JP5315344B2 - 屈折率変調を記録したフィルム - Google Patents
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Description
[1]第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しているフィルムであって、
前記フィルム表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0であるフィルム。
[3]第2領域が略円柱状である、[1]に記載のフィルム。
[4]第1領域から第2領域にかけて、屈折率が匂配的に変調している、請求項1に記載のフィルム。
[5]屈折率分布型マイクロレンズである、[1]に記載のフィルム。
[6]第1領域と第2領域のいずれか一方が、フルオレン骨格を有する樹脂含む、[1]に記載のフィルム。
[7]第1領域と第2領域の一方が、エポキシ樹脂を含む、[1]に記載のフィルム。
[8]屈折率がnD[A]であるアクリル化合物と;屈折率がnD[B]であり、光ラジカル重合性官能基を有さないエポキシ化合物と;光ラジカル開始剤と;熱硬化性促進剤と、を含んでなる組成物であって、
|nD[B]−nD[A]| が0.001以上2.0以下であり、
E型粘度計で測定した25℃での粘度が0.01以上100Pa・s以下である屈折率変調記録用の組成物。
[9]アクリル化合物がフルオレン骨格を有し、かつ前記アクリル化合物の分子量が、100以上1000以下である、[8]に記載の組成物。
[10]熱ラジカル開始剤をさらに含む、[8]に記載の組成物。
[11]フィルム状である、[8]に記載の組成物。
前記屈折率変調を記録したフィルムは、
第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しており、
前記フィルムの膜表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0である、製造方法。
[13]第1の工程において、前記組成物は、有機EL素子上に薄膜状に配置される、[12]に記載の製造方法。
[14][8]に記載の組成物を用意する第1の工程と、前記組成物に活性エネルギー線を位置選択的に照射する第2の工程と、を含む屈折率変調を記録したフィルムの製造方法であって、
前記屈折率変調を記録したフィルムは、
第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しており、
前記フィルム表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0である、製造方法。
[15]有機EL素子が配置されたパネル基板と、前記パネル基板と対になる対向基板と、前記パネル基板と前記対向基板との間に介在し、前記有機EL素子を封止するシール層と、を含む発光装置であって、
前記シール層は、
第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しており、
前記シール層の表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0である、発光装置。
[16][15]に記載の発光装置を製造する方法であって、[1]に記載のフィルムを、有機EL素子に接着させる工程と;前記接着させたフィルムを硬化させる工程と、を含む発光装置の製造方法。
フルオレン骨格を有するアクリル化合物は、上記例示化合物の2量体または3量体程度のオリゴマーであってもよい。
フルオレン型アクリレート樹脂:9,9-ビス(4-(メタ)アクリロイルオキシフェニル)フルオレン(オグソールEA−0200、大阪ガスケミカル社製)
アクリレート樹脂(フルオレン骨格を有さない):トリエチレングリコール ジメタクリレート
光開始剤:イルガキュア651(チバスペシャルティケミカルズ社製)
ビスフェノールF型エポキシ樹脂;YL−983U(ジャパンエポキシレジン社製)
熱硬化促進剤:トリスジメチルアミノメチルフェノール(JERキュア3010、ジャパンエポキシレジン社製)
酸無水物(硬化剤):ヘキサヒドロ無水フタル酸とメチルヘキサヒドロ無水フタル酸との混合物(リカシッドMH−700、新日本理化社製)
熱開始剤:パーブチルO(日油社製)
各実施例または比較例において調製した組成物を、2枚のガラス板(60×60×1.3mm)にはさみ、カプトンテープで固定し試験片とした。2枚のガラス板の間にアルミ箔スペーサーを配置することにより、試験片の厚みを12μmに設定した。
作製した試験片に、フォトマスク(図2参照)を介在させて、UV照射機(浜松ホトニクス社製のLIGHTNINGCURE LC8)を用いて、光強度10mW/cm2で60秒間の露光をおこなった。用いたフォトマスクは、図2Aに示されたように50mm×50mmの中心領域(10×10mm)に、マトリックス状に孔を設けた部材である。図2Bに示されたように、孔の孔径は30μmであり、各孔の中心同士の距離は37.6μmであり、各孔同士の間隔は7.6μmである。
各実施例または比較例で得られた組成物、および屈折率変調が記録されたフィルムを、以下の項目について評価した。
組成物を目視で観察して、透明で均一な溶液であり、かつ屈折率変調が記録されたフィルムも同様に目視で観察して、透明である場合を○、透明でない(白濁している等)場合を×と評価した。
(2)粘度
25℃における組成物の粘度を、E型粘度計(BROOKFIEL社製のデジタルレオメータ型式DII−III ULTRA)を用いて測定した。
(3)記録性
光学顕微鏡にて、フィルムにマスクの孔の形が記録されているか観察した。記録されている場合を○、記録されているが、一部わずかに記録されていない場合を○△、わずかに記録されている場合を△、記録されていない場合を×とした。
(4)屈折率変調を記録したフィルムの屈折率変調
干渉顕微鏡(透過型位相シフトレーザー顕微干渉計測装置、株式会社エフケー光学研究所)により、屈折率変調(照射領域の屈折率と、非照射領域の屈折率との差異)を測定した。入射光は、He−Neレーザー(波長:633nm)とした。本測定の原理は、APPLIED OPTICS, vol.41, No.7, 1308 (2002)に記載されている。屈折率の差異Δnは、屈折率変調を記録したフィルム中の、最大の屈折率と、最小の屈折率との差の値とした。
50質量部のオグソールEA−0200と、25質量部のYL−983Uと、25質量部のリカシッドMH−700とをフラスコに装入し、加温しながら混合した。その後、室温まで温度を下げて3質量部のイルガキュア651と、0.5質量部のパーブチルOを添加混合した。さらに、1質量部のJERキュア3010を加え、室温で攪拌して組成物を得た。得られた組成物から試験片を作製し、さらに屈折率変調を記録して、屈折率変調を記録したフィルムを作製した。
各成分の配合比率(質量部)を、以下の表に示す通りにする以外は、実施例1と同様にして屈折率変調を記録したフィルムを得た。
オグソールEA−0200の代わりに、フルオレン構造を有さないアクリレート樹脂である「トリエチレングリコール ジメタクリレート」を用いて、各成分の配合比率を以下の表に示す通りにすること以外は、実施例1と同様にして屈折率変調を記録したフィルムを得た。
Claims (14)
- 第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しているフィルムであって、
前記フィルム表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0であり、
前記第1領域が、エポキシ化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第2領域が、フルオレン骨格を有するアクリル化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第1領域から第2領域にかけて、屈折率が勾配的に変調しており、
AFM(原子間力顕微鏡)で測定した表面粗度Raが、0.01〜1μmである、フィルム。 - 前記第2領域が略円柱状である、請求項1に記載のフィルム。
- 屈折率分布型マイクロレンズである、請求項1または2に記載のフィルム。
- 前記エポキシ化合物を含む組成物は、熱ラジカル開始剤をさらに含む、請求項1〜3のいずれか一項に記載のフィルム。
- 前記エポキシ化合物を含む組成物は、酸無水物をさらに含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載のフィルム。
- 前記フィルム中の前記アクリル化合物の硬化物の含有量は、前記フィルム中の前記エポキシ化合物の硬化物100質量部に対して、100〜300質量部である、請求項1〜5のいずれか一項に記載のフィルム。
- 屈折率がnD[A]であり、フルオレン骨格を有し、かつ分子量が100以上1000以下であるアクリル化合物と、屈折率がnD[B]であり、光ラジカル重合性官能基を有さないエポキシ化合物と、光ラジカル開始剤と、熱硬化性促進剤と、を含んでなる組成物であって、|nD[B]−nD[A]|が0.001以上2.0以下であり、E型粘度計で測定した25℃での粘度が0.01以上100Pa・s以下である組成物を用意する第1の工程と、
前記組成物に活性エネルギー線を位置選択的に照射する第2の工程と、
前記活性エネルギー線を照射された組成物中のエポキシ化合物を加熱により硬化する第3の工程と、
を含む屈折率変調を記録したフィルムの製造方法であって、
前記屈折率変調を記録したフィルムは、
第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しており、
前記フィルム表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0であり、
前記第1領域が、エポキシ化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第2領域が、フルオレン骨格を有するアクリル化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第1領域から第2領域にかけて、屈折率が勾配的に変調しており、
AFM(原子間力顕微鏡)で測定した表面粗度Raが、0.01〜1μmである、製造方法。 - 前記組成物に、熱ラジカル開始剤をさらに含む、請求項7に記載の製造方法。
- 前記組成物はフィルム状である、請求項7または8に記載の製造方法。
- 前記組成物は、E型粘度計で測定した25℃での粘度が2Pa・s以上である、請求項7〜9のいずれか一項に記載の製造方法。
- 前記組成物中の前記アクリル化合物の含有量は、前記エポキシ化合物100質量部に対して、100〜300質量部である、請求項7〜10のいずれか一項に記載の製造方法。
- 第1の工程において、前記組成物は、有機EL素子上に薄膜状に配置される、請求項7〜11のいずれか一項に記載の製造方法。
- 有機EL素子が配置されたパネル基板と、前記パネル基板と対になる対向基板と、前記パネル基板と前記対向基板との間に介在し、前記有機EL素子を封止するシール層と、を含む発光装置であって、
前記シール層は、
第1の屈折率を有する第1領域と、第2の屈折率を有する第2領域を有し、かつ前記第2領域は、前記第1領域に分散しており、
前記シール層の表面における、前記第2領域の円相当径の平均値は5μm以上500μm以下であり、かつ前記第2領域同士の間隔の平均値は5μm以上500μm以下であり、
前記第1領域と前記第2領域の屈折率差(Δn)が0.001〜2.0であり、
前記第1領域が、エポキシ化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第2領域が、フルオレン骨格を有するアクリル化合物を含む組成物の硬化物を含み、
前記第1領域から第2領域にかけて、屈折率が勾配的に変調しており、
AFM(原子間力顕微鏡)で測定した表面粗度Raが、0.01〜1μmである、発光装置。 - 請求項13に記載の発光装置を製造する方法であって、
請求項1に記載のフィルムを有機EL素子に接着させる工程と、前記接着させたフィルムを硬化させる工程と、を含む発光装置の製造方法。
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