JP5345624B2 - ギャップ充填特性が改善された半導体微細ギャップ充填用有機シラン系重合体及びこれを利用した半導体微細ギャップ充填用コーティング組成物 - Google Patents
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Description
本発明は、ギャップ充填特性に優れた半導体微細ギャップ充填用の有機シラン系重合体及びこれを利用した組成物に関するものである。
理想的な半導体微細ギャップ充填用コーティング組成物は下記の特性を有することが求められる。(1)基板において、アスペクト比(例えば、高さ/直径比)が1以上であり、直径が70nm以下の正孔を、通常のスピンコーティングによって、完全に充填し、かつ基板を一定の厚さで平坦化すること、(2)コーティングされた膜において、エアーボイド(air void)や割れ目(crack)が存在しないこと、(3)基板上の正孔の密度に関係なく、膜の厚さが一定であること、(4)前記平坦化された膜は、熱硬化の後にフッ酸溶液で処理することによって、正孔内部に残余物が全く残らずに所望の速度で除去可能であること、(5)前記コーティング組成物は、保存安定性に優れていること、などである。
(技術的課題)
本発明の目的は、優れたギャップ充填特性を有し、ベーキングによる硬化後に、フッ酸溶液を処理することによって正孔から容易に除去しうる、半導体微細ギャップ充填用重合体を提供することである。
本発明のひとつの態様によれば、(1)下記の化学式1で示される化合物;(2)下記の化学式2で示される化合物;並びに(3)下記の化学式3で示される化合物及び下記の化学式4で示される化合物からなる群より選択される一つ以上の化合物から生成される加水分解物の縮合重合体を含む、半導体微細ギャップ充填用重合体(以下、本明細書中、「ギャップ充填用重合体」と称することもある。)が提供される:
本発明の半導体デバイスのギャップ充填用組成物は、半導体基板のアスペクト比が1以上である正孔を、スピンコーティング方法によって完全に充填(fill)することができる。さらに、本発明のギャップ充填用組成物は、ベーキング(baking)による硬化の後、フッ酸溶液処理による残余物を正孔から完全に除去しうる。さらに、本発明のギャップ充填用組成物は保存安定性が非常に優れている。したがって、本発明のギャップ充填用組成物は半導体デバイスの製造用として非常に適したものである。
本発明は、(1)下記の化学式1で示される化合物;(2)下記の化学式2で示される化合物;並びに(3)下記の化学式3で示される化合物及び下記の化学式4で示される化合物からなる群より選択される一つ以上の化合物から生成される加水分解物の縮合重合体を含む、半導体微細ギャップ充填用重合体を提供する:
以下、実施例を通して本発明をより具体的に説明するが、このような実施例は単に例示する目的であり、本発明の保護範囲を制限するものと解されるものではない。
[実施例1]
機械撹拌器、冷却管、滴下漏斗、窒素ガス導入管を備えた3Lの4口フラスコに、ビス(トリエトキシシリル)エタン(bis(triethoxysilyl)ethane)488gと、メチルトリメトキシシラン(methyltrimethoxysilane)150gと、フェニルトリメトキシシラン(phenyltrimethoxysilane)55gを、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート1617gとエタノール234gに溶解させた後、1000ppmの硝酸水溶液156gを溶液に添加した。その後、この混合物を50℃で1時間反応させた後、減圧して、反応混合物からメタノールを除去した。50℃に反応温度を維持しつつ反応を15日間行った後、重量平均分子量が約15,000である重合体Aを得た。重合体A10gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート100gで希釈し、十分に攪拌して、溶液として、半導体用微細ギャップ充填用組成物を製造した。
実施例1で製造された重合体A10gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート100gで希釈し、十分に攪拌した後、メラミン系樹脂(Cymel 303LF、米Cytec社製品)1gとピリジニウムp−スルホン酸トルエン0.1gを添加して、溶液として半導体用微細ギャップ充填用組成物を製造した。
機械撹拌器、冷却管、滴下漏斗、窒素ガス導入管を備えた3Lの4口フラスコに、メチルトリメトキシシラン780gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート1820gに溶解させた後、1000ppmの硝酸水溶液216gを溶液に添加した。その後、50℃で1時間反応させた後、減圧して、反応混合物からメタノールを除去した。50℃に反応温度を維持しつつ反応を15日間行った。反応を終結し、ヘキサンを反応混合物に加えて重合体を沈澱させて、重量平均分子量が約15,000である重合体Bを得た。得られた重合体B10gをプロピレングリコールプロピルエーテル100gに入れ、十分に攪拌して、半導体用微細ギャップ充填用組成物を製造した。
重量平均分子量が約15,000であるフェノール−ノボラック樹脂10gをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート100gに入れ、十分に攪拌して、半導体用微細ギャップ充填用組成物を製造した。
直径68nmであり、高さが1600nmである正孔を有するシリコンパターンウエハーに、同一な条件で、それぞれの組成物をスピンコーティングし、コーティングされたウエハーを240℃で50秒間ベークして組成物を硬化させた。ウエハーの断面を走査電子顕微鏡で観察し、正孔が欠陥なく、組成物で完全に充填されたかを確認した。ボイドが全く観察されなかった場合を「非常に良好」、判断し難いボイドまたはわずかなボイドが観察された場合を「普通」、多数のボイドが観察された場合を「不良」と判断した。
直径68nmであり、高さが1600nmである正孔を有するシリコンパターンウエハーに、同一な条件で、それぞれの組成物をスピンコーティングし、コーティングされたウエハーを240℃で50秒間ベークして組成物を硬化させた。その後、6.6%フッ酸溶液(フッ酸アンモニウムバッファー溶液)に23.0℃で30分間浸してから蒸留水で洗浄し、十分に乾燥させた。その後、乾燥したウエハーの断面を走査電子顕微鏡で観察し、組成物が正孔に残留しているかどうかを確認した。
組成物を40℃で30日間保存した後、試料の分子量を測定した。組成物の保存前後の分子量の差を計算し、分子量の差が5%以内である場合を「良好」、5%を超えた場合を「不良」と評価した。
8インチのシリコンウエハーに、それぞれの組成物をスピンコーティングし、240℃で50秒間ベークして、塗布膜を形成させた。一方、組成物を40℃で30日間保存した後、試料を8インチのシリコンウエハーに、それぞれの組成物をスピンコーティングし、240℃で50秒間ベークして、塗布膜を形成させた。保存前後の膜の厚さの差を計算し、膜の厚さの差が5%以内である場合を「良好」、5%を超えた場合を「不良」に評価した。
Claims (16)
- (1)下記の化学式1で示される化合物;(2)下記の化学式2で示される化合物;並びに(3)下記の化学式3で示される化合物及び下記の化学式4で示される化合物からなる群より選択される一つ以上の化合物から生成される加水分解物の縮合重合体を含む、半導体微細ギャップ充填用重合体であって:
前記縮合重合体が、下記の化学式5で示される化合物である、半導体微細ギャップ充填用重合体:
- 前記縮合重合体が、全化合物の合計100重量部を基準として、前記化学式1で示される化合物5〜90重量部、前記化学式2で示される化合物5〜90重量部、及び前記化学式3で示される化合物5〜90重量部を、5〜900重量部の溶媒下で反応させて生成された加水分解物の縮合重合体である、請求項1に記載の半導体微細ギャップ充填用重合体。
- 前記縮合重合体が、全化合物の合計100重量部を基準として、前記化学式1で示される化合物5〜85重量部、前記化学式2で示される化合物5〜85重量部、前記化学式3で示される化合物5〜85重量部、及び前記化学式4で示される化合物5〜85重量部を、5〜900重量部の溶媒下で反応させて生成された加水分解物の縮合重合体である、請求項1に記載の半導体微細ギャップ充填用重合体。
- 前記縮合重合体が、1,000〜100,000の重量平均分子量を有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用重合体。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用重合体及び有機溶媒を含む、半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記縮合重合体が、前記半導体微細ギャップ充填用組成物100重量部を基準として、1〜50重量部含まれる、請求項5に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 架橋剤及び酸触媒をさらに含む、請求項5または6に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記架橋剤が、メラミン系架橋剤、置換尿素系架橋剤、エポキシ基を含む重合体、これらの誘導体、及びこれらの混合物からなる群より選択される一つ以上である、請求項7に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記架橋剤を、前記半導体微細ギャップ充填用重合体100重量部を基準として、0.1〜30重量部含む、請求項7または8に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記酸触媒が、鉱酸、スルホン酸、シュウ酸、マレイン酸、ヘキサミックシクロヘキシルスルホン酸、フタル酸、及びこれらの混合物からなる群より選択されることを特徴とする、請求項7〜9のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記酸触媒を、前記半導体微細ギャップ充填用重合体100重量部を基準として、0.01〜10重量部含む、請求項7〜10のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 有機または無機無水物から選択される少なくとも一つ以上の安定化剤をさらに含む、請求項5〜11のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記安定剤を、前記半導体微細ギャップ充填用重合体100重量部を基準として、0.01〜10重量部含む、請求項12に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記有機溶媒が、アルコール、エステル、エーテル、環状ケトン、及びこれらの混合物からなる群より選択される一つ以上である、請求項5〜13のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 前記有機溶媒を、前記半導体微細ギャップ充填用重合体100重量部を基準として、100〜3,000重量部含む、請求項5〜14のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
- 界面活性剤をさらに含む、請求項5〜15のいずれか1項に記載の半導体微細ギャップ充填用組成物。
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