JP5353409B2 - スパッタ装置 - Google Patents

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本発明は、成膜室内に設けられて、基板外でのスパッタ堆積膜の剥がれを防止する防着板を改良したスパッタ装置に関するものである。
従来、スパッタ装置において、成膜中に基板周辺に堆積するスパッタ膜の剥離を低減する方法として、特許文献1に示すように、基板周辺部品のターゲット側表面をターゲット材に近い熱膨張係数を持った材料で被覆して、基板周辺部品とスパッタ膜の熱応力を低減する方法が提案されている。また、基板周辺部品をスパッタ時にスパッタ膜付着部分が到達する温度付近になるように温度コントロールしておくことにより、基板周辺部品とスパッタ膜間の熱応力の増大を防止する手段も提案されている。
図5は特許文献1に示されるスパッタ装置の要部を示す図である。
図5において、501はバッキングプレート502に保持されたターゲット、503は基板、505はターゲット501の材質に近い熱膨張係数を持った材料504で被覆された基板周辺部品であって、基板周辺部品505は、加熱手段506によりスパッタ膜付着部分が到達する温度付近に温度コントロールされている。
また、特許文献2には、防着板の表面の少なくとも一部を襞状に、かつ断面がノコギリ刃形状になるように形成して表面積を拡大し、スパッタ膜剥がれを防止する方法が提案されている。
図6は特許文献2に示される防着板の概略構成図である。
図6において、601はターゲット602と基板603の間に設置された防着板であって、防着板601の表面の少なくとも一部が、襞状にかつ断面形状604がノコギリ刃形状になるように形成されている。
また、特許文献3には、ターゲットに対向するシャッターや防着板に相当する部位に銅製の凹凸薄板を貼り付けて、防着板の面積拡大を図ることにより、膜の堆積を低減することが提案されている。
図7は特許文献3に示される銅製の凹凸薄板を示す図であり、701は銅製薄板の凸部、702は銅製薄板に堆積したスパッタ膜である。
特開平5−195218号公報 特開平6−49634号公報 特開平5−65640号公報
しかしながら、前記従来の技術において、基板周辺部品のターゲット側表面をターゲット材に近い熱膨張係数を持った材料で被覆する方法では、主に酸化物を被覆材料として使う必要があり、被覆材料の剥離を防止するためは、酸化物の溶射や電着・焼成など防着板の表面処理コストが高くなる。
また、防着板をスパッタ時にスパッタ膜付着部分が到達する温度付近に温度コントロールする方法では、防着板をヒートアップするための熱源や温度をコントロールする複雑な装置が必要となると共に、放電停止時に防着板をヒートアップするためにエネルギーロスが生じる。
また、防着板の少なくとも一部を襞状にかつ断面がノコギリ刃形状になるように形成する方法では、ノコギリ刃形状の頂点が起点になって、堆積したスパッタ膜の剥がれが発生し、歩留りを低下させる。
また、スパッタ膜が堆積する箇所に銅製の凹凸薄板を貼り付けて、防着板の面積拡大を図る方法では、銅製薄板凸部の頂点に堆積した膜が起点となって、堆積したスパッタ膜の剥がれが発生する。
本発明は、前記従来の課題を解決するものであり、複雑な機構を設けることなくチャンバー内のスパッタ膜の剥がれを防止し、高品質で防着板の交換頻度の少ない生産性の高いスパッタ装置を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明のスパッタ装置は、対向設置されたターゲット保持部および基板設置部と、前記基板設置部に設置された基板以外へのスパッタ粒子の付着を防ぐ防着板とを備え、前記基板設置部に設置された基板上へスパッタ膜を形成するスパッタ装置において、前記防着板は、前記ターゲット保持部に対向する面に複数の凹面が形成され、かつ前記複数の凹面をつなぐつなぎ目に溝が形成されたものである。
また、前記防着板における周縁部端面と前記凹面とのなす角度θを90°以下に設定したものである。
前記構成により、スパッタ膜(スパッタ粒子)は、防着板上では前記複数の凹面と溝の内部に堆積し、放電停止後に前記複数の凹面の内側に囲われるように圧縮されることにより、防着面からの剥がれを防止できる。
さらに、前記各凹面のつなぎ目に形成された溝では、溝の内部へスパッタ膜が入り込んで立体的に保持されるため、前記複数の凹面のつなぎ目が膜剥がれの起点となることを防止できる。
また、防着板の周縁部では凹面の周縁部と端面のなす角度θが90°以下となっているため、前記凹面の周縁部が陰となって、端面へのスパッタ膜の付着が少なくなり、端面が膜剥がれの起点となることを防止できる。
本発明によれば、
複雑な機構を設けることなくスパッタ膜の剥がれ起因のパーティクルを低減することができ、高品質で防着板の交換頻度の少ない生産性の高いスパッタ装置を提供できる。
本発明の実施の形態1であるスパッタ装置の構成図であり、(a)は実施の形態1のスパッタ装置の断面図、(b)は(a)におけるZ−Z’方向から見た平面図 実施の形態1における防着板の断面拡大図 (a)〜(f)は本実施の形態における防着板のターゲットに対向する面に設けられた複数の凹面における曲率半径の設定の仕方について説明するための模式図 本発明の実施の形態2であるスパッタ装置における防着板の断面拡大図 従来例におけるスパッタ装置の要部を示す図 他の従来例における膜剥がれ防止法を説明するための要部を示す図 他の従来例における膜剥がれ防止法を説明するための要部を示す図
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の説明において、同じ部材には同一符号を付して、詳しい説明は省略する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1であるスパッタ装置の構成図であり、図1(a)は実施の形態1のスパッタ装置の断面図、図1(b)は実施の形態1のスパッタ装置を図1(a)におけるZ−Z’方向から見た平面図である。
図1(a),(b)において、101は、スパッタ装置の真空容器102内で裏面が給電用のバッキングプレート(ターゲット保持部)103にて保持されたターゲット104に対向するように、基板ホルダー(基板設置部)114に設置されている基板である。
基板101の周辺部には、ターゲット104に対向する面が複数の凹面105a,105b,108,110からなり、かつ各凹面105a,105b,108,110のつなぎ目にそれぞれ溝106a〜106cが形成された防着板107が設けられている。防着板107は、固定ネジ112と支持台113を介して、真空容器102の底部に固定されている。
図2に示す本実施の形態1における防着板の断面拡大図のように、防着板107における外側の周縁部の凹面108は、防着板107の端面109となす角度θが90°以下となっている。防着板107には基板101の設置箇所近傍に開口120が形成され、開口120側の内側周縁部の凹面110は、基板101に近接する内側端面111の高さを低くするため傾斜した凹面になっている。内側周縁部の凹面110と内側端面111とがなす角度θも90°以下となっている。この理由については、後述する。
図1(a)において、スパッタ膜の成膜時には、真空容器102内にガスを所定量流入し、真空ポンプ(図示せず)と圧力調整弁(図示せず)を動作させ、真空容器102内を所定の圧力に保ち、給電用のバッキングプレート103に所定の電力を印加し、ターゲット104の裏面に配置された磁石(図示せず)によるマグネトロン放電が行われる。
本実施の形態1では、ターゲット104としてSiターゲットを用い、放電中のガスとしてArガスとOガスを用いて、SiO膜を基板101に成膜している。
基板101は基板ホルダー114により保持され、基板101上でのスパッタ膜厚のバラツキを抑制するため、基板ホルダー114は回転機構(図示せず)により回転駆動される。
所定の成膜時間経過後、真空容器102に設けられたロードロック(図示せず)を介して、成膜後の基板101を搬出し、次に成膜する基板101を真空容器102内に投入する。
図2において、二点鎖線にて防着板107上のスパッタ堆積膜(スパッタ膜)115を示す。本実施の形態1では防着板107としてアルミ製のものを用い、防着板107のターゲット104に対向する面に設けられた複数の凹面105a,105b,108,110と溝106a〜106cにスパッタ膜としてSiOが堆積する。
放電終了後、ロードロック(図示せず)を介して成膜処理が終了した基板101の取り出しと、次に成膜する基板の投入を行う。この繰り返しにより、防着板107上のスパッタ堆積膜115は放電時にはプラズマに曝され、エネルギーを帯びたスパッタ粒子が飛散してくることにより加熱され、放電終了後に温度が下がる。
この際、二点鎖線で示すスパッタ堆積膜115は、防着板107との熱膨張差により圧縮力を受ける。またスパッタ膜の堆積と共に、SiOのように防着板107に比べて熱膨張係数が小さいスパッタ堆積膜の場合、防着板107がスパッタ堆積膜115側に凸形に変形してくる。
しかし、本実施の形態1においては、防着板107のターゲット104に対向する面に複数の凹面105a,105b,108,110が設けられているため、スパッタ堆積膜115は防着板107から凹面105a,105b,108,110の内側に囲われるように圧縮されることで、剥離を防止することができる。それと共に、防着板107の凸形変形を抑制することにより、スパッタ堆積膜115が膜剥がれの起点になることを防止している。
凹面105a,105bの深さ寸法Aは、防着板交換時までスパッタ堆積膜115を堆積させたときの該堆積膜厚より深く設定している。その寸法は、本実施の形態1では0.38mmに設定し、凹面105a,105b,108,110の曲率半径Rを820mmに設定し、凹面の幅Dを25mmに設定している。曲率半径Rの設定については後で説明する。凹面105a,105b,108,110の曲率半径Rと深さ寸法Aが決まれば、凹面105a,105b,108,110の幅Dが決まる。
また、溝106a〜106cでは、溝106a〜106cの内部へスパッタ膜が入り込んで立体的に保持されているため、前記複数の凹面105a,105b,108,110のつなぎ目が膜剥がれの起点となることを防止している。本実施の形態1では、溝106a〜106cの深さ寸法Bは、防着板交換時までスパッタ堆積膜115を堆積させたときの堆積膜厚より深く設定している。
溝106a〜106cの開口部の幅寸法Cは、堆積する膜の成長膜の粒界の大きさ1個から5個分に相当する寸法に設定して、溝106a〜106cに飛散してくるスパッタ粒子が溝内で成長できる幅(スパッタ粒子1個以上の大きさ)を確保する。それと共に、スパッタ粒子が大きく成長し過ぎて、膜剥がれの起点になることを防止している。本例では、スパッタ膜としてSiO膜を堆積させる場合、溝深さ1mm、開口部位の幅0.5mmに設定している。
また、防着板107における外側の周縁部の凹面108では、周縁部と端面109のなす角度θを90°以下としており、凹面108の周縁部が陰となって端面109へのスパッタ膜の付着が少なくなり、端面が膜剥がれの起点となることを防止している。
また、周縁部と端面109のなす角度は、ターゲット104から防着板107の周縁部の端面109へのスパッタ粒子が飛散方向に対して、凹面108の周縁部が陰になるように設定する必要があり、本例では、防着板107の外側における周縁部の端面109での角度θは80°に設定している。
また、スパッタ粒子の飛散方向が垂直に近い内側における周縁部110の端面111での角度θは60°に設定している。さらに内側の周縁部110では、水平より傾けて凹面を付けることにより端面111を低くして基板101への影響を少なくしている。本例では端面111の高さLを2mm以下にするために10°傾斜させている。
本実施の形態1における防着板107のターゲット104に対向する面に設けられた複数の凹面105a,105bにおける曲率半径の設定の仕方について、図3の模式図によって説明する。
防着板と同じ板厚で同じ材料で、かつ同じ表面処理を施された図3(a)に示す平板116に対して、その表面にスパッタ堆積膜117を堆積させる。
図3(b)に示すように、スパッタ堆積膜117が厚さScだけ堆積して凸形に変形し、スパッタ堆積膜117が剥がれる始める時の平板116の反りを臨界反りTcとし、図3(c)に示すように、防着板交換時までスパッタ堆積膜117を厚さSf(>Sc)だけ堆積させた場合のスパッタ堆積膜117の反りをTfとする。図3(c)では、図示するように、平板116の臨界反りTcを超えた反りTfが発生しているため、平板116からスパッタ堆積膜117の膜剥れが発生する。
ここで、予め図3(d)に示すように、曲板216の凹部にスパッタ堆積膜117が堆積した際に逆方向の反り(Tc−Tf)が発生するように、曲板216のスパッタ堆積膜117が堆積する側に曲率半径Rの凹部を形成しておく。
図3(e)に示すように、曲板216の凹部に厚さScだけスパッタ堆積膜117を堆積させた場合、この曲率半径Rの凹部の形状により、曲板216のスパッタ堆積膜117には逆方向の反り(Tc−Tf)が発生し、曲板216を凸形状に変形させる反りTcと重なって、この状態での反りTc´=(Tc−Tf)+Tc<Tcとなる。
さらに、図3(f)に示すように、防着板交換時までスパッタ堆積膜117を厚さSfだけ堆積させ、曲板216を凸形状に変形させる反りTfが重なっても、この状態での反りがTf´=(Tc−Tf)+Tf=Tcとなり、曲板216の反りTf´を、スパッタ堆積膜117が剥がれる始める時の臨界反りTcと等しくすることができる。すなわち、予めスパッタ堆積膜117が堆積する側に曲率半径がRより小さい凹面を形成することによって、防着板交換時までスパッタ堆積膜117の剥がれを防止することができる。
図3の模式図に示すような平板116,曲板216を用いた実験結果を元に、図1(a),(b)および図2において、曲率半径Rを820mmとしてアルミ製の防着板へ堆積したところ、SiOのスパッタ堆積膜115の剥がれを防止することができた。
なお、上記図3(a)〜(f)の説明において、Tc,Tf,Tc´,Tf´は、それぞれ絶対値としている。
(実施の形態2)
図4は本発明の実施の形態2であるスパッタ装置における防着板の断面拡大図である。
本実施の形態2の防着板207では、実施の形態1と同じようにターゲット104に対向する面が複数の凹面205a,205b,208,210からなり、かつ各凹面205a,205b,208,210のつなぎ目に溝206a〜206cがそれぞれ形成されている。
防着板207におけるターゲット104に対向する面において、複数の凹面205a,205b,208,210の曲率半径Rと深さ寸法A、および溝206a〜206cの深さ寸法Bと開口部幅寸法Cは、実施の形態1と同じように設定されている。
図4における点線で示す118は、防着板207の表面に設けた微小凹凸であって、スパッタ堆積膜115に対しアンカー効果をもたらすことにより、より強固にスパッタ膜の剥がれを防止することができている。本実施の形態2では、防着板207のターゲット104に対向する表面にアルミニウム合金を溶射して、微小凹凸118を形成している。微小凹凸118の表面粗さは、本実施の形態2ではRa=30μmにしている。
本実施の形態2の構成によれば、図3に示すような平板116を用いた実験結果において、スパッタ膜が剥がれる始めるときの反り(臨界反りTc)は、アルミニウム合金を溶射しないブラスト処理のみの場合(Ra=5μm)に比べ2倍以上にすることができた。
すなわち、本実施の形態2では、ターゲット104に対向する複数の凹面205a,205b,208,210の曲率半径Rが3200mm以下の場合において、防着板207に堆積したSiOのスパッタ堆積膜115の剥がれを防止することができる。
なお、本実施の形態1,2では、防着板のターゲットに対向する面に複数の凹面と、各凹面のつなぎ目に溝とを同心円状に形成したが、防着板のターゲットに対向する面に縦方向や横方向に平行/並行に複数の凹面を形成して、各つなぎ目に直線溝が形成されている構成にしても、スパッタ膜の剥がれに対して同等な効果が得られる。
また、本実施の形態では、複数の凹面における各つなぎ目に設けられた溝の断面形状について矩形のものを用いたが、深さ寸法と開口部幅寸法が重要であり、断面形状を加工の都合でU字形状やV字形状にしても、スパッタ膜の剥がれに対して同等の効果が得られる。
本発明のスパッタ装置は、堆積膜の膜剥がれを防止することが可能であるため、真空容器の中で成膜を行う蒸着装置などに適用することができる。
101 基板
102 真空容器
104 ターゲット
105a,105b,108,110 凹面
106a,106b,106c 溝
107 防着板
109 端面
111 内側端面
115 スパッタ堆積膜
118 微小凹凸
120 開口

Claims (7)

  1. 対向設置されたターゲット保持部および基板設置部と、前記基板設置部に設置された基板以外へのスパッタ粒子の付着を防ぐ防着板とを備え、前記基板設置部に設置された基板上へスパッタ膜を形成するスパッタ装置において、
    前記防着板は、前記ターゲット保持部に対向する面に複数の凹面が形成され、かつ前記複数の凹面をつなぐつなぎ目に溝が形成されたこと
    を特徴とするスパッタ装置。
  2. 前記防着板における周縁部端面と前記凹面とのなす角度θを90°以下に設定したことを特徴とする請求項1記載のスパッタ装置。
  3. 平板にスパッタ膜を堆積させた場合にスパッタ膜が剥がれ始める時の該平板の反りを臨界反りTcとし、防着板交換時まで前記スパッタ膜を堆積させた時の前記平板の反りをTfとし、前記平板の曲率半径Rの凹面にスパッタ膜を堆積した場合に発生する反りを(Tc−Tf)とした場合に、前記凹面の曲率半径を前記Rよりも小さい値に設定したこと
    を特徴とする請求項1または2記載のスパッタ装置。
  4. 前記凹面の深さを、防着板交換時までスパッタ膜を堆積させたときの膜厚より深く設定したこと
    を特徴とする請求項1〜3いずれか1項記載のスパッタ装置。
  5. 前記凹面の前記つなぎ目に形成された前記溝の深さを、ターゲット終了時までスパッタ膜を堆積させた時の膜厚より深く設定したこと
    を特徴とする請求項1〜4いずれか1項記載のスパッタ装置。
  6. 前記凹面の前記つなぎ目に形成された前記溝の開口幅を、堆積するスパッタ膜の成長膜の粒界の大きさ1個乃至5個分に相当するように設定したこと
    を特徴とする請求項1〜5いずれか1項記載のスパッタ装置。
  7. 前記防着板における前記凹面と前記溝が形成された面に、微小凹凸を設けたこと
    を特徴とする請求項1〜6いずれか1項記載のスパッタ装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04289159A (ja) * 1991-03-19 1992-10-14 Fujitsu Ltd 成膜装置における防着装置
JPH08177460A (ja) * 1994-12-26 1996-07-09 Sango Co Ltd 内燃機関用消音器
JP2001131731A (ja) * 1999-11-02 2001-05-15 Anelva Corp 薄膜形成装置
JP4439652B2 (ja) * 2000-01-06 2010-03-24 日鉱金属株式会社 薄膜形成装置用部材及びその製造方法
JP3116197U (ja) * 2004-06-28 2005-12-02 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド プロセス残留物を付着する表面を有する基板処理チャンバー用コンポーネント
JP4999264B2 (ja) * 2004-08-24 2012-08-15 株式会社ネオス 薄膜製造装置及びその製造方法

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