位相敏感検波され、その検波結果に基づいて、計測対象の濃度が算出される。
以上説明したように、本実施形態によれば、既述の実施形態と同様に、受光信号dに基づいて、受光信号dのうちの変調波に対応する成分が再現される。従って、光学面の曇りなどの影響を受けることなく参照信号gを生成することができ、正確に吸収信号iを生成することができる。
(第5の実施形態)
続いて、本発明の第5の実施形態について説明する。本実施形態では、受光処理部3において、第1の実施形態と第4の実施形態とが組み合わされている。その他の点については、既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。図6は、本実施形態に係る濃度計測装置の受光処理部3を示すブロック図である。
続いて、本発明の第5の実施形態について説明する。本実施形態では、受光処理部3において、第1の実施形態と第4の実施形態とが組み合わされている。その他の点については、既述の実施形態と同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。図6は、本実施形態に係る濃度計測装置の受光処理部3を示すブロック図である。
図6に示されるように、受光処理部3は、第1参照信号生成部26と、第2参照信号生成部27と、切替器28とを備えている。
バンドパスフィルタ11を通過したバンドパス信号eは、第1参照信号生成部26、第2参照信号生成部27、及び差動増幅器16に供給される。
第1参照信号生成部26は、第1の実施形態と同様に、振幅抽出部18と正弦波発振器15を備えている。第1参照信号生成部26は、振幅抽出部18によって変調波成分の振幅を求める。そして、正弦波発振器15により、変調波成分が第1参照信号h1として再現される。第1参照信号h1は切替器28に供給される。
第2参照信号生成部27は、第4の実施形態と同様に、バンドパスフィルタ20、増幅器21、及び位相調整器22を備えている。第2参照信号生成部27は、第5の実施形態と同様に、f成分信号jを生成し、これを第2参照信号h2として切替器28に供給する。
切替器28は、第1参照信号h1と第2参照信号h2との切り換えを行う。切替器28により、第1参照信号h1と第2参照信号h2のうちのいずれかが、差動増幅器16に供給される。差動増幅器16は、バンドパス信号eを、第1参照信号h1と第2参照信号h2のうちの一方により差動増幅し、吸収信号iを生成する。ここで、切替器28は、吸収信号iに含まれるノイズ成分が少なくなるように、第1参照信号h1と第2参照信号h2の切り替えを行う。
以上説明したように、本実施形態によれば、切替器28によって、第1参照信号h1と第2参照信号h2とが切り換えられる。第1参照信号と第2参照信号とで、よりノイズ成分が少なくなるような信号を選択的に用いることができる。
以上、第1〜5の実施形態について説明した。但し、これらの実施形態は互いに独立するものではなく、矛盾の無い範囲内で組み合わせて用いることも可能である。例えば、第2の実施形態と第4の実施形態とを組み合わせることも可能である。すなわち、吸収信号iに基づいて、f成分信号jの位相が調整されてもよい。
1 濃度計測装置
2 発光制御部
3 受光処理部
4 搬送波発生器
5 変調波発生器
5−1 第1変調波発生器
5−2 第2変調波発生器
6 加算器
7 レーザダイオードドライバ
8 レーザダイオード
9 計測対象ガス領域
10 フォトダイオード
11 バンドパスフィルタ
12 アナログ/デジタルコンバータ
13 同期検波器
14 ローパスフィルタ
15 正弦波発生器
16 差動増幅器
17 濃度算出部
18 振幅抽出部
19 位相調整器
20 バンドパスフィルタ
21 増幅器
22 位相調整器
23 フィードバック制御器
24−1 位相調整器
24−2 位相調整器
25 加算器
26 第1参照信号生成部
27 第2参照信号生成部
28 切替器
29 同調波発生器
30 加算器
31 デジタル/アナログコンバータ
a 搬送波信号
b 変調波信号
c 合成信号
d 受光信号
e バンドパス信号
f 同期検波信号
g ローパス信号
h 参照信号
i 吸収信号
j f成分信号
2 発光制御部
3 受光処理部
4 搬送波発生器
5 変調波発生器
5−1 第1変調波発生器
5−2 第2変調波発生器
6 加算器
7 レーザダイオードドライバ
8 レーザダイオード
9 計測対象ガス領域
10 フォトダイオード
11 バンドパスフィルタ
12 アナログ/デジタルコンバータ
13 同期検波器
14 ローパスフィルタ
15 正弦波発生器
16 差動増幅器
17 濃度算出部
18 振幅抽出部
19 位相調整器
20 バンドパスフィルタ
21 増幅器
22 位相調整器
23 フィードバック制御器
24−1 位相調整器
24−2 位相調整器
25 加算器
26 第1参照信号生成部
27 第2参照信号生成部
28 切替器
29 同調波発生器
30 加算器
31 デジタル/アナログコンバータ
a 搬送波信号
b 変調波信号
c 合成信号
d 受光信号
e バンドパス信号
f 同期検波信号
g ローパス信号
h 参照信号
i 吸収信号
j f成分信号
Claims (20)
- 計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部と、
前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を算出する受光処理部と、
を具備し、
前記受光処理部は、
前記受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求める振幅抽出部と、
前記振幅抽出部で求めた振幅に基づいて、参照信号を生成する参照信号生成部と、
前記受光信号と前記参照信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器と、
前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出する濃度算出部とを備える
濃度計測装置。 - 請求項1に記載された濃度計測装置であって、
前記変調波は、正弦波であり、
前記参照信号生成部は、前記参照信号として、前記振幅抽出部で求められた振幅を有する正弦波信号を発振する
濃度計測装置。 - 請求項1又は2に記載された濃度計測装置であって、
前記受光処理部は、更に、前記受光信号から、周波数fから2fまでの成分を抽出して、バンドパス信号を生成するバンドパスフィルタを備え、
前記差動増幅器は、前記バンドパス信号を前記参照信号で差動増幅することにより、前記吸収信号を生成する
濃度計測装置。 - 請求項3に記載された濃度計測装置であって、
前記振幅抽出部は、
前記バンドパス信号を、周波数fで同期検波し、同期検波信号を生成する同期検波器と、
前記同期検波信号の低周波成分を抽出し、ローパス信号を抽出するローパスフィルタとを備える
濃度計測装置。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載された濃度計測装置であって、
前記受光処理部は、更に、前記吸収信号に基づいて、前記参照信号生成器で生成される前記参照信号の位相を調整する、フィードバック制御器を備える
濃度計測装置。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載された濃度計測装置であって、
前記発光制御部は、前記レーザ光の波長を、周波数がf1である第1変調波と周波数がf2である第2変調波とによって変調するように構成されており、
前記振幅抽出部は、
前記受光信号のうちの周波数f1の成分の振幅を求める第1振幅抽出部と、
前記受光信号のうちの周波数f2の成分の振幅を求める第2振幅抽出部とを備え、
前記参照信号生成部は、
前記第1振幅抽出部で求められた振幅に基づいて、第1参照信号要素を生成する第1参照信号生成部と、
前記第2振幅抽出部で求められた振幅に基づいて、第2参照信号要素を生成する第2参照信号生成部と、
前記第1参照信号要素と前記第2参照信号要素とを加算し、前記参照信号を生成する加算器とを備えている
濃度計測装置。 - 請求項1乃至6のいずれかに記載された濃度計測装置であって、
前記受光処理部は、更に、
前記受光信号から周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するバンドパスフィルタと、
前記参照信号と前記f成分信号の一方を選択的に通過させて前記差動増幅器に供給する切替器とを備える
濃度計測装置。 - 計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御する、発光制御部と、
前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を算出する受光処理部と、
を具備し、
前記受光処理部は、
前記受光信号のうちの周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するf成分バンドパスフィルタと、
前記受光信号と前記f成分信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成する差動増幅器と、
前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出する濃度算出部とを備える
濃度計測装置。 - 請求項8に記載された濃度計測装置であって、
前記受光処理部は、更に、前記受光信号から、周波数fから2fまでの成分を抽出して、バンドパス信号を生成するバンドパスフィルタを備え、
前記f成分バンドパスフィルタは、前記バンドパス信号から前記周波数fの成分を抽出し、
前記差動増幅器は、前記バンドパス信号を前記f成分信号で差動増幅することにより、前記吸収信号を生成する
濃度計測装置。 - 請求項8又は9に記載された濃度計測装置であって、
前記受光処理部は、更に、前記バンドパス信号の位相を調整する位相調整器を備えている
濃度計測装置。 - 計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御するステップと、
前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を計測するステップと、
を具備し、
前記濃度を計測するステップは、
前記受光信号のうちの周波数fの成分の振幅を求めるステップと、
前記振幅を求めるステップで求められた振幅に基づいて、参照信号を生成するステップと、
前記受光信号と前記参照信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成するステップと、
前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出するステップとを備える
濃度計測方法。 - 請求項11に記載された濃度計測方法であって、
前記変調波は、正弦波であり、
前記参照信号を生成するステップは、前記参照信号として、前記振幅を求めるステップで求められた振幅を有する正弦波信号を発振するステップを含んでいる
濃度計測方法。 - 請求項11又は12に記載された濃度計測方法であって、
前記濃度を計測するステップは、更に、前記受光信号から、周波数fから2fまでの成分を抽出して、バンドパス信号を生成するステップを備え、
前記吸収信号を生成するステップは、前記バンドパス信号を前記参照信号で差動増幅することにより、前記吸収信号を生成するステップを含んでいる
濃度計測方法。 - 請求項13に記載された濃度計測方法であって、
前記振幅を求めるステップは、
前記バンドパス信号を、周波数fで同期検波し、同期検波信号を生成するステップと、
前記同期検波信号の低周波成分を抽出し、ローパス信号を抽出するステップとを備える
濃度計測方法。 - 請求項11乃至14のいずれかに記載された濃度計測方法であって、
前記濃度を計測するステップは、更に、前記吸収信号に基づいて、前記参照信号の位相を調整するステップを備える
濃度計測方法。 - 請求項11乃至15のいずれかに記載された濃度計測方法であって、
前記制御するステップは、前記レーザ光の波長を、周波数がf1である第1変調波と周波数がf2である第2変調波とによって変調するステップを含み、
前記振幅を求めるステップは、
前記受光信号のうちの周波数f1の成分の振幅を第1振幅として求めるステップと、
前記受光信号のうちの周波数f2の成分の振幅を第2振幅として求めるステップとを備え、
前記参照信号を生成するステップは、
前記第1振幅に基づいて、第1参照信号要素を生成するステップと、
前記第2振幅に基づいて、第2参照信号要素を生成するステップと、
前記第1参照信号要素と前記第2参照信号要素とを加算し、前記参照信号を生成するステップとを備えている
濃度計測方法。 - 請求項11乃至16のいずれかに記載された濃度計測方法であって、
前記濃度を計測するステップは、更に、
前記受光信号から周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するステップと、
前記参照信号と前記f成分信号の一方を選択的に通過させるステップとを備え、
前記吸収信号を生成するステップは、前記通過させるステップで通過した信号に基づいて、前記吸収信号を生成するステップを含んでいる
濃度計測方法。 - 計測対象に向けてレーザ光を出射するレーザダイオードを、前記レーザ光の波長が周波数fの変調波で変調されるように制御するステップと、
前記計測対象を透過した前記レーザ光を受光するフォトダイオードから受光信号を取得し、前記受光信号に基づいて前記計測対象の濃度を計測するステップと、
を具備し、
前記濃度を計測するステップは、
前記受光信号のうちの周波数fの成分を抽出し、f成分信号を生成するステップと、
前記受光信号と前記f成分信号とに基づいて、前記計測対象によるレーザ光の吸収量を示す吸収信号を生成するステップと、
前記吸収信号に基づいて、前記計測対象の濃度を算出するステップとを備える
濃度計測方法。 - 請求項18に記載された濃度計測方法であって、
前記濃度を計測するステップは、更に、前記受光信号から、周波数fから2fまでの成分を抽出して、バンドパス信号を生成するステップを備え、
前記f成分信号を生成するステップは、前記バンドパス信号から前記周波数fの成分を抽出するステップを含んでおり、
前記吸収信号を生成するステップは、前記バンドパス信号を前記f成分信号で差動増幅することにより、前記吸収信号を生成するステップを含んでいる
濃度計測方法。 - 請求項18又は19に記載された濃度計測方法であって、
前記濃度を計測するステップは、更に、前記バンドパス信号の位相を調整するステップを含んでいる
濃度計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009010393A JP2010169449A (ja) | 2009-01-20 | 2009-01-20 | 濃度計測装置及び濃度計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009010393A JP2010169449A (ja) | 2009-01-20 | 2009-01-20 | 濃度計測装置及び濃度計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010169449A true JP2010169449A (ja) | 2010-08-05 |
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ID=42701752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009010393A Withdrawn JP2010169449A (ja) | 2009-01-20 | 2009-01-20 | 濃度計測装置及び濃度計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010169449A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012115149A1 (ja) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置およびレーザ計測装置 |
WO2012115150A1 (ja) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置およびレーザ計測装置 |
JP2013113647A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Fuji Electric Co Ltd | レーザ式ガス分析計 |
WO2015025919A1 (ja) * | 2013-08-21 | 2015-02-26 | 国立大学法人徳島大学 | レーザ光を用いたガス分析装置及びガス分析方法 |
JPWO2017119282A1 (ja) * | 2016-01-06 | 2018-11-22 | 国立大学法人徳島大学 | レーザ光を用いたガス分析装置及びそれに用いる計測セル |
-
2009
- 2009-01-20 JP JP2009010393A patent/JP2010169449A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012115149A1 (ja) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置およびレーザ計測装置 |
WO2012115150A1 (ja) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | 三菱重工業株式会社 | 信号処理装置およびレーザ計測装置 |
JP2013113647A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Fuji Electric Co Ltd | レーザ式ガス分析計 |
WO2015025919A1 (ja) * | 2013-08-21 | 2015-02-26 | 国立大学法人徳島大学 | レーザ光を用いたガス分析装置及びガス分析方法 |
JP2015040747A (ja) * | 2013-08-21 | 2015-03-02 | 国立大学法人徳島大学 | レーザ光を用いたガス分析装置及びガス分析方法 |
US10302563B2 (en) | 2013-08-21 | 2019-05-28 | Tokushima University | Apparatus and method of gas analysis using laser light |
JPWO2017119282A1 (ja) * | 2016-01-06 | 2018-11-22 | 国立大学法人徳島大学 | レーザ光を用いたガス分析装置及びそれに用いる計測セル |
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