JP5341463B2

JP5341463B2 - 制御装置、及び制御方法

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Publication number: JP5341463B2
Application number: JP2008268864A
Authority: JP
Inventors: 直人高橋
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2008-10-17
Filing date: 2008-10-17
Publication date: 2013-11-13
Anticipated expiration: 2028-10-17
Also published as: CN101721219B; US8582721B2; CN102727243A; US20100098215A1; CN101721219A; JP2010094369A; US20120250828A1; US8218729B2

Description

本発明は、Ｘ線の照射範囲を制御する制御装置、及び制御方法に関する。

近年、医療用のＸ線撮影装置では、デジタル技術の進歩に伴い、さまざまな方式を用いたデジタルＸ線撮影装置が普及してきている。例えば、輝尽性蛍光体にＸ線強度分布を潜像化し、この輝尽性蛍光体をレーザ走査することにより潜像を励起し、発生する蛍光を光電子増倍管で読み取るコンピューテッド・ラジオグラフィ（ＣＲ）装置がある。

また、蛍光体と大面積アモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）センサを密着させたＸ線平面検出器、いわゆるフラットパネルディテクタ（ＦＰＤ）を使用し、光学系等を介さずにＸ線像を直接デジタル化するデジタルＸ線撮影装置が実用化されている。また、アモルファスセレン（ａ−Ｓｅ）、ガリウムヒ素（ＧａＡｓ）、カドミウム化テルル（ＣｄＴｅ）、よう化鉛（ＰｂＩ２）およびよう化水銀（ＨｇＩ２）等を使用してＸ線を直接光電変換して電子に変換し、該電子を大面積アモルファスシリコンセンサで検出するＦＰＤも同様に実用化されている。

ところで、上述したＦＰＤを用いたデジタルＸ線撮影装置の場合、光電変換素子毎の感度のバラツキや、読出し回路内でのゲインのバラツキに起因するセンサの特性を補正（以後、ゲイン補正と呼ぶ）するために、キャリブレーションを行うのが一般的である。

ここで、キャリブレーションとは、センサ全面に略均一なＸ線を照射し撮影を行うことで補正用データを取得するものである（以後、この補正用データをキャリブレーションデータと呼ぶ）。また、ゲイン補正は、実際に被検者を撮影した画像（以後、この画像を撮影画像と呼ぶ）に対してこのキャリブレーションデータを除算（あるいは、対数変換後に減算）することで行われる。

しかしながら、上述したキャリブレーションにおいて、適切なキャリブレーションデータが取得されていない場合、ゲイン補正が正しく行えない可能性がある。例えば、キャリブレーション時にＸ線の照射領域がセンサ全面よりも狭い領域に制限された場合、キャリブレーションデータの一部の領域においてはＸ線が略均一に照射されたデータが得られない。そのため、対応する撮影画像の一部の領域では正しくゲイン補正を行うことができない。また、キャリブレーション時にＸ線管球とセンサの間に何らかの異物が存在した場合では、キャリブレーションデータに異物陰影が写りこみ、同様に撮影画像の一部の領域では正しくゲイン補正を行うことができない。

なお、このような課題を解決する方法として、従来から様々な提案がなされている。例えば、特許文献１ではキャリブレーションデータからＸ線の照射領域を検出し、センサ全面に対して、Ｘ線が照射されていない場合は警告を出す方法が開示されている。この方法では、警告を出すことによってオペレータにＸ線の照射領域が不適切であることを明示的に知らせ、適切なキャリブレーションデータの取得を促すことが可能である。

また、特許文献２ではキャリブレーション時にベッドの位置を検出し、Ｘ線管球とセンサの間にベッドが存在する場合は、ベッドを自動的に退避する方法が開示されている。この方法では、キャリブレーションデータに異物であるベッドの陰影が写りこむことを回避し、適切なキャリブレーションデータを取得することが可能である。

さらに、特許文献３ではキャリブレーション時に複数回の撮影を行い、取得した複数枚のデータから線量、照射領域および異物の写りこみをチェックし、その結果をオペレータに通知する方法が開示されている。この方法ではオペレータに線量、照射領域および異物の写りこみが無いかを明示的に知らせ、適切なキャリブレーションデータの取得を促すことが可能である。
特開２０００−０７０２６１号公報特開昭６３−１８１７２号公報特開２００１−３５１０９１号公報特開２０００−２１０２７３号公報特開２００２−３７４４１８号公報特開２００３−０７６９９２号公報特開平１１−０８８６８８号公報

ところで、上述したキャリブレーションを行う際に、何らかの事情によりセンサ全面にＸ線が照射できない場合がある。例えば、Ｘ線管球とセンサの距離が十分にとれない場合や、設置上の制約によってＸ線管球とセンサの間に障害物が存在し、センサの周辺部に障害物が遮蔽している場合が考えられる。

このような場合、適切なキャリブレーションデータを取得することは困難であり、オペレータは、もし警告があったとしてもそのまま撮影を開始する可能性がある。よって、このような条件下で被検者を撮影した場合に、撮影画像の一部の領域でゲイン補正が正しく行われない無効領域が存在することになる。しかしながら、従来の方法は、そのような撮影画像上の無効領域を事前にオペレータが確認する方法がなかった。よって、診断に必要な関心領域がこの無効領域に含まれることに気づかず撮影を行ってしまう可能性がある。また、無効領域が存在するにも関わらずセンサ全面にＸ線を照射し被検者を撮影することは、被検者に対する被曝保護の観点からも課題である。

そこで、本発明の例示的な目的は、上記のような課題を解決するためになされたもので、キャリブレーションの際にセンサの受光面の一部にＸ線が照射されていない場合でも、Ｘ線の照射範囲を制御する制御装置、および制御方法

上記目的を達成するために、本発明の制御装置は以下の構成を備える。すなわち、Ｘ線発生装置が発生するＸ線の照射範囲を制御する制御装置であって、
前記Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータと、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際に前記Ｘ線発生装置が発生したＸ線の前記センサ上における照射領域を有効領域として取得する取得手段と、
前記コリメータの開放角と、前記Ｘ線発生装置のＸ線管球と前記センサまでの距離に基づき得られる前記センサ上に照射されるべき照射領域が前記有効領域より広くならないように前記コリメータの絞り量を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。

上記目的を達成するために、Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータの制御方法であって、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際に前記Ｘ線発生装置が発生したＸ線の前記センサ上における照射領域を有効領域として取得する取得工程と、
前記コリメータの開放角と、前記Ｘ線発生装置のＸ線管球と前記センサまでの距離に基づき得られる前記センサ上に照射されるべき照射領域が前記有効領域より広くならないように前記コリメータの絞り量を制御する制御工程と、
を備えることを特徴とする。

キャリブレーションの際にセンサの受光面の全体にＸ線が照射されていない場合でも、Ｘ線の照射範囲を制御することができる。

以下に、本発明の実施の形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。

図１は、本発明におけるＸ線撮影装置の全体を示す図である。

本発明は、例えば図１に示すようなＸ線撮影装置１００に適用される。Ｘ線撮影装置１００は、被検者にＸ線を曝射し取得した撮影画像をフィルム上又は画像表示器１１８上に出力する機能を有するＸ線撮影装置である。Ｘ線発生装置１０１は、Ｘ線制御回路１０４の制御下でＸ線ビーム１０７を２次元Ｘ線センサ１０９の受光面に照射するＸ線管球１０２を備える。また、Ｘ線管球１０２の照射するＸ線の照射範囲を制限するコリメータ１０３を備える。コリメータ１０３は、制御手段としての制御回路１０５の制御でコリメータ１０３の位置を制御する。さらに、制御回路１０５に対してコリメータの位置に関する情報を入力するコリメータ操作部１０６を備える。コリメータ操作部１０６は、図示しないダイヤルや操作レバーなどの操作部を備える。

２次元Ｘ線センサ１０９はＸ線発生回路１０１から照射されたＸ線の２次元の強度分布に応じて光電変換を行うことでアナログ画像信号を取得する。

データ収集回路１１０は、２次元Ｘ線センサ１０９で取得したアナログ画像信号をデジタル画像信号（画像データと呼ぶ場合もある）に変換し、ＣＰＵバス１２１を介して、ＣＰＵ１１５の制御により、各回路にデジタル画像信号を供給する。

取得回路１１１は、キャリブレーションの際のＸ線の照射領域に関する情報からセンサの有効領域を取得する。

判定手段としての判定回路１１３は、コリメータ１０３の位置と有効領域とに基づいて、コリメータの位置が適切か判定する。警告手段としての警告回路１１４は、判定回路１１３でコリメータの位置が適切でないと判定された場合には警告する。

ＣＰＵ１１５は、メインメモリ１１６に格納されるプログラムに従い、操作パネル１１７からの操作に従ったＸ線撮影装置１００全体の動作制御を行う。

また、Ｘ線撮影装置１００は、画像表示器１１８、前処理回路１１９、画像処理回路１２０を備えている。これらはＣＰＵバス１２１を介して互いにデータ授受が可能に接続されている。

上述のようなＸ線撮影装置１００において、メインメモリ１１６は、ＣＰＵ１１５での処理に必要な各種データなどを記憶すると共に、ＣＰＵ１１５のワーキング・メモリとして機能する。ＣＰＵ１１５は、メインメモリ１１６を用いて、操作パネル１１７からの操作に従った装置全体の動作制御を行う。ＣＰＵ１３０は、ＳＰＵ１１５の制御を受けて動作制御をすることもできる。

また、Ｘ線制御回路１０４は管電圧、管電流、照射時間を調整しＸ線管球１０２から照射されるＸ線の制御を行う。制御回路１０５はコリメータ１０３の絞り量を調整し、Ｘ線照射領域の制御を行う。また、制御回路１０５は図示しないＣＰＵ１３０を備え図示しないメモリ１４０に格納されたプログラムに従い動作する。ＣＰＵ１３０での処理に必要な各種データなどを記憶すると共に、ＣＰＵ１３０のワーキング・メモリとして機能する。ＣＰＵ１３０は、メモリ１４０を用いて、コリメータ操作部１０６からの操作に従ったコリメータ１０３、取得回路１１１、判定回路１１３、警告回路１１４の動作制御を行う。

また、２次元Ｘ線センサ１０９はＸ線発生回路１０１から照射されたＸ線の２次元の強度分布に応じて光電変換を行うことでアナログ画像信号を取得する。データ収集回路１１０は、２次元Ｘ線センサ１０９で取得したアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換し、ＣＰＵバス１２１を介して、ＣＰＵ１１５の制御により、各回路にデジタル画像信号を供給する。

図２は、本発明におけるキャリブレーションの流れを示すフローチャートである。

図３は、本発明における撮影の流れを示すフローチャートである。

以上のような構成を備えた本実施例のキャリブレーションおよび撮影における動作について、図２、３に示すフローチャートを用いて以下に具体的に説明する。

＜Ｘ線撮影装置１００のキャリブレーション動作＞
図１のＸ線発生装置１００のキャリブレーションにおける動作について、図２を用いて説明する。まず、操作パネル１１７を介してオペレータ（Ｘ線技師等）は、撮影距離、管電圧、管電流、照射時間等の撮影条件を設定する（Ｓ２０１）。

次に、オペレータは、コリメータ操作部１０６を介して絞り量を設定する（ｓ２０２）。この場合、コリメータ操作部１０６では操作に制動がかかる第一のモードと制動のかからない第二のモードを選択できる。

第一のモードが選択されている場合には、コリメータ操作部１０６の操作に制動が制御回路１０５から出力される信号に基づきかかる。一方、第二のモードの場合には、コリメータ操作部１０６の操作に制動はかからない。第一のモードが選択されているか第二のモードが選択されているかは制御回路１０５が判断する。

キャリブレーションの際には、制動のかからない第二のモードが選択されている。

ここで、設定された絞り量は、制御回路１０５に送信される。また、制御回路１０５は設定された絞り量に応じてコリメータ１０３を動作させる。なお、コリメータ１０３は、矩形でありコリメータ操作部１０６にて上下方向と左右方向にそれぞれ開閉量を設定することができる。また、Ｘ線が２次元Ｘ線センサ１０９のどの領域に照射されるかは、ランプなどの可視光（図示しない）を用いて確認することができる。

ここで、オペレータは２次元Ｘ線センサ１０９に照射される可視光にて、Ｘ線の照射領域を確認する（Ｓ２０３）。もし、Ｘ線の照射領域が適切でない場合は、絞り量を再度調整する（Ｓ２０２）。なお、キャリブレーションでは、Ｘ線が２次元Ｘ線センサ１０９の全面に照射されるように絞り量を調整するが、何らかの事情により全面にＸ線が照射できない場合は、できるだけ広い領域にＸ線が照射されるように絞り量を調整する。

次に、被検者１０８がいない状態で曝射ボタン（図示しない）を押下することでＸ線撮影を開始する（Ｓ２０４）。Ｘ線撮影では、Ｘ線制御回路１０４がＸ線管球１０２を制御し、Ｘ線ビーム１０７を照射する。照射されたＸ線ビーム１０７は、２次元Ｘ線センサ１０９に到達し、データ収集回路１１０にてデジタル画像信号に変換され、前処理回路１１９に供給される。制御回路１０５は、コリメータ位置や照射範囲などを、曝射ボタン（図示しない）を押下された際に取得回路１１０に送信する。

前処理回路１１９は、データ収集回路１１０から供給されたデジタル画像信号に対して、オフセット補正や欠陥補正を行う（Ｓ２０５）。この前処理回路１１９で前処理が行われたデジタル画像信号をキャリブレーションの際の画像データとして、メインメモリ１１６に記憶する。また、縮小画像や補正処理をしていない画像データを、キャリブレーションの際の画像データとして、メインメモリ１１６に記憶してもよい。

なお、本実施例では１回の撮影でキャリブレーションデータを取得する構成としたが、これに限定されるものではなく、例えばＳ２０４およびＳ２０５の動作を複数回繰り返すことで、複数のキャリブレーションデータを取得してもよい。また、複数のキャリブレーションデータを加算平均することで１枚のキャリブレーションデータをメインメモリ１１６に記憶しても良い。

次に、取得回路１１１にて、Ｘ線が略均一に照射された領域を有効領域として取得し、有効領域の情報をメインメモリ１１６に記憶する（Ｓ２０６）。なお、有効領域の設定方法は特に限定するものではないが、例えば図４に示すように、キャリブレーションデータを画像表示器１１８に表示し、オペレータに実線で示したセンサの撮影領域４０１のから、点線で示した２次元Ｘ線センサの有効領域４０２をタッチパネルやマウス等で設定するようにしてもよい。また、上述の様に曝射ボタン（図示しない）を押下した際のコリメータ１０３の位置を有効領域の情報をメインメモリ１１６に記憶してもよい（Ｓ２０６）。

また、照射された領域を自動認識するようにしても良い。照射された領域を自動認識する方法としては、Ｘ線が２次元Ｘ線センサの受光面に直接に放射されている範囲を照射範囲として画像処理により抽出できる。この場合、Ｘ線が２次元Ｘ線センサの受光面に直接に放射されている範囲を２次元Ｘ線センサの有効範囲としてもよい。このような画像処理方法は公知であるので詳細な説明は省略する。例えば、注目画素とその周辺画素の画素値のパターンにより照射野端らしさを点数化し、照射範囲の自動認識を行うことができる。

用いる画像はメインメモリ１１６に記憶される縮小画像や補正処理をしていない画像データを用いることができる。

＜Ｘ線撮影装置１００の撮影動作＞
図１のＸ線発生装置１００の撮影における動作について、図３を用いて説明する。まず、オペレータは、被検者１０８を２次元Ｘ線センサ１０９に対して適切な位置となるように整位させ、操作パネル１１７を介して撮影距離、管電圧、管電流、照射時間等の撮影条件を設定する（Ｓ３０１）。

制動のかからない第二のモードが選択されている場合に、オペレータは被検者の体型や検査に応じて、コリメータ操作部１０６を介して絞り量を設定する（ｓ３０２）。設定された絞り量は、制御回路１０５に送信される。また、制御回路１０５は設定された絞り量に応じてコリメータ１０３を動作させるとともに、絞り量をメインメモリ１１６に記憶する。なお、コリメータ１０３は、矩形でありコリメータ操作部１０６にて上下方向と左右方向にそれぞれ開閉量を設定することができる。

次に、制御回路１０５がメインメモリ１１６から設定されたコリメータ１０６の絞り量およびキャリブレーションの際に設定された有効領域の情報を読み出し、Ｘ線の照射領域が有効領域よりも大きくないかの判定を行う。まず、コリメータ１０６の絞り量から２次元Ｘ線センサ１０９で取得される画像上のＸ線の照射領域を算出する（Ｓ３０３）。絞り量から照射領域を算出する方法としては、本出願人より既に提案されている特許文献４に記載の方法を用いることができる。例えば上方向の照射領域を算出する場合、図５に示すようにＸ線管球５０１とセンサまでの距離５０４をｄ（ｃｍ）、上方向の開放角５０３をａとすれば、上方向の照射領域は以下の式（１）にてセンサの中心５０６からのオフセット量Ａｕ（ｐｉｘｅｌ）として算出できる。なお、下右左方向に関しても同様の方法にて算出可能である。

Ａｕ＝ｄ×ｔａｎ（ａ）／ｐ・・・（１）
ただし、ｐはセンサの画素サイズ（ｃｍ）である。
もちろん、キャリブレーションの際に記憶されているコリメータ１０３の位置から有効領域を求めても良い。

次に、照射領域と有効領域のサイズを比較する（Ｓ３０４）。例えば、図６（ａ）に点線で示されたセンサの有効領域６０１に対して実線で示された照射領域６０２の少なくとも一辺がセンサの有効領域６０１よりも広く設定されている場合（図では右方向）は、図６（ｂ）のように照射領域がセンサの有効領域よりも広くならないように絞り量を調整（Ｓ３０５）する。そして、警告回路１１４にて照射領域が有効領域よりも広く設定されたことをオペレータに警告する（Ｓ３０６）。

なお、モード１が選択されている場合には、コリメータ操作部１０６の操作が制御回路１０５の出力信号により制動を受ける。例えば、コリメータ操作部１０６の操作が、ダイヤルやスイッチ等の機械的な操作を介する場合には、有効領域に関する情報を基準として機械的な制動がかけられる。コリメータから出射されるべきＸ線が有効領域に近付くにつれて操作するための力が増加するように制御回路１０５により制動される。また、コリメータ操作部１０６の操作が、タッチパネル等を用いた機械的な操作を介さない入力操作である場合には、有効領域を基準として入力操作の量に対するコリメータの移動量の範囲が変更される。コリメータから出射されるべきＸ線が有効領域に近付くにつれて操作に対する移動量が減少するように制御回路１０５により制動される。

また、モード２が選択されている場合には、オペレータは２次元Ｘ線センサ１０９に照射される可視光にて、Ｘ線の照射領域を確認する（Ｓ３０７）こともできる。もし、Ｘ線の照射領域が適切でない場合は、絞り量を再度調整する（Ｓ３０２）。この場合には、コリメータ操作部１０６を介して制御回路１０５の制御がかからないものである。

絞りの調整が終了後、オペレータは曝射ボタン（図示しない）を押下することでＸ線撮影を開始する（Ｓ３０８）。Ｘ線撮影では、Ｘ線制御回路１０４がＸ線管球１０２を制御し、Ｘ線ビーム１０７を照射する。照射されたＸ線ビーム１０７は、被検者１０８を減衰しながら透過して、２次元Ｘ線センサ１０９に到達し、データ収集回路１１０にてデジタル画像信号に変換され、前処理回路１１９に供給される。

前処理回路１１９は、データ収集回路１１０から供給されたデジタル画像信号に対して、オフセット補正や欠陥補正を行う。また、メインメモリ１１６からキャリブレーションデータを読み出し、ゲイン補正を行う（Ｓ３０９）。ゲイン補正は、取得したデジタル画像信号に対してキャリブレーションデータを除算（あるいは、対数変換後に減算）することで行えばよい。なお、この前処理回路１１９で前処理が行われたデジタル画像信号を撮影画像として、メインメモリ１１６に記憶するとともに、画像処理回路１２０に供給する。

画像処理回路１２０では、撮影画像を診断に適した画像に変換するための処理を実行する（Ｓ３１０）。例えば、鮮鋭化、ダイナミックレンジ圧縮、ノイズ低減、階調変換等の処理が実行される。各処理の方法に関しては特に限定するものではなく、既に公知の技術であるアンシャープマスク画像を用いた方法（特許文献５）や、ウェーブレット変換やラプラシアンピラミッド分解等によって複数の周波数成分の画像を作成し処理を行う方法（特許文献６）、Ｓ字曲線による階調変換の方法（特許文献７）を用いれば良い。また、ここでは各処理の全てを行う必要はなく、例えば操作パネル１１７で設定された処理のみを選択的に行う構成であってもよい。

以上、本実施例では、撮影前にゲイン補正が正しく行えないセンサの無効領域に対して、コリメータが設定された場合は警告を表示することによって、オペレータが無効領域を明示的に確認することができる。また、このような無効領域に対してＸ線が照射されないようにコリメータを自動的に制限することによって、被検者に対する被曝保護を徹底することができる。

以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。

また、本発明は前述した実施例の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を用いることができる。つまり記憶媒体と、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても達成される。この場合に、記憶媒体から読出されたプログラムコード自体が前述した実施例の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。

プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭなどを用いることができる。

また、プログラムコードの指示に基づいて、コンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）などが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって前述した実施例の機能が実現される場合も本発明に含まれる。

更に、記憶媒体から読出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込んで使用することもできる。この場合に、そのプログラムコードの指示に基づいて、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって前述した実施例の機能を実現することもある。このような場合も、本発明に含まれることは云うまでもない。

Ｘ線撮影装置全体の構成図である。よるキャリブレーション動作の処理手順を示すフローチャートである。撮影動作の処理手順を示すフローチャートである。センサの有効領域の設定方法を説明する図である。Ｘ線の照射領域の算出方法を説明する図である。Ｘ線の照射領域の修正方法を説明する図である。

符号の説明

１０３コリメータ
１０５制御回路
１０６コリメータ操作部
１０７Ｘ線ビーム
１１１取得回路
１１３判定回路
１１４警告回路

Claims

Ｘ線発生装置が発生するＸ線の照射範囲を制御する制御装置であって、
前記Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータと、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際に前記Ｘ線発生装置が発生したＸ線の前記センサ上における照射領域を有効領域として取得する取得手段と、
前記コリメータの開放角と、前記Ｘ線発生装置のＸ線管球と前記センサまでの距離に基づき得られる前記センサ上に照射されるべき照射領域が前記有効領域より広くならないように前記コリメータの絞り量を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする制御装置。
前記有効領域はキャリブレーションの際の前記Ｘ線の照射範囲に基づいて取得されることを特徴とする請求項１記載の制御装置。
前記有効領域は前記コリメータの開放角と、前記センサにＸ線を照射しているＸ線管球と前記センサまでの距離から取得されることを特徴とする請求項１又は２に記載の制御装置。
前記有効領域は前記キャリブレーションの際の前記コリメータの位置に基づいて取得されることを特徴とする請求項１又は２のいずれか一項に記載の制御装置。
Ｘ線発生装置が発生するＸ線の照射範囲を制御する制御装置であって、
前記Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータと、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際の前記コリメータの位置を取得する取得手段と、
前記取得したコリメータの位置に基づいて、被写体を撮影する際のコリメータの照射領域が前記取得した際の照射領域より広くならないように前記コリメータの絞り量を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする制御装置。
Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータの制御方法であって、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際に前記Ｘ線発生装置が発生したＸ線の前記センサ上における照射領域を有効領域として取得する取得工程と、
前記コリメータの開放角と、前記Ｘ線発生装置のＸ線管球と前記センサまでの距離に基づき得られる前記センサ上に照射されるべき照射領域が前記有効領域より広くならないように前記コリメータの絞り量を制御する制御工程と、
を備えることを特徴とする制御方法。
コンピュータで実行されることによって、請求項６に記載された制御方法を実行するプログラム。
Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータを制御する制御装置であって、
操作者が前記コリメータの絞り量を機械的な操作で入力する操作部と、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際の前記コリメータの位置取得する取得手段と、
被写体を撮影する際に前記取得されたコリメータの位置に前記コリメータが近づくに従い前記機械的な操作の制動力が増加する制御を前記操作部に対してする制御手段と、
を備えることを特徴とする制御装置。
Ｘ線発生装置が発生するＸ線の範囲を制限するコリメータを制御する制御装置であって、
操作者が前記コリメータの絞り量をタッチパネルで指示する操作部と、
センサのゲイン補正用のデータを取得した際の前記コリメータの位置取得する取得手段と、
被写体を撮影する際に前記取得されたコリメータの位置に前記コリメータが近づくに従い前記コリメータの移動量が減少する制御を前記操作部に対してする制御手段と、
を備えることを特徴とする制御装置。