JP5370414B2 - Manufacturing method of adhesive sheet - Google Patents

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Description

本発明は、接着シート及びその製造方法、並びに、半導体装置の製造方法及び半導体装置に関する。   The present invention relates to an adhesive sheet, a manufacturing method thereof, a manufacturing method of a semiconductor device, and a semiconductor device.

従来、半導体素子と半導体素子搭載用の支持部材との接合には銀ペーストが主に使用されている。しかし、近年の半導体素子の小型化・高性能化に伴い、使用される支持部材にも小型化・細密化が要求されるようになってきている。こうした要求に対して、銀ペーストでは、はみ出しや半導体素子の傾きに起因するワイヤボンディング時における不具合の発生、銀ペーストからなる接着剤層の膜厚の制御困難性、及び接着剤層のボイド発生などにより上記要求に対処しきれなくなってきている。   Conventionally, silver paste is mainly used for joining a semiconductor element and a support member for mounting the semiconductor element. However, with the recent miniaturization and high performance of semiconductor elements, the support members used are required to be small and fine. In response to these requirements, silver paste causes problems during wire bonding due to protrusions and inclination of semiconductor elements, difficulty in controlling the thickness of the adhesive layer made of silver paste, and generation of voids in the adhesive layer. As a result, it has become impossible to meet the above requirements.

そのため、上記要求に対処するべく、近年、フィルム状の接着剤が使用されるようになってきた。このフィルム状接着剤は、個片貼付け方式あるいはウェハ裏面貼付け方式において使用されている。フィルム状接着剤を用いて個片貼付け方式により半導体装置を作製する場合には、まず、ロール状(リール状)に巻き取られたフィルム状接着剤をカッティング又はパンチングによって任意のサイズに切り出し、フィルム状接着剤の個片を得る。この個片を、半導体素子搭載用の支持部材に貼り付け、フィルム状接着剤付き支持部材を得る。その後、ダイシング工程によって個片化した半導体素子をフィルム状接着剤付き支持部材に接合(ダイボンド)して半導体素子付き支持部材を作製する。更に、必要に応じてワイヤボンド工程、封止工程等を経ることにより半導体装置を作製する。   For this reason, film adhesives have been used in recent years to meet the above requirements. This film-like adhesive is used in an individual piece attaching method or a wafer back surface attaching method. When a semiconductor device is manufactured by using a film-like adhesive and a single-piece pasting method, first, the film-like adhesive wound up in a roll shape (reel shape) is cut out to an arbitrary size by cutting or punching. A piece of adhesive is obtained. This piece is attached to a support member for mounting a semiconductor element to obtain a support member with a film adhesive. Then, the semiconductor element separated by the dicing process is joined (die-bonded) to the support member with a film adhesive to produce a support member with a semiconductor element. Furthermore, a semiconductor device is manufactured through a wire bonding process, a sealing process, and the like as necessary.

しかし、個片貼付け方式においてフィルム状接着剤を用いる場合には、フィルム状接着剤を切り出して支持部材に接着するための専用の組立装置が必要であるため、銀ペーストを使用する方法に比べて製造コストが高くなるという問題があった。   However, in the case of using a film adhesive in the piece pasting method, a dedicated assembly device for cutting out the film adhesive and bonding it to the support member is necessary, so compared with the method using silver paste There was a problem that the manufacturing cost was high.

一方、フィルム状接着剤を用いてウェハ裏面貼付け方式により半導体装置を作製する場合には、まず、半導体ウェハの回路面とは反対側の面(裏面)にフィルム状接着剤を貼付け、更にフィルム状接着剤の半導体ウェハ側と反対側の面にダイシングテープを貼り合わせる。次に、ダイシングによって半導体ウェハ及びフィルム状接着剤を個片化し、フィルム状接着剤付き半導体素子を得る。得られたフィルム状接着剤付き半導体素子をピックアップし、それを半導体素子搭載用の支持部材に接合(ダイボンド)する。その後、加熱、硬化、ワイヤボンド等の工程を経ることにより半導体装置を作製する。   On the other hand, when a semiconductor device is manufactured by using a film-like adhesive by a wafer backside attachment method, first, a film-like adhesive is attached to the surface (backside) opposite to the circuit surface of the semiconductor wafer. A dicing tape is bonded to the surface of the adhesive opposite to the semiconductor wafer. Next, the semiconductor wafer and the film adhesive are separated into pieces by dicing to obtain a semiconductor element with a film adhesive. The obtained semiconductor element with a film adhesive is picked up and bonded (die-bonded) to a support member for mounting the semiconductor element. Thereafter, a semiconductor device is manufactured through processes such as heating, curing, and wire bonding.

このフィルム状接着剤を用いたウェハ裏面貼付け方式は、フィルム状接着剤付き半導体素子を支持部材に接合するため、フィルム状接着剤を個片化するための専用の装置を必要とせず、従来の銀ペースト用の組立装置をそのまま又は熱盤を付加するなどの装置の一部を改良することにより使用できる。そのため、フィルム状接着剤を用いた半導体装置の組立方法の中で製造コストが比較的安く抑えられる方法として注目されている。   The wafer back surface pasting method using the film adhesive does not require a dedicated device for separating the film adhesive into individual pieces because the semiconductor element with the film adhesive is bonded to the support member. The assembly apparatus for silver paste can be used as it is or by modifying a part of the apparatus such as adding a hot platen. For this reason, the semiconductor device is attracting attention as a method that can be manufactured at a relatively low cost among the methods for assembling a semiconductor device using a film adhesive.

しかし、フィルム状接着剤を用いた上記のウェハ裏面貼付け方式においては、半導体ウェハのダイシングを行うまでに、フィルム状接着剤を半導体ウェハに貼付する工程とダイシングテープをフィルム状接着剤に貼付する工程との2つの貼付工程が必要である。そこで、このプロセスを簡略化するために、フィルム状接着剤とダイシングテープとを貼り合わせ、一枚で両方の機能を併せ持つ接着シート(ダイボンドダイシングシート)が開発されている(例えば、特許文献1参照)。このような接着シートは、例えば、剥離基材/接着剤層/粘着フィルムの三層構造を有している。   However, in the wafer back surface pasting method using the film adhesive, the process of applying the film adhesive to the semiconductor wafer and the process of applying the dicing tape to the film adhesive before dicing the semiconductor wafer. And two pasting steps are required. Therefore, in order to simplify this process, an adhesive sheet (die-bonded dicing sheet) having both functions is developed by laminating a film adhesive and a dicing tape (see, for example, Patent Document 1). ). Such an adhesive sheet has, for example, a three-layer structure of release substrate / adhesive layer / adhesive film.

また、このような接着シートを、半導体素子を構成するウェハの形状にあらかじめ加工しておく方法(いわゆるプリカット加工)が知られている(例えば特許文献2参照)。かかるプリカット加工は、使用されるウェハの形状に合わせて樹脂層(接着剤層及び粘着フィルム)を打ち抜き、ウェハを貼り付ける部分以外の樹脂層を剥離しておく方法である。   In addition, there is known a method (so-called precut processing) in which such an adhesive sheet is processed in advance into the shape of a wafer constituting a semiconductor element (see, for example, Patent Document 2). Such pre-cut processing is a method in which a resin layer (an adhesive layer and an adhesive film) is punched in accordance with the shape of a wafer to be used, and a resin layer other than a portion to which the wafer is attached is peeled off.

プリカット加工が施された接着シートは、例えば、図11(a)に示すような構造を有している。また、図11(b)は図11(a)の接着シート200のX−X端面図であり、剥離基材1上に接着剤層2が積層され、その上にさらに粘着フィルム3が、剥離基材1側が粘着性を有する面となるようにして積層されている。なお、粘着フィルム3は接着剤層2を覆い、且つ、接着剤層2の周囲で剥離基材1に接するように積層されており、これにより、半導体ウェハのダイシングを行う際に、半導体ウェハの外周部のウェハリングに粘着フィルム3を貼り付けて接着シート200を固定することができるようになっている。   The adhesive sheet that has been subjected to the pre-cut processing has a structure as shown in FIG. Moreover, FIG.11 (b) is XX end elevation of the adhesive sheet 200 of Fig.11 (a), the adhesive layer 2 is laminated | stacked on the peeling base material 1, and the adhesion film 3 peels further on it. The substrates 1 are laminated so that the substrate 1 side has a sticky surface. The pressure-sensitive adhesive film 3 covers the adhesive layer 2 and is laminated so as to be in contact with the peeling substrate 1 around the adhesive layer 2, so that when the semiconductor wafer is diced, The adhesive sheet 3 can be fixed by affixing the adhesive film 3 to the wafer ring on the outer periphery.

かかるプリカット加工を施す場合、上記の接着シートは一般的に、フィルム状接着剤において接着剤層をウェハ形状に合わせてプリカット加工し、それとダイシングテープとを貼り合わせた後、このダイシングテープに対してウェハリング形状に合わせたプリカット加工を施すか、又は、あらかじめウェハリング形状にプリカット加工したダイシングテープを、プリカット加工したフィルム状接着剤と貼り合わせることによって作製される。   When performing such pre-cut processing, the above adhesive sheet is generally pre-cut with a film-like adhesive in accordance with the wafer shape of the adhesive layer, bonded to the dicing tape, and then attached to the dicing tape. It is manufactured by applying a pre-cut process in accordance with the wafer ring shape, or by bonding a dicing tape pre-cut into a wafer ring shape in advance with a pre-cut film adhesive.

特開平7−45557号公報JP 7-45557 A 実公平6−18383号公報Japanese Utility Model Publication No. 6-18383

上記プリカット加工が施された接着シート200は、通常、図12に示すように長尺の剥離基材1を用いて円筒状の巻き芯11に巻きつけて、ロール状の接着シートロール210として提供される。このとき、上記接着シート200等の従来のプリカット加工が施された接着シートでは、以下のような不具合が生じることを本発明者らは見出した。すなわち、上記プリカット加工が施された接着シート200においては、図11(b)に示すように、部分的に接着剤層2と粘着フィルム3とを積層するため、接着剤層2と粘着フィルム3との積層部分が他の部分よりも厚くなる。そのため、接着シートロールの直径が大きくなったり、巻き取り時の張力が高くなった場合、図13(a)に示すように、接着剤層2の部分に他の接着剤層2の巻き跡12が転写され、図13(a)のY−Y端面図である図13(b)に示すように、フィルムの平滑性が損なわれることがある。また、接着剤層2の厚みが厚くなった場合、巻き跡12が更に転写されやすくなる。これら巻き跡12の転写により接着シート200に平滑性の欠陥があると、接着シート200を半導体ウェハへ貼り付けた時に半導体ウェハと接着剤層2との間に空気を巻き込み、半導体装置組み立て方法上、不具合が生じることがある。   The adhesive sheet 200 subjected to the pre-cut processing is normally provided as a roll-shaped adhesive sheet roll 210 by being wound around a cylindrical winding core 11 using a long release substrate 1 as shown in FIG. Is done. At this time, the present inventors have found that the following problems occur in the adhesive sheet subjected to the conventional precut processing such as the adhesive sheet 200. That is, in the adhesive sheet 200 subjected to the pre-cut processing, as shown in FIG. 11 (b), the adhesive layer 2 and the adhesive film 3 are partially laminated with the adhesive layer 2 and the adhesive film 3. The laminated part becomes thicker than other parts. Therefore, when the diameter of the adhesive sheet roll becomes large or the tension at the time of winding becomes high, as shown in FIG. As shown in FIG. 13 (b), which is a YY end view of FIG. 13 (a), the smoothness of the film may be impaired. Further, when the thickness of the adhesive layer 2 is increased, the winding marks 12 are further easily transferred. If the adhesive sheet 200 has a smooth defect due to the transfer of the traces 12, air is entrained between the semiconductor wafer and the adhesive layer 2 when the adhesive sheet 200 is attached to the semiconductor wafer. , Malfunctions may occur.

なお、接着シートとしては、図14(a)及び図14(a)のZ−Z端面図である図14(b)に示すように、ウェハ形状に合わせてプリカット加工された接着剤層2及び粘着フィルム3の外方にも粘着フィルム3が形成された接着シート220及び接着シートロール230も知られているが、この場合にも、上記と同様に接着剤層2に巻き跡12が転写され、半導体装置組み立て方法上の不具合が生じることがある。   In addition, as an adhesive sheet, as shown to FIG.14 (b) which is a ZZ end view of FIG.14 (a) and FIG.14 (a), the adhesive layer 2 pre-cut-processed according to the wafer shape, and The adhesive sheet 220 and the adhesive sheet roll 230 on which the adhesive film 3 is formed also outside the adhesive film 3 are known. In this case as well, the winding marks 12 are transferred to the adhesive layer 2 in the same manner as described above. In some cases, the semiconductor device assembly method may fail.

本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、プリカット加工等により所定の平面形状に形成された接着剤層を有する接着シートをロール状に巻き取った場合において、接着剤層に巻き跡が転写されることを十分に抑制し、被着体に接着剤層を貼り付ける際に空気の巻き込みによるボイドの発生を十分に抑制することが可能な接着シート及びその製造方法、並びに、上記接着シートを用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art, and in the case where an adhesive sheet having an adhesive layer formed in a predetermined planar shape by pre-cut processing or the like is wound into a roll, the adhesive Adhesive sheet capable of sufficiently suppressing the transfer of winding marks to the layer, and capable of sufficiently suppressing generation of voids due to air entrainment when the adhesive layer is attached to the adherend, and a method for producing the same, Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the adhesive sheet and a semiconductor device.

上記目的を達成するために、本発明は、剥離基材と、該剥離基材上に部分的に形成された所定の平面形状を有する接着剤層と、該接着剤層を覆い、且つ、該接着剤層の周囲で前記剥離基材に接するように形成された粘着フィルムと、を有する接着シートであって、前記接着剤層及び前記粘着フィルムの合計の膜厚と同等又はそれ以上の膜厚を有する支持層が、前記剥離基材上における前記粘着フィルムの外方に形成されていることを特徴とする接着シートを提供する。   In order to achieve the above object, the present invention provides a release substrate, an adhesive layer having a predetermined planar shape partially formed on the release substrate, covering the adhesive layer, and A pressure-sensitive adhesive film formed so as to be in contact with the peeling substrate around the adhesive layer, and having a film thickness equal to or greater than the total film thickness of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film Provided is an adhesive sheet, characterized in that a support layer having a surface is formed outside the pressure-sensitive adhesive film on the release substrate.

ここで、本発明において上記支持層の膜厚が上記接着剤層及び上記粘着フィルムの合計の膜厚と同等であるとは、支持層の膜厚が接着剤層及び粘着フィルムの合計の膜厚と実質的に同一であることを意味する。また、本発明において上記支持層の膜厚は、接着剤層及び粘着フィルムの合計の膜厚の1.0〜1.5倍であることが好ましい。なお、上記膜厚はそれぞれの層の最大膜厚を意味する。   Here, in the present invention, the film thickness of the support layer is equivalent to the total film thickness of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film. The film thickness of the support layer is the total film thickness of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film. Means substantially the same. In the present invention, the thickness of the support layer is preferably 1.0 to 1.5 times the total thickness of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film. In addition, the said film thickness means the maximum film thickness of each layer.

本発明の接着シートは、所定の平面形状に形成された接着剤層を有する接着シートであるが、剥離基材上の、半導体装置を製造する場合等に必要とされる接着剤層及び粘着フィルム以外の部分に、これらの積層部分と同等又はそれ以上の膜厚を有する支持層が形成されていることにより、接着シートをロール状に巻き取った際に、接着剤層に他の接着剤層の巻き跡が転写されることを十分に抑制することができる。従来の接着シートでは、接着剤層と粘着フィルムとの積層部分が他の部分に比べて厚くなるため、ロール状に巻き取ると、この積層部分に巻き取りの圧力が集中していた。そのため、この積層部分と粘着フィルムのみの部分との段差が巻き取りの圧力により他の接着剤層に転写されることとなる。これに対して本発明の接着シートは、支持層を備えることで、プリカット加工が施された接着シートにかかっていた巻き取りの圧力を分散するか或いは支持層に集めることができ、上記積層部分と粘着フィルム3のみの部分との段差が他の接着剤層に転写されることを抑制することが可能となる。そして、接着剤層への巻き跡の転写が抑制されることにより、半導体ウェハ等の被着体に接着剤層を貼り付ける際に、空気の巻き込みによるボイド等の発生を十分に抑制することができる。   The adhesive sheet of the present invention is an adhesive sheet having an adhesive layer formed in a predetermined planar shape, but is necessary for manufacturing a semiconductor device on a release substrate, and an adhesive film. In other parts, a support layer having a film thickness equal to or greater than these laminated parts is formed, so that when the adhesive sheet is wound up in a roll shape, another adhesive layer is added to the adhesive layer. It is possible to sufficiently suppress the transfer of the traces. In the conventional adhesive sheet, since the laminated portion of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film is thicker than the other portions, the winding pressure is concentrated on the laminated portion when it is rolled up. Therefore, the level difference between the laminated portion and the pressure-sensitive adhesive film is transferred to the other adhesive layer by the winding pressure. On the other hand, the adhesive sheet of the present invention is provided with a support layer, so that the winding pressure applied to the adhesive sheet subjected to the precut processing can be dispersed or collected in the support layer. It is possible to suppress the step between the adhesive film 3 and the adhesive film 3 from being transferred to another adhesive layer. And by suppressing the transfer of the traces to the adhesive layer, it is possible to sufficiently suppress the generation of voids and the like due to air entrainment when the adhesive layer is attached to an adherend such as a semiconductor wafer. it can.

また、本発明の接着シートにおいて、上記支持層は、上記接着剤層と同一組成の支持接着剤層及び上記粘着フィルムと同一組成の支持粘着フィルムが積層されてなるものであることが好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, the support layer is preferably formed by laminating a support adhesive layer having the same composition as the adhesive layer and a support adhesive film having the same composition as the adhesive film.

これにより、支持層を設けるために新たに粘着フィルム等を用意する必要がなく、プリカットの形状の変更のみで、容易に支持層を設けることができる。   Thereby, it is not necessary to newly prepare an adhesive film or the like for providing the support layer, and the support layer can be easily provided only by changing the shape of the precut.

また、上記支持層は、上記支持接着剤層と、該支持接着剤層を覆い、且つ、一部が前記剥離基材と接するように上記支持接着剤層上に積層された上記支持粘着フィルムと、からなるものであることが好ましい。   The support layer includes the support adhesive layer, the support adhesive film which covers the support adhesive layer and is laminated on the support adhesive layer so that a part thereof is in contact with the release substrate; It is preferable that it consists of.

このように、支持粘着フィルムの一部が剥離基材に接していることにより、支持層が剥離基材に貼り付けられた状態を十分に維持することができる。そのため、本発明の接着シートにおける接着剤層及び粘着フィルムを半導体ウェハに貼り付ける際に、半導体ウェハに貼り付けるべき接着剤層及び粘着フィルムが剥離基材1から剥離する前に不要な部分である支持層が剥離して工程の不具合が発生することを十分に抑制することができる。   Thus, when a part of support adhesive film is in contact with the peeling base material, the state where the support layer was affixed on the peeling base material can fully be maintained. Therefore, when the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film in the adhesive sheet of the present invention are attached to the semiconductor wafer, the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film to be attached to the semiconductor wafer are unnecessary portions before peeling from the release substrate 1. It can fully suppress that a support layer peels and the malfunction of a process generate | occur | produces.

また、本発明の接着シートにおいて、前記剥離基材は長尺のものであり、上記支持層は、少なくとも上記剥離基材の短手方向(長手方向に直交する方向)の両端部上に形成されていることが好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, the release substrate is long, and the support layer is formed on at least both ends of the release substrate in the short direction (direction perpendicular to the longitudinal direction). It is preferable.

これにより、接着シートをロール状に巻き取った際に、接着剤層に他の接着剤層の巻き跡が転写されることをより十分に抑制することができる。そして、半導体ウェハ等の被着体に接着剤層を貼り付ける際に、空気の巻き込みによるボイド等の発生をより十分に抑制することができる。   Thereby, when an adhesive sheet is wound up in roll shape, it can suppress more fully that the trace of another adhesive bond layer is transcribe | transferred to an adhesive bond layer. And when sticking an adhesive bond layer to adherends, such as a semiconductor wafer, generation of a void etc. by entrainment of air can be controlled more fully.

また、本発明の接着シートにおいて、上記接着剤層及び上記粘着フィルムの少なくとも一方は、円形形状あるいは上記剥離基材を剥離した後に上記接着剤層又は上記粘着フィルムを貼り付けるべき被着体の平面形状に合致する平面形状を有していることが好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, at least one of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film is a flat surface of an adherend to which the adhesive layer or the pressure-sensitive adhesive film is to be attached after peeling off the circular shape or the release substrate. It preferably has a planar shape that matches the shape.

上記被着体としては、例えば半導体ウェハが挙げられるが、この半導体ウェハの平面形状に合致する平面形状を接着剤層が有していることにより、半導体ウェハをダイシングする工程が容易となる傾向がある。なお、接着剤層の平面形状は、半導体ウェハの平面形状に完全に一致している必要はなく、例えば、半導体ウェハの平面形状よりもやや大きい平面形状であってもよい。また、一般的に半導体ウェハは円の外周の一部が直線である平面形状を有しているため、接着シートの平面形状が円形形状である場合でも、一般的な半導体ウェハへの接着剤層の貼り付け、及び、半導体ウェハのダイシングを容易に行うことが可能となる傾向にある。   Examples of the adherend include a semiconductor wafer, and the adhesive layer has a planar shape that matches the planar shape of the semiconductor wafer, which tends to facilitate the process of dicing the semiconductor wafer. is there. Note that the planar shape of the adhesive layer does not need to completely match the planar shape of the semiconductor wafer, and may be a slightly larger planar shape than the planar shape of the semiconductor wafer, for example. Moreover, since the semiconductor wafer generally has a planar shape in which a part of the outer periphery of the circle is a straight line, even when the planar shape of the adhesive sheet is a circular shape, the adhesive layer on the general semiconductor wafer And the semiconductor wafer dicing tend to be easily performed.

また、本発明の接着シートにおいて、上記接着剤層は、熱可塑性樹脂及び熱重合性成分を含有してなるものであることが好ましい。   Moreover, the adhesive sheet of this invention WHEREIN: It is preferable that the said adhesive bond layer contains a thermoplastic resin and a thermopolymerizable component.

これにより、かかる接着剤層を介して、半導体素子を半導体素子搭載用の支持部材あるいは別の半導体素子に十分に固定することができる。   Thereby, the semiconductor element can be sufficiently fixed to the supporting member for mounting the semiconductor element or another semiconductor element via the adhesive layer.

ここで、上記熱可塑性樹脂は、官能性モノマーを含む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分であることが好ましい。これにより、半導体装置作製における作業環境下でフィルム形状を維持し、取り扱い易い接着シートにすることができる。また、重量平均分子量が10万以上である高分子量成分を用いることにより、接着剤層の室温での硬さを高めることができ、接着シートを巻き取った際の圧力により接着剤層に巻き跡が転写されることを抑制することができる。更に、何らかの原因で接着剤層に巻き跡の転写が生じた場合でも、上記の熱可塑性樹脂を用いていることで、接着剤層を半導体ウェハに貼り付ける際の熱により容易に変形し、ボイドを低減することができる。   Here, the thermoplastic resin is preferably a high molecular weight component having a functional monomer and a weight average molecular weight of 100,000 or more. Thereby, it can be set as the adhesive sheet which maintains a film shape in the working environment in semiconductor device manufacture, and is easy to handle. Moreover, by using a high molecular weight component having a weight average molecular weight of 100,000 or more, the hardness of the adhesive layer at room temperature can be increased, and the adhesive layer is traced by the pressure when the adhesive sheet is wound up. Can be prevented from being transferred. Furthermore, even when the transfer of the winding mark occurs in the adhesive layer for some reason, the use of the above thermoplastic resin makes it easy to deform due to heat when the adhesive layer is attached to the semiconductor wafer. Can be reduced.

また、上記高分子量成分は、エポキシ基含有(メタ)アクリル酸エステル共重合体であることが好ましい。これにより、かかる接着剤層を介して、半導体装置作製の作業の中で、半導体素子を半導体素子搭載用の支持部材あるいは別の半導体素子に十分に固定することができ、作製上の不具合を低減することができる。   The high molecular weight component is preferably an epoxy group-containing (meth) acrylic acid ester copolymer. As a result, the semiconductor element can be sufficiently fixed to the supporting member for mounting the semiconductor element or another semiconductor element through the adhesive layer in the process of manufacturing the semiconductor device, thereby reducing manufacturing problems. can do.

また、上記熱重合性成分は、エポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤を含有してなるものであることが好ましい。これにより、かかる接着剤層を介して、半導体装置作製後、半導体素子を半導体素子搭載用の支持部材あるいは別の半導体素子に十分に固定することができ、半導体装置が使用される環境下で半導体装置の破損や故障を防ぐことができる。   Moreover, it is preferable that the said thermopolymerizable component contains an epoxy resin and an epoxy resin hardening | curing agent. Accordingly, after the semiconductor device is manufactured through the adhesive layer, the semiconductor element can be sufficiently fixed to the semiconductor element mounting support member or another semiconductor element, and the semiconductor device can be used in an environment where the semiconductor device is used. Damage or failure of the device can be prevented.

また、本発明の接着シートにおいて、上記接着剤層は、25℃での硬化前の貯蔵弾性率が10〜10000MPaであり、且つ、260℃での硬化後の貯蔵弾性率が0.5〜30MPaであることが好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, the adhesive layer has a storage elastic modulus before curing at 25 ° C. of 10 to 10,000 MPa, and a storage elastic modulus after curing at 260 ° C. of 0.5 to 30 MPa. It is preferable that

ここで、本発明における貯蔵弾性率は、強制振動非共振法による引張り試験によって求めることができる。   Here, the storage elastic modulus in this invention can be calculated | required by the tension test by a forced vibration non-resonance method.

本発明の接着シートにおいて、接着剤層が上記範囲の貯蔵弾性率を有することにより、半導体素子と半導体素子搭載用の支持部材との間の応力を緩和し、幅広い温度域で十分な接着力を確保することが可能となる。これにより、半導体装置作製の作業中あるいは半導体装置が使用される環境下で、半導体装置の破損や故障を防ぐことができる。   In the adhesive sheet of the present invention, the adhesive layer has a storage elastic modulus in the above range, so that the stress between the semiconductor element and the supporting member for mounting the semiconductor element is relieved, and sufficient adhesive force is obtained in a wide temperature range. It can be secured. As a result, the semiconductor device can be prevented from being damaged or broken during the manufacturing process of the semiconductor device or in an environment where the semiconductor device is used.

更に、本発明の接着シートは、高エネルギー線の照射により、上記接着剤層と上記粘着フィルムとの間の粘着力が低下することが好ましい。   Furthermore, in the adhesive sheet of the present invention, it is preferable that the adhesive force between the adhesive layer and the adhesive film is reduced by irradiation with high energy rays.

これにより、接着剤層と粘着フィルムとを剥離する際において、高エネルギー線を照射することにより、剥離が容易に可能となる。   Thereby, when peeling an adhesive bond layer and an adhesive film, peeling becomes possible easily by irradiating a high energy ray.

本発明はまた、上記本発明の接着シートを製造するための接着シートの製造方法であって、剥離基材上に接着剤層を積層する第1の積層工程と、上記接着剤層の上記剥離基材に接する側と反対側の面から上記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、所定の平面形状の接着剤層と、該接着剤層の外方に配置される支持接着剤層とを形成する第1の切断工程と、上記所定の平面形状の接着剤層上に、該接着剤層を覆い、且つ、該接着剤層の周囲で上記剥離基材に接するように粘着フィルムを積層するとともに、上記支持接着剤層上に、上記粘着フィルムと同一組成であり、且つ、上記粘着フィルムの膜厚と同等又はそれ以上の膜厚を有する支持粘着フィルムを積層する第2の積層工程と、を含むことを特徴とする接着シートの製造方法を提供する。   The present invention is also a method for producing an adhesive sheet for producing the adhesive sheet of the present invention, wherein a first laminating step of laminating an adhesive layer on a release substrate and the peeling of the adhesive layer are performed. Cut from the surface opposite to the side in contact with the substrate until it reaches the release substrate to form a predetermined planar adhesive layer and a supporting adhesive layer disposed outside the adhesive layer A first cutting step, and an adhesive film is laminated on the adhesive layer having the predetermined planar shape so as to cover the adhesive layer and to contact the release substrate around the adhesive layer. And a second laminating step of laminating a supporting adhesive film having the same composition as the adhesive film and having a film thickness equal to or greater than the film thickness of the adhesive film on the supporting adhesive layer. A method for producing an adhesive sheet is provided.

本発明はまた、上記本発明の接着シートを製造するための接着シートの製造方法であって、剥離基材上に接着剤層を積層する第1の積層工程と、上記接着剤層の上記剥離基材に接する側と反対側の面から上記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、所定の平面形状の接着剤層と、該接着剤層の外方に配置される支持接着剤層とを形成する第1の切断工程と、上記所定の平面形状の接着剤層、上記支持接着剤層及び上記剥離基材を覆うように、粘着フィルムを積層する第3の積層工程と、上記粘着フィルムの上記剥離基材側と反対側の面から上記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、上記所定の平面形状の接着剤層を覆い、且つ、該接着剤層の周囲で上記剥離基材に接する上記粘着フィルムと、上記支持接着剤層上に配置される支持粘着フィルムとを形成する第2の切断工程と、を含むことを特徴とする接着シートの製造方法を提供する。   The present invention is also a method for producing an adhesive sheet for producing the adhesive sheet of the present invention, wherein a first laminating step of laminating an adhesive layer on a release substrate and the peeling of the adhesive layer are performed. Cut from the surface opposite to the side in contact with the substrate until it reaches the release substrate to form a predetermined planar adhesive layer and a supporting adhesive layer disposed outside the adhesive layer A first cutting step, a third laminating step of laminating an adhesive film so as to cover the adhesive layer having the predetermined planar shape, the supporting adhesive layer, and the release substrate, and the above-mentioned adhesive film The adhesive is cut from the surface opposite to the release substrate side until reaching the release substrate, covers the adhesive layer having the predetermined planar shape, and is in contact with the release substrate around the adhesive layer A supporting adhesive film disposed on the film and the supporting adhesive layer; To provide a production method of the adhesive sheet, characterized in that it comprises a second cutting step of forming the beam, the.

これらの接着シートの製造方法によれば、ロール状に巻き取った際に、接着剤層に他の接着剤層の巻き跡が転写されることを十分に抑制することが可能な本発明の接着シートを効率的に製造することができる。   According to these methods for producing an adhesive sheet, the adhesive according to the present invention can sufficiently suppress the transfer of the trace of the other adhesive layer to the adhesive layer when wound into a roll. A sheet can be manufactured efficiently.

上記本発明の接着シートの製造方法において、上記支持粘着フィルムを、一部が上記剥離基材と接するように上記支持接着剤層上に積層することが好ましい。また、上記剥離基材は長尺のものであり、上記支持接着剤層及び上記支持粘着フィルムを、少なくとも上記剥離基材の短手方向の両端部上に形成することが好ましい。また、上記接着剤層及び上記粘着フィルムの少なくとも一方を、円形形状あるいは上記剥離基材を剥離した後に上記接着剤層又は上記粘着フィルムを貼り付けるべき被着体の平面形状に合致する平面形状を有するものとすることが好ましい。また、上記接着剤層は、25℃での硬化前の貯蔵弾性率が10〜10000MPaであり、且つ、260℃での硬化後の貯蔵弾性率が0.5〜30MPaであるものであることが好ましい。更に、上記粘着フィルムは、高エネルギー線の照射により、上記接着剤層に対する粘着力が低下するものであることが好ましい。   In the method for producing an adhesive sheet of the present invention, the support adhesive film is preferably laminated on the support adhesive layer so that a part thereof is in contact with the release substrate. Moreover, the said peeling base material is a long thing, It is preferable to form the said support adhesive layer and the said support adhesive film on the both ends of the transversal direction of the said peeling base material at least. In addition, at least one of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film has a circular shape or a planar shape that matches the planar shape of the adherend to which the adhesive layer or the pressure-sensitive adhesive film is to be attached after peeling the release substrate. It is preferable to have it. In addition, the adhesive layer has a storage elastic modulus before curing at 25 ° C. of 10 to 10,000 MPa and a storage elastic modulus after curing at 260 ° C. of 0.5 to 30 MPa. preferable. Furthermore, it is preferable that the said adhesive film is what the adhesive force with respect to the said adhesive bond layer falls by irradiation of a high energy ray.

本発明はまた、上記本発明の接着シートにおいて、上記接着剤層及び上記粘着フィルムからなる積層体を上記剥離基材から剥離し、上記積層体を、上記接着剤層側の面から半導体ウェハに貼り付けて積層体付き半導体ウェハを得る貼り付け工程と、上記積層体付き半導体ウェハを、上記接着剤層と上記粘着フィルムとの界面までダイシングし、上記半導体ウェハを所定の大きさの半導体素子に切断するダイシング工程と、上記積層体に高エネルギー線を照射して上記粘着フィルムの上記接着剤層に対する粘着力を低下させた後、上記粘着フィルムから上記半導体素子を上記接着剤層とともにピックアップし、接着剤層付き半導体素子を得るピックアップ工程と、上記接着剤層付き半導体素子における上記半導体素子を、上記接着剤層を介して被着体に接着する接着工程と、を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。   The present invention also provides the adhesive sheet of the present invention, wherein the laminate comprising the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film is peeled off from the release substrate, and the laminate is applied to the semiconductor wafer from the surface on the adhesive layer side. Affixing step for obtaining a semiconductor wafer with a laminated body by pasting, dicing the semiconductor wafer with a laminated body to the interface between the adhesive layer and the adhesive film, and converting the semiconductor wafer into a semiconductor element of a predetermined size A dicing step for cutting, and after irradiating the laminate with high energy rays to reduce the adhesive force of the adhesive film to the adhesive layer, the semiconductor element is picked up from the adhesive film together with the adhesive layer, A pickup process for obtaining a semiconductor element with an adhesive layer, and the semiconductor element in the semiconductor element with the adhesive layer are interposed via the adhesive layer. To provide a method of manufacturing a semiconductor device which comprises a bonding step of bonding the adherend, the.

かかる製造方法によれば、その製造工程において本発明の接着シートを用いているため、半導体ウェハに接着剤層を貼り付ける際に、空気の巻き込みによるボイド等の発生を十分に抑制することができ、半導体装置を効率的に製造することができる。   According to this manufacturing method, since the adhesive sheet of the present invention is used in the manufacturing process, generation of voids due to air entrainment can be sufficiently suppressed when the adhesive layer is attached to the semiconductor wafer. A semiconductor device can be efficiently manufactured.

ここで、上記被着体は、半導体素子搭載用の支持部材、又は、別の半導体素子であることが好ましい。   Here, the adherend is preferably a support member for mounting a semiconductor element or another semiconductor element.

本発明は更に、上記本発明の半導体装置の製造方法により製造されていることを特徴とする半導体装置を提供する。   The present invention further provides a semiconductor device manufactured by the semiconductor device manufacturing method of the present invention.

本発明によれば、プリカット加工等により所定の平面形状に形成された接着剤層を有する接着シートをロール状に巻き取った場合において、接着剤層に巻き跡が転写されることを十分に抑制し、被着体に接着剤層を貼り付ける際に空気の巻き込みによるボイドの発生を十分に抑制することが可能な接着シート及びその製造方法、並びに、上記接着シートを用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供することができる。   According to the present invention, when an adhesive sheet having an adhesive layer formed in a predetermined planar shape by pre-cut processing or the like is wound up in a roll shape, it is sufficiently suppressed that the trace is transferred to the adhesive layer. An adhesive sheet capable of sufficiently suppressing the generation of voids due to air entrainment when an adhesive layer is attached to an adherend, a method for manufacturing the same, and a method for manufacturing a semiconductor device using the adhesive sheet In addition, a semiconductor device can be provided.

(a)は、本発明の接着シートの第1実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート100をA−A線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 1st Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a model end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 100 shown to (a) along an AA line | wire. It is. (a)は、本発明の接着シートの第2実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート110をB−B線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 2nd Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a model end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 110 shown to (a) along a BB line. It is. (a)は、本発明の接着シートの第3実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート120をC−C線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 3rd Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a model end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 120 shown to (a) along CC line. It is. (a)は、本発明の接着シートの第4実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート130をD−D線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 4th Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a model end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 130 shown to (a) along DD line. It is. (a)は、本発明の接着シートの第5実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート140をE−E線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 5th Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a model end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 140 shown to (a) along an EE line | wire. It is. (a)は、本発明の接着シートの第6実施形態を示す平面図であり、(b)は、(a)に示す接着シート150をF−F線に沿って切断した場合の模式端面図である。(A) is a top view which shows 6th Embodiment of the adhesive sheet of this invention, (b) is a typical end elevation at the time of cut | disconnecting the adhesive sheet 150 shown to (a) along a FF line | wire. It is. (a)〜(f)は本発明の接着シートの製造方法の第1実施形態を示す一連の工程図である。(A)-(f) is a series of process drawings which show 1st Embodiment of the manufacturing method of the adhesive sheet of this invention. (a)〜(g)は本発明の接着シートの製造方法の第2実施形態を示す一連の工程図である。(A)-(g) is a series of process drawings which shows 2nd Embodiment of the manufacturing method of the adhesive sheet of this invention. (a)〜(c)は、接着シートにおける積層体を半導体ウェハに貼り付ける作業を行う一連の工程図である。(A)-(c) is a series of process drawings which perform the operation | work which affixes the laminated body in an adhesive sheet on a semiconductor wafer. 本発明の半導体装置の一実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross section showing one embodiment of a semiconductor device of the present invention. (a)は、従来の接着シートの一例を模式的に示す平面図であり、(b)は、(a)のX−X端面図である。(A) is a top view which shows typically an example of the conventional adhesive sheet, (b) is XX end elevation of (a). 図11に示す接着シート200を円筒状の巻き芯に巻きつけてなる接着シートロールを示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the adhesive sheet roll formed by winding the adhesive sheet 200 shown in FIG. 11 around a cylindrical winding core. (a)は、図11に示す接着シート200に巻き跡が転写されている様子を示す模式図であり、(b)は、(a)のY−Y端面図である。(A) is a schematic diagram which shows a mode that the winding trace is transcribe | transferred to the adhesive sheet 200 shown in FIG. 11, (b) is a YY end view of (a). (a)は、従来の接着シートの他の一例を模式的に示す平面図であり、(b)は、(a)のZ−Z端面図である。(A) is a top view which shows typically another example of the conventional adhesive sheet, (b) is a ZZ end elevation of (a).

(接着シート)
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明では、同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。更に、図面の寸法比率は図示の比率に限られるものではない。
(Adhesive sheet)
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, the positional relationship such as up, down, left and right is based on the positional relationship shown in the drawings unless otherwise specified. Further, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the illustrated ratios.

図1〜6は、それぞれ本発明の接着シートの第1〜第6実施形態を示す模式図である。ここで、図1(a)は、本発明の接着シートの第1実施形態を示す平面図であり、図1(b)は、図1(a)に示す接着シート100を図1(a)のA−A線に沿って切断した場合の模式端面図である。図2(a)は、本発明の接着シートの第2実施形態を示す平面図であり、図2(b)は、図2(a)に示す接着シート110を図2(a)のB−B線に沿って切断した場合の模式端面図である。図3(a)は、本発明の接着シートの第3実施形態を示す平面図であり、図3(b)は、図3(a)に示す接着シート120を図3(a)のC−C線に沿って切断した場合の模式端面図である。図4(a)は、本発明の接着シートの第4実施形態を示す平面図であり、図4(b)は、図4(a)に示す接着シート130を図4(a)のD−D線に沿って切断した場合の模式端面図である。図5(a)は、本発明の接着シートの第5実施形態を示す平面図であり、図5(b)は、図5(a)に示す接着シート140を図5(a)のE−E線に沿って切断した場合の模式端面図である。図6(a)は、本発明の接着シートの第6実施形態を示す平面図であり、図6(b)は、図6(a)に示す接着シート150を図6(a)のF−F線に沿って切断した場合の模式端面図である。   1-6 is a schematic diagram which shows 1st-6th embodiment of the adhesive sheet of this invention, respectively. Here, Fig.1 (a) is a top view which shows 1st Embodiment of the adhesive sheet of this invention, FIG.1 (b) shows the adhesive sheet 100 shown to Fig.1 (a) in Fig.1 (a). It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along the AA line. Fig.2 (a) is a top view which shows 2nd Embodiment of the adhesive sheet of this invention, FIG.2 (b) shows the adhesive sheet 110 shown to Fig.2 (a) by B- of Fig.2 (a). It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along a B line. FIG. 3A is a plan view showing a third embodiment of the adhesive sheet of the present invention, and FIG. 3B shows the adhesive sheet 120 shown in FIG. It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along a C line. FIG. 4A is a plan view showing a fourth embodiment of the adhesive sheet of the present invention, and FIG. 4B shows the adhesive sheet 130 shown in FIG. It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along D line. Fig.5 (a) is a top view which shows 5th Embodiment of the adhesive sheet of this invention, FIG.5 (b) shows E- of FIG.5 (a) for the adhesive sheet 140 shown to Fig.5 (a). It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along E line. FIG. 6A is a plan view showing a sixth embodiment of the adhesive sheet of the present invention, and FIG. 6B shows the adhesive sheet 150 shown in FIG. It is a model end elevation at the time of cut | disconnecting along F line.

図1〜6に示すように、接着シートは、長尺の剥離基材1上に、接着剤層2及び粘着フィルム3からなる積層体10が形成された構成を有している。また、接着剤層2は所定の平面形状を有して剥離基材1上に部分的に積層されており、粘着フィルム3は、接着剤層2を覆い、且つ、接着剤層2の周囲で剥離基材1に接するように積層されている。そして、積層体10の外方には、支持接着剤層22及び支持粘着フィルム23からなる支持層20が形成されている。この支持層20は、積層体10の最大膜厚(接着剤層2と粘着フィルム3とが積層されている部分の膜厚)と同等又はそれ以上の最大膜厚(支持接着剤層22と支持粘着フィルム23とが積層されている部分の膜厚)を有するように形成されている。   As shown in FIGS. 1-6, the adhesive sheet has the structure by which the laminated body 10 which consists of the adhesive bond layer 2 and the adhesion film 3 was formed on the elongate peeling base material 1. FIG. The adhesive layer 2 has a predetermined planar shape and is partially laminated on the release substrate 1, and the adhesive film 3 covers the adhesive layer 2 and surrounds the adhesive layer 2. It is laminated so as to be in contact with the peeling substrate 1. And the support layer 20 which consists of the support adhesive layer 22 and the support adhesive film 23 is formed in the outer side of the laminated body 10. As shown in FIG. This support layer 20 has a maximum film thickness (support adhesive layer 22 and support) equal to or greater than the maximum film thickness of the laminate 10 (the film thickness of the portion where the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive film 3 are stacked). The film thickness of the portion where the adhesive film 23 is laminated) is formed.

図1に示す接着シート100において、支持層20は、接着シート100の短手方向中央部以外の部分に、積層体10の周囲を囲むように形成されている。また、接着シート100における支持層20は、支持粘着フィルム23が支持接着剤層22を覆い、且つ、支持粘着フィルム23の積層体10側と反対側の端部が剥離基材1と接するように構成されている。   In the adhesive sheet 100 shown in FIG. 1, the support layer 20 is formed so as to surround the periphery of the laminated body 10 in a portion other than the central portion of the adhesive sheet 100 in the lateral direction. Further, the support layer 20 in the adhesive sheet 100 is such that the support adhesive film 23 covers the support adhesive layer 22 and the end of the support adhesive film 23 opposite to the laminate 10 side is in contact with the release substrate 1. It is configured.

図2に示す接着シート110において、支持層20は、接着シート110の短手方向中央部以外の部分に、積層体10の周囲を囲むように形成されている。また、接着シート110における支持層20は、支持粘着フィルム23と支持接着剤層22とが略同一形状となるように構成されている。   In the adhesive sheet 110 shown in FIG. 2, the support layer 20 is formed so as to surround the periphery of the laminate 10 in a portion other than the central portion in the short direction of the adhesive sheet 110. Moreover, the support layer 20 in the adhesive sheet 110 is configured such that the support adhesive film 23 and the support adhesive layer 22 have substantially the same shape.

図3に示す接着シート120において、支持層20は、接着シート120の短手方向中央部以外の部分に、積層体10の周囲を囲むように形成されている。また、接着シート120における支持層20は、支持粘着フィルム23が支持接着剤層22を覆い、且つ、支持粘着フィルム23の積層体10側の端部が剥離基材1と接するように構成されている。   In the adhesive sheet 120 shown in FIG. 3, the support layer 20 is formed so as to surround the periphery of the laminate 10 at a portion other than the central portion of the adhesive sheet 120 in the lateral direction. The support layer 20 in the adhesive sheet 120 is configured such that the support adhesive film 23 covers the support adhesive layer 22 and the end of the support adhesive film 23 on the laminated body 10 side is in contact with the release substrate 1. Yes.

図4に示す接着シート130において、支持層20は、接着シート130の短手方向中央部以外の部分に、積層体10の周囲を囲むように形成されている。また、接着シート130における支持層20は、支持粘着フィルム23が支持接着剤層22を覆い、且つ、支持粘着フィルム23の短手方向両端部が剥離基材1と接するように構成されている。   In the adhesive sheet 130 shown in FIG. 4, the support layer 20 is formed so as to surround the periphery of the stacked body 10 at a portion other than the central portion in the short direction of the adhesive sheet 130. Further, the support layer 20 in the adhesive sheet 130 is configured such that the support adhesive film 23 covers the support adhesive layer 22 and both ends in the short direction of the support adhesive film 23 are in contact with the peeling substrate 1.

図5に示す接着シート140において、支持層20は、接着シート140の短手方向両端部に形成されている。また、接着シート140における支持層20は、支持粘着フィルム23が少なくとも支持接着剤層22の積層体10側と反対側の端部を覆うように構成されている。   In the adhesive sheet 140 shown in FIG. 5, the support layer 20 is formed at both ends of the adhesive sheet 140 in the short direction. Moreover, the support layer 20 in the adhesive sheet 140 is configured such that the support adhesive film 23 covers at least the end of the support adhesive layer 22 opposite to the laminate 10 side.

図6に示す接着シート150において、支持層20は、接着シート150の短手方向両端部に形成されている。また、接着シート150における支持層20は、支持粘着フィルム23が支持接着剤層22の短手方向中央部を覆うように構成されている。   In the adhesive sheet 150 shown in FIG. 6, the support layer 20 is formed at both ends of the adhesive sheet 150 in the short direction. Further, the support layer 20 in the adhesive sheet 150 is configured such that the support adhesive film 23 covers the center portion in the short direction of the support adhesive layer 22.

以下、これら本発明の接着シートの各構成要素について詳細に説明する。   Hereinafter, each component of the adhesive sheet of the present invention will be described in detail.

支持接着剤層22は、その形状、大きさ、位置について特に制限されるものではない。支持接着剤層22の形状は、断続的でも連続的でもよいが、ロール状に巻き取った際の接着剤層2への巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、剥離基材1の長手方向に連続的に形成されていることが好ましい。なお、支持接着剤層22は、巻き跡の転写をより十分に低減する観点からは剥離基材1の短手方向についても連続的に形成されていることが好ましいが、半導体ウェハと接着シートとを貼り合わせる装置のセンサーの構成上、短手方向中央部についてのみは支持接着剤層22が形成されていないことが好ましい。   The support adhesive layer 22 is not particularly limited in its shape, size, and position. The shape of the support adhesive layer 22 may be intermittent or continuous, but from the viewpoint of more sufficiently reducing the transfer of the traces to the adhesive layer 2 when wound into a roll, It is preferably formed continuously in the longitudinal direction. The support adhesive layer 22 is preferably formed continuously in the short direction of the peeling substrate 1 from the viewpoint of sufficiently reducing the transfer of the traces, but the semiconductor wafer and the adhesive sheet It is preferable that the supporting adhesive layer 22 is not formed only in the central part in the short direction because of the configuration of the sensor of the apparatus for laminating the film.

支持接着剤層22の大きさは、巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、できる限り大きい方が好ましい。なお、半導体ウェハと接着シートとを貼り合わせる装置構成上、積層体10とは重ならないことが望ましい。   The size of the support adhesive layer 22 is preferably as large as possible from the viewpoint of sufficiently reducing the transfer of the trace. In addition, it is desirable that the laminated body 10 does not overlap with the apparatus configuration for bonding the semiconductor wafer and the adhesive sheet.

また、支持接着剤層22の組成は特に制限されないが、例えば、後述する接着剤層2と同様の組成とされる。   Further, the composition of the support adhesive layer 22 is not particularly limited, and for example, it is the same composition as the adhesive layer 2 described later.

支持粘着フィルム23は、その形状、大きさ、位置について特に制限されるものではない。支持粘着フィルム23の形状は、断続的でも連続的でもよいが、ロール状に巻き取った際の接着剤層2への巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、図1(a)及び(b)に示すように、剥離基材1の長手方向に連続的に形成されていることが好ましい。なお、支持粘着フィルム23は、巻き跡の転写をより十分に低減する観点からは剥離基材1の短手方向についても連続的に形成されていることが好ましいが、半導体ウェハと接着シートとを貼り合わせる装置のセンサーの構成上、短手方向中央部についてのみは支持粘着フィルム23が形成されていないことが好ましい。   The support adhesive film 23 is not particularly limited in its shape, size, and position. The shape of the support pressure-sensitive adhesive film 23 may be intermittent or continuous, but from the viewpoint of more sufficiently reducing the transfer of the trace to the adhesive layer 2 when wound into a roll, FIG. As shown in (b), it is preferably formed continuously in the longitudinal direction of the release substrate 1. The support adhesive film 23 is preferably formed continuously in the short direction of the peeling substrate 1 from the viewpoint of sufficiently reducing the transfer of the traces, but the semiconductor wafer and the adhesive sheet are formed. In view of the configuration of the sensor of the bonding device, it is preferable that the supporting adhesive film 23 is not formed only in the central portion in the short direction.

支持粘着フィルム23の大きさは、巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、できる限り大きい方が好ましい。なお、半導体ウェハと接着シートとを貼り合わせる装置構成上、積層体10とは重ならないことが望ましい。   The size of the support adhesive film 23 is preferably as large as possible from the viewpoint of sufficiently reducing the transfer of the trace. In addition, it is desirable that the laminated body 10 does not overlap with the apparatus configuration for bonding the semiconductor wafer and the adhesive sheet.

また、支持粘着フィルム23の組成は特に制限されないが、例えば、後述する粘着フィルム3と同様の組成とされる。   Further, the composition of the support adhesive film 23 is not particularly limited, and for example, it is the same composition as the adhesive film 3 described later.

本発明の接着シートにおいては、これら支持接着剤層22及び支持粘着フィルム23が積層されて支持層20が形成されている。支持層20は、接着シートをロール状に巻き取った際の接着剤層2への巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、少なくとも剥離基材1の短手方向の両端部上に形成されていることが好ましい。支持層20の形成位置は、巻き跡の転写が起こりやすい位置を考慮すると、積層体10の存在する部分の剥離基材1の長手方向前後と短手方向左右の4箇所にあることが好ましく、積層体10と重ならないように、全面に存在することがより好ましい。但し、半導体ウェハと接着シートとを貼り合わせる装置のセンサーを考慮すると、短手方向中央部についてのみは支持接着剤層20はない方が好ましい。すなわち、支持層20は、剥離基材1における積層体10が形成されている部分と短手方向中央部とを除く部分をできる限り多く覆うように形成されていることが好ましい。また、支持層20は、上述したように、接着剤層2及び粘着フィルム3からなる積層体10の膜厚(接着剤層2と粘着フィルム3とが積層されている部分の膜厚)と同等又はそれ以上の膜厚を有しているが、支持層20の膜厚は、積層体10の膜厚の1.0〜1.5倍であることが好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, the support adhesive layer 22 and the support adhesive film 23 are laminated to form the support layer 20. The support layer 20 is formed at least on both ends in the short direction of the release substrate 1 from the viewpoint of more sufficiently reducing the transfer of the trace to the adhesive layer 2 when the adhesive sheet is rolled up. It is preferable that The positions where the support layer 20 is formed are preferably at four locations on the peeling substrate 1 in the longitudinal direction and in the lateral direction on the left and right sides of the peeling substrate 1 in consideration of the position where the transfer of the winding mark is likely to occur. More preferably, it exists on the entire surface so as not to overlap with the laminate 10. However, in consideration of the sensor of the apparatus for bonding the semiconductor wafer and the adhesive sheet, it is preferable that the supporting adhesive layer 20 is not provided only at the central portion in the short direction. That is, it is preferable that the support layer 20 is formed so as to cover as much as possible the portion of the release substrate 1 excluding the portion where the laminate 10 is formed and the central portion in the lateral direction. Moreover, as above-mentioned, the support layer 20 is equivalent to the film thickness of the laminated body 10 which consists of the adhesive bond layer 2 and the adhesion film 3 (film thickness of the part where the adhesive bond layer 2 and the adhesion film 3 are laminated | stacked). Alternatively, the thickness of the support layer 20 is preferably 1.0 to 1.5 times that of the laminate 10.

支持層20において、支持接着剤層22と支持粘着フィルム23との大きさの関係について特に制限はないが、巻き取り時の圧力を支持層20に分散させ、巻き跡の転写をより十分に低減する観点から、両方とも面積が大きい方が好ましく、図1〜6に示される接着シートのうち、図1、図2、図3及び図5に示される接着シートが好ましい。さらに、支持接着剤層22と支持粘着フィルム23とが積層されている部分が大きい方が好ましく、図1〜3に示される接着シートがより好ましく、支持層20が全て支持接着剤層20と支持粘着フィルム23とが積層された構造となっている、図2に示される接着シートが特に好ましい。一方、支持接着剤層22及び支持粘着フィルム23をそれぞれ後述する接着剤層2及び粘着フィルム3と同様の組成で形成した場合、通常、支持接着剤層22と剥離基材1との間の接着力は、支持粘着フィルム23と剥離基材1との間の接着力よりも小さくなる。この場合、半導体ウェハと接着シートにおける積層体10とを貼り合わせる際に、半導体ウェハに貼り付けるべき積層体10が剥離基材1から剥離する前に不要な部分である支持層20が剥離して工程の不具合が発生することを抑制するため、支持粘着フィルム23が支持接着剤層22を覆い、且つ、支持粘着フィルム23の一部が剥離基材1と接するように支持層20を形成することが好ましく、図1〜6に示される接着シートのうち、図1、図3及び図4に示される接着シートが好ましい。さらに、半導体ウェハと積層体10とを貼り合わせる際に、不要な部分である支持層20の剥離を防ぐためには、支持層20の端部すべてで剥離基材1と支持粘着フィルム23とが接している、図4に示される接着シートが特に好ましい。これら2点と上記支持層20の形成位置から、支持層20は端部すべてで剥離基材1と支持粘着フィルム23とが接しており、両方の面積ができる限り大きく、剥離基材1における積層体10が形成されている部分と短手方向中央部とを除く部分をできる限り多く覆うように形成されていることが最も好ましい。   In the support layer 20, although there is no restriction | limiting in particular about the relationship of the magnitude | size of the support adhesive layer 22 and the support adhesive film 23, the pressure at the time of winding is disperse | distributed to the support layer 20, and transcription | transfer of a trace is fully reduced. From these viewpoints, it is preferable that both have a larger area, and among the adhesive sheets shown in FIGS. 1 to 6, the adhesive sheets shown in FIGS. 1, 2, 3, and 5 are preferable. Furthermore, the one where the part by which the support adhesive layer 22 and the support adhesive film 23 are laminated | stacked is large is preferable, the adhesive sheet shown by FIGS. 1-3 is more preferable, and all the support layers 20 and the support adhesive layer 20 support. The adhesive sheet shown in FIG. 2 having a structure in which the adhesive film 23 is laminated is particularly preferable. On the other hand, when the support adhesive layer 22 and the support pressure-sensitive adhesive film 23 are formed with the same composition as the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive film 3 described later, respectively, the adhesion between the support adhesive layer 22 and the release substrate 1 is usually performed The force is smaller than the adhesive force between the support adhesive film 23 and the release substrate 1. In this case, when the semiconductor wafer and the laminated body 10 in the adhesive sheet are bonded together, the support layer 20 which is an unnecessary portion is peeled off before the laminated body 10 to be attached to the semiconductor wafer is peeled off from the peeling substrate 1. In order to suppress the occurrence of process defects, the support adhesive film 23 covers the support adhesive layer 22, and the support layer 20 is formed so that a part of the support adhesive film 23 is in contact with the release substrate 1. Of the adhesive sheets shown in FIGS. 1 to 6, the adhesive sheets shown in FIGS. 1, 3, and 4 are preferable. Furthermore, when the semiconductor wafer and the laminate 10 are bonded together, the peeling substrate 1 and the supporting adhesive film 23 are in contact with each other at all ends of the supporting layer 20 in order to prevent the peeling of the supporting layer 20 which is an unnecessary part. The adhesive sheet shown in FIG. 4 is particularly preferred. From these two points and the position where the support layer 20 is formed, the support layer 20 is in contact with the release substrate 1 and the support adhesive film 23 at all ends, and the area of both is as large as possible. Most preferably, it is formed so as to cover as much as possible the portion excluding the portion where the body 10 is formed and the central portion in the short direction.

本発明の接着シートにおいて、接着剤層2と粘着フィルム3との積層状態は、それぞれが同じ大きさでちょうど重なり合うように積層されている構造も考えられるが、ウェハリングと半導体素子の大きさの関係上、粘着フィルム3はその外周の50%以上、好ましくは70%以上、より好ましくは90%以上が、接着剤層の外周の外側にあることが好ましい。その部分は剥離基材1と粘着フィルム層3とがこの順に備えた形状であることが好ましい。更に、本発明の接着シートにおいて、接着剤層2と粘着フィルム3との積層状態は、粘着フィルム3が接着剤層2を覆い、且つ、接着剤層2の周囲で剥離基材1に接するように形成されていることが好ましい。すなわち、接着剤層2の平面形状の面積よりも粘着フィルム3の平面形状の面積が大きく、接着剤層2が包み込まれており、接着剤層2の周囲において剥離基材1と粘着フィルム層3とが直接接している状態となっていることが好ましい。なお、接着剤層2は、剥離起点として外周の一部に突出部を有していてもよく、この突出部は粘着フィルム3で覆われていなくてもよい。   In the adhesive sheet of the present invention, the laminated state of the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive film 3 may be a structure in which the adhesive layers 2 and the adhesive films 3 are laminated so as to overlap each other with the same size. In view of this, it is preferable that 50% or more, preferably 70% or more, more preferably 90% or more of the outer periphery of the adhesive film 3 is outside the outer periphery of the adhesive layer. It is preferable that the part is the shape with which the peeling base material 1 and the adhesion film layer 3 were equipped in this order. Furthermore, in the adhesive sheet of the present invention, the laminated state of the adhesive layer 2 and the adhesive film 3 is such that the adhesive film 3 covers the adhesive layer 2 and is in contact with the release substrate 1 around the adhesive layer 2. It is preferable to be formed. That is, the area of the planar shape of the pressure-sensitive adhesive film 3 is larger than the area of the planar shape of the adhesive layer 2, the adhesive layer 2 is wrapped, and the release substrate 1 and the pressure-sensitive adhesive film layer 3 are surrounded around the adhesive layer 2. Are preferably in direct contact with each other. Note that the adhesive layer 2 may have a protruding portion at a part of the outer periphery as a peeling start point, and the protruding portion may not be covered with the adhesive film 3.

接着剤層2の形状としては、半導体ウェハの貼り付けが可能な形状であれば特に制限はなく、例えば、平面形状として、円形、ウェハ形状(円の外周の一部が直線である形状)、四角形、五角形、六角形、八角形などが挙げられる。なお、接着剤層2において、半導体ウェハを貼り付ける部分以外の部分は無駄になるため、円形の平面形状を有する一般的な半導体ウェハと貼り合わせる場合には、接着剤層2は、円形の平面形状又は半導体ウェハの平面形状に合致する平面形状(半導体ウェハ形状)であることが好ましい。また、接着剤層2の外周の一部が粘着フィルム3の外周の一部の近傍にあるようにするために、外周の一部に凸部を有していてもよい。   The shape of the adhesive layer 2 is not particularly limited as long as the semiconductor wafer can be attached. For example, the planar shape may be a circle, a wafer shape (a shape in which a part of the circumference of the circle is a straight line), Examples include quadrilateral, pentagon, hexagon, and octagon. In addition, in the adhesive layer 2, since parts other than the part to which the semiconductor wafer is attached are wasted, the adhesive layer 2 has a circular plane when bonded to a general semiconductor wafer having a circular planar shape. A planar shape (semiconductor wafer shape) that matches the shape or the planar shape of the semiconductor wafer is preferable. Further, in order to make a part of the outer periphery of the adhesive layer 2 be in the vicinity of a part of the outer periphery of the pressure-sensitive adhesive film 3, a part of the outer periphery may have a convex portion.

粘着フィルム3の形状としては、ウェハリングと密着させることが可能な形状であれば特に制限はなく、例えば、平面形状として、円形、四角形、五角形、六角形、八角形、菱形形状、星型などが挙げられる。なお、現在のウェハリングの形状及び半導体素子の形状を考慮すると、粘着フィルム3の平面形状は、円形もしくは円形に順ずる形状であることが好ましい。更に、半導体素子との貼付けを考慮すると、接着剤層2の平面形状と似た平面形状であることが好ましい。   The shape of the adhesive film 3 is not particularly limited as long as it can be brought into close contact with the wafer ring. For example, the planar shape includes a circle, a rectangle, a pentagon, a hexagon, an octagon, a rhombus, a star, and the like. Is mentioned. In consideration of the current shape of the wafer ring and the shape of the semiconductor element, the planar shape of the pressure-sensitive adhesive film 3 is preferably a circle or a shape that follows a circle. Furthermore, in consideration of pasting with a semiconductor element, a planar shape similar to the planar shape of the adhesive layer 2 is preferable.

接着剤層2は、特に制限されないが、例えば、熱硬化性接着剤、光硬化性接着剤、熱可塑性接着剤、及び、酸素反応性接着剤等により構成される。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができるが、接着剤として半導体素子の固定に使用されることを考慮すると、接着剤層2は熱硬化性接着剤により構成されていることが好ましい。   The adhesive layer 2 is not particularly limited, and is composed of, for example, a thermosetting adhesive, a photocurable adhesive, a thermoplastic adhesive, an oxygen reactive adhesive, or the like. These can be used alone or in combination of two or more, but considering that they are used for fixing semiconductor elements as an adhesive, the adhesive layer 2 should be composed of a thermosetting adhesive Is preferred.

熱硬化性接着剤としては、熱により硬化するものであれば特に制限はなく、グリシジル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、水酸基、カルボキシル基、イソジアヌレート基、アミノ基、アミド基等の官能基を持つ熱重合性成分を含むものが挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができるが、接着シートとしての耐熱性及び熱硬化による接着力を考慮すると、上記の熱重合性成分と熱可塑性樹脂とを含有してなる熱硬化性接着剤を用いることが好ましい。   The thermosetting adhesive is not particularly limited as long as it is cured by heat, and heat having a functional group such as a glycidyl group, an acryloyl group, a methacryloyl group, a hydroxyl group, a carboxyl group, an isocyanurate group, an amino group or an amide group. The thing containing a polymeric component is mentioned. These can be used singly or in combination of two or more types, and in consideration of heat resistance as an adhesive sheet and adhesive force due to thermosetting, the above-mentioned thermopolymerizable component and thermoplastic resin are contained. It is preferable to use a thermosetting adhesive.

ここで、熱可塑性樹脂としては、熱可塑性を有する樹脂、または少なくとも未硬化状態において熱可塑性を有し、加熱後に架橋構造を形成する樹脂であれば特に制限されないが、(A)Tg(ガラス転移温度)が10〜100℃であり、且つ、重量平均分子量が5000〜200000であるもの、又は(B)Tgが−50℃〜10℃であり、且つ、重量平均分子量が100000以上であるもの、が好ましい。   Here, the thermoplastic resin is not particularly limited as long as it is a thermoplastic resin, or at least a resin that has thermoplasticity in an uncured state and forms a crosslinked structure after heating. However, (A) Tg (glass transition (Temperature) is 10 to 100 ° C. and the weight average molecular weight is 5000 to 200000, or (B) Tg is −50 ° C. to 10 ° C. and the weight average molecular weight is 100,000 or more, Is preferred.

前者の熱可塑性樹脂(A)としては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエステルイミド樹脂、フェノキシ樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテルケトン樹脂などが挙げられる。これらの中でもポリイミド樹脂を用いることが好ましい。   As the former thermoplastic resin (A), for example, polyimide resin, polyamide resin, polyetherimide resin, polyamideimide resin, polyester resin, polyesterimide resin, phenoxy resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene sulfide resin, Examples include polyether ketone resins. Among these, it is preferable to use a polyimide resin.

後者の熱可塑性樹脂(B)としては、官能性モノマーを含む重合体を使用することが好ましく、この重合体の官能性モノマーの官能基としてはグリシジル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、水酸基、カルボキシル基、イソシアヌレート基、アミノ基、アミド基などが挙げられ、中でもグリシジル基が好ましい。より具体的には、グリシジルアクリレート又はグリシジルメタクリレートなどの官能基モノマーを含むグリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体などが好ましく、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂と非相溶であることがより好ましい。   As the latter thermoplastic resin (B), it is preferable to use a polymer containing a functional monomer. The functional group of the functional monomer of this polymer is glycidyl group, acryloyl group, methacryloyl group, hydroxyl group, carboxyl group. , An isocyanurate group, an amino group, an amide group, etc. Among them, a glycidyl group is preferable. More specifically, a glycidyl group-containing (meth) acrylic copolymer containing a functional group monomer such as glycidyl acrylate or glycidyl methacrylate is preferable, and is more preferably incompatible with a thermosetting resin such as an epoxy resin. .

上記官能性モノマーを含む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分としては、例えば、グリシジルアクリレート又はグリシジルメタクリレート等の官能性モノマーを含有し、かつ重量平均分子量が10万以上であるグリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体等が挙げられ、それらの中でもエポキシ樹脂と非相溶であるものが好ましい。グリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体の具体例としては、例えば、ナガセケムテックス(株)製のHTR−860P−3(商品名)等が挙げられる。   Examples of the high molecular weight component having a weight average molecular weight of 100,000 or more including the functional monomer include a glycidyl group containing a functional monomer such as glycidyl acrylate or glycidyl methacrylate and having a weight average molecular weight of 100,000 or more. Examples include (meth) acrylic copolymers, and among them, those that are incompatible with the epoxy resin are preferable. Specific examples of the glycidyl group-containing (meth) acrylic copolymer include HTR-860P-3 (trade name) manufactured by Nagase ChemteX Corporation.

上記グリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体としては、例えば、(メタ)アクリルエステル共重合体、アクリルゴム等を使用することができ、アクリルゴムがより好ましい。アクリルゴムは、アクリル酸エステルを主成分とし、主として、ブチルアクリレートとアクリロニトリル等の共重合体や、エチルアクリレートとアクリロニトリル等の共重合体等からなるゴムである。   As the glycidyl group-containing (meth) acrylic copolymer, for example, (meth) acrylic ester copolymer, acrylic rubber and the like can be used, and acrylic rubber is more preferable. The acrylic rubber is a rubber mainly composed of an acrylate ester and mainly composed of a copolymer such as butyl acrylate and acrylonitrile, a copolymer such as ethyl acrylate and acrylonitrile, or the like.

上記グリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体における、上記グリシジルアクリレート又はグリシジルメタクリレート等のエポキシ樹脂含有モノマー単位の量は、モノマー全量を基準として0.5〜6.0質量%が好ましく、0.5〜5.0質量%がより好ましく、0.8〜5.0質量%が特に好ましい。グリシジル基含有モノマー単位の量がこの範囲にあると、十分な接着力が確保できるとともに、ゲル化を防止することができる。   The amount of the epoxy resin-containing monomer unit such as glycidyl acrylate or glycidyl methacrylate in the glycidyl group-containing (meth) acrylic copolymer is preferably 0.5 to 6.0% by mass based on the total amount of the monomers, 0.5 -5.0 mass% is more preferable, and 0.8-5.0 mass% is especially preferable. When the amount of the glycidyl group-containing monomer unit is within this range, sufficient adhesive force can be ensured and gelation can be prevented.

グリシジルアクリレート、グリシジルメタクリレート以外の上記官能性モノマーとしては、例えば、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート等が挙げられ、これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。なお、本発明において、エチル(メタ)アクリレートとは、エチルアクリレートとエチルメタクリレートの両方を示す。官能性モノマーを組み合わせて使用する場合の混合比率は、グリシジル基含有(メタ)アクリル共重合体のTgを考慮して決定し、Tgが−10℃以上となるようにすることが好ましい。Tgが−10℃以上であると、Bステージ状態での接着剤層2のタック性が適当であり、取り扱い性が良好なものとなる傾向にある。   Examples of the functional monomer other than glycidyl acrylate and glycidyl methacrylate include ethyl (meth) acrylate and butyl (meth) acrylate, and these can be used alone or in combination of two or more. In the present invention, ethyl (meth) acrylate refers to both ethyl acrylate and ethyl methacrylate. In the case of using a combination of functional monomers, the mixing ratio is determined in consideration of Tg of the glycidyl group-containing (meth) acrylic copolymer, and it is preferable that Tg is −10 ° C. or higher. When Tg is −10 ° C. or higher, the tackiness of the adhesive layer 2 in the B-stage state is appropriate, and the handleability tends to be good.

上記モノマーを重合させて、官能性モノマーを含む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分を製造する場合、その重合方法としては特に制限はなく、例えば、パール重合、溶液重合等の方法を使用することができる。   When the above monomer is polymerized to produce a high molecular weight component having a functional monomer-containing weight average molecular weight of 100,000 or more, the polymerization method is not particularly limited, and examples thereof include methods such as pearl polymerization and solution polymerization. Can be used.

官能性モノマーを含む高分子量成分の重量平均分子量は、10万以上であるが、30万〜300万であることが好ましく、50万〜200万であることがより好ましい。重量平均分子量がこの範囲にあると、シート状又はフィルム状としたときの強度、可とう性、及びタック性が適当であり、また、フロー性が適当であるため、配線の回路充填性が確保できる傾向にある。なお、本発明において、重量平均分子量とは、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィーで測定し、標準ポリスチレン検量線を用いて換算した値を示す。   The weight average molecular weight of the high molecular weight component containing the functional monomer is 100,000 or more, preferably 300,000 to 3,000,000, and more preferably 500,000 to 2,000,000. When the weight average molecular weight is within this range, the strength, flexibility, and tackiness of a sheet or film are appropriate, and the flowability is appropriate, so the circuit fillability of wiring is ensured. It tends to be possible. In the present invention, the weight average molecular weight is a value measured by gel permeation chromatography and converted using a standard polystyrene calibration curve.

また、官能性モノマーを含む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分の使用量は、熱重合性成分100質量部に対して、10〜400質量部が好ましい。この範囲にあると、貯蔵弾性率及び成型時のフロー性抑制が確保でき、また高温での取り扱い性が良好なものとなる傾向にある。また、高分子量成分の使用量は、熱重合性成分100質量部に対して、15〜350質量部がより好ましく、20〜300質量部が特に好ましい。   Moreover, the usage-amount of the high molecular weight component whose weight average molecular weight containing a functional monomer is 100,000 or more has preferable 10-400 mass parts with respect to 100 mass parts of thermopolymerizable components. When it is in this range, storage elastic modulus and flowability during molding can be ensured, and handling properties at high temperatures tend to be good. Moreover, 15-350 mass parts is more preferable, and 20-300 mass parts is especially preferable with respect to 100 mass parts of thermopolymerizable components.

また、熱重合性成分としては、熱により重合するものであれば特に制限は無く、例えば、グリシジル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、水酸基、カルボキシル基、イソシアヌレート基、アミノ基、アミド基等の官能基を持つ化合物が挙げられ、これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせても、使用することができるが、接着シートとしての耐熱性を考慮すると、熱によって硬化し接着作用を及ぼす熱硬化性樹脂を使用することが好ましい。熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、熱硬化型ポリイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂等が挙げられ、特に、耐熱性、作業性、信頼性に優れるダイボンドダイシングシートが得られる点でエポキシ樹脂を使用することが最も好ましい。熱硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を使用する場合には、エポキシ樹脂硬化剤を合わせて使用することが好ましい。   The thermopolymerizable component is not particularly limited as long as it is polymerized by heat. For example, functional groups such as glycidyl group, acryloyl group, methacryloyl group, hydroxyl group, carboxyl group, isocyanurate group, amino group, amide group, etc. These compounds can be used alone or in combination of two or more, but considering the heat resistance as an adhesive sheet, they are cured by heat and have an adhesive action. It is preferable to use a resin. Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, an acrylic resin, a silicone resin, a phenol resin, a thermosetting polyimide resin, a polyurethane resin, a melamine resin, and a urea resin, and in particular, heat resistance, workability, and reliability. It is most preferable to use an epoxy resin in that a die-bonded dicing sheet excellent in the above can be obtained. When using an epoxy resin as the thermosetting resin, it is preferable to use an epoxy resin curing agent together.

上記エポキシ樹脂としては、硬化して接着作用を有するものであれば特に限定されず、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂などの二官能エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂やクレゾールノボラック型エポキシ樹脂などのノボラック型エポキシ樹脂等を使用することができる。また、多官能エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、複素環含有エポキシ樹脂又は脂環式エポキシ樹脂など、一般に知られているものを使用することができる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   The epoxy resin is not particularly limited as long as it is cured and has an adhesive action. For example, a bifunctional epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin, a novolak such as a phenol novolac type epoxy resin or a cresol novolac type epoxy resin. A type epoxy resin or the like can be used. Moreover, what is generally known, such as a polyfunctional epoxy resin, a glycidyl amine type epoxy resin, a heterocyclic ring-containing epoxy resin, or an alicyclic epoxy resin, can be used. These can be used alone or in combination of two or more.

上記エポキシ樹脂として、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂としては、ジャパンエポキシレジン(株)製のエピコートシリーズ(エピコート807、エピコート815、エピコート825、エピコート827、エピコート828、エピコート834、エピコート1001、エピコート1004、エピコート1007、エピコート1009)、ダウケミカル社製のDER−330、DER−301、DER−361、及び、東都化成(株)製のYD8125、YDF8170等が挙げられる。フェノールノボラック型エポキシ樹脂としては、ジャパンエポキシレジン(株)製のエピコート152、エピコート154、日本化薬(株)製のEPPN−201、ダウケミカル社製のDEN−438等が挙げられる。更に、o−クレゾールノボラック型エポキシ樹脂としては、日本化薬(株)製のEOCN−102S、EOCN−103S、EOCN−104S、EOCN−1012、EOCN−1025、EOCN−1027、東都化成(株)製のYDCN701、YDCN702、YDCN703、YDCN704等が挙げられる。   As the epoxy resin, for example, as bisphenol A type epoxy resin, Epicoat series (Epicoat 807, Epicoat 815, Epicoat 825, Epicoat 827, Epicoat 828, Epicoat 834, Epicoat 1001, Epicoat 1004, manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. Epicoat 1007, Epicoat 1009), DER-330, DER-301, DER-361 manufactured by Dow Chemical Company, YD8125, YDF8170 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., and the like. Examples of the phenol novolac type epoxy resin include Epicoat 152 and Epicoat 154 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., EPPN-201 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., DEN-438 manufactured by Dow Chemical Company, and the like. Furthermore, as the o-cresol novolak type epoxy resin, EOCN-102S, EOCN-103S, EOCN-104S, EOCN-1012, EOCN-1025, EOCN-1027, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. YDCN701, YDCN702, YDCN703, YDCN704 and the like.

多官能エポキシ樹脂としては、ジャパンエポキシレジン(株)製のEpon 1031S、チバスペシャリティーケミカルズ社製のアラルダイト0163、ナガセケムテックス(株)製のデナコールEX−611、EX−614、EX−614B、EX−622、EX−512、EX−521、EX−421、EX−411、EX−321等が挙げられる。   As the polyfunctional epoxy resin, Epon 1031S manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., Araldite 0163 manufactured by Ciba Specialty Chemicals, Denacor EX-611, EX-614, EX-614B, EX manufactured by Nagase ChemteX Corporation -622, EX-512, EX-521, EX-421, EX-411, EX-321 and the like.

アミン型エポキシ樹脂としては、ジャパンエポキシレジン(株)製のエピコート604、東都化成(株)製のYH−434、三菱ガス化学(株)製のTETRAD−X及びTETRAD−C、住友化学(株)製のELM−120等が挙げられる。複素環含有エポキシ樹脂としては、チバスペシャリティーケミカルズ社製のアラルダイトPT810、UCC社製のERL4234、ERL4299、ERL4221、ERL4206等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   As the amine type epoxy resin, Epicoat 604 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., YH-434 manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., TETRAD-X and TETRAD-C manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., Sumitomo Chemical Co., Ltd. ELM-120 manufactured by the company and the like can be mentioned. Examples of the heterocyclic ring-containing epoxy resin include Araldite PT810 manufactured by Ciba Specialty Chemicals, ERL4234, ERL4299, ERL4221, and ERL4206 manufactured by UCC. These epoxy resins can be used alone or in combination of two or more.

エポキシ樹脂を使用する場合には、エポキシ樹脂硬化剤を使用することが好ましい。エポキシ樹脂硬化剤としては、通常用いられている公知の硬化剤を使用することができ、例えば、アミン類、ポリアミド、酸無水物、ポリスルフィド、三フッ化ホウ素、ジシアンジアミド、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールSのようなフェノール性水酸基を1分子中に2個以上有するビスフェノール類、フェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂又はクレゾールノボラック樹脂等のフェノール樹脂などが挙げられる。これらの中でも、特に吸湿時の耐電食性に優れる点で、フェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂及びクレゾールノボラック樹脂などのフェノール樹脂が好ましい。これらのエポキシ樹脂硬化剤は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   When using an epoxy resin, it is preferable to use an epoxy resin curing agent. As the epoxy resin curing agent, known curing agents that are usually used can be used, for example, amines, polyamides, acid anhydrides, polysulfides, boron trifluoride, dicyandiamide, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol. Examples thereof include bisphenols having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule such as S, phenol resins such as phenol novolac resin, bisphenol A novolac resin or cresol novolac resin. Among these, phenol resins such as phenol novolak resin, bisphenol A novolak resin, and cresol novolak resin are preferable in terms of excellent electric corrosion resistance at the time of moisture absorption. These epoxy resin curing agents can be used alone or in combination of two or more.

上記フェノール樹脂硬化剤の中で好ましいものとしては、例えば、大日本インキ化学工業(株)製、商品名:フェノライトLF2882、フェノライトLF2822、フェノライトTD−2090、フェノライトTD−2149、フェノライトVH−4150、フェノライトVH4170、明和化成(株)製、商品名:H−1、ジャパンエポキシレジン(株)製、商品名:エピキュアMP402FPY、エピキュアYL6065、エピキュアYLH129B65、及び、三井化学(株)製、商品名:ミレックスXL、ミレックスXLC、ミレックスRN、ミレックスRS、ミレックスVR等が挙げられる。   Preferred examples of the phenol resin curing agent include, for example, trade names: Phenolite LF2882, Phenolite LF2822, Phenolite TD-2090, Phenolite TD-2149, Phenolite, manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc. VH-4150, Phenolite VH4170, Meiwa Kasei Co., Ltd., trade name: H-1, Japan Epoxy Resin Co., Ltd., trade name: EpiCure MP402FPY, EpiCure YL6065, EpiCure YLH129B65, and Mitsui Chemicals, Inc. Product names: Mirex XL, Mirex XLC, Mirex RN, Mirex RS, Mirex VR, and the like.

接着剤層2は、25℃での硬化前の貯蔵弾性率が10〜10000MPaであり、且つ、260℃での硬化後の貯蔵弾性率が0.5〜30MPaであることが好ましい。ここで、接着剤層2の貯蔵弾性率を大きくする方法として、例えば、エポキシ樹脂の使用量を増やす方法、グリシジル基濃度の高いエポキシ樹脂又は水酸基濃度の高いフェノール樹脂を使用する等してポリマー全体の架橋密度を上げる方法、フィラーを添加する方法等が挙げられる。   The adhesive layer 2 preferably has a storage elastic modulus before curing at 25 ° C. of 10 to 10,000 MPa, and a storage elastic modulus after curing at 260 ° C. of 0.5 to 30 MPa. Here, as a method of increasing the storage elastic modulus of the adhesive layer 2, for example, a method of increasing the amount of the epoxy resin used, an epoxy resin having a high glycidyl group concentration, or a phenol resin having a high hydroxyl group concentration is used. The method of raising the crosslinking density of this, the method of adding a filler, etc. are mentioned.

上記接着剤層2が熱重合性成分を含む場合、接着剤層2には更に硬化促進剤を添加してもよい。硬化促進剤としては、特に制限はなく、例えば、イミダゾール類等が挙げられる。具体的には、例えば、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することができる。   When the adhesive layer 2 contains a thermopolymerizable component, a curing accelerator may be further added to the adhesive layer 2. There is no restriction | limiting in particular as a hardening accelerator, For example, imidazole etc. are mentioned. Specific examples include 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, and the like. Or in combination of two or more.

この硬化促進剤の添加量は、熱重合性成分の総量100質量部に対して5質量部以下が好ましく、3質量部以下がより好ましい。この添加量が5質量部を超えると保存安定性が低下する傾向がある。   5 mass parts or less are preferable with respect to 100 mass parts of total amounts of a thermopolymerizable component, and, as for the addition amount of this hardening accelerator, 3 mass parts or less are more preferable. When this addition amount exceeds 5 parts by mass, the storage stability tends to decrease.

接着剤層2には、可とう性や耐リフロークラック性を向上させる目的で、熱重合性成分と相溶性がある高分子量樹脂を添加することができる。このような高分子量樹脂としては、特に限定されず、たとえばフェノキシ樹脂、高分子量熱重合性成分、超高分子量熱重合性成分などが挙げられる。これらは、単独でまたは2種類以上を組み合わせて使用することもできる。   For the purpose of improving the flexibility and reflow crack resistance, a high molecular weight resin compatible with the thermopolymerizable component can be added to the adhesive layer 2. Such a high molecular weight resin is not particularly limited, and examples thereof include a phenoxy resin, a high molecular weight thermopolymerizable component, and an ultrahigh molecular weight thermopolymerizable component. These may be used alone or in combination of two or more.

熱重合性成分と相溶性がある高分子量樹脂の使用量は、接着剤層が熱重合性成分を含む場合、熱重合性成分の総量100質量部に対して、40質量部以下とすることが好ましい。この範囲であると、接着剤層2のTgを確保することができる。   The amount of the high molecular weight resin that is compatible with the thermopolymerizable component may be 40 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the total amount of the thermopolymerizable component when the adhesive layer includes the thermopolymerizable component. preferable. Within this range, the Tg of the adhesive layer 2 can be secured.

また、接着剤層2には、その取り扱い性向上、熱伝導性向上、溶融粘度の調整およびチキソトロピック性付与などを目的として、無機フィラーを添加することもできる。無機フィラーとしては、特に制限はなく、例えば、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、ほう酸アルミウイスカ、窒化ほう素、結晶性シリカ、非晶性シリカ等が挙げられる。また、フィラーの形状は特に制限されるものではない。これらのフィラーは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することができる。これらの中でも、熱伝導性向上の観点からは、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化ほう素、結晶性シリカ、非晶性シリカが好ましい。また、溶融粘度の調整やチキソトロピック性の付与の観点からは、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、結晶性シリカ、非晶性シリカが好ましい。   In addition, an inorganic filler can be added to the adhesive layer 2 for the purpose of improving its handleability, improving thermal conductivity, adjusting melt viscosity, and imparting thixotropic properties. The inorganic filler is not particularly limited. For example, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, calcium silicate, magnesium silicate, calcium oxide, magnesium oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, aluminum borate whisker, Examples thereof include boron nitride, crystalline silica, and amorphous silica. Further, the shape of the filler is not particularly limited. These fillers can be used alone or in combination of two or more. Among these, aluminum oxide, aluminum nitride, boron nitride, crystalline silica, and amorphous silica are preferable from the viewpoint of improving thermal conductivity. From the viewpoint of adjusting melt viscosity and imparting thixotropic properties, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, calcium silicate, magnesium silicate, calcium oxide, magnesium oxide, aluminum oxide, crystallinity Silica and amorphous silica are preferred.

無機フィラーの添加量は、接着剤層2の総量を基準として1〜20質量%が好ましい。添加量が1質量%未満であると添加効果が十分に得られない傾向があり、20質量%を超えると、接着剤層2の粘接着性の低下、ボイド残存による電気特性の低下等の問題を起こす傾向がある。   The addition amount of the inorganic filler is preferably 1 to 20% by mass based on the total amount of the adhesive layer 2. When the addition amount is less than 1% by mass, the effect of addition tends to be insufficient, and when it exceeds 20% by mass, the adhesive layer 2 has poor adhesive properties, electrical characteristics are deteriorated due to residual voids, and the like. There is a tendency to cause problems.

また、接着剤層2には、異種材料間の界面結合を良くするために、各種カップリング剤を添加することもできる。カップリング剤としては、例えば、シラン系、チタン系、アルミニウム系等が挙げられ、中でも効果が高い点でシラン系カップリング剤が好ましい。   Various adhesives can also be added to the adhesive layer 2 in order to improve interfacial bonding between different materials. Examples of the coupling agent include silane-based, titanium-based, and aluminum-based, and among them, a silane-based coupling agent is preferable because it is highly effective.

上記カップリング剤の使用量は、その効果や耐熱性及びコストの面から、接着剤層2全量を基準として0.01〜10質量%とするのが好ましい。   It is preferable that the usage-amount of the said coupling agent shall be 0.01-10 mass% on the basis of the adhesive layer 2 whole quantity from the surface of the effect, heat resistance, and cost.

更に、接着剤層2には、イオン性不純物を吸着して、吸湿時の絶縁信頼性を向上させるために、イオン捕捉剤を添加することもできる。このようなイオン捕捉剤としては特に制限はなく、例えば、トリアジンチオール化合物、ビスフェノール系還元剤等の、銅がイオン化して溶け出すのを防止するため銅害防止剤として知られる化合物、ジルコニウム系、アンチモンビスマス系マグネシウムアルミニウム化合物等の無機イオン吸着剤などが挙げられる。   Furthermore, an ion scavenger can be added to the adhesive layer 2 in order to adsorb ionic impurities and improve insulation reliability during moisture absorption. Such an ion scavenger is not particularly limited. For example, a triazine thiol compound, a bisphenol-based reducing agent, etc., a compound known as a copper damage inhibitor to prevent copper from being ionized and dissolved, a zirconium-based compound, Examples include inorganic ion adsorbents such as antimony bismuth-based magnesium aluminum compounds.

上記イオン捕捉剤の使用量は、添加による効果や耐熱性、コスト等の点から、接着剤層2全量を基準として0.1〜10質量%が好ましい。   The amount of the ion scavenger used is preferably 0.1 to 10% by mass on the basis of the total amount of the adhesive layer 2 from the viewpoint of the effect of addition, heat resistance, cost, and the like.

接着剤層2の厚さは、0.1〜100μmであることが好ましく、1〜50μmであることがより好ましく、5〜40μmであることが特に好ましい。厚さが0.1μm未満であると、接着剤として十分な接着力が確保できなくなる傾向があり、100μmを超えると、半導体装置が肉厚になり、半導体装置の使用用途が制限される傾向がある。   The thickness of the adhesive layer 2 is preferably 0.1 to 100 μm, more preferably 1 to 50 μm, and particularly preferably 5 to 40 μm. If the thickness is less than 0.1 μm, there is a tendency that sufficient adhesive force as an adhesive cannot be secured. If the thickness exceeds 100 μm, the semiconductor device becomes thick, and the use of the semiconductor device tends to be limited. is there.

粘着フィルム3は、基材フィルムに粘着剤層を設けたものが好ましい。この場合、粘着フィルム3における接着剤層2と接する側の層が上記接着剤層となっている。   The adhesive film 3 is preferably a base film provided with an adhesive layer. In this case, the layer on the side in contact with the adhesive layer 2 in the pressure-sensitive adhesive film 3 is the adhesive layer.

粘着フィルムに使用する基材フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルム等のポリエステル系フィルム、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポイエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリビニルアセテートフィルム等のポリオレフィン系フィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリイミドフィルムなどのプラスチックフィルム等が挙げられる。   Examples of the base film used for the adhesive film include polyester films such as polyethylene terephthalate films, polytetrafluoroethylene films, polyethylene films, polypropylene films, polymethylpentene films, polyolefin films such as polyvinyl acetate films, poly Examples thereof include plastic films such as vinyl chloride films and polyimide films.

また、上記基材フィルムは異なる2種類以上のフィルムを積層したものであっても良い。この場合、粘着剤層が形成される側のフィルムは、半導体素子のピックアップ作業性が向上する点で、25℃での引張弾性率が2000MPa以上であることが好ましく、2200MPa以上であることがより好ましく、2400MPa以上であることが特に好ましい。   The base film may be a laminate of two or more different films. In this case, the film on the side on which the pressure-sensitive adhesive layer is formed preferably has a tensile elastic modulus at 25 ° C. of 2000 MPa or more, more preferably 2200 MPa or more in terms of improving the pick-up workability of the semiconductor element. Preferably, it is particularly preferably 2400 MPa or more.

また、粘着剤層が形成される側と反対側のフィルムは、フィルムの伸びが大きく、エキスパンド工程での作業性がよい点で、25℃での引張弾性率が1000MPa以下であることが好ましく、800MPa以下であることがより好ましく、600MPa以下であることが特に好ましい。この引張弾性率は、JIS K7113号に準じて測定されるものである。   Further, the film on the side opposite to the side on which the pressure-sensitive adhesive layer is formed preferably has a tensile modulus of elasticity of 1000 MPa or less at 25 ° C. in terms of large film elongation and good workability in the expanding step. More preferably, it is 800 MPa or less, and particularly preferably 600 MPa or less. This tensile elastic modulus is measured according to JIS K7113.

基材フィルムが2種以上のフィルムを積層したものである場合、その積層方法としては特に制限はなく、別々に作製したフィルムをラミネートする方法、一方のフィルム上に他方のフィルムを押出しラミネートする方法、2種類以上のフィルムを押出し塗工しながら貼り合せる方法、一方のフィルムの原料となるポリマーを溶剤に溶解あるいは分散してワニスとし、他方のフィルム上に塗布、加熱し溶剤を除去する方法、及び、接着剤を用いて2種以上のフィルムを貼り合わせる方法等、公知の方法を使用することができる。   When the base film is a laminate of two or more types of films, the lamination method is not particularly limited, a method of laminating separately produced films, a method of extruding and laminating the other film on one film A method in which two or more kinds of films are bonded together by extrusion coating, a method in which a polymer as a raw material of one film is dissolved or dispersed in a solvent to form a varnish, and is applied onto the other film and heated to remove the solvent, And well-known methods, such as the method of bonding 2 or more types of films together using an adhesive agent, can be used.

粘着フィルム3を構成する上記粘着剤層としては、高エネルギー線又は熱によって硬化する(すなわち、粘着力を制御できる)ものが好ましく、高エネルギー線によって硬化するものがより好ましく、紫外線によって硬化するものが特に好ましい。   The pressure-sensitive adhesive layer constituting the pressure-sensitive adhesive film 3 is preferably one that is cured by high energy rays or heat (that is, the adhesive force can be controlled), more preferably one that is cured by high energy rays, and one that is cured by ultraviolet rays. Is particularly preferred.

かかる粘着剤層を構成する粘着剤としては、従来から種々のタイプが知られている。それらの中から、高エネルギー線の照射によって、接着剤層14に対する粘着力が低下するものを適宜選んで用いることが好ましい。   Various types of pressure-sensitive adhesives constituting such a pressure-sensitive adhesive layer are conventionally known. Among them, it is preferable to appropriately select and use one whose adhesive strength to the adhesive layer 14 is reduced by irradiation with high energy rays.

上記粘着剤としては、特に制限されないが、例えば、ジオール基を有する化合物、イソシアネート化合物、ウレタン(メタ)アクリレート化合物、ジアミン化合物、尿素メタクリレート化合物、側鎖にエチレン性不飽和基を有する高エネルギー線重合性共重合体等が挙げられる。これらは単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。   Although it does not restrict | limit especially as said adhesive, For example, the high energy ray polymerization which has an ethylenically unsaturated group in the side chain, the compound which has a diol group, an isocyanate compound, a urethane (meth) acrylate compound, a diamine compound, a urea methacrylate compound, etc. For example, a functional copolymer. These can be used alone or in combination of two or more.

また、粘着剤層が熱により硬化する熱重合性成分を含む場合、粘着剤層には更に硬化促進剤を添加してもよい。硬化促進剤としては、特に制限はなく、例えば、イミダゾール類等が挙げられる。具体的には、例えば、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することができる。   When the pressure-sensitive adhesive layer contains a heat-polymerizable component that is cured by heat, a curing accelerator may be further added to the pressure-sensitive adhesive layer. There is no restriction | limiting in particular as a hardening accelerator, For example, imidazole etc. are mentioned. Specific examples include 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, and the like. Or in combination of two or more.

硬化促進剤の添加量は、熱重合性成分の総量100質量部に対して5質量部以下が好ましく、3質量部以下がより好ましい。この添加量が5質量部を超えると保存安定性が低下する傾向がある。   5 mass parts or less are preferable with respect to 100 mass parts of total amounts of a thermopolymerizable component, and, as for the addition amount of a hardening accelerator, 3 mass parts or less are more preferable. When this addition amount exceeds 5 parts by mass, the storage stability tends to decrease.

また、粘着剤層が高エネルギー線の照射により硬化する高エネルギー線重合性成分を含む場合、粘着剤層には、活性光線の照射によって遊離ラジカルを生成する光重合開始剤を添加することもできる。このような光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、N,N’−テトラメチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、N,N’−テトラエチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4−メトキシ−4’−ジメチルアミノベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトン、2−メチル−1−(4−(メチルチオ)フェニル)−2−モルフォリノプロパノン−1、2,4−ジエチルチオキサントン、2−エチルアントラキノン、フェナントレンキノン等の芳香族ケトン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル、メチルベンゾイン、エチルベンゾイン等のベンゾイン、ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(m−メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−フェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2,4−ジ(p−メトキシフェニル)−5−フェニルイミダゾール二量体、2−(2,4−ジメトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体、9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体などが挙げられる。これらは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することができる。   When the pressure-sensitive adhesive layer contains a high-energy ray polymerizable component that is cured by irradiation with high-energy rays, a photopolymerization initiator that generates free radicals upon irradiation with actinic rays can be added to the pressure-sensitive adhesive layer. . Examples of such a photopolymerization initiator include benzophenone, N, N′-tetramethyl-4,4′-diaminobenzophenone (Michler ketone), N, N′-tetraethyl-4,4′-diaminobenzophenone, 4- Methoxy-4′-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, 1- Aromatic ketones such as hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, 2-methyl-1- (4- (methylthio) phenyl) -2-morpholinopropanone-1, 2,4-diethylthioxanthone, 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone , Benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin Benzoin ether such as nyl ether, benzoin such as methyl benzoin and ethyl benzoin, benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4 , 5-di (m-methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-phenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer 2-mer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2,4-di (p-methoxyphenyl) -5-phenylimidazole dimer, 2- (2,4-dimethoxy) 2,4,5-triarylimidazole dimer such as phenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer , 9-phenyl acridine, 1,7-bis (9,9'-acridinyl) including acridine derivatives heptane, and the like. These can be used alone or in combination of two or more.

上記光重合開始剤の使用量としては、特に制限はないが、高エネルギー線重合性成分の総量100質量部に対して通常0.01〜30質量部である。   Although there is no restriction | limiting in particular as the usage-amount of the said photoinitiator, Usually, it is 0.01-30 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of a high energy ray polymeric component.

粘着フィルム3において、粘着剤層の厚さは、0.1〜20μmであることが好ましい。この厚さが0.1μm未満であると、十分な粘着力を確保することが困難となる傾向があり、ダイシング時に半導体チップが飛散する可能性があり、20μmを超えると、経済的でなくなる上に、特性上特に有利な点はない。   In the pressure-sensitive adhesive film 3, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 0.1 to 20 μm. If this thickness is less than 0.1 μm, it tends to be difficult to ensure sufficient adhesive force, and the semiconductor chip may be scattered during dicing, and if it exceeds 20 μm, it is not economical. There is no particular advantage in terms of characteristics.

剥離基材1は、接着シートの使用時にキャリアフィルムとしての役割を果たすものであり、かかる剥離基材1としては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルムなどのポリエステル系フィルム、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリビニルアセテートフィルムなどのポリオレフィン系フィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリイミドフィルムなどのプラスチックフィルム等を使用することができる。また、紙、不織布、金属箔等も使用することができる。   The peeling substrate 1 plays a role as a carrier film when using the adhesive sheet. Examples of the peeling substrate 1 include polyester films such as polyethylene terephthalate films, polytetrafluoroethylene films, polyethylene films, Polyolefin films such as polypropylene film, polymethylpentene film and polyvinyl acetate film, plastic films such as polyvinyl chloride film and polyimide film can be used. Moreover, paper, a nonwoven fabric, metal foil, etc. can also be used.

また、剥離基材1の接着剤層2と接する側の面は、シリコーン系剥離剤、フッ素系剥離剤、長鎖アルキルアクリレート系剥離剤等の離型剤で表面処理されていてもよい。   Further, the surface of the release substrate 1 on the side in contact with the adhesive layer 2 may be surface-treated with a release agent such as a silicone release agent, a fluorine release agent, or a long-chain alkyl acrylate release agent.

剥離基材1の厚さは、使用時の作業性を損なわない範囲で適宜選択することができるが、10〜500μmであることが好ましく、25〜100μmであることがより好ましく、30〜50μmであることが特に好ましい。   Although the thickness of the peeling base material 1 can be suitably selected in the range which does not impair the workability | operativity at the time of use, it is preferable that it is 10-500 micrometers, It is more preferable that it is 25-100 micrometers, It is 30-50 micrometers. It is particularly preferred.

以上説明した本発明の接着シートは、上記各層を形成する組成物を溶剤に溶解又は分散してワニスとし、剥離基材1上に塗布し、加熱により溶剤を除去することによって得ることができる。   The adhesive sheet of the present invention described above can be obtained by dissolving or dispersing the composition forming each layer in a solvent to form a varnish, applying the varnish on the release substrate 1, and removing the solvent by heating.

ここで、上記のワニス化するための溶剤としては特に限定されないが、フィルム作製時の揮発性などを考慮すると、例えば、メタノール、エタノール、2−メトキシエタノール、2−エトキシエタノール、2−ブトキシエタノール、メチルエチルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン、トルエン、キシレンなどの比較的低沸点の溶媒を使用することが好ましい。   Here, the solvent for varnishing is not particularly limited, but considering the volatility during film production, for example, methanol, ethanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, 2-butoxyethanol, It is preferable to use a solvent having a relatively low boiling point such as methyl ethyl ketone, acetone, methyl isobutyl ketone, toluene, and xylene.

また、塗膜性を向上させるなどの目的で、例えば、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン、シクロヘキサノンなどの比較的高沸点の溶媒を使用することもできる。これらの溶媒は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。   For the purpose of improving the coating properties, for example, a solvent having a relatively high boiling point such as dimethylacetamide, dimethylformamide, N-methylpyrrolidone and cyclohexanone can be used. These solvents can be used alone or in combination of two or more.

無機フィラーを添加した際のワニスの製造には、無機フィラーの分散性を考慮して、らいかい機、3本ロール、ボールミル及びビーズミルなどを使用することが好ましく、また、これらを組み合わせて使用することもできる。また、無機フィラーと低分子量の原料をあらかじめ混合した後、高分子量の原料を配合することによって、混合する時間を短縮することもできる。また、ワニスとした後、真空脱気等によってワニス中の気泡を除去することもできる。   For the production of the varnish when the inorganic filler is added, it is preferable to use a raking machine, a three-roll, a ball mill, a bead mill or the like in consideration of the dispersibility of the inorganic filler, or a combination thereof. You can also. Moreover, after mixing an inorganic filler and a low molecular weight raw material beforehand, the mixing time can also be shortened by mix | blending a high molecular weight raw material. Further, after the varnish is formed, the bubbles in the varnish can be removed by vacuum degassing or the like.

以上説明したような構成の接着シートに放射線等の高エネルギー線を照射すると、照射後には接着剤層2と粘着フィルム3との界面の粘着力が大きく低下し、半導体素子に接着剤層2を保持したまま粘着フィルム3から容易にピックアップすることが可能となる。   When the adhesive sheet having the structure as described above is irradiated with high energy rays such as radiation, the adhesive strength at the interface between the adhesive layer 2 and the adhesive film 3 is greatly reduced after irradiation, and the adhesive layer 2 is applied to the semiconductor element. It can be easily picked up from the adhesive film 3 while being held.

本発明の接着シートにおいて、接着剤層2と粘着フィルム3との界面の粘着力を低下させる方法としては、放射線等の高エネルギー線の照射のみで粘着力を低下させる方法以外に、高エネルギー線の照射と同時に又は照射後に硬化反応を促進する目的で加熱を併用する方法が挙げられる。加熱を併用することにより、より低温短時間での粘着力の低下が可能となる。加熱温度は、接着剤層の分解点以下であれば特に制限は受けないが、50〜170℃の温度が好ましい。   In the adhesive sheet of the present invention, the method for reducing the adhesive strength at the interface between the adhesive layer 2 and the adhesive film 3 is not limited to the method for reducing the adhesive strength only by irradiation with high energy rays such as radiation, but also high energy rays. The method of using heating together for the purpose of accelerating the curing reaction at the same time or after irradiation. By using heating together, it becomes possible to lower the adhesive strength at a lower temperature and in a shorter time. The heating temperature is not particularly limited as long as it is below the decomposition point of the adhesive layer, but a temperature of 50 to 170 ° C. is preferable.

(接着シートの製造方法)
次に本発明の接着シートを製造する方法について説明する。
(Adhesive sheet manufacturing method)
Next, a method for producing the adhesive sheet of the present invention will be described.

本発明の接着シートは、例えば、接着剤層2を剥離基材1に塗布する際にあらかじめ部分的に接着剤層2を形成するためのワニス等の原材料を分布させておく方法や、剥離基材1にマスクをし、このマスク部以外の部分に上記のワニス等の原材料を塗布する方法等を用いて形成することができるが、作業の簡便さを考慮すると、あらかじめ剥離基材1の全面に接着剤層2を塗布法により形成し、打ち抜き加工を施して不要部分を取り除く方法が好ましい。また、粘着フィルム3を部分的に形成する方法としても、上記と同様に打ち抜き加工を施して不要部分を取り除く方法が好ましい。   The adhesive sheet of the present invention includes, for example, a method in which raw materials such as varnish for partially forming the adhesive layer 2 are distributed in advance when the adhesive layer 2 is applied to the release substrate 1, It can be formed by using a method such as masking the material 1 and applying the raw material such as the varnish to other portions than the mask portion. Preferably, the adhesive layer 2 is formed by a coating method, and unnecessary portions are removed by punching. Moreover, as a method of partially forming the adhesive film 3, a method of removing unnecessary portions by punching in the same manner as described above is preferable.

ここで、図7(a)〜(f)は本発明の接着シートの製造方法の第1実施形態を示す一連の工程図である。第1実施形態にかかる本発明の接着シートの製造方法においては、まず、図7(a)に示すように、剥離基材1上の全面に接着剤層2を積層する(第1の積層工程)。次に、図7(b)に示すように、金型5又はそれに相当する部材を用いて、接着剤層2の剥離基材1に接する側と反対側の面F1から剥離基材1に達するまで切り込みを入れ、所定の形状に打ち抜き加工を施す(第1の切断工程)。その後、図7(c)に示すように、打ち抜き加工を施した接着剤層2の不要部分6を除去し、図7(d)に示すように、所定の平面形状を有する接着剤層2と、その外方に配置される支持接着剤層22とを形成する。次に、図7(e)及び(f)に示すように、接着剤層2の平面形状よりも一回り大きい平面形状に予め切断された粘着フィルム3を、接着剤層2を覆い、且つ、接着剤層2の周囲で剥離基材1と接するように積層するとともに、支持接着剤層22と略同一形状に予め切断された支持粘着フィルム23を、支持接着剤層22上に積層する(第2の積層工程)。このとき、粘着フィルム3と支持粘着フィルム23とは同一の組成を有するものであってもよく、異なる組成を有するものであってもよい。以上により、接着シート160を作製することができる。   Here, Fig.7 (a)-(f) is a series of process drawings which show 1st Embodiment of the manufacturing method of the adhesive sheet of this invention. In the manufacturing method of the adhesive sheet of the present invention according to the first embodiment, first, as shown in FIG. 7A, the adhesive layer 2 is laminated on the entire surface of the release substrate 1 (first laminating step). ). Next, as shown in FIG.7 (b), the peeling base material 1 is reached from the surface F1 on the opposite side to the side which contact | connects the peeling base material 1 of the adhesive bond layer 2 using the metal mold | die 5 or a member equivalent to it. Incision is made until a predetermined shape is punched (first cutting step). Thereafter, as shown in FIG. 7 (c), the unnecessary portion 6 of the punched adhesive layer 2 is removed, and as shown in FIG. 7 (d), the adhesive layer 2 having a predetermined planar shape and And a support adhesive layer 22 disposed on the outside thereof. Next, as shown in FIGS. 7 (e) and (f), the adhesive film 3 that has been cut in advance into a planar shape that is slightly larger than the planar shape of the adhesive layer 2 covers the adhesive layer 2, and Lamination is performed so as to be in contact with the peeling substrate 1 around the adhesive layer 2, and a support pressure-sensitive adhesive film 23 cut in advance in substantially the same shape as the support adhesive layer 22 is laminated on the support adhesive layer 22 (first 2 laminating step). At this time, the adhesive film 3 and the support adhesive film 23 may have the same composition, or may have different compositions. As described above, the adhesive sheet 160 can be manufactured.

また、図8(a)〜(g)は本発明の接着シートの製造方法の第2実施形態を示す一連の工程図である。第2実施形態にかかる本発明の接着シートの製造方法においては、まず、図8(a)に示すように、剥離基材1上の全面に接着剤層2を積層する(第1の積層工程)。次に、図8(b)に示すように、金型5又はそれに相当する部材を用いて、接着剤層2の剥離基材1に接する側と反対側の面F1から剥離基材1に達するまで切り込みを入れ、所定の形状に打ち抜き加工を施す(第1の切断工程)。その後、図8(c)に示すように、打ち抜き加工を施した接着剤層2の不要部分6を除去し、図8(d)に示すように、所定の平面形状を有する接着剤層2と、その外方に配置される支持接着剤層22とを形成する。次に、図8(e)に示すように、接着剤層2、支持接着剤層22及び露出している剥離基材1の全体を覆うように粘着フィルム3を積層する(第3の積層工程)。次に、図8(f)及び(g)に示すように、粘着フィルム3に対して金型等を用いて打ち抜き加工を施すことにより、接着剤層2を覆い、且つ、接着剤層2の周囲で剥離基材1と接するように積層された粘着フィルム3と、支持接着剤層22を覆い、且つ、一端が剥離基材1と接するように積層された支持粘着フィルム23とを形成する(第2の切断工程)。以上により、接着シート170を作製することができる。   Moreover, FIG. 8 (a)-(g) is a series of process drawings which shows 2nd Embodiment of the manufacturing method of the adhesive sheet of this invention. In the method for producing an adhesive sheet of the present invention according to the second embodiment, first, as shown in FIG. 8A, the adhesive layer 2 is laminated on the entire surface of the release substrate 1 (first lamination step). ). Next, as shown in FIG.8 (b), it uses the metal mold | die 5 or a member equivalent to it, and reaches the peeling base material 1 from the surface F1 on the opposite side to the peeling base material 1 side of the adhesive bond layer 2. Incision is made until a predetermined shape is punched (first cutting step). Thereafter, as shown in FIG. 8C, the unnecessary portion 6 of the punched adhesive layer 2 is removed, and as shown in FIG. 8D, the adhesive layer 2 having a predetermined planar shape is formed. And a support adhesive layer 22 disposed on the outside thereof. Next, as shown in FIG.8 (e), the adhesion film 3 is laminated | stacked so that the adhesive layer 2, the support adhesive layer 22, and the exposed peeling base material 1 may be covered (3rd lamination | stacking process). ). Next, as shown in FIGS. 8 (f) and 8 (g), the adhesive film 2 is covered by punching the pressure-sensitive adhesive film 3 using a mold or the like, and the adhesive layer 2 A pressure-sensitive adhesive film 3 laminated so as to be in contact with the peeling substrate 1 and a supporting pressure-sensitive adhesive film 23 covered with the supporting adhesive layer 22 and laminated so that one end is in contact with the peeling substrate 1 are formed ( Second cutting step). Thus, the adhesive sheet 170 can be manufactured.

これらの接着シートの製造方法において、第1の積層工程による接着剤層2の積層は、例えば、接着剤層2を構成する材料を溶剤に溶解又は分散してなる接着剤層形成用ワニスを剥離基材12上に塗布し、加熱により溶剤を除去することで行うことができる。   In these adhesive sheet manufacturing methods, the adhesive layer 2 is laminated by the first laminating step, for example, by peeling the varnish for forming the adhesive layer formed by dissolving or dispersing the material constituting the adhesive layer 2 in a solvent. It can apply by apply | coating on the base material 12 and removing a solvent by heating.

また、第3の積層工程における粘着フィルム3の積層は、例えば、粘着剤層を構成する材料を溶剤に溶解又は分散して粘着剤層形成用ワニスとし、これを基材フィルム上に塗布した後、加熱により溶剤を除去して、基材フィルム及び粘着剤層からなる粘着フィルム3を形成する。そして、得られた粘着フィルム3を、接着剤層2、支持接着剤層22及び露出している剥離基材1の全体を覆うように積層することによって行うことができる。   Moreover, lamination | stacking of the adhesive film 3 in a 3rd lamination process is after, for example, melt | dissolving or disperse | distributing the material which comprises an adhesive layer to a solvent, and it is set as the varnish for adhesive layer formation, and this is apply | coated on a base film. The solvent is removed by heating to form an adhesive film 3 composed of a base film and an adhesive layer. And the obtained adhesive film 3 can be performed by laminating | stacking so that the whole adhesive layer 2, the support adhesive layer 22, and the peeling base material 1 which has exposed may be covered.

ここで、剥離基材1及び基材フィルムへのワニスの塗布方法としては、公知の方法を用いることができ、例えば、ナイフコート法、ロールコート法、スプレーコート法、グラビアコート法、バーコート法、カーテンコート法等を用いることができる。   Here, as a method for applying the varnish to the peeling substrate 1 and the substrate film, a known method can be used, for example, knife coating method, roll coating method, spray coating method, gravure coating method, bar coating method. A curtain coating method or the like can be used.

また、粘着フィルム3の積層は、従来公知の方法によって行うことができ、例えば、ラミネーター等を用いて行うことができる。   Moreover, lamination | stacking of the adhesion film 3 can be performed by a conventionally well-known method, for example, can be performed using a laminator etc.

(半導体装置の製造方法)
次に、本発明の接着シートを用いて半導体装置を製造する方法について、図9を用いて説明する。なお、以下の説明においては、接着シートとして図1に示した接着シート100を用いる場合について説明する。また、接着シート100において、粘着フィルム3は、粘着剤層と基材フィルムとが積層された構成を有していることとする。
(Method for manufacturing semiconductor device)
Next, a method for manufacturing a semiconductor device using the adhesive sheet of the present invention will be described with reference to FIG. In the following description, the case where the adhesive sheet 100 shown in FIG. 1 is used as the adhesive sheet will be described. In the adhesive sheet 100, the pressure-sensitive adhesive film 3 has a configuration in which a pressure-sensitive adhesive layer and a base film are laminated.

図9(a)〜(c)は、接着シート100における積層体10を半導体ウェハ32に貼り付ける作業を行う一連の工程図である。図9(a)に示すように、接着シート100は、剥離基材1がキャリアフィルムの役割を果たしており、2つのロール62及び66と、楔状の部材64とに支持されながら、その一端が円柱状の巻芯44に接続された状態で巻回され第1のロール42を形成し、他端が円柱状の巻芯54に接続された状態で巻回され第2のロール52を形成している。そして、第2のロール52の巻芯54には、当該巻芯54を回転させるための巻芯駆動用モータ(図示せず)が接続されており、積層体10が剥離された後の剥離基材1が所定の速度で巻回されるようになっている。   FIGS. 9A to 9C are a series of process diagrams for performing an operation of attaching the laminated body 10 in the adhesive sheet 100 to the semiconductor wafer 32. As shown in FIG. 9A, the adhesive sheet 100 has a peeling substrate 1 serving as a carrier film, and is supported by two rolls 62 and 66 and a wedge-shaped member 64, while one end thereof is a circle. The first roll 42 is formed while being connected to the columnar core 44, and the second roll 52 is formed by being wound with the other end connected to the columnar core 54. Yes. A core driving motor (not shown) for rotating the core 54 is connected to the core 54 of the second roll 52, and the peeling base after the laminate 10 is peeled off. The material 1 is wound at a predetermined speed.

まず、巻芯駆動用モータが回転すると、第2のロール52の巻芯54が回転し、第1のロール42の巻芯44に巻回されている接着シート2が第1のロール42の外部に引き出される。そして、引き出された接着シート100は、移動式のステージ上に配置された円板状の半導体ウェハ32及びそれを囲むように配置されたウェハリング34上に導かれる。   First, when the winding core driving motor rotates, the winding core 54 of the second roll 52 rotates, and the adhesive sheet 2 wound around the winding core 44 of the first roll 42 is external to the first roll 42. Pulled out. The drawn adhesive sheet 100 is guided onto a disk-shaped semiconductor wafer 32 disposed on a movable stage and a wafer ring 34 disposed so as to surround the semiconductor wafer 32.

次に、剥離基材1から、接着剤層2及び粘着フィルム3からなる積層体10が剥離される。このとき、接着シート100の剥離基材1側から楔状の部材64が当てられており、剥離基材1は部材64側へ鋭角に曲げられ、剥離基材1と積層体10との間に剥離起点が作り出されることとなる。更に、剥離起点がより効率的に作り出されるように、剥離基材1と積層体10との境界面にエアーが吹き付けられている。   Next, the laminate 10 composed of the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive film 3 is peeled from the peeling substrate 1. At this time, the wedge-shaped member 64 is applied from the peeling substrate 1 side of the adhesive sheet 100, and the peeling substrate 1 is bent at an acute angle toward the member 64 side and peeled between the peeling substrate 1 and the laminate 10. A starting point will be created. Further, air is blown to the boundary surface between the peeling substrate 1 and the laminate 10 so that the peeling starting point is more efficiently created.

このようにして剥離基材1と積層体10との間に剥離起点が作り出された後、図9(b)に示すように、粘着フィルム3がウェハリング34と密着し、接着剤層2が半導体ウェハ32と密着するように積層体10の貼り付けが行われる。このとき、ロール68によって積層体10は半導体ウェハ32に圧着されることとなる。そして、図9(c)に示すように、半導体ウェハ32上への積層体10の貼り付けが完了し、積層体付き半導体ウェハが得られる。   After the peeling starting point is created between the peeling substrate 1 and the laminate 10 in this way, as shown in FIG. 9B, the adhesive film 3 is in close contact with the wafer ring 34, and the adhesive layer 2 is The stacked body 10 is attached so as to be in close contact with the semiconductor wafer 32. At this time, the laminated body 10 is pressed against the semiconductor wafer 32 by the roll 68. Then, as shown in FIG. 9C, the stacking of the stacked body 10 on the semiconductor wafer 32 is completed, and a semiconductor wafer with a stacked body is obtained.

以上のような手順により、半導体ウェハ32への積層体10の貼り付けを、自動化された工程で連続して行うことができる。このような半導体ウェハ32への積層体10の貼り付け作業を行う装置としては、例えば、リンテック(株)製のRAD−2500(商品名)等が挙げられる。   By the procedure as described above, the laminate 10 can be attached to the semiconductor wafer 32 continuously in an automated process. As an apparatus for performing the operation of attaching the laminate 10 to the semiconductor wafer 32, for example, RAD-2500 (trade name) manufactured by Lintec Corporation may be used.

このような工程により積層体10を半導体ウェハ32に貼り付ける場合、接着シート100はロール状に巻き取られた状態(第1のロール42)で用いられるが、このとき、接着シート100が支持層20を有していることにより、接着剤層2に巻き跡が転写されることを十分に抑制することができる。これにより、半導体ウェハ32に積層体10を貼り付ける際に空気の巻き込み等を低減することができ、半導体ウェハ32と接着剤層2との界面におけるボイドの発生を十分に抑制することができる。   When the laminated body 10 is attached to the semiconductor wafer 32 by such a process, the adhesive sheet 100 is used in a state of being rolled up (first roll 42). At this time, the adhesive sheet 100 is used as a support layer. By having 20, it is possible to sufficiently suppress the winding mark from being transferred to the adhesive layer 2. Thereby, when the laminated body 10 is affixed to the semiconductor wafer 32, air entrainment or the like can be reduced, and generation of voids at the interface between the semiconductor wafer 32 and the adhesive layer 2 can be sufficiently suppressed.

次に、上記の工程により得られた積層体付き半導体ウェハをダイシングし、必要な大きさの積層体付き半導体素子を得る。ここで更に、洗浄、乾燥等の工程を行ってもよい。このとき、接着剤層2及び粘着フィルム3により半導体ウェハ32は積層体10に十分に粘着保持されているので、上記各工程中に半導体ウェハが脱落することが抑制される。   Next, the semiconductor wafer with a laminated body obtained by the above process is diced to obtain a semiconductor element with a laminated body having a required size. Here, steps such as washing and drying may be further performed. At this time, since the semiconductor wafer 32 is sufficiently adhered and held on the laminate 10 by the adhesive layer 2 and the adhesive film 3, the semiconductor wafer is suppressed from falling off during each of the above steps.

次に、放射線等の高エネルギー線を積層体10の粘着フィルム3に照射し、粘着フィルム3における粘着剤層の一部又は大部分を重合硬化せしめる。この際、高エネルギー線照射と同時に又は照射後に、硬化反応を促進する目的で更に加熱を行っても良い。   Next, a high energy ray such as radiation is irradiated to the adhesive film 3 of the laminate 10, and a part or most of the adhesive layer in the adhesive film 3 is polymerized and cured. At this time, heating may be further performed for the purpose of accelerating the curing reaction simultaneously with or after irradiation with the high energy beam.

粘着フィルム3への高エネルギー線の照射は、基材フィルムの粘着剤層が設けられていない側の面から行う。したがって、高エネルギー線として紫外線を用いる場合には、基材フィルムは光透過性であることが必要である。なお、高エネルギー線として電子線を用いる場合には、基材フィルムは必ずしも光透過性である必要はない。   Irradiation of the high energy ray to the adhesive film 3 is performed from the surface of the base film on which the adhesive layer is not provided. Therefore, when ultraviolet rays are used as the high energy rays, the substrate film needs to be light transmissive. In addition, when using an electron beam as a high energy ray, the base film does not necessarily need to be light transmissive.

高エネルギー線照射後、ピックアップすべき半導体素子を、例えば吸引コレットによりピックアップする。この際、ピックアップすべき半導体素子を基材フィルムの下面から、例えば針扞等により突き上げることもできる。粘着剤層を硬化させることにより、半導体素子と接着剤層2との間の粘着力は、接着剤層2と粘着剤層との間の粘着力よりも大きくなるため、半導体素子のピックアップを行うと、接着剤層2と粘着剤層との界面で剥離が生じ、接着剤層2が半導体素子の下面に付着した状態の接着剤層付き半導体素子がピックアップされることとなる。   After the high energy beam irradiation, the semiconductor element to be picked up is picked up by, for example, a suction collet. At this time, the semiconductor element to be picked up can be pushed up from the lower surface of the base film by, for example, a needle rod. By curing the pressure-sensitive adhesive layer, the pressure-sensitive adhesive force between the semiconductor element and the adhesive layer 2 becomes larger than the pressure-sensitive adhesive force between the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive layer. Then, peeling occurs at the interface between the adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive layer, and the semiconductor element with the adhesive layer in a state where the adhesive layer 2 adheres to the lower surface of the semiconductor element is picked up.

この接着剤層付き半導体素子を、接着剤層2を介して半導体素子搭載用の支持部材に載置し、加熱を行う。加熱により接着剤層2は接着力が発現し、半導体素子と半導体素子搭載用支持部材との接着が完了する。   This semiconductor element with an adhesive layer is placed on a support member for mounting a semiconductor element via the adhesive layer 2 and heated. The adhesive layer 2 develops an adhesive force by heating, and the bonding between the semiconductor element and the semiconductor element mounting support member is completed.

その後、必要に応じてワイヤボンド工程や封止工程等を経て、半導体装置が製造される。   Then, a semiconductor device is manufactured through a wire bonding process, a sealing process, and the like as necessary.

(半導体装置)
図10は、上述した半導体装置の製造方法により製造される本発明の半導体装置の一実施形態を示す模式断面図である。
(Semiconductor device)
FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the semiconductor device of the present invention manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device described above.

図10に示すように、半導体装置300は、半導体素子搭載用の支持部材となる有機基板70上に、接着剤層2及び半導体素子72からなる接着剤層付き半導体素子が2つ積層されている。また、有機基板70には、回路パターン74及び端子76が形成されており、この回路パターン74と2つの半導体素子72とが、ワイヤボンド78によってそれぞれ接続されている。そして、これらが封止材80により封止され、半導体装置300が形成されている。この半導体装置300は、上述した本発明の半導体装置の製造方法により、本発明の接着シート100を用いて製造されるものである。   As shown in FIG. 10, in the semiconductor device 300, two semiconductor elements with an adhesive layer made up of an adhesive layer 2 and a semiconductor element 72 are stacked on an organic substrate 70 serving as a support member for mounting a semiconductor element. . A circuit pattern 74 and a terminal 76 are formed on the organic substrate 70, and the circuit pattern 74 and the two semiconductor elements 72 are connected to each other by wire bonds 78. These are sealed with a sealing material 80 to form a semiconductor device 300. This semiconductor device 300 is manufactured using the adhesive sheet 100 of the present invention by the above-described method for manufacturing a semiconductor device of the present invention.

以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to a following example.

(接着剤層形成用ワニスの作製)
まず、エポキシ樹脂としてクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(商品名:YDCN−703、東都化成(株)製、エポキシ当量:220)60質量部、及び、硬化剤として低吸水性フェノール樹脂(商品名:XLC−LL、三井化学(株)製、フェノールキシレングリコールジメチルエーテル縮合物)40質量部に、シクロヘキサノン1500質量部を加えて撹拌混合し、第1のワニスを調製した。次に、この第1のワニスに、カップリング剤としてγ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(商品名:NUC A−189、日本ユニカー(株)製)1.5質量部、及び、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン(商品名:NCU A−1160、日本ユニカー(株)製)3質量部を加え、更に無機物フィラーとしてシリカフィラー(商品名:R972V、日本アエロジル(株)製)32質量部を加えて撹拌混合した後、ビーズミルにより分散処理を行うことで第2のワニスを調製した。次に、この第2のワニスに、エポキシ基含有アクリル系共重合体(商品名:HTR−860P−3、帝国化学産業(株)製)200質量部、及び、硬化促進剤として1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール(商品名:キュアゾール2PZ−CN、四国化成(株)製)0.5質量部を加えて撹拌混合し、接着剤層形成用ワニスを調整した。
(Preparation of adhesive layer forming varnish)
First, 60 parts by mass of a cresol novolak type epoxy resin (trade name: YDCN-703, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., epoxy equivalent: 220) as an epoxy resin, and a low water absorption phenol resin (trade name: XLC-) as a curing agent LL, manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., phenol xylene glycol dimethyl ether condensate) was added to 1500 parts by mass of cyclohexanone and stirred and mixed to prepare a first varnish. Next, 1.5 parts by mass of γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane (trade name: NUC A-189, manufactured by Nippon Unicar Co., Ltd.) as a coupling agent, and γ-ureido as a coupling agent Add 3 parts by mass of propyltriethoxysilane (trade name: NCU A-1160, manufactured by Nippon Unicar Co., Ltd.), and add 32 parts by mass of silica filler (trade name: R972V, manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd.) as an inorganic filler. After stirring and mixing, a second varnish was prepared by performing a dispersion treatment with a bead mill. Next, an epoxy group-containing acrylic copolymer (trade name: HTR-860P-3, manufactured by Teikoku Chemical Industry Co., Ltd.) 200 parts by mass and 1-cyanoethyl- as a curing accelerator are added to the second varnish. 0.5 parts by mass of 2-phenylimidazole (trade name: Curesol 2PZ-CN, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.) was added and mixed by stirring to prepare an adhesive layer forming varnish.

(実施例1)
上記接着剤層形成用ワニスを、剥離基材である膜厚50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(商品名:テイジンピューレックスA31、帝人デュポンフィルム(株)製)上に塗布し、140℃で5分間加熱乾燥を行い、膜厚10μmのBステージ状態の接着剤層を形成した。
Example 1
The adhesive layer-forming varnish is applied onto a 50 μm-thick polyethylene terephthalate film (trade name: Teijin Purex A31, manufactured by Teijin DuPont Films, Ltd.), which is a release substrate, and heat-dried at 140 ° C. for 5 minutes. And an adhesive layer in a B-stage state having a film thickness of 10 μm was formed.

得られた接着剤層に対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節してφ210mmの円形プリカット加工を行うとともに、剥離基材の短手方向の両端部に接着剤層(支持接着剤層)が残る形状になるよう加工を行った(第1の切断工程)。   The obtained adhesive layer is adjusted so that the depth of cut into the release substrate is 10 μm or less, and is subjected to circular precut processing of φ210 mm, and adhesive is applied to both ends of the release substrate in the short direction. Processing was performed so that the layer (support adhesive layer) remained (first cutting step).

その後、接着剤層の不要部分を除去し、粘着フィルムをその粘着剤層が接着剤層と接するように、室温、線圧1kg/cm、速度0.5m/分の条件で貼付けた。そして、粘着フィルムに対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節して接着剤層と同心円状にφ290mmの円形プリカット加工を行うとともに、剥離基材の短手方向の両端部に残った支持接着剤層上に粘着フィルム(支持粘着フィルム)が積層され、該支持粘着フィルムが支持接着剤層を覆い、且つ、支持粘着フィルムの剥離基材中央部側の端部が剥離基材と接した状態となるよう加工を行った(第2の切断工程)。これにより、図3に示す構造を有する接着シートを得た。   Thereafter, unnecessary portions of the adhesive layer were removed, and the pressure-sensitive adhesive film was pasted at room temperature, linear pressure of 1 kg / cm, and speed of 0.5 m / min so that the pressure-sensitive adhesive layer was in contact with the adhesive layer. Then, the adhesive film is adjusted so that the depth of cut into the release substrate is 10 μm or less, and is subjected to a circular precut process of φ290 mm concentrically with the adhesive layer, and in the short direction of the release substrate. An adhesive film (supporting adhesive film) is laminated on the supporting adhesive layer remaining at both ends, the supporting adhesive film covers the supporting adhesive layer, and an end of the supporting adhesive film on the central side of the peeling substrate is Processing was performed so as to be in contact with the release substrate (second cutting step). Thereby, an adhesive sheet having the structure shown in FIG. 3 was obtained.

(実施例2)
接着剤層の膜厚を25μmとした以外は実施例1と同様にして接着シートを得た。
(Example 2)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the adhesive layer was 25 μm.

(実施例3)
接着剤層の膜厚を40μmとした以外は実施例1と同様にして接着シートを得た。
(Example 3)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the adhesive layer was 40 μm.

(実施例4)
上記接着剤層形成用ワニスを、膜厚50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(商品名:テイジンピューレックスA31、帝人デュポンフィルム(株)製)上に塗布し、140℃で5分間加熱乾燥を行い、膜厚10μmのBステージ状態の接着剤層を形成した。
Example 4
The adhesive layer forming varnish is applied on a polyethylene terephthalate film (trade name: Teijin Purex A31, manufactured by Teijin DuPont Films Co., Ltd.) having a film thickness of 50 μm, and heated and dried at 140 ° C. for 5 minutes. A 10 μm B-stage adhesive layer was formed.

得られた接着剤層に対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節してφ210mmの円形プリカット加工を行うとともに、剥離基材の短手方向の両端部に接着剤層(支持接着剤層)が残る形状になるよう加工を行った(第1の切断工程)。   The obtained adhesive layer is adjusted so that the depth of cut into the release substrate is 10 μm or less, and is subjected to circular precut processing of φ210 mm, and adhesive is applied to both ends of the release substrate in the short direction. Processing was performed so that the layer (support adhesive layer) remained (first cutting step).

その後、接着剤層の不要部分を除去し、粘着フィルムをその粘着剤層が接着剤層と接するように、室温、線圧1kg/cm、速度0.5m/分の条件で貼付けた。そして、粘着フィルムに対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節して接着剤層と同心円状にφ290mmの円形プリカット加工を行うとともに、支持接着剤層への切り込み深さが10μm以下となるように調節して、剥離基材の短手方向の両端部に残った支持接着剤層上に粘着フィルム(支持粘着フィルム)が支持接着剤層の短手方向中央部に積層された状態となるよう加工を行った(第2の切断工程)。これにより、図6に示す構造を有する接着シートを得た。   Thereafter, unnecessary portions of the adhesive layer were removed, and the pressure-sensitive adhesive film was pasted at room temperature, linear pressure of 1 kg / cm, and speed of 0.5 m / min so that the pressure-sensitive adhesive layer was in contact with the adhesive layer. Then, the adhesive film is adjusted so that the depth of cut into the release substrate is 10 μm or less, and is subjected to a circular pre-cut process of φ290 mm concentrically with the adhesive layer, and the depth of cut into the support adhesive layer Is adjusted to be 10 μm or less, and the adhesive film (supporting adhesive film) is placed on the center part in the short direction of the supporting adhesive layer on the supporting adhesive layer remaining at both ends in the short direction of the peeling substrate. It processed so that it might be in the laminated | stacked state (2nd cutting process). Thereby, an adhesive sheet having the structure shown in FIG. 6 was obtained.

(実施例5)
接着剤層の膜厚を25μmとした以外は実施例4と同様にして接着シートを得た。
(Example 5)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Example 4 except that the thickness of the adhesive layer was 25 μm.

(実施例6)
接着剤層の膜厚を40μmとした以外は実施例5と同様にして接着シートを得た。
(Example 6)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Example 5 except that the thickness of the adhesive layer was 40 μm.

(比較例1)
上記接着剤層形成用ワニスを、膜厚50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(商品名:テイジンピューレックスA31、帝人デュポンフィルム(株)製)上に塗布し、140℃で5分間加熱乾燥を行い、膜厚10μmのBステージ状態の接着剤層を形成した。
(Comparative Example 1)
The adhesive layer forming varnish is applied on a polyethylene terephthalate film (trade name: Teijin Purex A31, manufactured by Teijin DuPont Films Co., Ltd.) having a film thickness of 50 μm, and heated and dried at 140 ° C. for 5 minutes. A 10 μm B-stage adhesive layer was formed.

得られた接着剤層に対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節してφ210mmの円形プリカット加工を行った。   The obtained adhesive layer was subjected to circular precut processing with a diameter of 210 mm by adjusting the depth of cut into the release substrate to 10 μm or less.

その後、接着剤層の不要部分を除去し、粘着フィルムをその粘着剤層が接着剤層と接するように、室温、線圧1kg/cm、速度0.5m/分の条件で貼付けた。そして、粘着フィルムに対して、剥離基材への切り込み深さが10μm以下となるように調節して接着剤層と同心円状にφ290mmの円形プリカット加工を行った。これにより、図11に示す構造を有する接着シートを得た。   Thereafter, unnecessary portions of the adhesive layer were removed, and the pressure-sensitive adhesive film was pasted at room temperature, linear pressure of 1 kg / cm, and speed of 0.5 m / min so that the pressure-sensitive adhesive layer was in contact with the adhesive layer. Then, the adhesive film was adjusted so that the depth of cut into the release substrate was 10 μm or less, and a circular precut process of φ290 mm was performed concentrically with the adhesive layer. As a result, an adhesive sheet having the structure shown in FIG. 11 was obtained.

(比較例2)
接着剤層の膜厚を25μmとした以外は比較例1と同様にして接着シートを得た。
(Comparative Example 2)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Comparative Example 1 except that the thickness of the adhesive layer was 25 μm.

(比較例3)
接着剤層の膜厚を40μmとした以外は比較例1と同様にして接着シートを得た。
(Comparative Example 3)
An adhesive sheet was obtained in the same manner as in Comparative Example 1 except that the thickness of the adhesive layer was 40 μm.

[巻き跡の転写抑制性評価試験]
実施例1〜6及び比較例1〜3の接着シートを、円形形状の粘着フィルムの数が300枚になるように、巻き取り張力を1kg又は3kgとしてロール状に巻き取り、接着シートロールを作製した。得られた接着シートロールを2週間冷蔵庫内(5℃)で放置した。その後、接着シートロールを室温に戻してからロールを解き、150枚目のフィルムについて目視にて巻き跡の転写の有無を観察し、以下の評価基準に従って、○、△、×の3段階で接着シートの巻き跡の転写抑制性を評価した。その結果を表1に示す。
○:あらゆる角度から観察しても凹み(巻き跡の転写)を確認できない、
△:フィルム上面からは凹み(巻き跡の転写)が確認できないが、フィルムの角度を変え観察することで凹みが確認できる、
×:フィルム上面から観察し、フィルム上に凹み(巻き跡の転写)が確認できる。
[Evaluation test of transcriptional inhibition of winding marks]
The adhesive sheets of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 3 were wound into a roll with a winding tension of 1 kg or 3 kg so that the number of circular adhesive films was 300, and an adhesive sheet roll was produced. did. The obtained adhesive sheet roll was left in a refrigerator (5 ° C.) for 2 weeks. Then, after returning the adhesive sheet roll to room temperature, the roll is unwound, and the presence or absence of the transfer of the trace is visually observed for the 150th film, and bonded in three stages according to the following evaluation criteria: ○, Δ, × The transfer inhibition of the sheet trace was evaluated. The results are shown in Table 1.
○: Even if observed from any angle, dents (transfer of traces) cannot be confirmed.
Δ: No dent (transfer of traces) can be confirmed from the upper surface of the film, but the dent can be confirmed by changing the angle of the film and observing.
X: Observed from the upper surface of the film, and dents (transfer of traces) can be confirmed on the film.

Figure 0005370414
Figure 0005370414

また、巻き跡の転写抑制性を評価した後の接着シートにおいて、接着剤層及び粘着フィルムを剥離基材から剥離し、これを接着剤層側から半導体ウェハに貼り付けたときのボイドの発生の有無を目視にて評価した。その結果、上記巻き跡の転写抑制性の評価結果が○であったものは、ボイドの発生も十分に抑制されており、△であったものは、ボイドがやや発生しており、×であったものは、ボイドが多く発生していることが確認された。   In addition, in the adhesive sheet after evaluating the transfer inhibition of the trace, the occurrence of voids when the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film are peeled off from the release substrate and this is attached to the semiconductor wafer from the adhesive layer side. The presence or absence was evaluated visually. As a result, when the evaluation result of the transfer inhibition property of the above-mentioned trace was ◯, the generation of voids was sufficiently suppressed, and when the evaluation was △, the voids were slightly generated, and ×. It was confirmed that many voids were generated.

以上の結果から明らかなように、本発明の接着シート(実施例1〜6)によれば、比較例の接着シート(比較例1〜3)と比較して、ロール状に巻き取った場合において、接着剤層に巻き跡が転写されることを十分に抑制することができ、それによって、接着剤層を半導体ウェハに貼り付ける際にボイドの発生を十分に抑制することができることが確認された。   As is clear from the above results, according to the adhesive sheets of the present invention (Examples 1 to 6), in comparison with the comparative example of the adhesive sheets (Comparative Examples 1 to 3), It was confirmed that it was possible to sufficiently suppress the transfer of the winding marks to the adhesive layer, thereby sufficiently suppressing the generation of voids when the adhesive layer was attached to the semiconductor wafer. .

1…剥離基材、2…接着剤層、3…粘着フィルム、5…金型、6…接着剤層不要部、10…積層体、20…支持層、22…支持接着剤層、23…支持粘着フィルム、100,110,120,130,140,150…接着シート。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Release substrate, 2 ... Adhesive layer, 3 ... Adhesive film, 5 ... Mold, 6 ... Adhesive layer unnecessary part, 10 ... Laminated body, 20 ... Support layer, 22 ... Support adhesive layer, 23 ... Support Adhesive film, 100, 110, 120, 130, 140, 150 ... adhesive sheet.

Claims (7)

剥離基材上に接着剤層を積層する第1の積層工程と、
前記接着剤層の前記剥離基材に接する側と反対側の面から前記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、所定の平面形状の接着剤層と、該接着剤層の外方に配置される支持接着剤層とを形成する第1の切断工程と、
前記所定の平面形状の接着剤層上に、該接着剤層を覆い、且つ、該接着剤層の周囲で前記剥離基材に接するように粘着フィルムを積層するとともに、前記支持接着剤層上に、前記粘着フィルムと同一組成であり、且つ、前記粘着フィルムの膜厚と同等又はそれ以上の膜厚を有する支持粘着フィルムを積層する第2の積層工程と、
を含むことを特徴とする接着シートの製造方法。
A first laminating step of laminating an adhesive layer on the release substrate;
A notch is made from the surface of the adhesive layer opposite to the side in contact with the release substrate until it reaches the release substrate, and the adhesive layer having a predetermined planar shape is disposed outside the adhesive layer. A first cutting step to form a supporting adhesive layer;
A pressure-sensitive adhesive film is laminated on the adhesive layer having a predetermined planar shape so as to cover the adhesive layer and be in contact with the release substrate around the adhesive layer, and on the supporting adhesive layer. A second laminating step of laminating a support adhesive film having the same composition as the adhesive film and having a film thickness equal to or greater than the film thickness of the adhesive film;
The manufacturing method of the adhesive sheet characterized by including.
剥離基材上に接着剤層を積層する第1の積層工程と、
前記接着剤層の前記剥離基材に接する側と反対側の面から前記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、所定の平面形状の接着剤層と、該接着剤層の外方に配置される支持接着剤層とを形成する第1の切断工程と、
前記所定の平面形状の接着剤層、前記支持接着剤層及び前記剥離基材を覆うように、粘着フィルムを積層する第3の積層工程と、
前記粘着フィルムの前記剥離基材側と反対側の面から前記剥離基材に達するまで切り込みを入れ、前記所定の平面形状の接着剤層を覆い、且つ、該接着剤層の周囲で前記剥離基材に接する前記粘着フィルムと、前記支持接着剤層上に配置される支持粘着フィルムとを形成する第2の切断工程と、
を含むことを特徴とする接着シートの製造方法。
A first laminating step of laminating an adhesive layer on the release substrate;
A notch is made from the surface of the adhesive layer opposite to the side in contact with the release substrate until it reaches the release substrate, and the adhesive layer having a predetermined planar shape is disposed outside the adhesive layer. A first cutting step to form a supporting adhesive layer;
A third laminating step of laminating an adhesive film so as to cover the predetermined planar shape adhesive layer, the supporting adhesive layer and the release substrate;
A notch is made from the surface opposite to the release substrate side of the pressure-sensitive adhesive film to reach the release substrate, covering the adhesive layer having the predetermined planar shape, and the release group around the adhesive layer. A second cutting step for forming the pressure-sensitive adhesive film in contact with the material, and a support pressure-sensitive adhesive film disposed on the support adhesive layer;
The manufacturing method of the adhesive sheet characterized by including.
前記支持粘着フィルムを、一部が前記剥離基材と接するように前記支持接着剤層上に積層することを特徴とする請求項1又は2記載の接着シートの製造方法。   The method for producing an adhesive sheet according to claim 1 or 2, wherein the supporting pressure-sensitive adhesive film is laminated on the supporting adhesive layer so that a part thereof is in contact with the release substrate. 前記剥離基材は長尺のものであり、前記支持接着剤層及び前記支持粘着フィルムを、少なくとも前記剥離基材の短手方向の両端部上に形成することを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか一項に記載の接着シートの製造方法。   The said peeling base material is a long thing, The said support adhesive layer and the said support adhesive film are formed on the both ends of the transversal direction of the said peeling base material at least. The manufacturing method of the adhesive sheet as described in any one of these. 前記接着剤層及び前記粘着フィルムの少なくとも一方を、円形形状あるいは前記剥離基材を剥離した後に前記接着剤層又は前記粘着フィルムを貼り付けるべき被着体の平面形状に合致する平面形状を有するものとすることを特徴とする請求項1〜4のうちのいずれか一項に記載の接着シートの製造方法。   At least one of the adhesive layer and the pressure-sensitive adhesive film has a circular shape or a planar shape that matches the planar shape of the adherend to which the adhesive layer or the pressure-sensitive adhesive film is to be attached after peeling the release substrate. The manufacturing method of the adhesive sheet according to any one of claims 1 to 4, wherein 前記接着剤層は、25℃での硬化前の貯蔵弾性率が10〜10000MPaであり、且つ、260℃での硬化後の貯蔵弾性率が0.5〜30MPaであるものであることを特徴とする請求項1〜5のうちのいずれか一項に記載の接着シートの製造方法。   The adhesive layer has a storage elastic modulus before curing at 25 ° C. of 10 to 10,000 MPa and a storage elastic modulus after curing at 260 ° C. of 0.5 to 30 MPa. The manufacturing method of the adhesive sheet as described in any one of Claims 1-5. 前記粘着フィルムは、高エネルギー線の照射により、前記接着剤層に対する粘着力が低下するものであることを特徴とする請求項1〜6のうちのいずれか一項に記載の接着シートの製造方法。
The said adhesive film is what the adhesive force with respect to the said adhesive bond layer falls by irradiation of a high energy ray, The manufacturing method of the adhesive sheet as described in any one of Claims 1-6 characterized by the above-mentioned. .
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