JP5361030B2 - オニウム塩化合物、光酸発生剤、カチオン重合開始剤、レジスト組成物およびカチオン重合性組成物 - Google Patents

オニウム塩化合物、光酸発生剤、カチオン重合開始剤、レジスト組成物およびカチオン重合性組成物 Download PDF

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本発明は、新規なオニウム塩化合物、これからなる光酸発生剤およびカチオン重合開始剤、並びにこれらを用いたレジスト組成物およびカチオン重合性組成物に関する。
光酸発生剤は、光エネルギーを受けて酸を発生させて、レジスト組成物の現像液への溶解度を変化させる機能を有し、また、カチオン重合性開始剤は、光や熱等のエネルギーを受けて酸を発生させて、エポキシ化合物等のカチオン重合性有機物を重合させる機能を有するものであり、これらにはオニウムカチオンとフッ素を含有する各種アニオンからなるオニウム塩を使用することができることが知られている。
例えば、引用文献1には、感放射線性酸発生剤として、チオラン骨格を有する芳香族スルホニウム塩が開示されており、これを構成するアニオンとしてトリフルオロメタンスルホン酸が開示されている。また、特許文献2には、放射線感応性オニウム塩としてトリアリールスルホニウム塩及びジアリールヨードニウム塩が開示されており、これを構成するアニオンとしてトリフルオロメタンスルホン酸等のフッ化アルキルスルホン酸アニオン、フッ化スルホン酸アニオンが開示されている。さらに、特許文献3には、カチオン重合開始剤として特許文献3中で一般式(1)で表されるジベンゾチオフェン骨格を有する芳香族スルホニウム塩が開示されており、これを構成するアニオンとしてトリフルオロメタンスルホン酸アニオン、フッ化スルホン酸アニオンが開示されている。
特開2005−43902号公報(特に、請求項1、段落[0034]) 特開昭53−25686号公報(特に、請求項1、第2頁第4カラム、第5カラム) 特開2005−263796号公報(特に、請求項1、段落[0026]〜[0029])
光酸発生剤またはカチオン重合開始剤は、これを含有するレジスト組成物やカチオン重合性組成物に対して、できる限り少量の添加で充分な使用効果を与えるものが求められている。また、光酸発生剤またはカチオン重合開始剤は、光または熱により分解して酸を発生するものであるので、その分解率が高く、酸発生量が多いものが好適である。かかる要求を全てにおいてこれまで以上に満足する光酸発生剤またはカチオン重合開始剤は、今日、なお強く望まれている。
従って、本発明の目的は、分解率が高く、酸発生量の多い光酸発生剤またはカチオン重合開始剤を提供することにある。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、特定の構造のアニオン部位を有するオニウム塩化合物の酸発生量が多いことを見出し、本発明を完成するに至った。即ち、本発明は、フッ素元素を含有するカルボキシホウ素アニオンとオニウムカチオンとからなるオニウム塩化合物であって、前記フッ素を含有するカルボキシホウ素アニオンが下記の一般式(1)で表され、前記オニウムカチオンが下記一般式(3)または(6)で表されるアリールスルホニウムカチオンからなる群から選ばれることを特徴とするオニウム塩化合物。
Figure 0005361030
(式中、mは、0を表す。)
Figure 0005361030
Figure 0005361030
(式中、R〜R10,R19〜R36は、相互に独立して、水素原子;水酸基;ハロゲン原子;ニトロ基;シアノ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキル基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアシル基;水酸基、ハロゲン原子、エーテル基またはエステル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルコキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜18のエーテル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜9の有機炭酸エステル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜8のカルボニルオキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜8の有機スルホニルオキシ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキルチオ基;ハロゲン原子、水酸基またはカルボニルアリール基で置換されてもよい炭素数6〜30のアリールチオ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数2〜18のスルフィド基;炭素数1〜18の有機スルフィニル基;炭素数1〜18の有機スルホニル基または炭素数1〜18の有機スルホ基を表し、Arは下記一般式(7)、(8)または(9)で表されるアリール基を表す。)
Figure 0005361030
(式中、R37〜R55は、上記のR〜R36と同様の基を表す。)
また、本発明は、上記のオニウム塩化合物からなることを特徴とする光酸発生剤を提供し、かつ、酸の作用で現像液に対する溶解性が変化する樹脂に、該光酸発生剤を含むことを特徴とするレジスト組成物を提供するものである。
さらに、本発明は、上記のオニウム塩化合物からなるカチオン重合開始剤を提供し、かつ、カチオン重合性有機物と、該カチオン重合開始剤とを含有することを特徴とするカチオン重合性組成物を提供するものである。
本発明によれば、レジスト組成物において、これに使用される光酸発生剤として有用な、分解率が高く、酸発生量の多いオニウム塩化合物を提供することができる。
また、本発明によれば、カチオン重合による重合性組成物において、カチオン重合開始剤として有用な、分解率が高く、酸発生量の多いオニウム塩化合物を提供することもできる。
以下、本発明の実施の形態につき具体的に説明する。
本発明のオニウム塩化合物のアニオン成分は、上記一般式(1)または(2)で表されるフッ素を含有するカルボキシホウ素アニオンである。当該アニオンが、光や熱等のエネルギーを受けたときのオニウム塩化合物の分解を促進し、酸発生量を増加させる。
上記一般式(2)において、Rで表される炭素数1〜8のパーフルオロアルキル基は、分岐を有していてもよい。トリフルオロメチル、ペンタフルオロエチル、ヘプタフルオロプロピル、ヘプタフルオロイソプロピル、ノナフルオロブチル、ノナフルオロ第2ブチル、ノナフルオロ第3ブチル、ノナフルオルロイソブチル、ドデカフルオロペンチル、トリデカフルオロヘキシル、ペンタデカフルオロヘプチル、ペンタデカフルオロ−3−ヘプチル、ヘプタデカフルオロオクチル等が挙げられる。Rの炭素数が大きいと分子量が大きくなり、質量あたりの酸発生量が低下することになるので、Rの好ましい炭素数は1〜4である。
本発明のオニウム塩化合物のカチオン成分は、スルホニウムカチオン、ヨードニウムカチオン、ジアゾニウムカチオンから選ばれる。熱カチオン重合開始剤としては、置換基を有してもよい脂肪族基および/または置換基を有してもよい芳香族基を有するオニウムカチオンが使用され、光酸発生剤または光カチオン重合開始剤としては、置換基を有してもよい芳香族基を有するオニウムカチオンが使用される。本発明のオニウム塩化合物のオニウムカチオンとしては、スルホニウムカチオンが光酸発生剤または光重合開始剤として使用するのに充分な安定性を有するので有用である。芳香族基を有するスルホニウムカチオンとしては、下記一般式(3)〜(6)で表されるものが挙げられる。
Figure 0005361030
(式中、R〜R36は、相互に独立して、水素原子;水酸基;ハロゲン原子;ニトロ基;シアノ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキル基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアシル基;水酸基、ハロゲン原子、エーテル基またはエステル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルコキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜18のエーテル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜9の有機炭酸エステル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜8のカルボニルオキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜8の有機スルホニルオキシ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキルチオ基;ハロゲン原子、水酸基またはカルボニルアリール基で置換されてもよい炭素数6〜30のアリールチオ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数2〜18のスルフィド基;炭素数1〜18の有機スルフィニル基;炭素数1〜18の有機スルホニル基または炭素数1〜18の有機スルホ基を表し、Xは、酸素原子、硫黄原子または単結合を表し、Arは下記一般式(7)、(8)または(9)で表されるアリール基を表す。)
Figure 0005361030
(式中、R37〜R55は、上記のR〜R36と同様の基を表す。)
上記一般式(3)〜(6)において、R〜R36で表される水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキル基としては、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、第2ブチル、第3ブチル、イソブチル、アミル、イソアミル、第3アミル、ヘキシル、2−ヘキシル、3−ヘキシル、シクロヘキシル、1−メチルシクロヘキシル、ヘプチル、2−ヘプチル、3−ヘプチル、イソヘプチル、第3ヘプチル、n−オクチル、イソオクチル、第3オクチル、2−エチルヘキシル、ノニル、イソノニル、デシル、ドデシル、トリデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、へプタデシル、オクタデシルが挙げられ、水酸基またはハロゲン原子の置換の位置及び置換の数は任意であり、水酸基とハロゲン原子の両方を置換基として有していてもよい。
また、R〜R36で表される水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアシル基は、R56−CO−で表される基(R56は水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基を有してもよい炭素数1〜17の炭化水素基である)であればよく、R56としては、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、第2ブチル、第3ブチル、イソブチル、アミル、イソアミル、第3アミル、ヘキシル、2−ヘキシル、3−ヘキシル、シクロヘキシル、1−メチルシクロヘキシル、ヘプチル、2−ヘプチル、3−ヘプチル、イソヘプチル、第3ヘプチル、n−オクチル、イソオクチル、第3オクチル、2−エチルヘキシル、ノニル、イソノニル、デシル、ドデシル、トリデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、へプタデシル等のアルキル基;ビニル、1−メチルエテニル、2−メチルエテニル、プロペニル、ブテニル、イソブテニル、ペンテニル、ヘキセニル、シクロヘキセニル、ヘプテニル、オクテニル、デセニル、ペンタデセニル等のアルケニル基;これらアルケニルの炭素間二重結合部位が三重結合に置き換わったアルキニル基;フェニル、ナフチル、2−メチルフェニル、3−メチルフェニル、4−メチルフェニル、4−ビニルフェニル、3−イソプロピルフェニル、4−イソプロピルフェニル、4−ブチルフェニル、4−イソブチルフェニル、4−第3ブチルフェニル、4−ヘキシルフェニル、4−シクロヘキシルフェニル、4−オクチルフェニル、4−(2−エチルヘキシル)フェニル、2,3−ジメチルフェニル、2,4−ジメチルフェニル、2,5−ジメチルフェニル、2,6−ジメチルフェニル、3,4−ジメチルフェニル、3,5−ジメチルフェニル、2,4−ジ第3ブチルフェニル、2,5−ジ第3ブチルフェニル、2,6−ジ−第3ブチルフェニル、2,4−ジ第3ペンチルフェニル、2,5−ジ第3アミルフェニル、シクロヘキシルフェニル、ビフェニル、2,4,5−トリメチルフェニル等のアリール基;ベンジル、フェネチル、2−フェニルプロパン−2−イル、ジフェニルメチル、トリフェニルメチル、スチリル、シンナミル等のアリールアルキル基が挙げられ、R56の水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基の置換の位置及び数は任意であり、水酸基とハロゲン原子の両方を置換基として有していてもよい。
また、R〜R36で表される水酸基、ハロゲン原子、エーテル基またはエステル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルコキシ基としては、メチルオキシ、エチルオキシ、プロピルオキシ、イソプロピルオキシ、ブチルオキシ、第2ブチルオキシ、第3ブチルオキシ、イソブチルオキシ、アミルオキシ、イソアミルオキシ、第3アミルオキシ、ヘキシルオキシ、シクロヘキシルオキシ、ヘプチルオキシ、イソヘプチルオキシ、第3ヘプチルオキシ、n−オクチルオキシ、イソオクチルオキシ、第3オクチルオキシ、2−エチルヘキシルオキシ、ノニルオキシ、イソノニルオキシ、デシルオキシ、ドデシルオキシ、トリデシルオキシ、テトラデシルオキシ、ペンタデシルオキシ、ヘキサデシルオキシ、へプタデシルオキシ、オクタデシルオキシ、これらが水酸基および/またはハロゲン原子および/またはエーテル基および/またはエステル基で任意の数と位置で置換された基が挙げられる。この場合、置換基であるエステル基を構成するカルボニル基に結合する酸素原子の位置は、R〜R36が結合する骨格に近い側でもよく、遠い側でもよい(−O−CO−でもよく、−CO−O−でもよい)。これらで置換された基としては、2−ヒドロキシエチルオキシ、2−メトキシエチルオキシ、2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチルオキシ、2−(2−メトキシエトキシ)エチルオキシ、2−[2−(2−ヒドロキシエトキシ)エトキシ]エチルオキシ、2−[2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ]エチルオキシ、2−クロロエチルオキシ、2−フルオロエチルオキシ、2−(2−クロロエトキシ)エチルオキシ、2−(2−フルオロエトキシ)エチルオキシ、2−[2−(2−ブロモエトキシ)エトキシ]エチルオキシ、2−[2−(2−フルオロエトキシ)エトキシ]エチルオキシ、メチルオキシカルボニルメチルオキシ、第3ブチルオキシカルボニルメチルオキシ、2−(メチルカルボニルオキシ)エチルオキシ、2−(第3ブチルカルボニルオキシ)エチルオキシが挙げられる。
また、R〜R36で表される水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜18のエーテル基としては、メトキシメチル、ブトキシメチル、フェノキシメチル、2−メトキシエチル、2−ブトキシエチル、2−フェノキシエチル、3−メトキシプロピル、3−ブトキシプロピル、3−フェノキシプロピル、2−(2−メトキシエトキシ)エチル、2−(2−ブトキシエトキシ)エチル、2−[2−(2−ヒドロキシエトキシ)エトキシ]エチル、2−[2−(2−メトキシエトキシ)エトキシ]エチル、2−(2−フェノキシエトキシ)エチルが挙げられ、水酸基またはハロゲン原子の置換の位置及び置換の数は任意であり、水酸基とハロゲン原子の両方を置換基として有していてもよい。
また、R〜R36で表される水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜9の有機炭酸エステル基はR57−O−CO−O−(R57は、水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜8の炭化水素基)で表される基であり、R57としては、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、第2ブチル、第3ブチル、イソブチル、アミル、イソアミル、第3アミル、ヘキシル、2−ヘキシル、3−ヘキシル、シクロヘキシル、1−メチルシクロヘキシル、ヘプチル、2−ヘプチル、3−ヘプチル、イソヘプチル、第3ヘプチル、n−オクチル、イソオクチル、第3オクチルが挙げられ、R57の水酸基またはハロゲン原子の置換の位置及び置換の数は任意であり、水酸基とハロゲン原子の両方を置換基として有していてもよい。
また、R〜R36で表される水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜8のカルボニルオキシ基はR58−CO−O−(R58は、水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜7の炭化水素基)で表される基であり、これらは炭素数1〜8の有機酸から誘導される基である。該基を誘導するカルボン酸としては、酢酸、クロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、フルオロ酢酸、プロピオン酸、アクリル酸、メタクリル酸、酪酸、イソ酪酸、乳酸、吉草酸、カプロン酸、カプリル酸、2−エチルヘキサン酸、安息香酸、サリチル酸等が挙げられる。
また、水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜8の有機スルホニルオキシ基はR59−SO−O−(R59は、水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜7の炭化水素基)で表される基であり、これらは炭素数1〜8の有機スルホン酸から誘導される基である。該基を誘導する有機スルホン酸としては、メタンスルホン酸、トリフロロメタンスルホン酸、エタンスルホン酸、ペンタフルオロブタンスルホン酸、ブタンスルホン酸、ノナフルオロブタンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、トルエンスルホン酸、2−ヒドロキシエタンスルホン酸等が挙げられる。
また、R〜R36で表される水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキルチオ基としては、上記のアルコキシ基のアリール基に直接結合する酸素原子を硫黄原子に置き換えた基が挙げられる。
また、ハロゲン原子、水酸基またはアリールカルボニル基で置換されてもよい炭素数6〜30のアリールチオ基としては、−S−Ar(Arは、水酸基、ハロゲン原子、アリールカルボニル基、置換されてもよい炭素数6〜30のアリール基)で表される基であり、Arとしてはフェニル、ナフチル、2−メチルフェニル、3−メチルフェニル、4−メチルフェニル、4−ビニルフェニル、3−イソプロピルフェニル、4−イソプロピルフェニル、4−ブチルフェニル、4−イソブチルフェニル、4−第三ブチルフェニル、4−ヘキシルフェニル、4−シクロヘキシルフェニル、4−オクチルフェニル、4−(2−エチルヘキシル)フェニル、4−ステアリルフェニル、2,3−ジメチルフェニル、2,4−ジメチルフェニル、2,5−ジメチルフェニル、2,6−ジメチルフェニル、3,4−ジメチルフェニル、3,5−ジメチルフェニル、2,4−ジ第三ブチルフェニル、2,5−ジ第三ブチルフェニル、2,6−ジ−第三ブチルフェニル、2,4−ジ第三ペンチルフェニル、2,5−ジ第三アミルフェニル、2,5−ジ第三オクチルフェニル、2,4−ジクミルフェニル、シクロヘキシルフェニル、ビフェニル、2,4,5−トリメチルフェニル、2−ヒドロキシフェニル、3−ヒドロキシフェニル、4−ヒドロキシフェニル、2−クロロフェニル、3−クロロフェニル、4−クロロフェニル、4−フルオロフェニル、2−クロロ−4−(フェニルカルボニル)フェニル、2−フルオロ−4−(フェニルカルボニル)フェニル等が挙げられる。
また、R〜R36で表される水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数2〜18のスルフィド基としては、上記のエーテル基の酸素原子の少なくとも1つを硫黄原子に置き換えた基が挙げられ、水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基の置換の位置及び数は任意である。
また、R〜R36で表される炭素数1〜18の有機スルフィニル基は、R60−SO−で表される基(R60は置換基を有してもよい炭素数1〜18の炭化水素基である)であればよく、R60としては、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ブチル、第2ブチル、第3ブチル、イソブチル、アミル、イソアミル、第3アミル、ヘキシル、2−ヘキシル、3−ヘキシル、シクロヘキシル、1−メチルシクロヘキシル、ヘプチル、2−ヘプチル、3−ヘプチル、イソヘプチル、第3ヘプチル、n−オクチル、イソオクチル、第3オクチル、2−エチルヘキシル、ノニル、イソノニル、デシル、ドデシル、トリデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、へプタデシル、オクタデシル、2−[ビシクロ[2.2.1]−ヘプタン−2−イル]エチル等のアルキル基;ビニル、1−メチルエテニル、2−メチルエテニル、プロペニル、ブテニル、イソブテニル、ペンテニル、ヘキセニル、シクロヘキセニル、ヘプテニル、オクテニル、デセニル、ペンタデセニル、オクタデセニル等のアルケニル基;これらアルケニルの炭素間二重結合部位が三重結合に置き換わったアルキニル基;フェニル、ナフチル、2−メチルフェニル、3−メチルフェニル、4−メチルフェニル、4−ビニルフェニル、3−イソプロピルフェニル、4−イソプロピルフェニル、4−ブチルフェニル、4−イソブチルフェニル、4−第3ブチルフェニル、4−ヘキシルフェニル、4−シクロヘキシルフェニル、4−オクチルフェニル、4−(2−エチルヘキシル)フェニル、2,3−ジメチルフェニル、2,4−ジメチルフェニル、2,5−ジメチルフェニル、2,6−ジメチルフェニル、3,4−ジメチルフェニル、3,5−ジメチルフェニル、2,4−ジ第3ブチルフェニル、2,5−ジ第3ブチルフェニル、2,6−ジ−第3ブチルフェニル、2,4−ジ第3ペンチルフェニル、2,5−ジ第3アミルフェニル、シクロヘキシルフェニル、ビフェニル、2,4,5−トリメチルフェニル等のアリール基;ベンジル、フェネチル、2−フェニルプロパン−2−イル、ジフェニルメチル、トリフェニルメチル、スチリル、シンナミル等のアリールアルキル基を挙げることができ、R60の置換基としては、水酸基、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、エーテル基を挙げることができ、その位置や数は任意である。
また、R〜R36で表される炭素数1〜18の有機スルホニル基は、R61−SO−で表される基(R61は置換基を有してもよい炭素数1〜18の炭化水素基である)であればよく、R61としては、上記R60で例示した基が挙げられる。
また、R〜R36で表される炭素数1〜18の有機スルホ基は、R62−O−SO−で表される基(R62は置換基を有してもよい炭素数1〜18の炭化水素基である)であればよく、R62としては、上記R60で例示した基が挙げられる。
本発明に係る前記一般式(3)〜(6)において、Arで表されるアリール基は、前記一般式(7)、(8)、(9)から選ばれる基であり、これら一般式(7)、(8)、(9)中のR37〜R55は前記R〜R36と同様の基であり、具体例としては、上記のR〜R36で例示された基が挙げられる。
一般式(3)で表されるスルホニウムカチオンの具体例としては下記に示すものが挙げられる。
Figure 0005361030
Figure 0005361030
一般式(4)で表されるスルホニウムカチオンの具体例としては下記に示すものが挙げられる。
Figure 0005361030
一般式(5)で表されるスルホニウムカチオンの具体例としては下記に示すものが挙げられる。
Figure 0005361030
一般式(6)で表されるスルホニウムカチオンの具体例としては下記に示すものが挙げられる。
Figure 0005361030
本発明のオニウム塩化合物の製造方法は、特に制限されることなく、周知の有機合成反応を応用した方法を用いることができる。例えば、前記一般式(1)または(2)で表されるアニオンのリチウム塩、ナトリウム塩またはカリウム塩とオニウムカチオンの塩素塩、臭素塩、ヨウ素塩等のハロゲン塩とを反応させ、副生する塩を除去することで得ることができる。
本発明のオニウム塩化合物は、光および/または熱により、ルイス酸を発生させる光酸発生剤として機能するとともに、カチオン重合性有機物を重合させるカチオン重合開始剤として機能する。カチオンが前記一般式(3)〜(6)のいずれかで表されるアリールスルホニウムカチオンのオニウム塩は、紫外線、電子線、X線、放射線、高周波などの活性エネルギー線の照射によりルイス酸を放出する特性を有し、レジスト組成物の現像液への溶解度を変化させることができる。また、カチオン重合性有機物に作用して高分子化または架橋を開始させるカチオン重合開始剤として使用することができる。
本発明のレジスト組成物は、酸の作用で現像液に対する溶解性が変化する樹脂(以下、「レジストベース樹脂」とも称する)と、本発明のオニウム塩化合物とを必須の光酸発生剤として含有するレジスト組成物である。
本発明において使用し得るレジストベース樹脂は、活性エネルギー線の波長の吸光係数が小さく、かつ高いエッチング耐性を有する構造が好ましい。
かかるレジストベース樹脂としては、ポリヒドロキシスチレン及びその誘導体、ポリアクリル酸及びその誘導体、ポリメタクリル酸及びその誘導体、ヒドロキシスチレンとアクリル酸とメタクリル酸とそれらの誘導体から選ばれ形成される共重合体、シクロオレフィン及びその誘導体と無水マレイン酸とアクリル酸及びその誘導体から選ばれる3以上の共重合体、シクロオレフィン及びその誘導体とマレイミドとアクリル酸及びその誘導体から選ばれる3以上の共重合体、ポリノルボルネン、およびメタセシス開環重合体からなる一群から選択される1種以上の高分子重合体に、アルカリ溶解制御能を有する酸不安定基を部分的に置換した高分子重合体等が挙げられる。
レジストベース樹脂の詳細な具体例は、例えば、特開2003−192665号公報の請求項8、9、10、11、特開2004−323704の請求項3等に開示されている。
該レジストベース樹脂のゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)によるポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)は、通常3,000〜300,000、好ましくは4,000〜200,000、さらに好ましくは5,000〜100,000である。この場合、ベース樹脂のMwが3,000未満では、レジストとしての耐熱性が低下する傾向があり、一方300,000を超えると、レジストとしての現像性が低下する傾向がある。
本発明のレジスト組成物中の光酸発生剤は、本発明のオニウム塩化合物を必須成分として含有すれば、これ以外の光酸発生剤を任意成分として含有してもよい。光酸発生剤の使用量は、レジストとしての感度および現像性を確保する観点から、レジストベース樹脂100質量部に対して、通常、0.1〜10質量部、好ましくは0.5〜7質量部である。この場合、光酸発生剤の使用量が0.1質量部未満では、感度および現像性が低下する場合があり、10質量部を超えると、放射線に対する透明性が低下して、短形のレジストパターンを得られ難くなる場合がある。
レジスト組成物は、通常、その使用に際して全固形分濃度が、通常5〜50質量%、好ましくは10〜25質量%となるように、溶剤に溶解した後、例えば、孔径0.2μm程度のフィルターで濾過することによって調製される。
本発明のレジスト組成物は、特に化学増幅型レジストとして有用である。化学増幅型レジストとは、露光により光酸発生剤から発生した酸の作用によって、ベース樹脂中の酸解離性基が解離して、酸性官能基、好ましくはカルボキシル基を生じ、その結果、レジストの露光部のアルカリ現像液に対する溶解性が高くなり、該露光部がアルカリ現像液によって溶解、除去されポジ型のレジストパターンが得られるものを指す。
レジスト組成物の露光で使用される光源は、使用する光酸発生剤の種類に応じて、可視光線、紫外線、遠紫外線、X線、荷電粒子線等を適宜選定して使用されるが、本発明のレジスト化合物は、KrFエキシマーレーザー(波長248nm)またはArFエキシマーレーザー(波長193nm)等の遠紫外線、シンクロトロン放射線等のX線、電子線等の荷電粒子線など、各種の放射線を使用するレジスト組成物で好適に使用することができる。
次に、本発明のカチオン重合性組成物は、カチオン重合性有機物と、本発明のカチオン重合開始剤であるオニウム塩化合物とを必須成分として含有する組成物である。本発明において使用し得るカチオン重合性有機物としては、これらはカチオン重合による重合物を得られるように1種類又は2種類以上混合して使用される。
カチオン重合性有機物の代表的化合物はエポキシ化合物とオキセタン化合物である。これらは入手が容易であり、取り扱いが便利である点で好ましい化合物である。
該エポキシ化合物としては、脂環族エポキシ化合物、芳香族エポキシ化合物、脂肪族エポキシ化合物などが適している。
前記脂環族エポキシ化合物の具体例としては、少なくとも1個の脂環族環を有する多価アルコールのポリグリシジルエーテルまたはシクロヘキセンやシクロペンテン環含有化合物を酸化剤でエポキシ化することによって得られるシクロヘキセンオキサイドやシクロペンテンオキサイド含有化合物が挙げられる。例えば、水素添加ビスフェノールAジグリシジルエーテル、3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、3,4−エポキシ−1−メチルシクロヘキシル−3,4−エポキシ−1−メチルシクロヘキサンカルボキシレート、6−メチル−3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−6−メチル−3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、3,4−エポキシ−3−メチルシクロヘキシルメチル−3,4−エポキシ−3−メチルシクロヘキサンカルボキシレート、3,4−エポキシ−5−メチルシクロヘキシルメチル−3,4−エポキシ−5−メチルシクロヘキサンカルボキシレート、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル−5,5−スピロ−3,4−エポキシ)シクロヘキサン−メタジオキサン、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)アジペート、3,4−エポキシ−6−メチルシクロヘキシルカルボキシレート、メチレンビス(3,4−エポキシシクロヘキサン)、ジシクロペンタジエンジエポキサイド、エチレンビス(3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート)、エポキシヘキサヒドロフタル酸ジオクチル、エポキシヘキサヒドロフタル酸ジ−2−エチルヘキシル等が挙げられる。
前記脂環族エポキシ樹脂として好適に使用できる市販品としては、UVR−6100、UVR−6105、UVR−6110、UVR−6128、UVR−6200(以上、ユニオンカーバイド社製)、セロキサイド2021、セロキサイド2021P、セロキサイド2081、セロキサイド2083、セロキサイド2085、セロキサイド2000、セロキサイド3000、サイクロマーA200、サイクロマーM100、サイクロマーM101、エポリードGT−301、エポリードGT−302、エポリード401、エポリード403、ETHB、エポリードHD300(以上、ダイセル化学工業(株)製)、KRM−2110、KRM−2199(以上、(株)ADEKA製)などを挙げることができる。
前記脂環族エポキシ樹脂の中でも、シクロヘキセンオキシド構造を有するエポキシ樹脂が硬化性(硬化速度)の点で好ましい。
前記芳香族エポキシ樹脂の具体例としては、少なくとも1個の芳香族環を有する多価フェノールまたは、そのアルキレンオキサイド付加物のポリグリシジルエーテル、例えばビスフェノールA、ビスフェノールF、またはこれらに更にアルキレンオキサイドを付加した化合物のグリシジルエーテルやエポキシノボラック樹脂などが挙げられる。
また前記脂肪族エポキシ樹脂の具体例としては、脂肪族多価アルコールまたはそのアルキレンオキサイド付加物のポリグリシジルエーテル、脂肪族長鎖多塩基酸のポリグリシジルエステル、グリシジルアクリレートまたはグリシジルメタクリレートのビニル重合により合成したホモポリマー、グリシジルアクリレートまたはグリシジルメタクリレートとその他のビニルモノマーとのビニル重合により合成したコポリマー等が挙げられる。代表的な化合物として、1,4−ブタンジオールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、グリセリンのトリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパンのトリグリシジルエーテル、ソルビトールのテトラグリシジルエーテル、ジペンタエリスリトールのヘキサグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールのジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールのジグリシジルエーテルなどの多価アルコールのグリシジルエーテル、またプロピレングリコール、トリメチロールプロパン、グリセリン等の脂肪族多価アルコールに1種または2種以上のアルキレンオキサイドを付加することによって得られるポリエーテルポリオールのポリグリシジルエーテル、脂肪族長鎖二塩基酸のジグリシジルエステルが挙げられる。さらに、脂肪族高級アルコールのモノグリシジルエーテルやフェノール、クレゾール、ブチルフェノール、また、これらにアルキレンオキサイドを付加することによって得られるポリエーテルアルコールのモノグリシジルエーテル、高級脂肪酸のグリシジルエステル、エポキシ化大豆油、エポキシステアリン酸オクチル、エポキシステアリン酸ブチル、エポキシ化ポリブタジエン等が挙げられる。
前記芳香族及び脂肪族エポキシ樹脂として好適に使用できる市販品としては、エピコート801、エピコート828(以上、油化シェルエポキシ社製)、PY−306、0163、DY−022(以上、チバガイギー社製)、KRM−2720、EP−4100、EP−4000、EP−4080、EP−4900、ED−505、ED−506(以上、(株)ADEKA製)、エポライトM−1230、エポライトEHDG−L、エポライト40E、エポライト100E、エポライト200E、エポライト400E、エポライト70P、エポライト200P、エポライト400P、エポライト1500NP、エポライト1600、エポライト80MF、エポライト100MF、エポライト4000、エポライト3002、エポライトFR−1500(以上、共栄社化学(株)製)、サントートST0000、YD−716、YH−300、PG−202、PG−207、YD−172、YDPN638(以上、東都化成(株)製)などを挙げることができる。
また、オキセタン化合物の具体例としては、例えば、以下の化合物を挙げることができる。3−エチル−3−ヒドロキシメチルオキセタン、3−(メタ)アリルオキシメチル−3−エチルオキセタン、(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチルベンゼン、4−フルオロ−[1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、4−メトキシ−[1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、[1−(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)エチル]フェニルエーテル、イソブトキシメチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、イソボルニルオキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、イソボルニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−エチルヘキシル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、エチルジエチレングリコール(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンタジエン(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニルオキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラヒドロフルフリル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−テトラブロモフェノキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−トリブロモフェノキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−ヒドロキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、2−ヒドロキシプロピル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ブトキシエチル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタクロロフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタブロモフェニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ボルニル(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、3,7−ビス(3−オキセタニル)−5−オキサ−ノナン、3,3’−[1,3−(2−メチレニル)プロパンジイルビス(オキシメチレン)]ビス−(3−エチルオキセタン)、1,4−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、1,2−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エタン、1,3−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]プロパン、エチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジシクロペンテニルビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、テトラエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリシクロデカンジイルジメチレン(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、トリメチロールプロパントリス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、1,4−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)ブタン、1,6−ビス(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)ヘキサン、ペンタエリスリトールトリス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ペンタエリスリトールテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ポリエチレングリコールビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールペンタキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジペンタエリスリトールテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールヘキサキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、カプロラクトン変性ジペンタエリスリトールペンタキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、ジトリメチロールプロパンテトラキス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、PO変性ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性水添ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、PO変性水添ビスフェノールAビス(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテル、EO変性ビスフェノールF(3−エチル−3−オキセタニルメチル)エーテルなどを例示することができる。
これら、オキセタン化合物は特に可撓性を必要とする場合に使用すると効果的であり好ましい。
カチオン重合性有機物質のその他の化合物の具体例としては、テトラヒドロフラン、2,3−ジメチルテトラヒドロフランなどのオキソラン化合物、トリオキサン、1,3−ジオキソラン、1,3,6−トリオキサンシクロオクタンなどの環状アセタール化合物、β−プロピオラクトン、ε−カプロラクトンなどの環状ラクトン化合物、エチレンスルフィド、チオエピクロルヒドリンなどのチイラン化合物、1,3−プロピンスルフィド、3,3−ジメチルチエタンなどのチエタン化合物、テトラヒドロチオフェン誘導体などの環状チオエーテル化合物、エチレングリコールジビニルエーテル、アルキルビニルエーテル、2−クロロエチルビニルエーテル、2−ヒドロキシエチルビニルエーテル、トリエチレングリコールジビニルエーテル、1,4−シクロヘキサンジメタノールジビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、プロピレングリコールのプロペニルエーテルなどのビニルエーテル化合物、エポキシ化合物とラクトンの反応によって得られるスピロオルトエステル化合物、スチレン、ビニルシクロヘキセン、イソブチレン、ポリブタジエンなどのエチレン性不飽和化合物、シリコーン類等周知の化合物が挙げられる。
本発明のオニウム塩化合物からなるカチオン重合開始剤の使用量は、上記のカチオン重合性有機物100質量部に対して、0.01質量部より少ないと硬化が不充分となる場合があり、一方、10質量部を超えても使用効果の増加が得られないばかりでなく、硬化物の物性に悪影響を与える場合があるので、0.01質量部〜10質量部が好ましく、0.1質量部〜5質量部がより好ましい。
また、本発明のオニウム塩化合物からなるカチオン重合開始剤は、カチオン重合性有機物と共に各種添加剤を配合して用いることもできる。各種添加剤としては、有機溶剤、ベンゾトリアゾール系、トリアジン系、ベンゾエート系の紫外線吸収剤;フェノール系、リン系、硫黄系酸化防止剤;カチオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、ノニオン系界面活性剤、両性界面活性剤等からなる帯電防止剤;ハロゲン系化合物、リン酸エステル系化合物、リン酸アミド系化合物、メラミン系化合物、フッ素樹脂又は金属酸化物、(ポリ)リン酸メラミン、(ポリ)リン酸ピペラジン等の難燃剤;炭化水素系、脂肪酸系、脂肪族アルコール系、脂肪族エステル系、脂肪族アマイド系又は金属石けん系の滑剤;染料、顔料、カーボンブラック等の着色剤;フュームドシリカ、微粒子シリカ、けい石、珪藻土類、クレー、カオリン、珪藻土、シリカゲル、珪酸カルシウム、セリサイト、カオリナイト、フリント、長石粉、蛭石、アタパルジャイト、タルク、マイカ、ミネソタイト、パイロフィライト、シリカ等の珪酸系無機添加剤;ガラス繊維、炭酸カルシウム等の充填剤;造核剤、結晶促進剤等の結晶化剤、シランカップリング剤等が挙げられる。
本発明のカチオン重合開始剤の用途としては、インキ、保護膜(保護層)、塗料、接着剤、絶縁材、構造材、光学的立体造形、光学フィルム、カラーフィルタ、FRP、半導体用レジスト等が挙げられる。
以下、本発明を実施例、評価例、比較評価例等によって更に説明するが、これらに限定されるものではない。
[実施例1](化合物No.1の製造)
反応フラスコに8質量%のトリフェニルスルホニウムクロライド水溶液250g、塩化メチレン80.4g、ジフルオロエタンジオナトボレートのナトリウム塩11.8gを仕込み、室温で1時間攪拌した。静置後、水相を取り除いた有機相をイオン交換水50mlで洗浄した後、溶媒を除去し、白色固体を26.5g(収率99.0%)得た。得られた白色固体については、TG−DTAによる融点、IR、H−NMR(重ジメチルスルホキシド溶媒)、19F−NMR(重ジメチルスルホキシド溶媒)、MALDI TOFMASの測定を行い、目的物であることを確認した。
(化合物No.1)
Figure 0005361030
(測定結果)
・融点:(サンプル量4.893mg、窒素100ml/分、10℃/分昇温でのDTA)89℃
・IR:図1に示す。
H−NMR:図2に示す。
19F−NMR:図3に示す。
・MALDI TOFMASS
カチオン質量:263.41(理論値263.38)
アニオン質量:136.83(理論値136.82)
[参考例1](化合物No.2の製造)
反応フラスコに8質量%のトリフェニルスルホニウムクロライド水溶液62.5g、塩化メチレン36.5g、テトラキス(トリフルオロアセトキシ)ボレートのナトリウム塩9.76g、イオン交換水24.3gを仕込み、室温で1時間攪拌した。静置後、水相を取り除いた有機相をイオン交換水30mlで洗浄した後、溶媒を除去し、白色固体を11.4g(収率93.8%)得た。得られた白色固体については、TG−DTAによる融点、IR、H−NMR(重ジメチルスルホキシド溶媒、内部標準物質テトラメチルシラン)、19F−NMR(重ジメチルスルホキシド溶媒、内部標準物質ヘキサフルオロベンゼン)、MALDI TOFMASSの測定を行い、目的物であることを確認した。
(化合物No.2)
Figure 0005361030
(測定結果)
・融点:(サンプル量5.133mg、窒素100ml/分、10℃/分昇温でのDTA)70℃
・IR:図4に示す。
H−NMR:図5に示す。
19F−NMR:図6に示す。
・MALDI TOFMASS
カチオン質量:263.41(理論値263.38)
アニオン質量:462.64(理論値462.87)
[実施例2、参考例2、比較例1,2]
(光酸発生剤の光照射による分解および酸発生量の評価)
上記実施例により得られた化合物No.1およびNo.2、トリフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホン酸塩(比較化合物1)およびトリフェニルスルホニウムのノナフルオロブタンスルホン酸塩(比較化合物2)について、それぞれ0.02mmol/gのアセトニトリル溶液を調製した。内径93mmのシャーレに調製したアセトニトリル溶液を5.00g入れ、蛍光ランプ(GL10、330mm:TOSHIBA製)の下、254nmの光を1.603mW/cmで5分間露光した。露光後の溶液について、BTBを指示薬とし、0.05Nの水酸化カリウムエタノール溶液で滴定を行った。得られた滴定値について、光照射前の溶液について同様に滴定をした値をブランクとして差し引く補正を行った滴定値から、下記式により酸発生率と1gあたりの酸発生量とを求めた。また、上記と同様に光照射を行ったアセトニトリル溶液5.00gに20mlの水を加え10分攪拌した後、pHメーターで測定した。結果を下記の表1に示す。
(式)
酸発生率(%)=酸滴定値(mol)÷各化合物理論モル数(mol)×100
酸発生量(mol/g)=酸滴定値(mol)÷質量(g)
Figure 0005361030
上記表1から、本発明のオニウム塩化合物は、アニオンにフルオロアルキルスルホン酸を用いたオニウム塩である比較化合物1、2と比べて、光による酸発生率が大きく、質量当りの酸発生量も大きいことが確認された。このことから光酸発生剤として、優位であることがわかる。
[実施例3、参考例3〜5、比較例3]
(レジストベース樹脂の調製)
重合管にメタクリル酸メチル、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、2−エチル−2−アダマンチルメタクリレートを仕込み、脱水ベンゼンを加え、十分に系中の酸素を除去した後、2,2’−アゾビス(イソブチロニトリル)を投入し、密閉後、60℃まで昇温し24時間重合反応を行った。得られたポリマーを精製する為に、反応混合物をヘキサン中に注ぎ、重合体を沈殿させた。得られた重合体をテトラヒドロフランに溶解させ、ヘキサン中に注いで重合物を沈殿させる操作を二回繰り返した後、乾燥させ白色固体を収率88.5%で得た。H−NMRスペクトルの積分比より共重合組成比はおよそメタクリル酸メチル/3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート/2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート=20/20/60であった。GPC分析による重量平均分子量はポリスチレン換算で6,700であった。
(レジスト組成物の製造および評価)
上記で得られたレジストベース樹脂100質量部、表2に示す光酸発生剤、およびトリスメトキシエチルアミン2質量部をプロピレングリコールメチルエーテルアセテートと混合して、レジストベース樹脂濃度15質量%のレジスト用樹脂組成物を調整した。得られた組成物を0.2μmのミクロフィルターで濾過し、シリコンウエハー上にスピンコーティング法により膜厚0.6μmになるように塗布した。ホットプレートにより温度100℃で90秒間プリベークした後、これにマスクを介して、193nmのArFエキシマーレーザーで露光した。次いで、ホットプレート上で温度120℃で90秒間ベーク(PEB)を行い、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシドの水溶液で23℃、60秒間現像し、純水で60秒間リンスした。これを乾燥しパターンを得た。得られたレジストパターンの評価は、走査型電子顕微鏡を用いてレジストの断面を観察し、ラインアンドスペースのトップとボトムを1:1で解像する露光量を最適露光量(感度:Eop、mJ/cm)として比較した。
Figure 0005361030
上記表2から、本発明のオニウム塩化合物は比較化合物1と比較して、より少ない露光量でパターニングが可能であり、また、添加量を減らしても比較例1以上の感度が得られることが確認された。
[参考例6](化合物No.3の製造)
反応フラスコに0.1mmol/gのビス(ジフェニルスルホニオフェニル)スルフィドの硫酸塩水溶液85gと塩化メチレン30g、テトラキス(トリフルオロアセトキシ)ボレートのナトリウム塩10.2gを仕込み、室温で1時間攪拌した。静置後、水層を取り除いた有機層をイオン交換水20mlで洗浄した後、溶媒を除去し、薄黄色粘性液体を12.8g(収率99.0%)得た。これにプロピレンカーボネートを加え、50質量%のプロピレンカーボネート溶液とし、H−NMR(重クロロホルム溶媒、内部標準物質テトラメチルシラン)、19F−NMR(重クロロホルム溶媒、内部標準物質ヘキサフルオロベンゼン)、MALDI TOFMASの測定を行い、目的物であることを確認した。
(化合物No.3)
Figure 0005361030
(測定結果)
H−NMR:図7に示す。
なお、1.5ppm、4.0ppm、4.6ppm、4.8ppm付近に見られる4本のシグナルはプロピレンカーボネートのシグナルである。
19F−NMR:図8に示す。
・MALDI TOFMASS
カチオン質量:556.84(理論値556.81)
アニオン質量:462.64(理論値462.87)
[参考例7](カチオン重合性組成物の製造および評価)
3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3,4−エポキシシクロヘキシルカルボキシレート80g、1,4−ブタンジオールジグリシジルエーテル20gを混合した物に上記参考例6で得た化合物No.3を4mmol添加し、よく攪拌し均一にした。これをアルミコート紙上に#3のバーコーターで塗布した。これに、ベルトコンベア付き光照射装置を使用して80W/cmの高圧水銀灯の光を照射した。ランプからベルトコンベアまでの距離は10cm、ベルトコンベアのラインスピードは8m/分とした。硬化後24時間室温に放置後、メチルエチルケトンを付けた綿棒で塗膜を擦った結果200往復しても塗膜は侵されず、硬化が十分に進行していることが確認された。
実施例1の化合物No.1のIRを示すグラフである。 実施例1の化合物No.1のH−NMRを示すグラフである。 実施例1の化合物No.1の19F−NMRを示すグラフである。 参考例1の化合物No.2のIRを示すグラフである。 参考例1の化合物No.2のH−NMRを示すグラフである。 参考例1の化合物No.2の19F−NMRを示すグラフである。 参考例6の化合物No.3のH−NMRを示すグラフである。 参考例6の化合物No.3の19F−NMRを示すグラフである。

Claims (6)

  1. フッ素元素を含有するカルボキシホウ素アニオンとオニウムカチオンとからなるオニウム塩化合物であって、前記フッ素を含有するカルボキシホウ素アニオンが下記の一般式(1)で表され、前記オニウムカチオンが下記一般式(3)または(6)で表されるアリールスルホニウムカチオンからなる群から選ばれることを特徴とするオニウム塩化合物。
    Figure 0005361030
    (式中、mは、0を表す。)
    Figure 0005361030
    Figure 0005361030
    (式中、R〜R10,R19〜R36は、相互に独立して、水素原子;水酸基;ハロゲン原子;ニトロ基;シアノ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキル基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアシル基;水酸基、ハロゲン原子、エーテル基またはエステル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルコキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜18のエーテル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜9の有機炭酸エステル基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数2〜8のカルボニルオキシ基;水酸基またはハロゲン原子で置換されてもよい炭素数1〜8の有機スルホニルオキシ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数1〜18のアルキルチオ基;ハロゲン原子、水酸基またはカルボニルアリール基で置換されてもよい炭素数6〜30のアリールチオ基;水酸基、ハロゲン原子またはエーテル基で置換されてもよい炭素数2〜18のスルフィド基;炭素数1〜18の有機スルフィニル基;炭素数1〜18の有機スルホニル基または炭素数1〜18の有機スルホ基を表し、Arは下記一般式(7)、(8)または(9)で表されるアリール基を表す。)
    Figure 0005361030
    (式中、R37〜R55は、上記のR〜R36と同様の基を表す。)
  2. 前記アリールスルホニウムカチオンが上記一般式(3)で表される請求項1に記載のオニウム塩化合物。
  3. 請求項1または2記載のオニウム塩化合物からなることを特徴とする光酸発生剤。
  4. 酸の作用で現像液に対する溶解性が変化する樹脂に、請求項3記載の光酸発生剤を含むことを特徴とするレジスト組成物。
  5. 請求項1または2記載のオニウム塩化合物からなることを特徴とするカチオン重合開始剤。
  6. カチオン重合性有機物と、請求項5に記載のカチオン重合開始剤とを含有することを特徴とするカチオン重合性組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5124322B2 (ja) * 2007-04-09 2013-01-23 東京応化工業株式会社 化合物、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
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JP7117900B2 (ja) * 2018-06-05 2022-08-15 株式会社日本触媒 化学増幅型レジスト用光ルイス酸発生剤、および化学増幅型レジスト組成物
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JP4576653B2 (ja) * 1999-12-27 2010-11-10 住友ベークライト株式会社 テトラアシルボレートおよび置換オニウムテトラアシルボレートの合成法
JP4423730B2 (ja) * 2000-03-17 2010-03-03 住友ベークライト株式会社 テトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)及び置換オニウムテトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)の合成方法
JP4821040B2 (ja) * 2000-10-30 2011-11-24 住友ベークライト株式会社 テトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)及び置換オニウムテトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)の合成方法
JP4821041B2 (ja) * 2000-10-30 2011-11-24 住友ベークライト株式会社 テトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)及び置換オニウムテトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)の合成方法
JP4876308B2 (ja) * 2000-11-30 2012-02-15 住友ベークライト株式会社 テトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)及び置換オニウムテトラキス(アシロキシ)ボレート(1−)の合成方法

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