JP5359017B2 - 画像処理用メモリ誤動作検出装置、これを用いた画像表示装置、および画像処理用メモリ誤動作検出方法 - Google Patents
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Description
また、本発明にかかる画像処理用メモリ誤動作検出装置は、画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する装置であって、DRAMの電源電流を測定する電源電流測定部と、DRAMに全白状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より高い値を上限値として設定し上限値を保持する電流範囲保持部と、電源電流測定部により測定されたDRAMの電源電流と上限値とを比較して、電源電流測定部により測定されたDRAMの電源電流が上限値を上回っているか否かを判定し、電源電流測定部により測定されたDRAMの電源電流が上限値を上回っている場合にDRAMをイニシャライズするように指示する判定部と、を備えるものである。
また、本発明にかかる画像処理用メモリ誤動作検出方法は、画像信号の書込み/読出しを行うDRAMの誤動作を検出する方法であって、DRAMの電源電流を測定する電源電流測定ステップと、DRAMに全白状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より高い値を上限値として設定し上限値を保持する電流範囲保持ステップと、電源電流測定ステップにより測定されたDRAMの電源電流と上限値とを比較して、電源電流測定ステップにより測定されたDRAMの電源電流が上限値を上回っているか否かを判定し、電源電流測定ステップにより測定されたDRAMの電源電流が上限値を上回っている場合にDRAMをイニシャライズするように指示する判定ステップと、を備えるものである。
図1は本発明の実施の形態1にかかる画像表示装置の構成を示すブロック図である。本画像表示装置100は、光源から入射した光を映像光に変換する光変調素子(ライトバルブ)としてDMD素子30(Digital Micro Mirror Device)を使用する投射型表示装置であり、DMD素子30を制御するための画像信号を出力するための画像処理部20と、画像処理部20において画像信号の書込み/読出しを行う画像信号処理用メモリであるDRAM5の誤動作を検出する画像処理用メモリ誤動作検出装置10とを備えている。また、図示しないが、光源と、光変調素子から出射された映像光を拡大投写する投写レンズ系と拡大された映像光を表示させるスクリーンも備えている。以下、詳細について説明する。
図2は画像表示装置100における画像信号処理用メモリ誤動作検出装置10の動作および画像信号処理用メモリ誤動作検出方法を示す図であり、画像表示装置100により画像を表示しているときのDRAM5の電源電流、および故障判定部8内の比較出力の時間変化を示したものである。図において、上段部の縦軸はDRAM5の電源電流を下段部の縦軸は故障判定部8の回路内での比較出力Lを示し、横軸は上下共通で時間を示している。図2に示すように、DRAM5の電源電流は映像信号などの変化によって時間とともに変化する。また、本実施形態では、下段部の故障判定部8の回路内での比較出力Lについては、誤動作状態をハイレベル、正常状態をローレベルと設定している。なお、図2では、簡略化のため、装置起動直後の不安定な部分を省き、動作が安定した状態からの電源電流の変化を示している。図2においてIopmaxは温度特性(動作の温度条件に対する依存性)を含めた、DRAM5の最大電源電流を示し、Iopminは温度特性を含めた、DRAM5の最少電源電流を示している。通常、映像信号として細かな映像あるいは全白信号が入力されたときはDRAM5の電源電流が最大に近くなるためIopmaxに近い値を示し、全黒信号が入力されたときなどはIopminに近い値を示す。
本実施の形態2では、画像処理用メモリであるDRAM5の電源電流を電源電流に伴って変化するDRAM5の周囲温度との温度差を計測することにより測定することとした。 これは、DRAM5に供給される電源電流によりDRAM5自身が発熱することにより、周囲温度(環境温度)に対して温度差が生じ、その温度差がDRAM5に流れる電源電流に比例して大きくなるので、温度差を計測することによって電源電流を直接計測する代わりに電源電流を測定することになるからである。以下、詳細について説明する。
20 画像処理部、 30 DMD素子(光変調素子)、 100,200 画像表示装置。
Claims (6)
- 画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する装置であって、
前記DRAMの電源電流を測定する電源電流測定部と、
前記DRAMに全黒状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より低い値を下限値として設定し前記下限値を保持する電流範囲保持部と、
前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流と前記下限値とを比較して、前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流が前記下限値を下回っているか否かを判定し、前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流が前記下限値を下回っている場合に前記DRAMをイニシャライズするように指示する判定部と、
を備えてなる画像処理用メモリ誤動作検出装置。 - 画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する装置であって、
前記DRAMの電源電流を測定する電源電流測定部と、
前記DRAMに全白状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より高い値を上限値として設定し前記上限値を保持する電流範囲保持部と、
前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流と前記上限値とを比較して、前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流が前記上限値を上回っているか否かを判定し、前記電源電流測定部により測定された前記DRAMの電源電流が前記上限値を上回っている場合に前記DRAMをイニシャライズするように指示する判定部と、
を備えてなる画像処理用メモリ誤動作検出装置。 - 光源から入射した光を映像光に変換する光変調素子と、
前記光変調素子を制御するための画像信号を出力する画像信号処理部と、
前記画像信号処理部において前記画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する請求項1または2に記載の画像処理用メモリ誤動作検出装置と、
を備えてなる画像表示装置。 - 前記光変調素子はDMD素子で構成されていることを特徴とする請求項3に記載の画像表示装置。
- 画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する方法であって、
前記DRAMの電源電流を測定する電源電流測定ステップと、
前記DRAMに全黒状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より低い値を下限値として設定し前記下限値を保持する電流範囲保持ステップと、
前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流と前記下限値とを比較して、前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流が前記下限値を下回っているか否かを判定し、前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流が前記下限値を下回っている場合に前記DRAMをイニシャライズするように指示する判定ステップと、
を備えてなる画像処理用メモリ誤動作検出方法。 - 画像信号の書込み/読出しを行うDRAMである画像処理用メモリの誤動作を検出する方法であって、
前記DRAMの電源電流を測定する電源電流測定ステップと、
前記DRAMに全白状態を示す画像信号が入力されたときの電源電流の値より高い値を上限値として設定し前上限値を保持する電流範囲保持ステップと、
前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流と前記上限値とを比較して、前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流が前記上限値を上回っているか否かを判定し、前記電源電流測定ステップにより測定された前記DRAMの電源電流が前記上限値を上回っている場合に前記DRAMをイニシャライズするように指示する判定ステップと、
を備えてなる画像処理用メモリ誤動作検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008124596A JP5359017B2 (ja) | 2008-05-12 | 2008-05-12 | 画像処理用メモリ誤動作検出装置、これを用いた画像表示装置、および画像処理用メモリ誤動作検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013056760A Division JP5510581B2 (ja) | 2013-03-19 | 2013-03-19 | 画像処理用メモリ誤動作検出装置、これを用いた画像表示装置、および画像処理用メモリ誤動作検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009276814A JP2009276814A (ja) | 2009-11-26 |
JP5359017B2 true JP5359017B2 (ja) | 2013-12-04 |
Family
ID=41442233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008124596A Expired - Fee Related JP5359017B2 (ja) | 2008-05-12 | 2008-05-12 | 画像処理用メモリ誤動作検出装置、これを用いた画像表示装置、および画像処理用メモリ誤動作検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5359017B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5338638B2 (ja) * | 2009-11-26 | 2013-11-13 | 株式会社デンソー | 車載用表示システム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63282864A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-18 | Nec Home Electronics Ltd | スタテイツクram |
JPH06348603A (ja) * | 1993-06-14 | 1994-12-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | フラッシュメモリカードの管理方法 |
JPH07175726A (ja) * | 1993-12-20 | 1995-07-14 | Nec Corp | 実装状態および故障有無を検出するメモリ装置 |
JP2000172222A (ja) * | 1998-12-03 | 2000-06-23 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置 |
JP2009098581A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Seiko Epson Corp | 表示システム、及び、表示システムの制御方法 |
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2008
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Publication number | Publication date |
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JP2009276814A (ja) | 2009-11-26 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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