JP5367236B2 - 携帯可能電子装置およびicカード - Google Patents
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Description
図1は、本実施の形態に係るICカード(携帯可能電子装置)2、および、ICカード2との通信機能を有する外部装置としてのICカード処理装置1の構成例を概略的に示すブロック図である。
まず、上記ICカード処理装置1の構成について説明する。
上記ICカード処理装置1は、図1に示すように、端末装置11、ディスプレイ12、キーボード13、テンキー14、及び、カードリーダライタ15などを有している。
上記端末装置11は、上記カードリーダライタ15によりICカード2へコマンドを送信する機能、ICカード2から受信したデータを基に種々の処理を行う機能などを有している。たとえば、上記端末装置11は、カードリーダライタ15を介してICカード2にデータの書き込みコマンドを送信することによりICカード2内の不揮発性メモリにデータを書き込む制御を行う。また、上記端末装置11は、ICカード2に読み取りコマンドを送信することによりICカード2からデータを読み出す制御を行う。
上記ICカード2は、上記ICカード処理装置1などの上位機器から電力などの供給を受けた際、活性化される(動作可能な状態になる)ようになっている。例えば、上記ICカード2が接触型の通信によりICカード処理装置1と接続される場合、つまり、ICカード2が接触型のICカードで構成される場合、上記ICカード2は、通信インターフェースとしてのコンタクト部を介してICカード処理装置1からの動作電源及び動作クロックの供給を受けて活性化される。
図2は、本実施の形態に係るICカード2の構成例を概略的に示すブロック図である。上記ICカード2は、本体Cを構成する筐体内にモジュールMが内蔵されている。上記モジュールMは、1つまたは複数のICチップCaと通信用の外部インターフェース(通信インターフェース)とが接続された状態で一体的に形成され、ICカード2の本体C内に埋設されている。また、上記ICカード2のモジュールMは、図2に示すように、制御部21、通信インターフェース22、ROM23、RAM24、不揮発性メモリ25などを有してしている。
上記RAM24は、ワーキングメモリとして機能する揮発性のメモリである。また、上記RAM24は、制御部21が処理中のデータなどを一時保管するバッファとしても機能する。例えば、上記RAM24は、上記通信インターフェース22を介してICカード処理装置1から受信したデータを一時保管するようになっている。
図3は、上記ROM23または上記不揮発性メモリ25上のROM領域におけるデータ構成例を示す図である。ここでは、ROM23内が図3に示すような構成となっているものとする。
図3に示す例では、ROM23上の記憶領域は、格納するデータごとに複数の領域310、320、331、332、334、335、…、341、342、…、34nに分割されている。これらの各領域は、自己診断制御情報320により定義される。図3に示す例では、各領域310、320、331、332、334、335、…、341、342、…、34nには、自己診断プログラム、自己診断情報、および、各種の機能を実現するための各種の制御プログラムなどがそれぞれ格納されている。言い換えると、各領域310、320、331、332、334、335、…、341、342、…、34nは、各種の制御プログラムが実現する機能ブロックを構成している。
図4は、上記RAM24または上記不揮発性メモリ25上のRAM領域におけるデータ構成例を示す図である。ここでは、上記RAM24内が図3に示すような構成となっているものとする。
図4に示すように、上記RAM24には、各制御プログラムにより実現される機能ごとにワーキングメモリとして使用する領域(データ記憶領域)431、432、433、434、435、…、441、442、…、44nが設定される。図4に示す例では、図3に示す各種の制御プログラムに対応して、ブート処理用データ領域431、プロトコル制御用データ領域432、共通処理用データ領域433、ファイル管理用データ領域434、フェーズ管理用データ領域435、…、各種アプリケーション(アプリケーション1〜n)用データ領域441〜44nなどが設定されている。つまり、上記のような各領域431、432、433、434、435、…、441、442、…、44nは、それぞれ、ブート処理、プロトコル制御、共通処理、ファイル管理、フェーズ管理、アプリケーション1〜nのためのRAM領域として用いられる。
図5は、上記自己診断情報のデータ構成例を示す図である。たとえば、図3に示す自己診断情報は、図5に示すような構成となっているものとする。
図5に示すように、上記自己診断情報では、各機能ごとに、使用する各種メモリの領域を示す情報が示される。図5に示す例では、図3に示す各種の制御プログラムに対応して、ROM領域を示すROM領域情報を格納するための領域331a、332a、333a、…、34na、RAM領域を示すRAM領域情報を格納するための領域331b、332b、333b、…、34nb、不揮発性メモリ領域を示す不揮発性メモリ領域情報を格納するための領域331c、332c、333c、…、34ncが示されている。つまり、図5に示す例では、自己診断情報は、ブート処理、プロトコル制御、共通処理、ファイル管理、フェーズ管理、各種アプリケーション(アプリケーション1〜n)などに対するROM領域、RAM領域および不揮発性メモリ領域を示す情報により構成されている。
図6は、自己診断処理の一例を説明するためのフローチャートである。
上述したように、各機能の自己診断処理は、自己診断プログラムにより自己診断情報を参照しつつ実行される。ここでは、各機能を実現するための構成として、各機能ごとに、ROM領域、RAM領域、不揮発性メモリ領域が自己診断情報として設定されているものとする。この場合、上記自己診断処理では、診断対象とする機能の各メモリ領域(自己診断情報により示される各領域)におけるデータが正常か否かを診断するものとする。たとえば、図3及び図4に示すようなプロトコル制御、共通処理、ファイル管理、フェーズ管理、…、各アプリケーションなどの機能は、図6に示すような手順で自己診断処理が実行される。つまり、図3及び図4に示すような各機能の自己診断処理は、診断の対象とする領域が異なるだけで、同様な手順で実行可能である。
上記のように、上記ICカード2では、自己診断情報として、各機能ごとに、各機能を実現するための各メモリにおけるデータ記憶領域を示す情報を保持している。これにより、上記ICカード2では、各機能を実行する直前に、実行しようとする機能に対する自己診断処理を適宜実行することができるようになっている。
まず、自己診断処理を含む処理としての第1の処理例について説明する。
図7は、上記ICカード2における自己診断処理を含む第1の処理例を説明するためのフローチャートである。
まず、上記ICカード処理装置1から電源供給、動作クロック信号およびリセット信号等を受けると、上記ICカード2の制御部21は、まず、ブート処理(活性化処理)を実行する(ステップS21)。上記ブート処理は、上記ROM23に記憶されているブート処理プログラムを上記制御部21が実行することにより実現されるものとする。
たとえば、プロトコル制御処理を行う場合(ステップS24、YES)、上記制御部21は、プロトコル制御機能の自己診断が実行済みか否かを判断する(ステップS31)。ここでは、自己診断を実行すべき各機能には、自己診断を実行したか否かを示す情報がセットされるフラグ(状態情報記憶手段)がそれぞれ設定されているものとする。これらのフラグは、たとえば、RAM24上に設定される。すなわち、プロトコル制御処理を行う場合(ステップS24、YES)、上記制御部21は、プロトコル制御に対応づけられているフラグの状態に基づいてプロトコル制御機能に対する自己診断が実行済みであるか否かを判断する(ステップS31)。
また、上記判断によりプログラム制御機能の自己診断が実行済みであると判断した場合(ステップS31、YES)、上記制御部21は、プロトコル制御機能に対する自己診断を省略し、既に実行済みの自己診断結果を参照してプロトコル制御機能が故障している可能性があるか否か判断する(ステップS33)。
上記自己診断処理によりプロトコル制御機能が正常であると診断された場合(ステップS33、NO)、上記制御部21は、プロトコル制御機能に対する自己診断が実行済みであることを示す情報をプロトコル制御に対応づけられているフラグにセットする(ステップS34)。
上記プロトコル制御機能に対する自己診断が実行済みであることを示す情報をフラグにセットすると、上記制御部21は、上記プロトコル制御プログラムによりプロトコル制御処理を実行する(ステップS35)。
図8は、上記ICカード2における自己診断処理を含む第2の処理例を説明するためのフローチャートである。
この第2の処理例では、各機能ごとに自己診断処理の実行回数を図示しないカウンタ(計数手段)によりカウントアップし、そのカウンタの値に基づいて自己診断処理を実行するか否かを判断する。すなわち、実行しようとする機能に対応づけたカウンタの値が所定値未満であれば、当該機能に対する自己診断処理を実行し、所定値以上であれば、当該機能に対する自己診断処理を省略する。
また、第2の処理例において、各機能を実行するための処理手順は、上記第1の処理例とほぼ同様である。このため、ここでは、各種の機能の一例として、図8に示すフローチャートを参照しつつ、プロトコル制御機能を実行するための処理手順としてのプロトコル制御処理(ステップS45)の例について説明する。
上記自己診断処理によりプロトコル制御機能が故障している可能性があると診断された場合(ステップS33、YES)、上記制御部21は、エラー処理として、プロトコル制御機能が故障している可能性がある旨を上記ICカード処理装置1へ送信する(ステップS30)。これにより、上記ICカード処理装置1では、プロトコル制御機能に故障が発生している可能性があることを認識できる。
また、上記自己診断処理によりプロトコル制御機能が正常であると診断された場合(ステップS33、NO)、上記制御部21は、プロトコル制御機能に対応するカウンタの値をカウントアップ(インクリメント)する(ステップS54)。プロトコル制御機能に対応するカウンタをカウントアップすると、上記制御部21は、上記プロトコル制御プログラムによりプロトコル制御処理を実行する(ステップS35)。
また、上記判断によりプログラム制御機能に対する自己診断処理の実行回数が所定値以上であると判断した場合(ステップS51、NO)、上記制御部21は、プロトコル制御機能に対する自己診断を省略し、既に実行済みの自己診断結果を参照してプロトコル制御機能が故障している可能性があるか否かを判断する(ステップS33)。
図9は、上記ICカード2における自己診断処理を含む第3の処理例を説明するためのフローチャートである。
この第3の処理例では、各機能に対する自己診断処理を実行するか否かを任意の値によって判断するものである。つまり、第3の処理例では、各機能に対する自己診断処理を任意の条件に基づいて実行するか否かを制御する。
なお、ファイル管理、…、アプリケーションnなどの各種の機能を実行する場合(ステップS67、S69)についても、上記ステップS70、S71、S32、S33、S35と同様に、乱数を生成し、生成した乱数が所定の条件を満たす場合に、自己診断処理および自己診断結果に応じて処理を実行するようになっている。つまり、上述したプロトコル制御機能の処理手順と同様に、その他の各機能についても、乱数を生成し、生成した乱数が所定の条件を満たすか否かにより、当該機能に対する自己診断処理を実行するか否かを判断する。
Claims (6)
- 種々の処理手段を有する携帯可能電子装置において、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、
このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、
前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該携帯可能電子装置が起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、
この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、
前記各処理手段に対する診断処理が実行済みであるか否かを示す情報を記憶する状態記憶手段と、
前記診断手段において、前記各処理手段を実行する場合、前記状態記憶手段に当該処理手段に対する診断処理が実行済みでないことが記憶されていることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段と、
を具備する携帯可能電子装置。 - 種々の処理手段を有する携帯可能電子装置において、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、
このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、
前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該携帯可能電子装置が起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、
この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、
前記各処理手段に対する診断処理の実行回数を計数する計数手段と、
前記診断手段において、前記各処理手段による処理を実行する場合に、前記計数手段により計数されている診断処理の実行回数が所定の回数未満であることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段と、
を具備する携帯可能電子装置。 - 種々の処理手段を有する携帯可能電子装置において、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、
このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、
前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該携帯可能電子装置が起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、
この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、
乱数を生成する乱数生成手段と、
前記診断手段において、各処理手段により処理を実行する場合、前記乱数生成手段により生成された乱数が所定の条件を満たしていることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段と、
を具備する携帯可能電子装置。 - 種々の処理手段を有するICカードにおいて、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該ICカードが起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、前記各処理手段に対する診断処理が実行済みであるか否かを示す情報を記憶する状態記憶手段と、前記診断手段において、前記各処理手段を実行する場合、前記状態記憶手段に当該処理手段に対する診断処理が実行済みでないことが記憶されていることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段とを具備するICモジュールと、
このICモジュールを収納したICカード本体と、
を具備するICカード。 - 種々の処理手段を有するICカードにおいて、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該ICカードが起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、前記各処理手段に対する診断処理の実行回数を計数する計数手段と、前記診断手段において、前記各処理手段による処理を実行する場合に、前記計数手段により計数されている診断処理の実行回数が所定の回数未満であることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段とを具備するICモジュールと、
このICモジュールを収納したICカード本体と、
を具備するICカード。 - 種々の処理手段を有するICカードにおいて、
前記各処理手段として機能する制御プログラムを記憶するデータ記憶手段と、このデータ記憶手段に記憶されている前記各処理手段として機能する前記制御プログラムの記憶領域を示す診断情報を記憶する診断情報記憶手段と、前記各処理手段のうちの1つの処理手段による処理を実行する前に、前記診断情報記憶手段に記憶されている当該処理手段に対応する診断情報に基づいて特定される診断対象の処理手段として機能する制御プログラムの前記データ記憶手段における記憶領域を診断するもので、当該携帯可能電子装置が起動した後、前記各処理手段が最初に実行される場合に当該各処理手段に対する診断をそれぞれ実行する診断手段と、この診断手段により当該処理手段が正常であると診断された場合、当該処理手段による処理を実行する実行手段と、乱数を生成する乱数生成手段と、前記診断手段において、各処理手段により処理を実行する場合、前記乱数生成手段により生成された乱数が所定の条件を満たしていることを条件に当該処理手段に対する診断を実行する手段とを具備するICモジュールと、
このICモジュールを収納したICカード本体と、
を具備するICカード。
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