JP5336118B2 - マイクロエレクトロニクス及びオプトエレクトロニクス向けsoi基板の製造方法 - Google Patents
マイクロエレクトロニクス及びオプトエレクトロニクス向けsoi基板の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5336118B2 JP5336118B2 JP2008180386A JP2008180386A JP5336118B2 JP 5336118 B2 JP5336118 B2 JP 5336118B2 JP 2008180386 A JP2008180386 A JP 2008180386A JP 2008180386 A JP2008180386 A JP 2008180386A JP 5336118 B2 JP5336118 B2 JP 5336118B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- germanium
- strained
- silicon
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02436—Intermediate layers between substrates and deposited layers
- H01L21/02516—Crystal orientation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/0242—Crystalline insulating materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/02422—Non-crystalline insulating materials, e.g. glass, polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02436—Intermediate layers between substrates and deposited layers
- H01L21/02439—Materials
- H01L21/02441—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/0245—Silicon, silicon germanium, germanium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02436—Intermediate layers between substrates and deposited layers
- H01L21/02494—Structure
- H01L21/02496—Layer structure
- H01L21/02502—Layer structure consisting of two layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02524—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/02532—Silicon, silicon germanium, germanium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02636—Selective deposition, e.g. simultaneous growth of mono- and non-monocrystalline semiconductor materials
- H01L21/02639—Preparation of substrate for selective deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02656—Special treatments
- H01L21/02664—Aftertreatments
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Description
‐<110>又は<111>配向を有する薄いひずみシリコン層を支持する支持材であって、誘電材料によって形成される1つの面を有する支持材を含む基板を供給する段階、
‐薄いひずみシリコン層の一部上に第一マスクを形成する段階、
‐前記第一マスクによって覆われていない前記層の一部上におけるSi1−XGeXのエピタキシー段階、
‐ゲルマニウム濃縮技術に従い、誘電材料によって形成される支持材の面を基礎とするひずみゲルマニウム層が得られるまで高温酸化し、次に、前記ひずみゲルマニウム層が、酸化シリコン層によって覆われる段階、
‐前記第一マスク及び前記酸化シリコン層を除去し、その結果、前記ひずみシリコンの部分及び残留ひずみゲルマニウムの部分を含む薄い半導体層を露出する段階、
‐前記段階によって露出された前記薄い半導体層上に、第二マスクを形成し、前記第二マスクは、残留ひずみゲルマニウムの部分の領域及び前記ひずみシリコンの部分の少なくとも1つの領域を保護し、前記第二マスクは残留ひずみゲルマニウムの部分を露出する段階、
‐厚いゲルマニウム層を得るために、前記残留ひずみゲルマニウムの部分上に、ゲルマニウムをエピタキシャル成長させる段階、
‐前記第二マスクを除去する段階。
‐<110>又は<111>配向を有する初期シリコン基板上における厚い、緩和された、SiGe層のエピタキシャル成長段階、
‐前記厚いSiGe層から前記薄いひずみシリコン層のエピタキシャル成長段階、
‐前記薄いひずみシリコン層上に酸化シリコン層を形成する段階、
‐ハンドル基板を前記酸化シリコン層の自由面に結合する段階、
‐前記初期基板及び厚いSiGe層を含む構造の部分を除去するために、結果として生じる構造を分離する段階。
‐トランジスタを製造する間における、高誘電率Ge/酸化界面特性の改善。
‐キャリア(ホール)の移動特性の改善。
‐臨界緩和厚さを超過した場合における<111>配向の平面界面に対する転位の制限。
2 SiGe層
3 ひずみシリコン層
4 酸化層
5 マイクロキャビティ層
6 ハンドル基板
7 基板
8 酸化シリコン層
9 窒化シリコン層
10 SiGe層
11 ひずみゲルマニウム層
12 酸化シリコン層
13 ひずみシリコン層
14 酸化シリコンパターン
16 窒化シリコンパターン
18 ゲルマニウム層
19 ひずみゲルマニウム層
Claims (7)
- マイクロエレクトロニクス及びオプトエレクトロニクス向けのSOI(semiconductor‐on‐insulator)基板を製造する方法であって、
<110>又は<111>配向を有する薄いひずみシリコン層(3)を支持する誘電材料から形成される1つの面を有する支持材(6)を含む基板(7)を供給する段階と、
前記薄いひずみシリコン層(3)の一部上に、第一マスク(9、14)を形成する段階と、
前記第一マスクによって覆われていない前記薄いひずみシリコン層(3)層の部分上における、Si1―XGeX(10)のエピタキシー段階と、
ゲルマニウム濃縮技術に従い、誘電材料から形成される前記支持材の面を基礎とするひずみゲルマニウム層(11)が得られるまで高温酸化し、その結果前記ひずみゲルマニウム層が、酸化シリコン層(12)によって覆われる段階と、
前記第一マスク(9、14)及び前記酸化シリコン層(12)を除去し、その結果、前記ひずみシリコンの部分(13)及び残留ひずみゲルマニウムの部分(11)を含む薄い半導体層を露出する段階と、
前記段階によって露出された前記薄い半導体層上に、第二マスク(16、17)を形成し、前記第二マスクは、前記残留ひずみゲルマニウムの部分の領域及び前記ひずみシリコンの部分の少なくとも1つの領域を保護し、前記第二マスクは、残留ひずみゲルマニウムの部分を露出する段階と、
厚いゲルマニウム層(18)を得るために、前記残留ひずみゲルマニウムの部分上に、ゲルマニウムをエピタキシャル成長させる段階と、及び
前記第二マスク(16、17)を除去する段階とを
含む製造方法。 - 前記支持材の誘電材料は、SiO2、Si3N4及びAl2O3から選択された材料であることを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
- 前記基板(7)を供給するための段階が、
<110>または<111>配向を有する初期シリコン基板(1)上に、緩和された厚いSiGe層(2)をエピタキシャル成長させる段階と、
前記厚いSiGe層(2)から前記薄いひずみシリコン層(3)をエピタキシャル成長させる段階と、
前記薄いひずみシリコン層(3)上に、酸化シリコン層(4)を形成する段階と、
前記酸化シリコン層(4)の自由面に、ハンドル基板(6)を結合する段階と、
前記初期基板(1)及び前記厚いSiGe層(2)を含む構造の部分を除去するために、結果として生じる構造の分離段階とを
含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の製造方法。 - 前記厚いSiGe層(2)内において脆化層(5)を生成するために、前記ハンドル基板(6)の結合段階の前にイオン注入段階が実施され、次に、前記分離段階は、前記脆化層(5)の領域内において構造を開裂するための段階及び前記薄いひずみシリコン層(3)上に残る前記SiGeを除去するための段階を含むことを特徴とする請求項3に記載の製造方法。
- 前記開裂段階は、前記脆化層(5)の熱処理を含むことを特徴とする請求項4に記載の製造方法。
- 前記第一マスクは、前記薄いひずみシリコン層(3)上に形成され及び窒化シリコン層(9)によって覆われる酸化シリコン層(14)を含むことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の製造方法。
- 前記第二マスクは、窒化シリコン層(16)を含むことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0756418 | 2007-07-11 | ||
FR0756418A FR2918793B1 (fr) | 2007-07-11 | 2007-07-11 | Procede de fabrication d'un substrat semiconducteur-sur- isolant pour la microelectronique et l'optoelectronique. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009027163A JP2009027163A (ja) | 2009-02-05 |
JP5336118B2 true JP5336118B2 (ja) | 2013-11-06 |
Family
ID=39092793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008180386A Expired - Fee Related JP5336118B2 (ja) | 2007-07-11 | 2008-07-10 | マイクロエレクトロニクス及びオプトエレクトロニクス向けsoi基板の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7648893B2 (ja) |
EP (1) | EP2015349B1 (ja) |
JP (1) | JP5336118B2 (ja) |
FR (1) | FR2918793B1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009035418B4 (de) * | 2009-07-31 | 2012-08-16 | Globalfoundries Dresden Module One Llc & Co. Kg | Herstellung einer Kanalhalbleiterlegierung durch Abscheiden einer Hartmaske für das selektive epitaktische Aufwachsen |
US8211772B2 (en) * | 2009-12-23 | 2012-07-03 | Intel Corporation | Two-dimensional condensation for uniaxially strained semiconductor fins |
JP5454984B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-03-26 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法 |
KR101699313B1 (ko) * | 2010-10-05 | 2017-02-13 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 제조 방법 |
US8298923B2 (en) * | 2010-10-27 | 2012-10-30 | International Business Machinces Corporation | Germanium-containing release layer for transfer of a silicon layer to a substrate |
US8731017B2 (en) | 2011-08-12 | 2014-05-20 | Acorn Technologies, Inc. | Tensile strained semiconductor photon emission and detection devices and integrated photonics system |
DE102014205364A1 (de) * | 2014-03-21 | 2015-09-24 | Ihp Gmbh - Innovations For High Performance Microelectronics / Leibniz-Institut Für Innovative Mikroelektronik | Herstellung von Halbleiter-auf-Isolator-Schichtstrukturen |
US9472575B2 (en) * | 2015-02-06 | 2016-10-18 | International Business Machines Corporation | Formation of strained fins in a finFET device |
FR3068508B1 (fr) * | 2017-06-30 | 2019-07-26 | Soitec | Procede de transfert d'une couche mince sur un substrat support presentant des coefficients de dilatation thermique differents |
CN108511395B (zh) * | 2018-03-30 | 2021-04-02 | 上海华力微电子有限公司 | 一种具有双极应力的绝缘体上硅结构及其制造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2681472B1 (fr) | 1991-09-18 | 1993-10-29 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de films minces de materiau semiconducteur. |
JP3607194B2 (ja) * | 1999-11-26 | 2005-01-05 | 株式会社東芝 | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及び半導体基板 |
US20050116290A1 (en) * | 2003-12-02 | 2005-06-02 | De Souza Joel P. | Planar substrate with selected semiconductor crystal orientations formed by localized amorphization and recrystallization of stacked template layers |
FR2870043B1 (fr) * | 2004-05-07 | 2006-11-24 | Commissariat Energie Atomique | Fabrication de zones actives de natures differentes directement sur isolant et application au transistor mos a simple ou double grille |
JP4604637B2 (ja) * | 2004-10-07 | 2011-01-05 | ソニー株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
JP4617820B2 (ja) * | 2004-10-20 | 2011-01-26 | 信越半導体株式会社 | 半導体ウェーハの製造方法 |
US7271043B2 (en) * | 2005-01-18 | 2007-09-18 | International Business Machines Corporation | Method for manufacturing strained silicon directly-on-insulator substrate with hybrid crystalline orientation and different stress levels |
WO2006090201A2 (en) * | 2005-02-24 | 2006-08-31 | S.O.I.Tec Silicon On Insulator Technologies | Thermal oxidation of a sige layer and applications thereof |
WO2007014294A2 (en) * | 2005-07-26 | 2007-02-01 | Amberwave Systems Corporation | Solutions integrated circuit integration of alternative active area materials |
EP1763069B1 (en) * | 2005-09-07 | 2016-04-13 | Soitec | Method for forming a semiconductor heterostructure |
JP2007142291A (ja) * | 2005-11-21 | 2007-06-07 | Canon Anelva Corp | 半導体構造およびその成長方法 |
JP4310399B2 (ja) * | 2006-12-08 | 2009-08-05 | 株式会社東芝 | 半導体装置及びその製造方法 |
-
2007
- 2007-07-11 FR FR0756418A patent/FR2918793B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-06-24 US US12/144,992 patent/US7648893B2/en active Active
- 2008-07-07 EP EP08159811.2A patent/EP2015349B1/fr active Active
- 2008-07-10 JP JP2008180386A patent/JP5336118B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009027163A (ja) | 2009-02-05 |
FR2918793B1 (fr) | 2009-10-09 |
FR2918793A1 (fr) | 2009-01-16 |
US7648893B2 (en) | 2010-01-19 |
EP2015349B1 (fr) | 2013-04-10 |
EP2015349A1 (fr) | 2009-01-14 |
US20090017602A1 (en) | 2009-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5336118B2 (ja) | マイクロエレクトロニクス及びオプトエレクトロニクス向けsoi基板の製造方法 | |
US6881650B2 (en) | Method for forming SOI substrate | |
US6893936B1 (en) | Method of Forming strained SI/SIGE on insulator with silicon germanium buffer | |
TWI284980B (en) | Dual strain-state SiGe layers for microelectronics | |
US7029964B2 (en) | Method of manufacturing a strained silicon on a SiGe on SOI substrate | |
US7535115B2 (en) | Wafer and method of producing a substrate by transfer of a layer that includes foreign species | |
JP3870188B2 (ja) | ストレインド・シリコンの領域をウェーハ内に形成する方法 | |
JP2010016390A (ja) | グレーデッドエピタキシャル成長を用いた半導体品の製造プロセス | |
EP1830401B1 (fr) | Microstructure pour la formation d'un substrat en silicium et germanium sur isolant et de type Si1-XGeX | |
JP2009105427A (ja) | 半導体基板の製造方法 | |
US7271447B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2006019725A (ja) | 引張り歪みSiGeオン・インシュレータ(SGOI)上の歪みSiMOSFET | |
TWI711118B (zh) | 用於製作應變式絕緣體上半導體底材之方法 | |
US20060128116A1 (en) | Manufacturing method of silicon on insulator wafer | |
JP2012518290A (ja) | 半導体材料の薄層の形成 | |
US10699902B2 (en) | Process for producing a strained layer based on germanium-tin | |
US7531392B2 (en) | Multi-orientation semiconductor-on-insulator (SOI) substrate, and method of fabricating same | |
KR100961751B1 (ko) | 이축 압축 변형을 받는 <110>Si에서의 전자와정공의 이동성 개선 | |
JP4296726B2 (ja) | 半導体基板の製造方法及び電界効果型トランジスタの製造方法 | |
JP2010040931A (ja) | 半導体基板の製造方法及び半導体基板 | |
KR20050060982A (ko) | 에스오아이 웨이퍼의 제조 방법 | |
JP4037803B2 (ja) | Sgoi基板の製造方法 | |
US20050070070A1 (en) | Method of forming strained silicon on insulator | |
US20070010070A1 (en) | Fabrication of strained semiconductor-on-insulator (ssoi) structures by using strained insulating layers | |
JP2002184962A (ja) | 半導体基板及びその製造方法、並びに半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110629 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130530 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130702 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130801 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5336118 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |