JP5352444B2 - 外観検査装置、表面検査装置、及び外観検査方法 - Google Patents
外観検査装置、表面検査装置、及び外観検査方法 Download PDFInfo
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Description
5 表面検査ドラム
6 裏面検査ドラム
8 第1外観検査装置
9 第2外観検査装置
20 反射手段
22 反射体
30 撮像手段
40 照明手段
80 処理手段
81 下側エッジ検出手段
82 傾き角度・方向算出手段
83 理論エッジ形状算出手段
84 欠損検出手段
Claims (7)
- 円盤形状の被検査物品の上面と複数の斜め上方向から前記被検査物品の側面を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された映像から前記被検査物品の下側エッジ形状を検出する下側エッジ形状検出手段と、
前記下側エッジ形状検出手段により検出された前記被検査物品の下側エッジ形状に基づいて、前記被検査物品の姿勢を算出する被検査物品姿勢算出手段と、
前記被検査物品姿勢算出手段により算出された前記被検査物品の姿勢に基づいて、前記被検査物品が当該姿勢であるときの前記被検査物品の下側エッジの理論エッジ形状を算出する理論エッジ形状算出手段と、
前記下側エッジ形状検出手段により検出された前記下側エッジ形状と、前記理論エッジ形状算出手段により算出された前記理論エッジ形状と、の差分に基づいて、前記被検査物品の欠損を検出する欠損検出手段と
を備えることを特徴とする外観検査装置。 - 前記被検査物品の側面からの反射光を反射させて前記撮像手段に入射させる反射手段を更に備え、
前記撮像手段は、前記被検査物品の上面からの反射光を撮像するとともに、前記反射手段により入射される、前記被検査物品の側面からの反射光を撮像することを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。 - 前記反射手段は、前記被検査物品の上面側から見たときに前記被検査物品を取り囲むように配置された複数の反射体からなり、
前記複数の反射体は、それぞれの配置位置で、前記被検査物品の側面からの反射光を反射させて前記撮像手段に入射させることを特徴とする請求項2に記載の外観検査装置。 - 前記被検査物品姿勢算出手段は、前記下側エッジ形状検出手段により検出された前記被検査物品の下側エッジ形状に基づいて、前記複数の斜め上方向から撮像された前記被検査物品の側面毎に前記被検査物品の傾き角度を算出し、該傾き角度が所定の閾値以上である場合、該傾き角度を前記被検査物品の姿勢を算出する際のデータから除外することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の外観検査装置。
- 前記被検査物品姿勢算出手段は、少なくとも3つ以上の前記傾き角度に基づいて、前記被検査物品の姿勢を算出することを特徴とする請求項4に記載の外観検査装置。
- 円盤形状の前記被検査物品の厚さ方向のいずれかの面を外周面に保持しながら回転することにより、前記被検査物品を搬送する第1検査ドラムと、
前記第1検査ドラムの下側に外周面を近接させた状態に回転自在に設置され、前記第1検査ドラムから前記被検査物品を受け取って前記被検査物品を前記第1検査ドラムの搬送状態と反転させた状態で外周面に保持しながら回転する第2検査ドラムと、
前記第1検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第1外観検査装置と、前記第2検査ドラムの外周面に保持された前記被検査物品の外観を検査する第2外観検査装置とが具備されてなり、
請求項1から請求項5のいずれか1つに記載の前記第1外観検査装置および前記第2外観検査装置を備えることを特徴とする表面検査装置。 - 円盤形状の被検査物品の上面と複数の斜め上方向から前記被検査物品の側面を撮像手段により撮像するステップと、
前記撮像された映像から下側エッジ形状検出手段により前記被検査物品の下側エッジ形状を検出するステップと、
前記被検査物品の下側エッジ形状に基づいて、被検査物品姿勢算出手段により前記被検査物品の姿勢を算出するステップと、
前記被検査物品の姿勢に基づいて、理論エッジ形状算出手段により前記被検査物品が当該姿勢であるときの前記被検査物品の下側エッジの理論エッジ形状を算出するステップと、
前記下側エッジ形状と前記理論エッジ形状との差分に基づいて、欠損検出手段により前記被検査物品の欠損を検出するステップと
を含むことを特徴とする外観検査方法。
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