JP5308744B2 - 制御棒 - Google Patents

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Description

本発明は、制御棒に係り、特に、沸騰水型原子炉に用いられる制御棒に適用するのに好適な制御棒の構造に関する。
沸騰水型原子炉で用いられる従来の制御棒の構造及びこれが設置される環境について説明する。沸騰水型原子炉は、複数の燃料集合体が装荷された炉心を原子炉圧力容器内に有している。これらの燃料集合体内に存在する核燃料物質に含まれたウラン235が、中性子を吸収して核分裂を起こし、熱を発生する。炉心に供給された炉水(冷却水)は、その熱によって加熱されて沸騰し、一部が蒸気になる。炉心内では、上記の核分裂によって新たに発生する中性子が他のウラン235を分裂させる連鎖反応が起きている。
核分裂の連鎖反応量を制御するため、中性子吸収材を内部に収納する制御棒が利用される。このうち、沸騰水型原子炉で通常使用される制御棒は、横断面が十字形をしており、4体の燃料集合体のチャンネルボックスの相互間に形成される間隙(飽和水領域)内に挿入される。4体の燃料集合体にて構成される1つのセル当たり1体の制御棒が設けられる。ほぼ1つのセル毎にそれら4体の燃料集合体の下方に制御棒案内管が配置される。制御棒案内管は、原子炉圧力容器内に設置される。制御棒は、セル内の4体の燃料集合体の各チャンネルボックス、及び制御棒案内管をガイド部材として利用する。また、制御棒は、下端部が制御棒駆動機構に連結され、制御棒駆動機構の駆動操作によって炉心に挿入され、炉心から引抜かれる。制御棒は、反応度制御及び出力分布の調整に用いられる重要機器である。
沸騰水型原子炉に用いられる従来の制御棒の構造を簡単に説明する。この制御棒は、ハンドルがタイロッドの上端部に、落下速度リミッタがタイロッドの下端部にそれぞれ接合され、タイロッドの中心軸に位置するタイロッドから四方に伸びる4枚のブレードを有している。各ブレードは、タイロッドに取り付けられたU字状のシースを有し、このシース内に、中性子吸収材を収納した複数の中性子吸収棒を配置している(特許文献1参照)。特許文献1は、さらに、シースの軸方向においてシースの端面に複数の突出部を形成し、これらの突出部をタイロッドにレーザ溶接によって接合することを記載している。突出部を設けることによって、シースは軸方向においてタイロッドに断続的に溶接される。また、中性子吸収棒の替りに、タイロッドに接合されるU字状のシース内にハフニウム板を配置した制御棒も知られている(特許文献2,特許文献3参照)。
シースの応力腐食割れ(SCC)を防ぐために、ハフニウムを含む希釈合金板内に複数の中性子吸収棒を挿入して構成された中性子吸収部材とシースの間に形成される間隙を所定幅に保持した制御棒が、特許文献4に記載されている。その間隙の保持は、シースに形成された複数の窪み部の内面を中性子吸収部材の表面に接触させることによって行われる。ハフニウム板で構成された中性子吸収部材とシースの間の間隙を所定幅に保持する技術は、特許文献5及び特許文献6にも記載されている。
特開2002−257968号公報 特開平2−10299号公報 特開平8−105989号公報 特開平1−284796号公報 特開昭60−60585号公報 特開平4−289490号公報
近年、沸騰水型原子炉に用いられる制御棒においてシース表面に微小なひびが生じる事象が報告されている。発明者らは、このひびが放射線照射,応力及び隙間の3つの要因が重畳した時に引き起こされる照射誘起型応力腐食割れ(IASCC)であると考えた。すなわち、制御棒が原子炉の炉心内に挿入されるため、核燃料の核分裂反応により発生する中性子及びγ線のシースへの照射による材料劣化及び酸化環境,制御棒の製造工程中におけるシースとタイロッド及びシースとハンドルの各溶接によりシースに発生する引張残留応力、及びシースと内部の中性子吸収部材(例えば、ハフニウム楕円管)の間の隙間腐食環境の3つの要因が重なってシースに作用する。したがって、シースの表面がIASCCによってひびの発生しやすい環境にさらされていることが懸念される。
本発明の目的は、シースにおけるひびの発生を抑制できる制御棒を提供することにある。
上記の目的を達成する本発明の特徴は、ハフニウム部材の両端とシースの内面との間に形成される各間隙の幅Gが0.2mm<G≦1.0mmを満たすように、ハフニウム部材の両側面と前記シースの内側の間に間隙部材を配置することにある。
本発明によれば、沸騰水型原子炉の制御棒において、シース表面に発生する照射誘起型応力腐食割れを抑制し、制御棒の信頼性の向上および原子炉の継続的な安定運転が可能となる。
IASCCは、放射線照射,応力及び隙間のどれか1つの要因を除くことにより防ぐことができる。しかしながら、制御棒は炉心内に挿入されるので放射線の照射環境を取り除くことは困難である。特に、制御棒のシースは、図2に示すように、そのシース内に配置された中性子吸収部材であるハフニウム部材(例えばハフニウム楕円管)の上端部、すなわち、ハフニウム部材の上端の位置とこの上端から下方に向かってシース全長の1/10の位置の間の範囲において原子炉の運転中での累積の中性子照射量が最も大きくなる。これは、その範囲が中性子の高い領域である炉心の軸方向での中央部に位置する期間が長く、また、炉心から引き抜かれる時期が最も遅いからである。原子炉を起動するときに炉心に挿入されていた多数の制御棒の大部分は、昇温昇圧過程が終了した時点で炉心から全引き抜されている。原子炉出力を上昇させる時点では、一部の制御棒のみが炉心に挿入されている。これらの制御棒は出力調節用の制御棒である。この出力調節用の制御棒の、ハフニウム部材の上端の位置とこの上端から下方に向かってシース全長の1/10の位置の間の範囲で、累積の中性子照射量が最も大きくなる。
隙間腐食環境は、原子炉内の冷却材に含まれる不純物及び腐食生成物などがシースとハフニウム楕円管の間に形成される隙間部に堆積されることによって、シースに腐食をもたらすと、発明者らは考えている。図3は、従来の沸騰水型原子炉の制御棒におけるハフニウム楕円管の長手方向軸に垂直な断面のうち、タイロッドおよびブレード1枚の部分(シースとハフニウム楕円管)を示す図である。シースとハフニウム楕円管の間の隙間(G0)は、設計値に基づいて製作される。原子炉の運転中に制御棒が炉心に挿入されているとき、シース内でのハフニウム楕円管の位置が変化し、ハフニウム楕円管の一つの側面側の隙間の幅が狭くなり、他方の側面側の隙間の幅が広くなる可能性がある。隙間の幅(G0)が狭くなると、腐食生成物等が堆積しやすくなる。
そこで、発明者らは、原子炉運転中でもハフニウム部材の両側面側で所定幅の間幅を確保することが望ましいと考えた。これにより、ハフニウム部材とシース間の腐食環境を改善し、シースの耐IASCCを向上させることができ、シースにおけるひびの発生を抑制できるのである。好ましくは、その所定幅を、中性子照射量が大きいハフニウム部材の上端の位置とこの上端からシースの全長の1/10の位置の間の範囲で形成すると良い。詳細を以下に説明する。
発明者らは、ハフニウム楕円管とシースの間に形成される間隙を2枚のステンレス鋼板の相互間に形成して模擬し、隙間腐食試験を行った。隙間腐食試験では、図4(b)に示すように、対向するステンレス鋼8を拘束具16で固定した試験片を用いた。この隙間腐食試験では、対向しているステンレス鋼8間の隙間の幅を0mm,0.1mm,0.2mm及び0.3mmの4通りに変え、各幅に対してステンレス鋼に放射線であるγ線を照射した場合及び照射しない場合の両方について実施した。さらに、隙間腐食試験において、これらのステンレス鋼板は、腐食生成物模擬材を添加した水、及びそれを添加しない水に浸漬し、この浸漬時間をそれぞれ500時間,1000時間及び1500時間と変えた。水の温度は280℃である。この隙間腐食試験の結果を、図4(a)に示す。図4(a)において、ステンレス鋼板にひびが発生しない場合を×で、ステンレス鋼板にひびが発生した場合を●,■及び□で示している。●は、腐食生成物が水に添加されており20000Gy/hrでγ線が照射されている場合である。■は、腐食生成物が水に添加されておりγ線が照射されていない場合である。□は、腐食生成物が水に添加されていなくγ線が照射されていない場合である。以上の隙間腐食試験の結果、発明者らは、ハフニウム楕円管とシースの間に形成される間隙の幅Gが0.2mmより広い場合に、シースにひびが発生しないことを新たに見出した。制御棒の、炉心に装荷された燃料集合体間への挿入性を考慮し、その間隙の幅Gは1.0mm以下にしなければならない。したがって、ハフニウム部材とシースの間に形成される間隙の幅Gは、0.2mm<G≦1.0mmを満足する必要がある。
0.2mm<G≦1.0mmを満足する構成としては、シースの一部を内側に窪ませる構成、ハフニウム部材の側面に外側に向かう突起を形成する構成、及び上記条件を満足させる幅Gを有する部材をシースとハフニウム部材の間に挿入する構成、のいずれかを採用できる。しかしながら、上記のいずれの構成を採用した場合であっても、シース4とハフニウム部材5が接触する、又はシースとハフニウム部材の間に挿入された部材がシーム及びハフニウム部材に接触することになる。このような接触が生じる場合、接触点の近傍では0.2mm<G≦1.0mmの条件を満たすことができず、隙間腐食が発生することが懸念された。
そこで、発明者らは、さらに、シースとハフニウム楕円管とが接触する構成、又は、シースとハフニウム楕円管の間に挿入された部材がシース又はハフニウム楕円管と接触する構成を、2枚のステンレス鋼板に棒材を挟んで模擬し、隙間腐食試験を行った。隙間腐食試験では、図6(a)に示すように、対向するステンレス鋼8の間に棒部材9を挟んで接触させ、ステンレス鋼8を拘束具16で固定した試験片を用いた。この隙間腐食試験では、半径を変えた棒部材9を用い、各棒部材9とステンレス鋼8を接触させた試験片を、280℃の高温水中に浸漬し、γ線を照射して実施した。この隙間腐食試験の結果、棒材の半径r=2.5mmの時に腐食が発生しないことがわかった。つまり、シースとハフニウム楕円管とが接触する場合、またはシースとハフニウム部材の間に挿入された部材がシース及びハフニウム部材と接触する場合であっても、隙間腐食が発生しない条件があることを、新たに見出した。このような実験結果は、接触点からの隙間奥行きの距離dと、隙間奥行きの距離dにおける隙間幅hとを最適化することによって、接触点近傍でも隙間腐食を防止できることを示している。詳細を以下に示す。
(1)本発明においては、シース又はハフニウム部材の少なくともどちらか一方の表面に半径が2.5mm以下の円状の突起を設けることで、隙間腐食の発生を抑制する。
(2)本発明においては、シース又はハフニウム部材の少なくともどちらか一方の表面に仰角が11.3度以上の錐体状の突起を設けることで、隙間腐食の発生を抑制する。
(3)本発明においては、シースとハフニウム部材とが接触する部位に設けた突起において、接触面と垂直方向の突起断面形状は、接触部材からの距離が0.1mmより小さい部分の距離は2.0mm以下とすることで隙間腐食の発生を抑制する。
以上の検討結果に基づいた本発明の実施例を以下に説明する。
本発明の好適な一実施例である実施例1の制御棒を、図1,図5,図7に基づいて以下に説明する。本実施例の制御棒11は、沸騰水型原子炉(BWR)で用いられる制御棒である。この制御棒11は、図1に示すように、横断面が十字形をしていて軸心にタイロッド1が配置され、このタイロッド1から四方に伸びる4枚のブレード12を有する。ハンドル2がタイロッド1の上端部に取り付けられ、下部支持部材3がタイロッド1の下端部に取り付けられる。下部支持部材3は、下部支持板または落下速度リミッタである。ローラ13が回転可能に下部支持部材3に取り付けられる。このローラ13は、炉心に装荷されている燃料集合体のチャンネルボックスの外面と接触し、制御棒11を燃料集合体間で円滑に移動させる機能を有する。
各ブレード12は、横断面がU字状をしているシース4,扁平な筒、例えば楕円形状の筒であるハフニウム部材5U,5Lを有する。シース4はステンレス鋼(SUS304及びSUS316L等)によって構成される。シース4の上端はハンドル2に溶接され、シース4の下端は下部支持部材3に溶接されている。シース4のU字の両端部には、複数のタブ(突出部)18が軸方向において所定の間隔を置いて形成されている。タブ18は、シース4の一部であるが、タイロッド1側に向かって突出している部分である。これらのタブ18は溶接にてタイロッド1に接合されている。上記したシース4とタイロッド1,ハンドル2及び下部支持部材3との接合は、例えば、レーザ溶接によって行われる。
1つのブレード12のシース4内に形成される空間内に、2つのハフニウム部材5U及び2つのハフニウム部材5Lが配置されている。ハフニウム部材5Uはハフニウム部材5Lの上方に位置しており、これらの軸方向の長さは同じである。ハフニウム部材5Uは、ハンドル2の下端部に形成された舌状部2aにピン6で取り付けられている。ハフニウム部材5Lは、下部支持部材3の上端部に形成された舌状部3aにピン6で取り付けられている。ハフニウム部材5Uは上端部がハンドル2に取り付けられ、ハフニウム部材5Lが下部支持部材3に取り付けられている。これらのハフニウム部材は中性子吸収部材である。BWRの運転中においてハフニウム部材5U,5Lが熱膨張してもそれらのハフニウム部材が互いに接触しないように、ハフニウム部材5Uの下端とハフニウム部材5Lの上端との間のギャップ(図示せず)が形成されている。
制御棒11は、BWRの原子炉圧力容器内に配置され、原子炉出力を制御するために、複数の燃料集合体が装荷された炉心内に制御棒駆動機構(図示せず)によって出し入れされる。制御棒11は、下部支持部材3の下端部に設けられたコネクタ17によって原子炉圧力容器の底部に設けられた制御棒駆動装置に連結される。制御棒駆動装置は、制御棒11の炉心内への挿入操作、及び制御棒11の炉心からの引き抜き操作を行う。原子炉圧力容器内を流れる冷却水(冷却材)は、シース4に形成された一部の開口14及びシース4の最下端部に形成された複数の開口9Lからシース4内に流入し、ハフニウム部材5U,5Lを冷却して他の開口14(特に上端部に位置する開口14)及びシース4の最上端部に形成された複数の開口9Uからシース4の外に流出する。シース4内に流入した冷却水は、ハフニウム部材5Uに設けられた小径の開口13を通ってハフニウム部材5U内に流入し、また、ハフニウム部材5Lに形成された小径の開口15を通ってハフニウム部材5L内に流入する。このように、冷却水がハフニウム部材5U,5L内に流入することによって、これらのハフニウム部材の冷却効果が増大される。
シース4は、図5に示すように、シース4の一部を内側に窪ませた複数の窪み部(間隙保持部材)10を形成している。本実施例における間隙保持部材はシース4と一体になった窪み部10である。これらの窪み部10はシース4の対向する側壁部にそれぞれ形成され、各側壁部に形成された窪み部10はハフニウム部材5Uの両側の側面にそれぞれ接触している。ハフニウム部材5Uは、両側に位置する窪み部10に挟まれてシース4内で所定の位置に配置される。したがって、ハフニウム部材5Uの両側の側面とこれらの側面に向かい合っているシース4の内面(窪み部10を除くシースの内面)との間に形成される各間隙の幅Gは、BWRの運転中において、0.2mm<G≦1.0mmの範囲に保持されるように構成される。
本実施例のシース4の窪み部10は、半径rの円形状の突起部である。シースの窪み部10とハフニウム部材5Uの接触点からの隙間奥行き距離をdとし、隙間奥行き距離dでの隙間幅(窪み部10とハフニウム部材5Uとの距離)をhとする(図7参照)。図8は、円形状の窪み部10の半径rを1.0mm,2.5mm,3.0mm、4.0mm及び5.0mmの5通りに変えた場合の、隙間奥行き距離dと隙間幅hとの関係を示す。前述の通り、隙間腐食試験において半径(r)が2.5mmの棒材を用いた場合、腐食の発生が見られなかった。このことから、半径r=2.5mmでの隙間幅hと隙間奥行きdの相関より隙間幅が大きい範囲では腐食が抑制できることになる。つまり、半径が2.5mm以下の円形状の窪み部10をシース4に設けた場合、隙間腐食を防止することができ、シース4のひびの発生を抑制できる。具体的には、半径が1.0mm等の円形状の窪み部10をシース4に設けた場合も、隙間腐食を抑制できる条件を満たすことになる。前述の通り、シース4におけるひびの発生を抑制するためには、ハフニウム部材5Uとシース4の間に形成される間隙の幅Gが0.2mm<G≦1.0mmを満足しなければならない。このため、シース4に円形状の窪み部10を設ける場合、その半径は0.1mmより広いことが必要となる。したがって、窪み部10の半径rは、0.1mm<r≦2.5mmを満足することが必要となる。
本実施例では、シース4に形成される窪み部10を間隙保持部材としたが、ハフニウム部材5Uの両側の側面に複数の突起部を形成してこの突起部を間隙保持部材とする構成であっても、本実施例と同様の効果を得ることができる。ハフニウム部材5Uに突起部を設ける場合、この突起部は、本実施例と同様、半径rが0.1mm<r≦2.5mmを満たす円形突起部となる。ハフニウム部材5Uに形成される突起部が、シース4の内側側面に接触する。
本実施例では、円形状の窪み部10は、シース4と同じ材質で一体で形成された構成であるが、窪み部10をシース4と異なる材質で作製した場合であっても同様の効果を得ることができる。また、本実施例では、図5に示すように、円形状の窪む部10は、シース4の一部を内側に窪ませた形状を有するが、断面形状が円形となる球形の窪み部を有する場合であっても、本実施例と同様の効果を得ることができる。さらに、窪み部10がハフニウム部材5Uと接触する先端部の形状を本実施例と同様の形状であれば、窪み部10全体の形状によらず本実施例と同様の効果を得ることができる。ここで、先端部とは、窪み部10とハフニウム部材5Uが接触する点から1.0mmの範囲(d=1.0mm)を示す。
円形状の窪み部10の半径が3.0mm等の場合、シース4とハフニウム部材5Uとの間に隙間腐食が発生する腐食懸念域となるため、隙間幅を大きくする方策を検討する。しかし、図12に示すように、隙間奥行きが1.0〜2.0mmの領域での腐食発生頻度は50%以下と小さいので、部材の使用期間が短い場合等は半径の大きい突起を使用することも可能である。
本実施例の制御棒11によれば、ハフニウム部材の外面両端とシースの内面との間に間隙部材を設けてハフニウム部材の外側壁面とシースの内側壁面との幅Gが0.2mm<G≦1.0mmを満足する構成としているため、その間隙間を流れる冷却材に含まれる不純物及び腐食生成物が間隙間に堆積することを防止できる。このため、間隙内の腐食環境を改善でき、シースの隙間腐食の発生を防止でき、シースのひびの発生を防止できる。
本実施例の制御棒11によれば、間隙部材とハフニウム部材とが接触する(又は、間隙部材とシースとが接触する)場合であっても、間隙内の腐食環境を改善でき、シースの隙間腐食の発生を防止でき、シースのひびの発生を防止できる。
本実施例の制御棒11によれば、窪み部10は内面及び外面共に球面になっているので、窪み部10の内面がハフニウム部材5Uの側面と接触する接触面積は極めて小さくなる。このため、窪み部10と接触するハフニウム部材5Uの接触部の、冷却水による冷却に支障が生じない。
本発明の他の実施例である実施例2の制御棒を、図9を用いて説明する。BWRに用いられる本実施例の制御棒11Aは、実施例1の制御棒11において、シース4に円形状の窪み部10を形成する変わりに、仰角θの錐体状突起部(間隙保持部材)10Aをシース4に形成した構成を有する。仰角θが11.3°以上である錐体状突起部10Aの場合、隙間奥行きdが1.0mm以下の領域で、隙間幅hが0.2mm以下を満足することができる。本実施例の錐体状突起部10Aは、ハフニウム部材5Uの外側面と錐体状突起部10Aの側面との仰角θが11.3°以上の錐体状である。これらの錐体状突起部10Aは、シース4の対向する側壁部にそれぞれ形成され、各側壁に形成された錐体状突起部10Aが、ハフニウム部材5Uの両側の側面(外面)に接触する。錐体状突起部10Aは、シース4と一体となっている。制御棒11Aの他の構成は、実施例1の制御棒11と同じである。
本実施例では、間隙保持部材がシース4に形成される錐体状突起部10Aであったが、ハフニウム部材5Uの両側の側面に複数の錐体状突起部を形成してこの突起部を間隙保持部材とする構成であっても、本実施例と同様の効果を得ることができる。ハフニウム部材5Uに突起部を設ける場合、この突起部は、本実施例と同様、仰角θが11.3°以上である錐体状突起部となる。ハフニウム部材5Uに形成される錐体状突起部が、シース4の内側側面に接触する。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。
また、錐体と球体では断面形状が異なるが、球体に比べて、隙間奥行きの浅い地点での隙間幅が錐体状のほうが広いため、本実施例の場合、より隙間腐食を防止できる。
本発明の他の実施例である実施例3の制御棒を、図10を用いて説明する。BWRに用いられる本実施例の制御棒11Bは、実施例1の制御棒11において、シース4に円形状の窪み部10を形成する変わりに、不定形の突起部(間隙保持部材)10Bをシース4に形成した構成を有する。間隙保持部が定形でない形状の場合、突起部10Bとハフニウム部材5Uの間の距離(高さH)が0.2mm以下となる領域が、突起部10Bとハフニウム部材5Uが接触する点から1.0mm以内の領域であることが必要となる。本実施例の不定形の突起部10Bは、突起部10Bとハフニウム部材5Uが接触する点から1.0mm以内の領域において、高さHが0.2mm以下であり、かつ、突起部10Bとハフニウム部材5Uの接触点から1.0mmより外側の領域において、高さHが0.2mmより大きくなるような形状を有する。さらに、ハフニウム部材5Uとシース4の間に形成される間隙の幅Gが0.2mm<G≦1.0mmを満足しなければならないため、接触点から1.0mmより外側の領域では、高さHが1.0mmを満たすことが必要となる。従って、突起部10Bとハフニウム部材5Uの接触点から1.0mmより外側の領域では、高さHが0.2mm<H≦1.0mmを満たすことが必要となる。
さらに、突起部10Bとハフニウム部材5Uが接触する点から1.0mm以内の領域において、高さHが、図8に示す腐食抑制制限領域となることが必要となる。つまり、接触点から1.0mm以内の領域において、高さHが、半径r=2.5mmの円形突起部を有する場合の隙間幅hよりも広くなることが必要となる。これらの突起部10Bはシース4の対向する側壁部にそれぞれ形成され、各側壁部に形成された突起部10Bが、ハフニウム部材5Uの両側の側面(外面)にそれぞれ接触している。制御棒11Bの他の構成は、実施例1の制御棒11と同じである。
本実施例では、間隙保持部材がシース4に形成される不定形の突起部10Bであったが、ハフニウム部材5Uの両側の側面に複数の不定形の突起部を形成してこの突起部を間隙保持部材とする構成であっても、本実施例と同様の効果を得ることができる。ハフニウム部材5Uに突起部を設ける場合、この突起部は、本実施例と同様、突起部10Bとハフニウム部材5Uが接触する点から1.0mm以内の領域において、高さHが0.2mm以下であり、突起部10Bとハフニウム部材5Uの接触点から1.0mmより外側の領域において、高さHが0.2mmより大きくなるような形状を有する。ハフニウム部材5Uに形成される突起部が、シース4に接触する。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。
本発明の他の実施例である実施例4の制御棒を、図11を用いて説明する。BWRに用いられる本実施例の制御棒11Cは、実施例1の制御棒11において、シース4に円形状の窪み部10を形成する代わりに、シース4とハフニウム部材5Uの間に複数の円形の棒部材(間隙保持部材)10Cを設けた構成を有する。本実施例の棒部材10Cは、その半径が0.1mm<r≦2.5mmの円柱状の棒材である。これらの棒部材10Cはシース4の対向する側壁部にそれぞれ形成され、各側壁部に形成された棒部材10Cが、ハフニウム部材5Uの両側の側面(外面)にそれぞれ接触している。制御棒11Bの他の構成は、実施例1の制御棒11と同じである。
本実施例では、間隙保持部材がシース4に形成された棒部材10Cであるが、ハフニウム部材5Uの両側の側面に複数の棒部材を設け、この棒部材を間隙保持部材とする構成であっても、本実施例と同様の効果を得ることができる。この場合、ハフニウム部材5Uに設けられる棒部材が、シース4の内側側面に接触する。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。円柱状の棒部材10Cをハフニウム部材5Uとシース4の間に配置しているので、棒部材10Cがハフニウム部材5U及びシース4と接触する部分の面積が非常に小さくなる。円柱状の棒部材の代わりに球部材をハフニウム部材5Uとシース4の間に配置してもよい。
本発明の他の実施例である実施例5の制御棒を、図13,図14を用いて説明する。BWRに用いられる本実施例の制御棒11Dは、実施例1の制御棒11において、シース4に円形状の窪み部10を形成する位置を、累積の中性子照射量が大きくなる長さの範囲とした構成を有する。
シース4の軸方向の全長をL0、及びハフニウム部材5Uの上端から下方に向かう長さをLaとしたとき、長さLaはL0/10で表される。複数の窪み部10は、シース4の軸方向においてハフニウム部材5Uの上端の位置と上端から下方に長さLa(=L0/10)だけ下がった位置の間に形成されている。その長さLaの範囲において、窪み部10はシース4の一方の側壁部に軸方向に少なくとも1個形成される。例えば、窪み部10を制御棒11の軸方向において1個形成する場合には、その軸方向において、ハフニウム部材5の上端から下方に向かってLa/2の位置に配置することが望ましい。
累積の中性子照射量がもっとも大きくなる長さLaの範囲に窪み部10をシース4に形成するので、その範囲においてハフニウム部材5Uの両側でシース4との間に形成される各間隙の幅Gを、BWRの運転中、0.2mm<G≦1.0mmに保持することができる。このため、開口9Uに向かう冷却水の流量が増大するので、冷却水に含まれる不純物及び腐食生成物がそれらの間隙内に堆積することを防止することができる。すなわち、間隙内の腐食環境が改善され、その範囲でのシース4の隙間腐食の発生が防止でき、シース4におけるひびの発生を防止することができる。
ハフニウム部材5Lの下端部においてハフニウム部材5Lとシース4との間に形成される間隙の幅Gが0.2mm以下になったとしても、その部分の累積中性子照射量が少ないので、その部分においてシース4にひびが発生することはない。
シース4の軸方向においてハフニウム部材5Uの上端の位置と上端から下方に長さLa(=L0/10)だけ下がった位置よりも下方で、窪み部10を軸方向に2箇所以上形成することによって、ハフニウム部材5Uの両側でシース4との間に形成される間隙、及びハフニウム部材5Lの両側でシース4との間に形成される間隙のそれぞれの幅を、軸方向の全ての位置で0.2mm<G≦1.0mmに保持することができる。しかしながら、シース4の軸方向においてハフニウム部材5Uの上端から長さLaの範囲に窪み部10を形成しない場合には、その長さLaの範囲でハフニウム部材5Uの少なくとも一方の側の間隙の幅Gが0.2mm以下になる可能性があり、シース4にひびが発生し易くなる。このため、その長さLaの範囲においては、シース4のそれぞれの側壁にハフニウム部材5Uの両側面にそれぞれ接触する窪み部10を形成する必要がある。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。
本発明の好適な一実施例である実施例1の制御棒の側面図である。 制御棒のシース軸方向における中性子照射量の分布を示す特性図である。 従来の制御棒の断面図である。 シースを模擬した隙間腐食試験に関し、(a)が隙間腐食試験結果の一例を示す説明図であり、(b)が隙間腐食試験に用いた試験片の模式図である。 実施例1の制御棒に関し、(a)が図1のA−A断面図であり、(b)がシースの窪み部付近の拡大図である。 シースを模擬した隙間腐食試験に関し、(a)が隙間腐食試験に用いた試験片の斜視図であり、(b)がこの試験片をA方向から見た模式図である。 実施例1におけるシースの窪み部の拡大図である。 実施例1における隙間奥行き距離と隙間幅の関係を示す特性図である。 本発明の他の実施例である実施例2のシースの突起部付近の拡大図である。 本発明の他の実施例である実施例3のシースの突起部付近の拡大図である。 本発明の他の実施例である実施例4のシースの突起部付近の拡大図である。 シースを模擬した隙間腐食試験結果の一例であり、隙間奥行きと腐食発生頻度の関係を示す特性図である。 本発明の他の実施例である実施例5の制御棒の断面図である。 図13の制御棒をA方向から見た断面図である。
符号の説明
1 タイロッド
2 ハンドル
3 下部支持部材
4 シース
5U,5L ハフニウム部材
6 ピン
10 窪み部(間隙保持部材)
10A 錐体状突起部(間隙保持部材)
10B 突起部(間隙保持部材)
10C 棒部材(間隙保持部材)
11,11A,11B,11C 制御棒
12 ブレード

Claims (5)

  1. タイロッドと、前記タイロッドの上部に取り付けられたハンドルと、前記タイロッドの下端部に取り付けられた下部支持部材と、上端部が前記ハンドルに取り付けられ、下端部が前記下部支持部材に取り付けられ、さらに前記タイロッドに取り付けられ、かつ横断面がU字状をしていて前記タイロッドから四方に伸びる4つのシースと、それぞれのシース内に配置されたハフニウム部材を備え、
    前記ハフニウム部材の両端と前記シースの内面との間に形成される各間隙の幅Gが0.2mm<G≦1.0mmを満たすように、前記ハフニウム部材の両側面と前記シースの内側の間に配置される間隙部材を備え
    前記間隙部材は、前記シース又は前記ハフニウム部材の少なくとも一方に形成され、その先端部が0.1mm<r≦2.5mmを満たす半径rの円形状の突起部、又は前記シースと前記ハフニウム部材の間に設けられた、0.1mm<r≦2.5mmを満たす半径rの円柱状の棒部材であることを特徴とする制御棒。
  2. 記シースに形成され突起部
    前記ハフニウム部材と接触する点から1.0mm以内の領域では、前記ハフニウム部材との距離Hが2.0mm以下であり、前記ハフニウム部材との接触点から1.0mmより外側の領域では、前記ハフニウム部材との距離Hが0.2mm<H≦1.0mmを満たすことを特徴とする請求項1に記載の制御棒。
  3. 記ハフニウム部材に形成され突起部
    前記シースと接触する点から1.0mm以内の領域では、前記シースとの距離Hが2.0mm以下であり、前記シースとの接触点から1.0mmより外側の領域では、前記シースとの距離Hが0.2mm<H≦1.0mmを満たすことを特徴とする請求項1に記載の制御棒。
  4. 前記間隙部材は、前記シースの軸方向における前兆をL0としたとき、前記ハフニウム部材の上端の位置と、前記軸方向において前記ハフニウム部材の上端から下方に向かってL0/10下がった位置との間に形成されることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の制御棒。
  5. 前記ハフニウム部材は、扁平な筒状のハフニウム部材であることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の制御棒。
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