JP5344297B2 - 画像処理装置及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、画像処理装置及びプログラムに関する。

特許文献１には、判定済みのエッジ及び非エッジを再度判定して、高い精度でエッジを検出する画像処理装置が開示されている。

特開２００６−２６２２０４号公報

本発明の目的は、スクリーンの位相によってスクリーン処理後の画質が変化することを防ぐことができる画像処理装置及びプログラムを提供することにある。

[画像処理装置]
請求項１に係る本発明は、画像情報中の画素が、エッジの一部を構成するエッジ部及びエッジの一部を構成しない非エッジ部のいずれであるかを判定するエッジ判定部と、前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成するエッジ部と判定された画素と、前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成しない非エッジ部と判定された画素とで、異なるスクリーン処理を施すスクリーン処理部とを有し、前記エッジ判定部は、画像情報中の画素が、背景に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は非エッジ部と判定する画像処理装置である。

請求項２に係る本発明は、前記スクリーン処理部は、前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成するエッジ部と判定された画素に対し、高線数スクリーンを適用し、前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成しない非エッジ部と判定された画素に対し、低線数スクリーンを適用する請求項１に記載の画像処理装置である。

請求項３に係る本発明は、前記エッジ判定部は、画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、注目画素の周辺にある画素の値に基づいて、注目画素がネガ線を構成するか否かを判定するネガ線判定部と、画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、この画素群にある画素のうち、ネガ線を構成する画素の数に基づいて、注目画素がネガ線に隣接する画素であるか否かを判定するネガ線隣接判定部とをさらに有する請求項１又は２に記載の画像処理装置である。

請求項４に係る発明は、前記エッジ判定部により非エッジと判定された画素の一部を、エッジ部と判定し直すエッジ再判定部をさらに有し、画像情報中の画素が、背景に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は、前記エッジ判定部によって非エッジ部と判定され、前記スクリーン処理部によって低線数スクリーンを適用される請求項１乃至３のいずれかに記載の画像処理装置である。

[プログラム]
請求項５に係る発明は、画像情報中の画素が、エッジの一部を構成するエッジ部及びエッジの一部を構成しない非エッジ部のいずれであるかを判定し、画像情報中の画素が、背景を構成する画素に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は非エッジ部と判定するステップと、エッジの一部を構成するエッジ部と判定された画素と、エッジの一部を構成しない非エッジ部と判定された画素とで、異なるスクリーン処理を施すステップとをコンピュータに実行させるプログラムである。

請求項１に係る本発明によれば、スクリーンの位相によってスクリーン処理後の画質が変化することを防ぐことができる画像処理装置を提供することができる。

請求項２に係る本発明によれば、請求項１に係る発明による効果に加えて、エッジのがたつき（ジャギー）を軽減することができる画像処理装置を提供することができる。

請求項３に係る本発明によれば、請求項１又は２に係る発明による効果に加えて、ネガ線に隣接する画素によるネガ線のつぶれを防ぐことができる画像処理装置を提供することができる。

請求項４に係る本発明によれば、請求項１乃至３のいずれかに係る発明による効果に加えて、ジャギーをさらに軽減することができる画像処理装置を提供することができる。

請求項５に係る本発明によれば、スクリーンの位相によってスクリーン処理後の画質が変化することを防ぐことができるプログラムを提供することができる。

本発明の実施形態に係る画像処理装置を示す図である。 画像処理装置内の画像処理部で動作するソフトウエアの構成を示す図である。 画像処理装置の全体動作を示すフローチャートである。 エッジ判定を示すフローチャートである。 １画素ネガ線判定を説明する図である。 ２画素ネガ線判定を説明する図である。 ２画素ネガ線判定を説明する図である。 ｍ画素ネガ線判定を説明する図である。 ｍ画素ネガ線判定を説明する図である。 ｍ画素ネガ線判定を説明する図である。 エッジ判定における画素の状態を示す図である。 エッジ判定において、ネガ線判定及びネガ線隣接判定を行わない場合の画素の状態を示す図である。 全体動作における画像（ネガ線）の状態を示す図である。 全体動作において、ネガ線判定及びネガ線隣接判定を行わない場合の画像（ネガ線）の状態を示す図である。 全体動作における画像（ポジ文字）の状態を示す図である。 第２のエッジ判定を示すフローチャートである。 第２のエッジ判定における画素の状態を示す図である。

[本発明の実施形態]
図１は、本発明の実施形態に係る画像処理装置を示す図である。
図１に示すように、本発明の実施形態に係る画像処理装置１は、画像処理部１００及びマーキングエンジン１０２を有する。
このような構成により、画像処理装置１は、入力された画像データに所定の処理を施し、記録用紙上にプリントする。

画像処理部１００は、例えば、ＣＰＵ、メモリ、記憶媒体などを備える制御基板である。
画像処理部１００は、ケーブルなどにより通信可能に接続されたクライアントＰＣ２から画像データを受け取り、所定の画像処理を施す。さらに、画像処理部１００は、所定の画像処理が施された画像データが記録用紙にプリントされるよう、マーキングエンジン１０２を制御する。
マーキングエンジン１０２は、例えば、直接転写方式のデジタルカラープリンタであり、露光装置１０４、画像形成ユニット１０６、用紙搬送ベルト１０８及び定着器１１０を備える。
露光装置１０４は、複数の発光点からなる発光点群を有する画発光レーザアレイチップから出射された複数のレーザビームを一括して走査させ、感光体ドラム１１２に導くマルチビームの露光走査装置である。露光装置１０４は、例えば、２４００ｄｐｉの解像度で画像形成を行う。
画像形成ユニット１０６は、静電潜像を形成してトナー像を担持させる像担持体である感光体ドラム１１２、感光体ドラム１１２の表面を一様に帯電する帯電器１１４、カラー画像を構成する色ごとに設けられた現像ロール１１６Ｙ（Ｙｅｌｌｏｗ；イエロー）、１１６Ｍ（Ｍａｇｅｎｔａ；マゼンタ）、１１６Ｃ（Ｃｙａｎ；シアン）及び１１６Ｋ（ｂｌａｃＫ；ブラック）、及び、感光体ドラム１１２の表面に形成されたトナー像を記録用紙に転写させる転写ロール１１８を備える。画像形成ユニット１０６は、現像ロール１１６Ｙ、１１６Ｍ、１１６Ｃ及び１１６Ｋから、出力画像に応じたトナーを感光体ドラム１１２に供給し、感光体ドラム１１２の表面の静電潜像からトナー像を作像し、記録用紙上に、順次、転写する。
用紙搬送ベルト１０８は、感光体ドラム１１２及び転写ロール１１８によって形成される転写位置に対して、記録用紙を搬送する。
定着器１１０は、記録用紙上に転写されたトナー像を定着させる。

次に、図１の画像処理部１００をさらに説明する。
図２は、画像処理部１００で動作するソフトウエアの構成を示す図である。画像処理部１００は、ＣＰＵに対し、メモリ及び記憶媒体などに記憶したプログラムを読み出して実行させる。

図２に示すように、コントローラ１２０は、ＰＤＬ解釈部１２２、描画部１２４及びレンダリング部１２６を有する。
ＰＤＬ解釈部１２２は、図１のクライアントＰＣ２などからＰＤＬ（Ｐａｇｅ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ；ページ記述言語）で記述されたコマンド（ＰＤＬコマンド）を受け付け、受け付けたＰＤＬコマンドを解釈する。
描画部１２４は、ＰＤＬ解釈部１２２により解釈された入力画像データを、図１のマーキングエンジン１０２に対応する色空間（例えば、ＹＭＣＫ色空間）に変換する。
レンダリング部１２６は、描画部１２４により色空間が変換されたデータを、ラスタデータに展開（レンダリング）し、エッジ判定部１２８に出力する。
エッジ判定部１２８は、レンダリング部１２６により出力されたラスタデータにおいて、画素ごとに、エッジの一部を構成するか否かを判定し、判定結果をスクリーン処理部１３０に出力する。
スクリーン処理部１３０は、エッジ判定部１２８による判定結果に基づいて、所定のスクリーンを適用する。ここで、スクリーン処理とは、面積階調法の一つであるディザ法などの二値化処理であり、メモリなどに予め記憶された閾値マトリクスを用いる。

図３は、図１の画像処理装置１の全体動作を示すフローチャートである。
図３に示すように、ステップ１００（Ｓ１００）において、図１のクライアントＰＣ２のプリンタドライバ（不図示）は、アプリケーションからの入力を、ＰＤＬコマンドに変換する。このＰＤＬコマンドは、ケーブルなどを介し、画像処理装置１の画像処理部１００に送信される。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、画像処理部１００は、図２のＰＤＬ解釈部１２２において、クライアントＰＣ２から受信したＰＤＬコマンドを解釈する。さらに、画像処理部１００は、図２の描画部１２４において、解釈したＰＤＬコマンドで指定される色空間を、図１のマーキングエンジン１０２に対応する色空間に変換する。

ステップ１０４（Ｓ１０４）において、画像処理部１００は、図２のレンダリング部１２６において、ステップ１０２で色変換されたデータをラスタデータに展開し、図２のエッジ判定部１２８に出力する。レンダリング部１２６は、例えば、８ビットの多値インターフェースを介して、ラスタデータをエッジ判定部１２８に出力する。
ステップ２０（Ｓ２０）において、画像処理部１００は、図２のエッジ判定部１２８において、ステップ１０４でレンダリング部１２６により出力されたラスタデータにおいて、画素ごとに、エッジの一部を構成するエッジ部及びエッジの一部を構成しない非エッジ部のいずれであるかを判定する。エッジ判定の詳細は後述する。

ステップ１０６（Ｓ１０６）において、画像処理部１００は、図２のスクリーン処理部１３０において、ステップ２０での判定結果に基づき、所定のスクリーンをエッジに適用する。
具体的には、ステップ２０でエッジ部と判定された画素に対し、エッジ用の高線数スクリーン（網点の密度が高く、画像データをきめ細かく再現するスクリーン。例えば、スクリーン線数が６００線のスクリーン）を適用し、ステップ２０で非エッジ部と判定された画素に対し、非エッジ用の低線数スクリーン（網点の密度が低いスクリーン。例えば、スクリーン線数が１５０線、２００線及び３００線のスクリーン）を適用する。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、画像処理部１００は、ステップ１０６でスクリーン処理が施された画像データがプリントされるよう、マーキングエンジン１０２を制御する。

図４は、図３のエッジ判定（Ｓ２０）を示すフローチャートである。
図４に示すフローの各ステップは、いずれも、図２のエッジ判定部１２８によって実行される。

図４に示すように、ステップ２００（Ｓ２００）において、図３のステップ１０４で出力されたラスタデータにおいて、画素ごとに、背景より低濃度である線（ネガ線）を構成するか否かを判定する（ネガ線判定）。ネガ線判定の詳細は後述する。
ステップ２０２（Ｓ２０２）において、図３のステップ１０４で出力されたラスタデータにおいて、画素ごとに、エッジを構成するか否かを判定する（エッジ判定）。例えば、ラスタデータに対して、３×３画素で構成されるウインドウを走査して、ウインドウの注目画素の濃度と、その周囲の画素の濃度とを、縦横斜めの３画素ずつ比較演算する。さらに、その差を予め定められた閾値と比較して、差が閾値未満の場合には、注目画素はエッジを構成しないと判定する。一方、そうでない場合には、エッジを構成すると判定する。
さらに、エッジを構成すると判定された注目画素を含むウインドウにおいて、ウインドウを構成する画素の最低濃度と、予め定められた背景閾値とを比較する（背景判定）。最低濃度が背景閾値以上の場合には、エッジを構成しないと判定し直して、ステップ２０４の処理に進む。一方、そうでない場合には、判定を変えず、ステップ２０８の処理に進む。
なお、閾値及び背景閾値などは、メモリなどに予め記憶される。

ステップ２０４（Ｓ２０４）において、図３のステップ１０４で出力されたラスタデータにおいて、画素ごとに、ネガ線に隣接するか否かを判定する（ネガ線隣接判定）。例えば、ラスタデータに対して、３×３画素で構成されるウインドウを走査して、ウインドウ内に、ステップ２００でネガ線を構成すると判定された画素がいくつあるかを計数する。この画素数が予め定められた値以上の場合には、ネガ線に隣接すると判定し、ステップ２１０の処理に進む。一方、そうでない場合には、ネガ線に隣接しないと判定し、ステップ２０６の処理に進む。
ここでは、３×３画素で構成されるウインドウを走査すると説明したが、ネガ線から１〜ｍ画素隣接する画素か否かを判定する場合には、（２ｍ＋１）×（２ｍ＋１）画素で構成されるウインドウを走査する。例えば、ネガ線から１画素又は２画素隣接する画素であるか否かを判定する場合には、５×５画素で構成されるウインドウを走査する。なお、ｍは１以上の整数であるが、以下、ｍが同じ数を表すとは限らない。

ステップ２０６（Ｓ２０６）において、ステップ２０４でネガ線に隣接しないと判定された画素に対し、再判定を行う（エッジ再判定）。例えば、３×３画素で構成されるウインドウを走査して、ウインドウの注目画素の周辺に、すでにステップ２０２でエッジと判定された画素がいくつあるかを計数する。この画素数が予め定められた値以上の場合には、注目画素がエッジを構成すると判定し直し、ステップ２０８の処理に進む。一方、そうでない場合には、判定を変えず、ステップ２１０の処理に進む。
ステップ２０８（Ｓ２０８）において、ステップ２０２でエッジを構成すると判定された画素及びステップ２０６でエッジを構成すると再判定された画素の濃度が、予め定められた閾値以上であるか否かを判定する（注目画素濃度判定）。予め定められた閾値以上の場合には、判定を変えず、ステップ２１２の処理に進む。一方、そうでない場合には、注目画素がエッジを構成しないと判定し直し、ステップ２１０の処理に進む。

ステップ２１０（Ｓ２１０）において、ステップ２０４でネガ線に隣接すると判定された画素、ステップ２０６でエッジを構成しないと判定された画素及びステップ２０８でエッジを構成しないと判定された画素を、非エッジ部と判定する。
ステップ２１２（Ｓ２１２）において、ステップ２０８でエッジを構成すると判定された画素を、エッジ部と判定する。

次に、図５〜７を参照して、図４のネガ線判定（ステップ２００）を説明する。
図５は、１画素のネガ線を判定する処理（１画素ネガ線判定）を説明する図である。図６は、１画素及び２画素のネガ線を判定する処理（２画素ネガ線判定）を説明する図であり、図７は、１〜ｍ画素のネガ線を判定する処理（ｍ画素ネガ線判定。ｍは正の整数）を説明する図である。

図５（ａ）に示すように、図２のエッジ判定部１２８は、３×３画素で構成されるウインドウを走査して、画素ごとに、１画素の水平方向のネガ線を判定する判定式（図５（ｂ）上の判定式）のすべて、及び、１画素の垂直方向のネガ線を判定する判定式（図５（ｂ）下の判定式）のすべて、のいずれかを満たすか否かを判定することにより、注目画素が１画素のネガ線を構成するか否かを判定する。なお、Ｄ（ｘ）は画素ｘの画素値を示す関数であり、ＢＫＴＨ０及びＢＫＴＨ１はエッジ判定用の閾値であり、ＥＴＨは背景濃度判定用の閾値である。ＢＫＴＨ０、ＢＫＴＨ１及びＥＴＨは、予めメモリなどに記憶されている（以下、他のネガ線判定についても同様）。

図６Ａに示すように、図２のエッジ判定部１２８は、５×５画素で構成されるウインドウを走査して、画素ごとに、１画素の水平方向のネガ線を判定する判定式（図６Ｂ（ａ）左の判定式）のすべて、１画素の垂直方向のネガ線を判定する判定式（図６Ｂ（ａ）右の判定式）のすべて、２画素の水平方向のネガ線を判定する第１の判定式（図６Ｂ（ｂ）左上の判定式）のすべて、２画素の垂直方向のネガ線を判定する第１の判定式（図６Ｂ（ｂ）右上の判定式）のすべて、２画素の水平方向のネガ線を判定する第２の判定式（図６Ｂ（ｂ）左下の判定式）のすべて、及び、２画素の垂直方向のネガ線を判定する第２の判定式（図６Ｂ（ｂ）右下の判定式）のすべて、のいずれかを満たすか否かを判定することにより、注目画素が１画素及び２画素のネガ線を構成するか否かを判定する。

１画素ネガ線判定及び２画素ネガ線判定と同様、ｍ画素ネガ線判定では、図７Ａに示すように、図２のエッジ判定部１２８が、（２ｍ＋１）×（２ｍ＋１）画素で構成されるウインドウを走査して、画素ごとに、図７Ｂ及び図７Ｃに示す判定式のいずれかを満たすか否かを判定することにより、注目画素が１〜ｍ画素のネガ線を構成するか否かを判定する。
具体的には、１画素の水平方向のネガ線を判定する判定式（図７Ｂ（ａ）左の判定式）のすべて、１画素の垂直方向のネガ線を判定する判定式（図７Ｂ（ａ）右の判定式）のすべて、２画素の水平方向のネガ線を判定する第１の判定式（図７Ｂ（ｂ）左上の判定式）のすべて、２画素の垂直方向のネガ線を判定する第１の判定式（図７Ｂ（ｂ）右上の判定式）のすべて、２画素の水平方向のネガ線を判定する第２の判定式（図７Ｂ（ｂ）左下の判定式）のすべて、２画素の垂直方向のネガ線を判定する第２の判定式（図７Ｂ（Ｂ）右下の判定式）のすべて、・・・、ｍ画素の水平方向のネガ線を判定する第１の判定式（図７Ｃ左最上の判定式）のすべて、ｍ画素の垂直方向のネガ線を判定する第１の判定式（図７Ｃ右最上の判定式）のすべて、ｍ画素の水平方向のネガ線を判定する第２の判定式（図７Ｃ左上の判定式）のすべて、ｍ画素の垂直方向のネガ線を判定する第２の判定式（図７Ｃ右上の判定式）のすべて、・・・、ｍ画素の水平方向のネガ線を判定する第（ｍ−１）の判定式（図７Ｃ左下の判定式）のすべて、ｍ画素の垂直方向のネガ線を判定する第（ｍ−１）の判定式（図７Ｃ右下の判定式）のすべて、ｍ画素の水平方向のネガ線を判定する第ｍの判定式（図７Ｃ左最下の判定式）のすべて、及び、ｍ画素の垂直方向のネガ線を判定する第ｍの判定式（図７Ｃ右最下の判定式）のすべて、のいずれかを満たすか否かを判定する。
このように、１画素ネガ線判定及び２画素ネガ線判定以外にも、ｍの値を変化させて、ｍ画素ネガ線判定を行うことができる。

次に、図８及び９を参照して、図４のエッジ判定（ステップ２０）の効果をさらに説明する。
図８Ａは、図４のエッジ判定における画素の状態を示す図である。
図８Ａ（ａ）は、図１の画像処理装置１に読み込まれる画像情報を示し、図８Ａ（ｂ）は、図４のネガ線判定（ステップ２００）後の画素を示す。図８Ａ（ｃ）は、図４のエッジ判定（ステップ２０２）後の画素を示し、図８Ａ（ｄ）は、図４のネガ線隣接判定（ステップ２０４）後の画素を示し、図８Ａ（ｅ）は、図４のエッジ再判定（ステップ２０６）後の画素を示す。
図８Ａ（ｃ）〜（ｅ）に示すように、エッジを構成しないと判定された画素のうち、ネガ線に隣接すると判定された画素は、非エッジ部と判定され、エッジ用の高線数スクリーンが適用されない。

図８Ｂは、図４のエッジ判定において、ネガ線判定（ステップ２００）及びネガ線隣接判定（ステップ２０４）を行わない場合の画素の状態を示す図である。
図８Ｂ（ａ）は、図８Ａ（ａ）と同様、図１の画像処理装置１に読み込まれる画像情報を示す。図８Ｂ（ｂ）は、ネガ線判定を行なわず、図４のエッジ判定（ステップ２０２）を行った後の画素を示す図である。図８Ｂ（ｃ）は、ネガ線隣接判定を行わず、図４のエッジ再判定（ステップ２０６）を行った後の画素を示す図である。
図８Ｂ（ｂ），（ｃ）に示すように、エッジを構成しないと判定された画素のうち、エッジを構成すると再判定された画素は、エッジ部と判定され、エッジ用の高線数スクリーンが適用される可能性が高くなる。

図９Ａは、図３の全体動作における画像の状態を示す図である。
図９Ａ（ａ）は、図１の画像処理装置１に読み込まれる画像情報を示す。図９Ａ（ａ）に示すように、読み込まれる画像は、ネガ線である。図９Ａ（ｂ）は、図３のエッジ判定（ステップ２０）後の画像を示し、図９Ａ（ｃ）は、図３のスクリーン処理（ステップ１０６）後の画像を示し、図９Ａ（ｄ）は、図９Ａ（ｃ）の一部を拡大した画像を示す。なお、図９Ａ（ｃ）左及び図９Ａ（ｃ）右では、読み込まれる画像情報に対してスクリーンがどのような位置にあるか（つまり、スクリーンの位相）が異なっている。
図９Ａ（ｃ）及び図９Ａ（ｄ）に示すように、ネガ線に隣接する画素は、非エッジ部と判定され、高線数スクリーンが適用されない。

図９Ｂは、図３の全体動作において、エッジ判定（ステップ２０）のうち、図４のネガ線判定（ステップ２００）及びネガ線隣接判定（ステップ２０４）を行わない場合の画像の状態を示す図である。
図９Ｂ（ａ）は、図９Ａ（ａ）と同様、図１の画像処理装置１に読み込まれるネガ線である。図９Ｂ（ｂ）は、ネガ線判定を行わず、図３のエッジ判定（ステップ２０）を行った後の画像を示す。図９Ｂ（ｃ）は、ネガ隣接判定を行わず、図３のスクリーン処理（ステップ１０６）を行った後の画像を示す。図９Ｂ（ｄ）は、図９Ｂ（ｃ）の一部を拡大した画像を示す。なお、図９Ａ（ｃ）及び図９Ａ（ｄ）と同様、図９Ｂ（ｃ）左及び図９Ｂ（ｃ）右では、スクリーンの位相が異なっている。
図９Ｂ（ｃ）及び図９Ｂ（ｄ）に示すように、位相１では、ネガ線に隣接する画素は、エッジ部と判定され、高線数スクリーンが適用される。この結果、位相１では、ネガ線（特に、１ドット及び２ドットなどのネガ細線）がつぶれてしまう。このように、ネガ線判定及びネガ線隣接判定を行わない場合には、スクリーンの位相によって、スクリーン処理後の画質が変化してしまう。

図９Ｃは、図３の全体動作における画像の状態を示す図である。
図９Ｃ（ａ）は、図１の画像処理装置１に読み込まれる画像情報を示す。図９Ｃ（ａ）に示すように、読み込まれる画像は、背景より高濃度である文字（ポジ文字）である。図９Ｃ（ｂ）は、図３のエッジ判定（ステップ２０）後の画像を示し、図９Ｃ（ｃ）は、図３のスクリーン処理（ステップ１０６）後の画像を示し、図９Ｃ（ｄ）は、図９Ｃ（ｃ）の一部を拡大した画像を示す。
図９Ｃ（ｃ）及び図９Ｃ（ｄ）に示すように、ポジ文字のエッジを構成する画素は、エッジ部と判定され、高線数スクリーンが適用される。この結果、エッジのがたつき（ジャギー）を軽減することができる。なお、背景より高濃度である線（ポジ線）などの場合も同様である。

図１０は、第２のエッジ判定（Ｓ３０）を示すフローチャートである。
図１０に示すフローの各ステップは、いずれも、図２のエッジ判定部１２８によって実行される。

図１０のステップ３００（Ｓ３００）は、図４のステップ２００（Ｓ２００）と同じであり、ステップ３０２（Ｓ３０２）は、図４のステップ２０４（Ｓ２０４）と同じである。また、ステップ３０４（Ｓ３０４）は、図４のステップ２０２（Ｓ２０２）と同じであり、ステップ３０６〜３１２（Ｓ３０６〜３１２）は、図４のステップ２０６〜２１２（Ｓ２０６〜２１２）と同じである。
つまり、図１０の第２のエッジ判定処理では、ネガ線隣接判定後にエッジ判定を行い、ネガ線に隣接しない画素が非エッジ部と判定されるのに対し、図４のエッジ判定処理では、エッジ判定後にネガ線隣接判定を行うので、エッジを構成せず、かつ、ネガ線に隣接する画素が非エッジ部と判定される。

次に、図１１を参照して、図１０の第２のエッジ判定（ステップ３０）をさらに説明する。
図１１は、図１０の第２のエッジ判定における画素の状態を示す図である。
図１１（ａ）は、図１の画像処理装置１に読み込まれる画像情報を示し、図１１（ｂ）は、図１０のネガ線判定（ステップ３００）後の画素の状態を示す。図１１（ｃ）は、図１０のネガ線隣接判定（ステップ３０２）後の画素の状態を示し、図１１（ｄ）は、図１０のエッジ判定（ステップ３０４）後の画素の状態を示す。
図１１（ｂ）〜（ｄ）に示すように、ネガ線を構成しないと判定された画素のうち、ネガ線に隣接すると判定された画素は、非エッジ部と判定され、非エッジ用の低線数スクリーンが適用されない。
なお、図６Ｂを参照して説明したのと同様、図１０の第２のエッジ判定においても、ネガ線判定（ステップ３００）及びネガ線隣接判定（ステップ３０２）を行わない場合、エッジを構成しないと判定された画素のうち、エッジを構成すると再判定された画素は、エッジ部と判定され、エッジ用の高線数スクリーンを適用される可能性が高くなる。

１ 画像処理装置
１００ 画像処理部
１０２ マーキングエンジン
１０４ 露光装置
１０６ 画像形成ユニット
１０８ 用紙搬送ベルト
１１０ 定着器
１１２ 感光体ドラム
１１４ 帯電器
１１６ 現像ロール
１１８ 転写ロール
１２０ コントローラ
１２２ ＰＤＬ解釈部
１２４ 描画部
１２６ レンダリング部
１２８ エッジ判定部
１３０ スクリーン処理部
２ クライアントＰＣ

Claims (5)

1. 画像情報中の画素が、エッジの一部を構成するエッジ部の画素及びエッジの一部を構成しない非エッジ部のいずれであるかを判定する画像処理装置であって、
   画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、注目画素の周辺にある画素の値に基づいて、注目画素がネガ線を構成するか否かを判定するネガ線判定部と、
   画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、この画素群にある画素のうち、ネガ線を構成する画素の数に基づいて、注目画素がネガ線に隣接する画素であるか否かを判定するネガ線隣接判定部と
   を有し、
   画像情報中の画素が、背景に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は非エッジ部と判定する
   画像処理装置。
2. エッジの一部を構成するエッジ部と判定された画素と、エッジの一部を構成しない非エッジ部と判定された画素とで、異なるスクリーン処理を施すスクリーン処理部
   をさらに有する請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記スクリーン処理部は、
   前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成するエッジ部と判定された画素に対し、高線数スクリーンを適用し、前記エッジ判定部によりエッジの一部を構成しない非エッジ部と判定された画素に対し、低線数スクリーンを適用する
   請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記エッジ判定部により非エッジと判定された画素の一部を、エッジ部と判定し直すエッジ再判定部
   をさらに有し、
   画像情報中の画素が、背景に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は、前記エッジ判定部によって非エッジ部と判定され、前記スクリーン処理部によって低線数スクリーンを適用される
   請求項２または３に記載の画像処理装置。
5. 画像情報中の画素が、エッジの一部を構成するエッジ部及びエッジの一部を構成しない非エッジ部のいずれであるかを判定するプログラムであって、
   画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、注目画素の周辺にある画素の値に基づいて、注目画素がネガ線を構成するか否かを判定するステップと、
   画像情報に対し、予め定められた数の画素により構成される画素群を走査し、この画素群にある画素のうち、ネガ線を構成する画素の数に基づいて、注目画素がネガ線に隣接する画素であるか否かを判定するステップと、
   画像情報中の画素が、背景を構成する画素に対して低濃度のネガ線に隣接する場合には、この画素は非エッジ部と判定するステップと
   をコンピュータに実行させるプログラム。
   

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