JP5341745B2 - 磁気検出装置 - Google Patents

磁気検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5341745B2
JP5341745B2 JP2009297840A JP2009297840A JP5341745B2 JP 5341745 B2 JP5341745 B2 JP 5341745B2 JP 2009297840 A JP2009297840 A JP 2009297840A JP 2009297840 A JP2009297840 A JP 2009297840A JP 5341745 B2 JP5341745 B2 JP 5341745B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
reference voltage
output
integrated
magnetic detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009297840A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011137716A (ja
Inventor
一成 澤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei EMD Corp
Original Assignee
Asahi Kasei EMD Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei EMD Corp filed Critical Asahi Kasei EMD Corp
Priority to JP2009297840A priority Critical patent/JP5341745B2/ja
Publication of JP2011137716A publication Critical patent/JP2011137716A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5341745B2 publication Critical patent/JP5341745B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

本発明は、磁気検出装置に関し、特にアナログ回路のアナログ素子等のノイズを除去し、磁気検出センサの磁気を検出することのできる磁気検出装置に関する。
近年、電子機器の小型化や高性能化に伴って、微小な移動量や位置を検出することが求められている。その一例として、ホール素子を用いて位置を検出する装置があり、そのホール素子の出力を検出する磁気検出装置がある。
このような磁気検出装置で検出される磁気には、磁気検出センサのオフセット電圧が含まれている。また、地磁気などの微小な磁気を検出する場合には、磁気検出装置で検出される磁気も微小な値となり、磁気検出センサのオフセット電圧よりも小さな値となる。このため、磁気を精度良く検出するには、磁気検出センサのオフセット電圧を除去する必要がある。例えば、特許文献1の磁気検出装置においては、磁気検出センサおよび磁気検出装置を構成するアナログ回路のアナログ素子のオフセット電圧を除去する方法が提案されている。
図10を参照して、従来の磁気検出装置におけるセンサ101およびアナログ素子のオフセット電圧を除去する方法を説明する。図10は、従来の磁気検出装置におけるホールセンサ101およびアナログ素子のオフセット電圧を除去するための変復調動作の各状態の回路を示す回路図である。
図10に示す磁気検出装置100は、磁気を検出するホールセンサ101、ホールセンサ101に与える電圧の向きを切り替えるスイッチ102、ホールセンサ101で検出された磁気に対応する電圧の向きを切り替えるスイッチ103およびホールセンサ101で検出された磁気に対応する電圧の差分電圧を増幅する差動増幅器104を備えて構成される。そして、スイッチ102,103および差動増幅器104は、アナログ素子によって構成されるアナログ回路である。スイッチ102を制御することで、ホールセンサ101について、電圧VDDを与える位置および差動増幅器104との電気的接続状態を切り替えている。
ホールセンサ101に設けられている4端子のうちの対向する2端子の間に、電流を、その向きを反時計方向に90°ずつ回転させて流し、かつ4端子のうちの残りの対向する2端子を、図10(a)〜図10(d)に示すように、差動増幅器の反転端子および非反転端子に接続し、かつ差動増幅器の出力の極性を、スイッチ102,103により、図10(a)〜図10(d)に示すように切り換えるものとする。
このとき、図10(a)に示す状態(以下、この状態を、(0)で表す)での差動増幅器出力電圧をVa(0)=Vh+Oh+Oeと定義すると、スイッチ103の出力は、Vout(0)=Vh+Oh+Oeとなる。図10(b)に示す状態(以下、この状態を、(90)で表す)では、スイッチ103の出力は、Vout(90)=Vh−Oh+Oeで表せ、図10(c)に示す状態(以下、この状態を、(270)で表す。)では、スイッチ103の出力は、Vout(270)=Vh+Oh−Oeと表せ、図10(d)に示す状態(以下、この状態を、(180)で表す)では、スイッチ103の出力は、Vout(180)=Vh−Oh−Oeと表せられる。ただし、磁界の方向は紙面から紙背に向かう方向で図10(a)〜図10(d)で変化がないものとし、Vhはホールセンサ101が検出したホール電圧、Ohはこのホールセンサ101のオフセット電圧、Oeはアナログ回路のアナログ素子のオフセット電圧である。
すなわち、磁気検出装置100では、図10(a)〜図10(d)に示すように、スイッチ102等を切り替えることによって0°、90°、270°、180°の順番に与える電圧の向きを1回転させることで360°変調を行い、360°変調の0°、90°、270°、180°のとき、0°、0°、180°、180°の順番に与える電圧の向きを1回転させることで180°変調を行い、さらにこの変調された信号を360°変調の0°、90°、270°、180°のとき、0°、0°、180°、180°の順番に1回転させながら電流を流すことで復調を行う。この磁気検出装置100において、上記の360°変調における0°、90°、270°、180°における出力電圧Voutは、下記のように表すことができる。
0°のとき Vout( 0)=Vh+Oh+Oe ……式(101)
90°のとき Vout( 90)=Vh−Oh+Oe ……式(102)
270°のとき Vout(270)=Vh+Oh−Oe ……式(103)
180°のとき Vout(360)=Vh−Oh−Oe ……式(104)
そして、上記の式(101)〜式(104)を加算すると、
Vout=Vout(0)+Vout(90)+Vout(270)+Vout(360)
=4Vh ……式(105)
となり、上記の360°変調によってホールセンサ101のオフセット電圧Oh、180°変調によってアナログ素子のオフセット電圧Oeをそれぞれ除去することができる。
特開2005−283503号公報
ところで、上述したように磁気検出装置で検出される磁気は微小な磁気である。このため、アナログ回路で検出された磁気に対応する電圧を積分するための積分器がスイッチ103の後段に接続されたり、アナログ回路の信号をデジタル信号に変換(以下、A/D変換と呼ぶ)するためのA/Dコンバータがスイッチ103の後段に接続されたりする。また、この積分器やA/Dコンバータの接続状態を切り替えるためのスイッチ等も必要になることから、アナログ素子のノイズも必然的に発生する。
このため、磁気検出装置の内部のアナログ回路のノイズは低減することができたとしても、磁気検出装置の外部のアナログ回路のノイズが残留する。すると、ホールセンサ101の信号は非常に微小な信号であるため、磁気の検出精度を低下させる場合があった。
そこで、本発明は、上記の課題に鑑み、磁気検出センサのオフセット電圧とアナログ回路のアナログ素子のオフセット電圧とを高精度に除去し、磁気検出センサの磁気を高精度に検出することのできる磁気検出装置を提供することを目的とする。
本発明に係る磁気検出装置は、上記の目的を達成するために、次のように構成される。
本発明に係る第1の磁気検出装置は、ホール素子によって検出される磁気を電気信号に変換して出力することで磁気を検出する磁気検出装置であって、所定の判定値に応じて正または負のリファレンス電圧を出力するリファレンス電圧出力手段と、前記ホール素子によって検出される検出電圧に、前記正または負のリファレンス電圧を加えた電圧を、任意の回数だけ積分する積分手段と、前記積分手段によって積分された電圧の正負に対応して前記判定値を出力すると共に、前記積分された電圧が正の場合には、前記負のリファレンス電圧を加えて積分した回数をインクリメントし、前記積分された電圧が負の場合には、前記正のリファレンス電圧を加えて積分した回数をデクリメントし、両回数の差を算出し、当該算出した数値を出力するA/D変換手段と、を備え、前記リファレンス電圧出力手段は、前記判定値が前記正の電圧に対応するものである場合には、前記負のリファレンス電圧を出力し、前記判定値が前記負の電圧に対応するものである場合には、前記正のリファレンス電圧を出力することを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、積分手段およびA/D変換手段をホールセンサ、スイッチ、リファレンス電圧出力手段および制御手段とまとめて一つの回路として構成し、高ゲインで増幅した信号をA/D変換することができる。このため、ホールセンサからA/Dコンバータまでのオフセット電圧やアナログ素子のノイズを高精度に除去して、磁気検出センサの磁気を高精度に検出することが可能となる。
本発明に係る第2の磁気検出装置は、前記A/D変換手段は、前記積分手段から出力された電圧が0Vより大きいか、または0Vより小さいかを比較する比較手段と、前記積分手段によって積分されている間、前記比較手段によって前記積分手段によって積分された電圧が0Vより大きいと判定される毎に、前記負のリファレンス電圧を加えて前記積分手段が積分した電圧を減少させると共に前記数値を増加させ、また前記積分手段によって積分された電圧が0Vより小さいと判定される毎に、前記正のリファレンス電圧を加えて前記積分手段が積分した電圧を増加させると共に前記数値を減少させる計数手段と、を備えることを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、比較手段が積分手段から出力された電圧が0Vより大きいか、または0Vより小さいかを比較して、計数手段が積分手段によって積分されている間、リファレンス電圧および数値を増減させるため、積分手段で高ゲインで増幅した信号をA/D変換手段においてそのままA/D変換することが可能となる。
本発明に係る第3の磁気検出装置は、前記積分手段は、積分された電圧を保持する電圧保持手段を備え、前記A/D変換手段は、前記電圧保持手段によって積分された電圧が保持されず、任意の回数だけ積分している第1の検出フェーズにおける数値と、前記電圧保持手段によって積分された電圧が保持され、積分していない第2の検出フェーズにおける数値とを加算した数値を出力することを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、第1の検出フェーズにおける数値と、第2の検出フェーズにおける数値と加算した数値を出力することで、第1の検出フェーズで残った残留電圧を、第2の検出フェーズで高精度に検出し、磁気検出センサの磁気を高精度に検出することが可能となる。
本発明に係る第4の磁気検出装置は、前記ホール素子によって検出される検出電圧を正転および反転して出力するスイッチ手段を備えることを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、スイッチ手段による変調動作によって、磁気検出センサのオフセット電圧とアナログ素子のオフセット電圧とを高精度に除去し、磁気検出センサの磁気を高精度に検出することが可能となる。
本発明に係る第5の磁気検出装置は、前記リファレンス電圧出力手段は、リファレンス電圧の電圧値を調整するリファレンス電圧調整手段と、前記リファレンス電圧調整手段によって生成されるリファレンス電圧を正転または反転して出力するリファレンス電圧スイッチ手段と、前記リファレンス電圧スイッチ手段によって出力されるリファレンス電圧をサンプリングするリファレンス電圧サンプリング手段と、を備えることを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、リファレンス電圧出力手段から出力されるリファレンス電圧を加減算することで、磁気検出センサの信号を高精度に検出することが可能となる。
本発明に係る第6の磁気検出装置は、前記積分手段は、前記ホール素子によって検出される電圧をサンプリングするサンプリング手段と、前記ホール素子によって検出される電圧と、前記リファレンス電圧出力手段によって出力される電圧とを合わせて、その電圧を正転または反転して出力する積分電圧スイッチ手段と、前記積分電圧スイッチ手段によって出力された電圧の差分電圧を増幅する演算増幅手段と、を備えることを特徴とする。
上記の磁気検出装置によれば、積分手段においてホール素子によって検出される電圧と、前記リファレンス電圧出力手段によって出力される電圧とを合わせて、その電圧を正転または反転して出力することで、磁気検出センサから出力された信号を積分、復調して、磁気検出センサのオフセット電圧とアナログ素子のオフセット電圧とを高精度に除去することが可能となる。
本発明に係る第7の磁気検出装置は、前記リファレンス電圧出力手段は、前記リファレンス電圧を正転または反転して出力するリファレンス電圧スイッチ手段と、前記リファレンス電圧スイッチ手段によって出力されるリファレンス電圧をサンプリングするリファレンス電圧サンプリング手段と、を備えることを特徴とする。
本発明における磁気検出装置によれば、積分器およびA/Dコンバータをホールセンサ、スイッチ、リファレンス電圧出力回路およびスイッチ制御部とまとめて一つの回路として構成し、ホールセンサからで検出された信号に含まれるノイズを同一回路内で高精度に除去した上で、高ゲインで増幅した信号を同一回路内でA/D変換することができるため、ホールセンサからA/Dコンバータまでのオフセット電圧やアナログ回路のアナログ素子のノイズを高精度に除去し、磁気検出センサの磁気の検出精度を高精度にすることができる。
本発明に係る磁気検出装置10の構成を示すブロック図である。 リファレンス電圧調整部14aの構成例を示すブロック図である。 センサ101およびアナログ素子のオフセット電圧を除去するための変調動作における各状態の回路を示す回路図である。 検出フェーズ1における各クロック時におけるアップダウンカウンタ15cの出力値の推移を示す表である。 検出フェーズ2における各クロック時におけるアップダウンカウンタ15cの出力値の推移を示す表である。 1回転におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートである。 検出フェーズ1および検出フェーズ2におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートである。 検出フェーズ1におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートである。 検出フェーズ2におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートである。 従来の磁気検出装置におけるセンサ101およびアナログ素子のオフセット電圧を除去するための変復調動作の各状態の回路を示す回路図である。
以下に、本発明の好適な実施形態を添付図面に基づいて説明する。なお、以下の説明において参照する各図では、他の図と同等の構成要素は同一符号によって示す。
(磁気検出装置10の構成)
まず、図1を参照して、本発明に係る磁気検出装置10の構成を説明する。図1は、本発明に係る磁気検出装置10の構成を示すブロック図である。
図1に示す本発明に係る磁気検出装置10は、ホールセンサ11、スイッチ12、積分器13、リファレンス電圧出力回路14、A/Dコンバータ15およびスイッチ制御部16を備えて構成される。
ホールセンサ11は、検出した磁気量を電気信号に変換して出力する磁気検出センサである。
スイッチ12は、変調を行うためにホールセンサ11に流す電流の向きを切り替えることによって、磁気検出センサの出力電圧を360°変調した入力電圧Vinを出力するスイッチング素子である。つまり、入力電圧Vinは、ホールセンサ11の出力電圧をスイッチ12で360°変調した差動電圧である。
積分器13は、検出フェーズ1用スイッチ13a、検出フェーズ2用スイッチ13b、サンプリング用キャパシタ13c,13d、サンプリング用スイッチ13e,13f、復調スイッチ13g、チョッパアンプ13h、積分用キャパシタ13i,13j、チョッパアンプリセット用スイッチ13kを備えて構成される。この積分器13は、ホールセンサ11から出力された入力電圧VinにA/D変換用のリファレンス電圧Vrefを加算または減算した電圧を、復調スイッチ13gで復調する。さらに、その電圧をクロック信号φ2のクロック回数だけ積分した後、差動増幅することによりノイズ成分を除去し、出力電圧Voutとして出力する回路である。
検出フェーズ1用スイッチ13aおよび検出フェーズ2用スイッチ13bは、2つの検出フェーズを切り替えるためのスイッチング素子である。すなわち、これらの検出フェーズ1用スイッチ13aおよび検出フェーズ2用スイッチ13bが、制御信号INT,HOLDに基づいて回路を接続・切断することで、ホールセンサ11で検出された電圧を積分しながらノイズ成分を除去し、ホールセンサ11で検出された電圧を検出する検出フェーズ1と、さらに検出フェーズ1で検出することのできなかったホールセンサ11の残留電圧を高精度に検出する検出フェーズ2とを切り替えることができる。
サンプリング用キャパシタ13c,13dは、入力電圧Vinに対応する電荷が充電されたり、充電された電荷が放電されたりする充放電素子である。
サンプリング用スイッチ13e,13fは、クロック信号φ1,φ2に基づいて電気的に接続または切断するためのスイッチング素子である。これらサンプリング用スイッチ13e,13fにより、サンプリング用キャパシタ13c,13dに入力電圧Vinに対応する電荷が充電されたり、サンプリング用キャパシタ13c,13dに充電されている電荷が放電されたりする。
復調スイッチ13gは、クロック信号P180に基づいて0°、0°、180°、180°の順に接続を切り替えるためのスイッチング素子である。この復調スイッチ13gにより、サンプリング用キャパシタ13e,13fにサンプリングされた入力電圧Vinにリファレンス電圧Vrefを加算または減算した電圧が、復調される。
チョッパアンプ13hは、2ステージ以上の全差動アンプで、差動対の第1ステージと最終ステージとをスイッチで正転/反転に切り替えることができる構成であるため、差動対の第1ステージから最終ステージまでの間で発生するフリッカーノイズを除去することができる。
積分用キャパシタ13i,13jは、チョッパアンプ13hと並列に接続され、サンプリング用キャパシタ13c,13dに充電された電荷を積分するための充放電素子である。
チョッパアンプリセット用スイッチ13kは、チョッパアンプ13hと並列に接続される積分用キャパシタ13i,13jに充電された電荷を放電させてリセットするためのスイッチング素子である。
リファレンス電圧出力回路14は、リファレンス電圧調整部14a、リファレンス電圧スイッチ14b、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dおよびリファレンス電圧サンプリング用スイッチ14e,14fを備えて構成され、サンプリング用キャパシタ13e,13fにサンプリングされた入力電圧Vinに加算または減算するリファレンス電圧Vrefを出力するための回路である。
リファレンス電圧調整部14aは、スイッチ制御部16からの図示しない制御信号に基づいて、リファレンス電圧Vrefを調整するための回路である。なお、リファレンス電圧調整部14aの回路構成についてはさらに後述する。
リファレンス電圧スイッチ14bは、クロック信号P180に基づいて0°、180°に接続を切り替え、リファレンス電圧調整部14aから出力されるリファレンス電圧Vrefを正転・反転させるためのスイッチング素子である。判定値DETとクロック信号P180との排他的論理和(EXOR)が“0”から“1”に遷移(LレベルからHレベルに遷移)するとき、リファレンス電圧Vrefを180°反転した信号−Vrefを出力し、排他的論理和(EXOR)が“0”(Lレベル)であるとき、反転せずにそのままリファレンス電圧Vrefを出力する。
リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dは、リファレンス電圧調整部14aから出力されるリファレンス電圧Vrefに対応する電荷をサンプリングするための充放電素子である。
リファレンス電圧サンプリング用スイッチ14e,14fは、リファレンス電圧Vrefに対応する電荷をサンプリングするために電気的に接続または切断するためのスイッチング素子である。
A/Dコンバータ15は、比較器15a、フリップフロップ回路15bおよびアップダウンカウンタ15cを備えて構成される。
比較器15aは、出力電圧Voutの差動信号を入力し、出力電圧Voutが正の値(出力電圧Vout>0)であればHレベルを出力し、出力電圧Voutが負の値(出力電圧Vout<0)であればLレベルを出力する比較演算回路である。
フリップフロップ回路15bは、比較器15aから出力される比較演算結果を、クロック信号DETCLKがHレベルに遷移するタイミングで保持する回路である。フリップフロップ回路15bは、本例では、クロック信号DETCLKがHレベルに遷移するタイミングで、出力電圧Vout>0である状態であればHレベルの判定値DETを出力し続け、また出力電圧Vout<0である状態であればLレベルの判定値DETを出力し続ける。
アップダウンカウンタ15cは、本実施例では、12ビットのカウンタである。このアップダウンカウンタ15cは、クロック信号φ1がHレベルとなるタイミングで、DET信号がHレベルであればカウンタ値を積分した積分回数FSだけインクリメントし、DET信号がLレベルであればカウンタ値を積分回数FSだけデクリメントして、カウンタ値DTを出力する回路である。また、このアップダウンカウンタ15cは、リセット信号RESRTがHレベルで入力されたときカウンタ値DTが“0”にリセットされる。
スイッチ制御部16は、磁気検出装置10を構成する各部のスイッチの接続・切断を制御する回路である。
(リファレンス電圧調整部14aの構成)
続いて、図2を参照して、リファレンス電圧調整部14aの構成例を説明する。図2は、リファレンス電圧調整部14aの構成例を示すブロック図である。
図2に示すリファレンス電圧調整部14aは、アンプ21、抵抗22およびキャパシタ23を備えて構成される。
リファレンス電圧調整部14aにはアンプ21があるが、上述したチョッパアンプ13hのようなチョッパ動作を行うアンプではないため、リファレンス電圧出力回路14から出力されるリファレンス電圧Vrefに対して、チョッパ動作によるチョッパ特性は一切かからない。このため、リファレンス電圧Vref用のオペアンプ21でフリッカーノイズ等が発生するが、これらのノイズを除去することができない。
そこで、リファレンス電圧調整部14aは、リファレンス基準電圧Vrefhを、抵抗22と、抵抗22と並列に接続されるキャパシタ23とによって1/100に降圧し、キャパシタ23に接続した電圧をリファレンス電圧Vrefとして生成して出力する。
これにより、チョッパ特性がなくても、降圧と同時にオペアンプ21のノイズVn_refを1/100に軽減することができる。オペアンプ21のノイズVn_refは、
Vn_vref_total=10240.5/100×Vn_vref
=0.32Vn_ref ……式(1)
となる。また、キャパシタ14cの容量Crpは、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14d、リファレンス電圧サンプリング用スイッチ14e,14fのキックバックノイズVkbを抑える効果がある。例えば、リファレンス電圧Vref=10mV、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dの容量比Cvr=20Crpであれば、
Vkb=(Crp/Cvr)×Vref
=(1/20)×10
=0.5mV ……式(2)
となる。
なお、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14cがリファレンス電圧調整部14aに接続されているが、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14dが基準電圧VSSに接続されているため、ノイズの発生を抑えることができる。また、サンプリング用キャパシタ13c,13dによってサンプリングされた電圧は、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dによりサンプリングされた電圧に基づいてシフトされるとともに、システムグランドVCOM=VDD/2を基準にして積分される。
(オフセット電圧の除去方法)
図3を参照して、ホールセンサ11およびアナログ素子のオフセット電圧を除去する方法を説明する。図3は、ホールセンサ11およびアナログ素子のオフセット電圧を除去するための変調動作における各状態の回路を示す回路図である。
通常、ホールセンサ11で発生するオフセット電圧は、ホールセンサ11で検出された信号よりはるかに大きい。このため、ホールセンサ11で検出された信号を変復調する際、まず信号を360°変調し、変調された信号を積分するときに復調する。また、この変復調を行う速度は、変復調を行う回路の電荷が損失する度合いや素子のセットリング時間、スイッチング素子の切り替え時に生じるノイズ等を考慮すると、あまり早くすることができない。
一方、積分回数をnとすると、信号のレベルはn倍に大きくなり、ノイズはN0.5倍になる。よって、積分回数Nが多いほど、S/N比は良くなる。また、検出動作に要する時間も短くなり、回路全体の消費電力を抑えることもできる。このため、積分を行う速度は、変復調を行う速度より速い方が好ましい。
これらを考慮して、積分回数は360°変調の1回転の0°、90°、270°、180°の各角度で8回とし、合計で32回とする。このとき、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに含まれるノイズを打ち消すようにリファレンス電圧Vrefを加算または減算する回路を図3(a)〜図3(d)に示す。
図3(a)は360°変調における0°のときの等価回路を示し、図3(b)は360°変調における90°のときの等価回路を示し、図3(c)は360°変調における270°のときの等価回路を示し、図3(d)は360°変調における180°のときの等価回路を示す。
まず、図3(a)に示すように、スイッチ12が0°の状態、スイッチ13aが180°の状態となる。入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhに、ホールセンサ11のオフセット電圧Ohを足した合わせたものとなる。入力電圧Vinは、積分器13で、積分されて出力される。但し、このとき、アナログ素子のオフセット電圧Oeも同時に積分される。このため、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧Ohと、アナログ素子のオフセット電圧Oeとを打ち消すようにリファレンス電圧Vrefを差し引く、つまりリファレンス電圧−Vrefを積分したリファレンス電圧−Vref_intを足し合わせる。
出力電圧Vout>0mVであれば、出力電圧Voutが0mVに近づくように、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intからリファレンス電圧Vrefを差し引く。また、出力電圧Vout<0mVであれば、出力電圧Voutが0mVに近づくように、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに、リファレンス電圧Vrefを積分したリファレンス電圧Vref足し合わせれば良い。なお、ここでは、出力電圧Vout>0mVであるものとして、出力電圧Voutが0mVに近づくように、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intから、リファレンス電圧Vrefを差し引く、つまり、リファレンス電圧−Vrefを積分したリファレンス電圧−Vref_intを足し合わせる場合で説明する。
次に、図3(b)に示すように、スイッチ12の切替によって360°変調における0°の状態から90°の状態に切り替わる。またスイッチ13aは図3(a)に示した状態から変化せず、180°変調の180°の状態のままで切り替わらない。入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhからホールセンサ11のオフセット電圧Ohを差し引いたものになる。
次に、図3(a)に示したように、入力電圧Vinは積分器13で積分されて出力される。但し、このときアナログ素子のオフセット電圧Oeも同時に積分されるため、入力電圧Vinに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧−Ohと、アナログ素子のオフセット電圧Oeとを打ち消すようなリファレンス電圧Vrefを積分したリファレンス電圧Vref_intを差し引く。つまり、リファレンス電圧−Vrefを積分したリファレンス電圧−Vref_intを足し合わせる。
次に、図3(c)に示すように、スイッチ12の切替によって360°変調における90°の状態から270°の状態に切り替わる。またスイッチ13aは図3(b)に示した180°変調の0°の状態から180°変調の0°の状態に切り替わる。入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧Ohを足し合わせ、さらにそれを反転したものになる。
入力電圧Vinは、積分器13で積分されて出力される。但し、このときアナログ素子のオフセット電圧Oeも同時に積分されるため、入力電圧Vinに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧Ohと、アナログ素子のオフセット電圧Oeとを打ち消すようなリファレンス電圧Vrefを積分したリファレンス電圧Vref_intを足し合わせる。
入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧Ohを足し合わせ、さらにそれを反転したものであるため、出力電圧Voutは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧Ohを足し合わせ、さらにアナログ素子のオフセット電圧−Oeとリファレンス電圧−Vrefを足し合わせ、これら積分したものになる。
次に、図3(d)に示すように、スイッチ12の切替によって360°変調における270°の状態から180°の状態に切り替わる。またスイッチ13aは図3(c)に示した180°変調の0°の状態から変化せず、180°変調の0°の状態のままで切り替わらない。入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhからホールセンサ11のオフセット電圧Ohを差し引いたものを、さらに反転したものになる。入力電圧Vinは、積分器13で積分されて出力される。但し、このとき、アナログ素子のオフセット電圧Oeも同時に積分されるため、入力電圧Vinに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧Ohと、アナログ素子のオフセット電圧Oeとを打ち消すようなリファレンス電圧Vrefを積分したリファレンス電圧Vref_intを足し合わせる。
入力電圧Vinは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧−Ohを足し合わせ、さらにそれを反転したものであるため、出力電圧Voutは、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧−Ohを足し合わせ、さらにアナログ素子のオフセット電圧−Oeとリファレンス電圧−Vrefを足し合わせ、これら積分したものになる。
上述した図3(a)〜図3(d)の各状態でのリファレンス電圧Vrefを加算または減算しない出力電圧Voutは、
0°のとき Vout( 0)=8×(Vh+Oh+Oe) ……式(3)
90°のとき Vout( 90)=8×(Vh−Oh+Oe) ……式(4)
270°のとき Vout(270)=8×(Vh+Oh−Oe) ……式(5)
360°のとき Vout(360)=8×(Vh−Oh−Oe) ……式(6)
のように表すことができる。式(3)〜式(6)をすべて加算すると、
Vout=32Vh
となる。このVoutを打ち消すようにリファレンス電圧Vrefを加算または減算すると、
0°のとき Vout( 0)=8×(Vh+Oh+Oe±Vref) ……式(7)
90°のとき Vout( 90)=8×(Vh−Oh+Oe±Vref) ……式(8)
270°のとき Vout(270)=8×(Vh+Oh−Oe±Vref) ……式(9)
360°のとき Vout(360)=8×(Vh−Oh−Oe±Vref) ……式(10)
のように表すことができる。式(7)〜式(10)をすべて加算すると、
Vout=32Vh±32Vref ……式(11)
となる。さらに、これを変調を32回転、積分回数1024回まで繰り返すと、
Vout=1024Vh±1024Vref ……式(12)
となる。この過程で、リファレンス電圧Vrefを加算または減算した回数は、1024〜−960となり、これがアップ/ダウンカウンタ15cで計数され、出力されるカウンタ値DTとなる。従って、このカウンタ値DTの検出フェーズ1では、カウンタ値DTは32の倍数となる。
(アップダウンカウンタ15cの動作)
続いて、図4および図5を参照して、検出フェーズ1および検出フェーズ2における各クロック数におけるアップダウンカウンタ15cの動作を説明する。図4は検出フェーズ1における各クロック時におけるアップダウンカウンタ15cの出力値の推移を示す表であり、図5は検出フェーズ2における各クロック時におけるアップダウンカウンタ15cの出力値の推移を示す表である。
なお、ここでは、ホールセンサ11が検出した電圧Vh=2.69mV、ホールセンサ11のオフセット電圧Oh=20mV、アナログ素子のオフセット電圧Oe=5mV、リファレンス電圧Vref=10mV、積分回数1024回として説明する。
図4の表31に示すように、0クロック目である初期状態では、出力電圧Vout=0mV、カウンタ値DT=0である。
ホールセンサ11で検出された電圧を積分しながらノイズ成分を除去し、ホールセンサ11で検出された電圧を検出する検出フェーズ1では、32クロックで、ホールセンサ11の360°変調が1回行われるように構成されている。さらに、1クロック毎に積分を1回行うため、ホールセンサ11の360°変調が1回行われる毎に、積分が32回行われる。
まず、32クロック目、つまり360°変調の1回転目において、入力電圧Vinに対して積分が32回行われる。入力電圧Vinを積分した電圧Vh_int=2.69×32=86mVとなる。また、リファレンス電圧Vref=10mVであるため、同様に積分されて、320mVとなる。初期状態では、判定値DET=Hレベルに設定しているため、積分されたリファレンス電圧Vref=0から320mVを減算して、積分されたリファレンス電圧Vref_int=−320mVとなる。入力電圧Vinを積分した電圧Vh_int=86mVに、リファレンス電圧Vrefを積分した電圧Vref_int=−320mVが足し合わされ、出力電圧Vout=−234mVとなる。
次に、64クロック目、つまり360°変調の2回転目において、入力電圧Vinに対して積分がさらに32回行われて、積分回数FSは64回となる。入力電圧Vinを積分した電圧Vh_int=172mVとなる。また、リファレンス電圧Vref=10mVであるため、同様に積分されたリファレンス電圧Vref_int=320mVとなる。このとき、360°変調の1回転目で出力電圧Vout=−234mVであったため、判定値DET=Lレベルとなっており、1回転目のリファレンス電圧Vref_int=−−320mVに320mVを加算して、積分されたリファレンス電圧Vref_int=0mVとなる。入力電圧Vinを積分した電圧Vh_int=172mVに、積分されたリファレンス電圧Vref_int=0mVが足し合わされて、出力電圧Vout=172mVとなる。
このように、1回転前の出力電圧Voutが正の値であれば、判定値DET=Lレベルになり、積分されたリファレンス電圧Vref_intを増加させた後、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに積分されたリファレンス電圧Vref_intを足し合わせる。また、出力電圧Voutが負の値であれば、判定値DET=Hレベルになり、積分されたリファレンス電圧Vref_intを減少させた後、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに積分されたリファレンス電圧Vref_intを足し合わせる。
なお、64クロック以降も、96クロック、128クロックの順に、1024クロックまで繰り返す。そして、1024クロックで積分をやめる。この時点での、A/Dコンバータ15を構成するアップダウンカウンタ15cのカウンタ値DTを検出フェーズ1カウンタ値Mとして記憶しておく。この検出フェーズ1カウンタ値Mは32の倍数であり、アップダウンカウンタ15cに検出フェーズ1カウンタ値Mが記憶されることでアップダウンカウンタ15cの12ビットのうちのMSB7ビットが検出されたことになる。
また、1024クロック目、32回転目の出力電圧Vout=195mV、つまり検出フェーズ1において出力電圧Vout=0mVとならなかった電圧は、出力電圧Voutをリファレンス電圧Vrefの32倍で加算または減算した余りの電圧、つまり残留電圧である。この残留電圧に対応するカウンタ値DTを検出フェーズ2カウンタ値Lとして記憶しておく。この検出フェーズ2カウンタ値Lは、0〜32の値となり、アップダウンカウンタ15cの12ビットのうちのLSB5ビットに相当する。
次に、図5の表32に示すように、検出フェーズ1で積分された後のホールセンサ11で検出された電圧の残留電圧、つまりアップダウンカウンタ15cの12ビットのうちのLSB5ビットに相当する電圧を検出する検出フェーズ2では、積分を行わず1025クロック目から1クロック毎に積分されたリファレンス電圧Vref_intをリファレンス電圧Vref=10mVずつ減算していく。1回転前の1024クロック目で積分されたリファレンス電圧Vref_int=−2560mVであるため、1025クロック目で積分されたリファレンス電圧Vref_int=−2570mVとなる。
また、アップ/ダウンカウンタ15cは、積分されたリファレンス電圧Vref_intを減算していく毎に、検出フェーズ2カウンタ値Lを1ずつ加算していき、カウンタ値DT=検出フェーズ1カウンタ値M+検出フェーズ2カウンタ値Lも1ずつ加算して出力する。入力電圧Vinを積分した電圧Vh_int=2755mVに、積分されたリファレンス電圧Vref_int=−2570mVを足し合わせて、出力電圧Vout=185mVとなる。
1026クロック目以降も同様に、積分を行わず1025クロック目から1クロック毎に積分したリファレンス電圧Vref_intをリファレンス電圧Vref=10mVずつ減算していき、リファレンス電圧Vref_intは−2580mV、−2590mVのように減少していく。また、出力電圧Vout=175mV、165mVのように減少していく。
1044クロック目で、出力電圧Vout=−5mVとなり、出力電圧Vout<0mVであるため、判定値DET=Lレベルになる。1045クロック目で、積分されたリファレンス電圧Vref_intは、リファレンス電圧Vref=10mVだけ増加して−2750mVになる。
また、アップ/ダウンカウンタ15cは、リファレンス電圧Vrefを加算していく毎に、検出フェーズ2カウンタ値Lが1だけ減算していき、カウンタ値DT=M+Lも1ずつ減算して出力する。検出フェーズ1で入力を積分した電圧Vh_int=2755mVに、積分されたリファレンス電圧Vref_int=−2760mVを足し合わせて、出力電圧Vout=−5mVとなる。
再び、1045クロック目で、出力電圧Vout=5mVとなり、出力電圧Vout>0mVであるため、判定値DET=Hレベルになる。1046クロック目で、積分されたリファレンス電圧Vref_intは、リファレンス電圧Vref=10mVだけ減少させて−2760mVとなる。
また、アップ/ダウンカウンタ15cは、リファレンス電圧Vrefを減算していく毎に、検出フェーズ2カウンタ値Lが1ずつ加算していき、カウンタ値DT=検出フェーズ1カウンタ値M+検出フェーズ2カウンタ値Lも1ずつ加算して出力する。
上述した動作を1088クロック目まで繰り返す。
このように、アップダウンカウンタ15cのカウンタ値DTを検出フェーズ2カウンタ値Lとして記しておく。そして、最後に検出フェーズ1カウンタ値Mに検出フェーズ2カウンタ値Lを加算し、カウンタ値DTとして出力する。
この検出フェーズ2カウンタ値Lを確定するためには、最終クロックの1つの前の1087クロック目の検出フェーズ2カウンタ値Lと、最終クロックの1088クロック目の検出フェーズ2カウンタ値Lの2つの連続した検出フェーズ2カウンタ値Lの平均値を算出する。
(20+19)/2=19.5
≒19 ……式(13)
このようにして、カウンタ値DTの検出フェーズ2カウンタ値Lを19に確定する。そして、検出フェーズ1カウンタ値Mと検出フェーズ2カウンタ値Lとを加算すると、
DT=M+L
=256+19
=275 ……式(14)
となる。なお、通常、検出フェーズ2の動作は64クロックで終了するが、65クロック以上も動作することができるようにして、検出可能な範囲以内であるか否かを検出することができるように構成しても良い。具体的には、ホールセンサ11からの入力値が大きい場合、通常の測定が終わっても、そのままカウントを続行する。その結果、−1024から1023までの測定範囲を超えてカウントを続行するので、カウンタ値DTのMSB2ビット、つまり12ビット、11ビット目がカウントに使用される。このMSB2ビットが「10」である場合は1024以上であるため検出範囲オーバーとし、カウンタ値DTのMSB2ビットが「01」である場合は−1025以下であるため検出範囲オーバーとし、MSB2ビットが「00」または「11」である場合は−1024から1023までの検出可能な範囲以内として、磁気検出を行うことができる。
つまり、12ビットのカウンタのうち、MSB1ビットを除く11ビット(−1024〜1023)を有効にし、ホールセンサ11からの入力値をデジタルデータとして検出することができる。
(スイッチ制御部16の動作)
続いて、図6〜図9を参照して、スイッチ制御部16の動作を説明する。図6は1回転におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートであり、図7は検出フェーズ1および検出フェーズ2におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートであり、図8は検出フェーズ1におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートであり、図9は検出フェーズ2におけるスイッチ制御部16から出力される各信号の動きを示すタイムチャートである。
なお、ホールセンサ11が検出した電圧Vhは、ここまで説明のため一例として2.69mVとしていたが、2.69mVに限定されるものではなく、例えばVhが5mVであったり、これ以外の電圧であっても検出フェーズを行うことができる。
図6に示すように、スイッチ制御部16は、図示しないマスタクロック信号MCLKのクロック周波数4.092MHzを2分周したクロック信号DCLK(クロック周波数(サンプル周波数)fs=2.048MHz)から、リセット信号RESETおよびクロック信号DETCLKを出力する。
リセット信号RESETは、磁気検出装置10の各部を初期状態にリセットするための信号である。クロック信号DETCLKは、変調の1回転毎に1回、オフセット電圧が除去されるタイミングでHレベルに立ち上がる信号である。
さらに、スイッチ制御部16は、クロック周波数4.092MHzを2分周したクロック信号DCLKに合わせて、クロック信号P90,P180を出力する。
クロック信号P180は、上述した変調の0°および90°のときにLレベルで出力され、270°および180°のときにHレベルで出力される信号である。クロック信号P90は、上述した変調の0°および180°のときにLレベルで出力され、90°および270°のときにHレベルで出力される信号である。
また、クロック信号DCLKから1周期の25%遅れの図示しないクロック信号ACLK(クロック周波数fs=2.048MHz)に合わせて、積分器13に与えるノーオーバーラップのクロック信号φ1,φ2を出力する。
具体的には、クロック信号φ1がHレベルであるときクロック信号φ2はLレベルで出力され、クロック信号φ1がLレベルであるときクロック信号φ2はHレベルで出力される。クロック信号φ1がHレベルであるとき、サンプリング用キャパシタ13c,13dおよびリファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dは、サンプリング用スイッチ13eおよびリファレンス電圧サンプリング用スイッチ14eを介してシステムグランドVCOMまたは基準電圧VSSに接続されている。そして、クロック信号φ2がHレベルとなったとき、磁気検出センサの出力電圧を360°変調した入力電圧Vinおよびリファレンス電圧Vrefのサンプル動作を開始し、クロック信号φ2がLレベルとなったとき、サンプルされた信号がホールドされる。
また、図7に示すように、スイッチ制御部16は、制御信号INT,HOLDを出力する。図7に示すタイムチャートの初期状態では、リセット信号RESETがHレベルで、積分器13およびA/Dコンバータ15がリセットされる。初期状態では、出力電圧Vout=0mV、判定値DET=Hレベル、およびカウンタ値DT=0である。
そして、リセット信号RESETがHレベルからLレベルになり、初期状態から開放されると同時に、制御信号INTがLレベルからHレベルになり、制御信号HOLDがHレベルからLレベルになる。すると、検出フェーズ1用スイッチ13aが接続状態になり、検出フェーズ2用スイッチ13bが切断状態になり、検出フェーズ1が開始され、入力電圧Vinがサンプリングされる。
まず変調の1回転目、最初の積分32回のフェーズで、スイッチ12は、クロック信号P180がLレベルで、クロック信号P90がLレベルで0°状態となる。その後、スイッチ12は、クロック信号P180がLレベルで、クロック信号P90がHレベルで90°状態となる。次に、スイッチ12は、クロック信号P180がHレベルで、クロック信号P90がHレベルで270°状態となる。最後に、スイッチ12は、クロック信号P180がHレベルで、クロック信号P90がLレベルで270°状態となる。
また、復調スイッチ13gおよびチョッパアンプ13hは、クロック信号P180がLレベルで、0°状態となる。その後、復調スイッチ13gおよびチョッパアンプ13hは、クロック信号P180がHレベルで、180°状態となる。
また、リファレンス電圧スイッチ14bは、上述したように判定値DETとクロック信号P180との排他的論理和(EXOR)が1(Hレベル)になるとき、180°状態となり、排他的論理和(EXOR)が0(Lレベル)であるとき、0°状態となる。
そして、クロック信号φ1とクロック信号φ2とが交互にLレベルとHレベルになるのを繰り返すことで、入力電圧Vinがサンプルされ、サンプルされた電荷がホールドされる。このようにして、ホールセンサ11が検出した電圧Vhと入力電圧Vinに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧Ohは360°変調、アナログ素子のオフセット電圧Oeは180°変調がかかる。また、変調された信号は復調スイッチ13gの切り替えによって180°の復調がかかる。また、チョッパアンプ13hではチョッパ動作がかかる。
復調された信号は、リファレンス電圧Vrefを加算または減算しながら積分され、1回転の32クロック毎に入力電圧Vinに含まれるホールセンサ11のオフセット電圧Ohとアナログ素子のオフセット電圧Oeは除去され、出力電圧Vout=ホールセンサ11が検出した電圧Vh×積分回数FSとなる。
またクロック信号DETCLK=Hレベルになるタイミングで、出力電圧Vout>0mVであるか、出力電圧Vout<0mVであるかを判定する。このとき、出力電圧Vout>0mVであれば、判定値DET=Hレベルとし、積分されたリファレンス電圧Vref_intからリファレンス電圧Vrefを減算する。そして、ホールセンサ11が検出した電圧Vhに積分されたリファレンス電圧Vref_intを足し合わせ、出力電圧Voutとして出力される。
また、出力電圧Vout<0mVであれば、判定値DET=Lレベルとし、積分されたリファレンス電圧Vref_intにリファレンス電圧Vrefを加算する。ホールセンサ11が検出した電圧Vhに積分されたリファレンス電圧Vref_intを足し合わせ、出力電圧Voutとして出力される。
1回転目(積分32回)のフェーズでは、判定値DET=Hレベルであるため、ホールセンサ11が検出した電圧Vhにリファレンス電圧Vrefは加算し、出力電圧Voutとして出力される。出力電圧Vout<0mVとなるため、判定値DET=Lレベルとなる。
2回転目(積分64回)のフェーズでは、判定値DET=Lレベルであるため、ホールセンサ11が検出した電圧Vhからリファレンス電圧Vrefは減算し、出力電圧Voutとして出力される。出力電圧Vout>0mVとなるため、判定値DET=Hレベルとなる。
3回転目以降も、1回転目、2回転目と同様に繰り返す。上述した検出を、32クロックを1回転として、32回転、つまり1024クロック繰り返す。
なお、検出開始時の1回転目(積分32回)のフェーズでは、出力電圧Vout=0mVであるが、仮に判定値DET=Hレベルとしているので出力電圧Vout<0である場合には32回誤判定する。
図7に示すように、制御信号INTがHレベルからLレベルになり、制御信号HOLDがLレベルからHレベルになると、検出フェーズ1用スイッチ13aが接続状態から切断状態に切り替わり、検出フェーズ2用スイッチ13bが切断状態から接続状態に切り替わり、検出フェーズ1が終了し、検出フェーズ2が開始される。この時点でVoutは32の倍数のVrefで加算または減算できなかった残留電圧となっている。このため、検出フェーズ2においては、積分をせずに、つまり残留電圧をホールド状態にして、出力電圧Voutの残留電圧に対しVrefを1クロック毎に積分されたリファレンス電圧Vref_intを加算または減算する。よって、出力電圧Voutが0mVとなるように、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intに、積分されたリファレンス電圧Vref_intを加算または減算する。
検出フェーズ2では、クロック信号DETCLKは1回転毎ではなく1クロック毎に発生し、判定値DETは1回転毎ではなく1クロック毎に出力電圧Voutの値に応じてHレベルまたはLレベルで発生する。また、検出フェーズ2では、カウンタ値DTの検出フェーズ1カウンタ値Mは変化せず、検出フェーズ2カウンタ値Lが変化する。
図9に示すように、出力電圧Vout>0で判定値DET=Hレベルであるため、
カウンタ値DTの検出フェーズ2カウンタ値Lは0から1ずつカウントアップし続けて、出力電圧Voutは195mVからリファレンス電圧=10mVずつ減少し続ける。
出力電圧Vout=−5mv、カウンタ値DT=256+20=276となり、出力電圧Vout<0で判定値DET=Lレベルとなるため、カウンタ値DTは1だけカウントダウンし、出力電圧Voutは10mVだけ増加する。そして、出力電圧Vout=5mV、カウンタ値DT=256+19=275となる。
再び、出力電圧Vout>0で判定値DET=Hレベル、カウンタ値DTはカウントアップし、出力電圧Voutは減少し続ける。このとき、出力電圧Vout=−5mV、カウンタ値DT=256+20=276となる。なお、カウンタ値DTの検出フェーズ1カウンタ値Mと検出フェーズ2カウンタ値Lとを別々に設けず、検出フェーズ1と検出フェーズ2とで共用のカウンタを1つだけ設け、カウンタ値DTを直接求めるようにしても良い。
なお、検出フェーズ2では、検出フェーズ1の残留電圧を測定するための32クロックと、前述した1回目の誤判定分の32クロックの判定が必要となる。従って、検出フェーズ1と検出フェーズ2とでトータルして、1024+32+32=1088クロックの判定が必要となる。そして、判定値を確定させるために、1088クロック目まで、上述した動作を繰り返す。そして、カウンタ値DTの検出フェーズ2カウンタ値Lを確定させるため、1087クロック目のデータと1088クロック目のデータとの平均をとる。
(20+19)/2=19.5
≒19 ……式(15)
検出フェーズ2カウンタ値L=19であることが確定するため、カウンタ値DT=検出フェーズ1カウンタ値M+検出フェーズ2カウンタ値L=256+19=275となる。
積分回数FSは1024回であり、入力電圧Vinを積分した電圧Vh_intからリファレンス電圧Vrefを差し引きした回数を示すカウンタ値DTは275であるため、ホールセンサ11が検出した電圧Vhは、
Vh=(DT/FS)×Vref
=275/1024×10
=2.685mV ……式(16)
となる。
なお、上述したように、通常、検出フェーズ2の動作は64クロックで終了するが、65クロック以上も動作することができるようにして、検出可能な範囲以内であるか否かを検出することができるように構成しても良い。具体的には、ホールセンサ11からの入力値が大きい場合、通常の測定が終わっても、そのままカウントを続行する。その結果、−1024から1023までの測定範囲を超えて、カウントを続行するので、カウンタ値DTのMSB2ビット、つまり12ビット、11ビット目がカウントに使用される。このMSB2ビットが「10」である場合は1024以上であるため検出範囲オーバーとし、カウンタ値DTのMSB2ビットが「01」である場合は−1025以下であるため検出範囲オーバーとし、MSB2ビットが「00」または「11」である場合は−1024から1023までの検出可能な範囲以内として、磁気検出を行うことができる。
つまり、12ビットのカウンタのうち、MSB1ビットを除く11ビット(−1024〜1023)を有効にし、ホールセンサ11からの入力値をデジタルデータとして検出することができる。
また、上述したように、本実施形態において、クロック周波数fsは2.048MHzであり、1回転の変復調の周波数(チョッパ周波数)fcpは64kHzであり、積分回数は1024回であり、測定時間は500μS(=2kHz)である。
この積分特性Aintとチョッパによる周波数特性Acpは、下記の式(17)および式(18)の伝達関数によって求められる。
Aint=1024×[1+Z-10][1+Z-9][1+Z-8][1+Z-7][1+Z-6][1+Z-5][1+Z-4][1+Z-3][1+Z-2][1+Z-1] ……式(17)
Acp=1024×[1+Z-10][1+Z-9][1+Z-8][1+Z-7][1+Z-6][1−Z-5][1+Z-4][1+Z-3][1+Z-2][1+Z-1] ……式(18)
積分特性Aintは、磁気信号にかかる伝達関数で、1kHzの1次のローパス特性となる。この積分特性AintによりS/N特性は10240.5=32倍、つまり約30dB向上する。また、チョッパによる周波数特性Acpはホールセンサ11が検出した電圧Vhにホールセンサ11のオフセット電圧Ohやアナログ素子のオフセット電圧Oeと同様に、センサやアナログ回路のノイズにかかる伝達関数で、1回転の変復調の周波数fcp=64kHzの奇数倍の周波数近辺のみの信号を通過させる狭帯域のバンドパス特性となる。よって、積分特性によって高周波のノイズを除去するのと同時に、チョッパによってフリッカーノイズ等の低周波のノイズを除去することができる。
なお、積分回数、つまりクロック信号φ1,φ2を増やすことにより、A/Dコンバータ15の分解能およびS/N特性を向上させることができる。クロック信号φ1,φ2を2N回としたとき、分解能は2×Nビット向上し、S/N特性は2Nの平方根倍向上する。
また、A/Dコンバータ15の入力レンジは、リファレンス電圧Vref電圧に比例し、またリファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dの容量Crp,Crnに比例する。このため、リファレンス電圧Vref電圧を高くし、リファレンス電圧サンプリング用キャパシタ14c,14dの容量を大きくすることによって、A/Dコンバータ15の入力レンジを大きくすることができる。
また、磁気検出装置10の回路のゲインは、サンプリング用キャパシタ13c,13dの容量を大きさと積分回数に比例する。このため、サンプリング用キャパシタ13c,13dの容量を大きさを大きくしたり、積分回数を多くしたりすることによって、回路のゲインを大きくすることができる。
(まとめ)
積分器およびA/Dコンバータをホールセンサ、スイッチ、リファレンス電圧出力回路およびスイッチ制御部とまとめて一つの回路として構成し、ホールセンサの検出信号にリファレンス電圧Vrefを加算または減算することで、高ゲインで増幅したホールセンサの検出信号をA/D変換することができるため、A/Dコンバータまでのオフセット電圧やノイズも高精度に除去し、磁気検出センサの磁気を高精度に検出することができる。
微小な移動量や位置を検出することが求められる小型かつ高性能な電子機器向けの磁気検出装置として利用される。
10 磁気検出装置
11 ホールセンサ
12 スイッチ
13 積分器
14 リファレンス電圧出力回路
15 A/Dコンバータ
16 スイッチ制御部

Claims (7)

  1. ホール素子によって検出される磁気を電気信号に変換して出力することで磁気を検出する磁気検出装置であって、
    所定の判定値に応じて正または負のリファレンス電圧を出力するリファレンス電圧出力手段と、
    前記ホール素子によって検出される検出電圧に、前記正または負のリファレンス電圧を加えた電圧を、任意の回数だけ積分する積分手段と、
    前記積分手段によって積分された電圧の正負に対応して前記判定値を出力すると共に、前記積分された電圧が正の場合には、前記負のリファレンス電圧を加えて積分した回数をインクリメントし、前記積分された電圧が負の場合には、前記正のリファレンス電圧を加えて積分した回数をデクリメントし、両回数の差を算出し、当該算出した数値を出力するA/D変換手段と、
    を備え
    前記リファレンス電圧出力手段は、前記判定値が前記正の電圧に対応するものである場合には、前記負のリファレンス電圧を出力し、前記判定値が前記負の電圧に対応するものである場合には、前記正のリファレンス電圧を出力することを特徴とする磁気検出装置。
  2. 前記A/D変換手段は、
    前記積分手段から出力された電圧が0Vより大きいか、または0Vより小さいかを比較する比較手段と、
    前記積分手段によって積分されている間、前記比較手段によって前記積分手段によって積分された電圧が0Vより大きいと判定される毎に、前記負のリファレンス電圧を加えて前記積分手段が積分した電圧を減少させると共に前記数値を増加させ、また前記積分手段によって積分された電圧が0Vより小さいと判定される毎に、前記正のリファレンス電圧を加えて前記積分手段が積分した電圧を増加させると共に前記数値を減少させる計数手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1記載の磁気検出装置。
  3. 前記積分手段は、
    積分された電圧を保持する電圧保持手段を備え、
    前記A/D変換手段は、
    前記電圧保持手段によって積分された電圧が保持されず、任意の回数だけ積分している第1の検出フェーズにおける数値と、前記電圧保持手段によって積分された電圧が保持され、積分していない第2の検出フェーズにおける数値とを加算した数値を出力することを特徴とする請求項2記載の磁気検出装置。
  4. 前記ホール素子によって検出される検出電圧を正転および反転して出力するスイッチ手段を備えることを特徴とする請求項3記載の磁気検出装置。
  5. 前記リファレンス電圧出力手段は、
    リファレンス電圧の電圧値を調整するリファレンス電圧調整手段と、
    前記リファレンス電圧調整手段によって生成されるリファレンス電圧を正転または反転して出力するリファレンス電圧スイッチ手段と、
    前記リファレンス電圧スイッチ手段によって出力されるリファレンス電圧をサンプリングするリファレンス電圧サンプリング手段と、
    を備えることを特徴とする請求項3または4記載の磁気検出装置。
  6. 前記積分手段は、
    前記ホール素子によって検出される電圧をサンプリングするサンプリング手段と、
    前記ホール素子によって検出される電圧と、前記リファレンス電圧出力手段によって出力される電圧とを合わせて、その電圧を正転または反転して出力する積分電圧スイッチ手段と、
    前記積分電圧スイッチ手段によって出力された電圧の差分電圧を増幅する演算増幅手段と、
    を備えることを特徴とする請求項3〜5のいずれか1項に記載の磁気検出装置。
  7. 前記リファレンス電圧出力手段は、
    前記リファレンス電圧を正転または反転して出力するリファレンス電圧スイッチ手段と、
    前記リファレンス電圧スイッチ手段によって出力されるリファレンス電圧をサンプリングするリファレンス電圧サンプリング手段と、
    を備えることを特徴とする請求項3または4記載の磁気検出装置。
JP2009297840A 2009-12-28 2009-12-28 磁気検出装置 Expired - Fee Related JP5341745B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009297840A JP5341745B2 (ja) 2009-12-28 2009-12-28 磁気検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009297840A JP5341745B2 (ja) 2009-12-28 2009-12-28 磁気検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011137716A JP2011137716A (ja) 2011-07-14
JP5341745B2 true JP5341745B2 (ja) 2013-11-13

Family

ID=44349278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009297840A Expired - Fee Related JP5341745B2 (ja) 2009-12-28 2009-12-28 磁気検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5341745B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013168353A1 (ja) 2012-05-11 2013-11-14 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気検出装置及び磁気検出方法
JP5663548B2 (ja) * 2012-11-08 2015-02-04 旭化成エレクトロニクス株式会社 オフセットキャンセル回路
JP6297782B2 (ja) * 2013-02-28 2018-03-20 旭化成エレクトロニクス株式会社 ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ
JP6313036B2 (ja) * 2013-12-24 2018-04-18 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気検出装置
JP6431378B2 (ja) * 2015-01-08 2018-11-28 甲神電機株式会社 ホール素子センサおよびその動作方法
JP6445360B2 (ja) * 2015-03-19 2018-12-26 日置電機株式会社 電流測定装置
JP6503198B2 (ja) * 2015-03-05 2019-04-17 エイブリック株式会社 比較回路およびセンサ装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5790064A (en) * 1996-04-10 1998-08-04 Oasis Design, Inc. Apparatus and method for switching capacitors within a switched capacitor circuit at times selected to avoid data dependent loading upon reference voltage supplies
JP2005283248A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Yamatake Corp 変位センサ
JP2006098307A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Yamaha Corp 磁気測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011137716A (ja) 2011-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5341745B2 (ja) 磁気検出装置
US11946987B2 (en) Hall electromotive force signal detection circuit having a difference calculation circuit and current sensor thereof
CN108124474B (zh) 检测电容的装置、电子设备和检测压力的装置
JP4352562B2 (ja) 信号処理装置
TW201234783A (en) Analogue-to-digital converter
WO2008008403A2 (en) Signal conditioning methods and circuits for a capacitive sensing integrated tire pressure sensor
WO2008112070A1 (en) Minimizing offset error in analog to digital converter
JP2007155729A (ja) 特にマイクロ電気機械形式の容量センサを読み取るための装置及び方法
CN105556321A (zh) 电容感测电路和方法
JP2009540656A (ja) A−d変換装置およびその方法
EP3567720B1 (en) Mismatch and reference common-mode offset insensitive single-ended switched capacitor gain stage
EP3940959A1 (en) Integrator and analog-to-digital converter
TW200919983A (en) Method and systems for calibrating RC apparatus
US20180337684A1 (en) Self-oscillating multi-ramp converter and method for converting a capacitance into a digital signal
JP6362915B2 (ja) センサ回路構成
JP2009260605A (ja) Δς変調器及びδς型ad変換器
JP5314619B2 (ja) ホール起電力信号検出装置
US11588495B2 (en) Analog front-end circuit capable of use in a sensor system
JP2011107086A (ja) 静電容量検出回路、圧力検出装置、加速度検出装置、および、マイクロフォン用トランスデューサ
CN101512907A (zh) 模拟-数字转换装置
JP2005072844A (ja) A/dコンバータ
JP2972552B2 (ja) 容量型センサ用検出回路および検出方法
US20120025847A1 (en) Method and sytem for measuring a time constant of an integrated circuit, and integrated circuit provided with such a system
US8456337B1 (en) System to interface analog-to-digital converters to inputs with arbitrary common-modes
JP2008249351A (ja) 温度測定回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130509

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130521

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130626

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130806

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130808

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5341745

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees