JP5307416B2 - ウエーハの分割装置 - Google Patents

ウエーハの分割装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5307416B2
JP5307416B2 JP2008032124A JP2008032124A JP5307416B2 JP 5307416 B2 JP5307416 B2 JP 5307416B2 JP 2008032124 A JP2008032124 A JP 2008032124A JP 2008032124 A JP2008032124 A JP 2008032124A JP 5307416 B2 JP5307416 B2 JP 5307416B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
annular
frame
adhesive tape
attached
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008032124A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009194097A (ja
Inventor
一馬 関家
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2008032124A priority Critical patent/JP5307416B2/ja
Publication of JP2009194097A publication Critical patent/JP2009194097A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5307416B2 publication Critical patent/JP5307416B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Dicing (AREA)

Description

本発明は、表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成されているとともに該複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが形成されたウエーハを、該分割予定ラインに沿って個々のデバイスに分割するウエーハの分割装置に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等の回路を形成する。そして、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切断することにより回路が形成された領域を分割して個々のデバイスを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等が積層された光デバイスウエーハも所定の分割予定ラインに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、CCD等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。
上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等の分割予定ラインに沿った切断は、通常、ダイサーと称されている切削装置によって行われている。この切削装置は、半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等の被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削するための切削手段と、チャックテーブルと切削手段とを相対的に移動せしめる切削送り手段とを具備している。切削手段は、回転スピンドルと該スピンドルに装着された切削ブレードおよび回転スピンドルを回転駆動する駆動機構を含んでいる。切削ブレードは円盤状の基台と該基台の側面外周部に装着された環状の切れ刃からなっており、切れ刃は例えば粒径3μm程度のダイヤモンド砥粒を電鋳によって基台に固定し厚さ20μm程度に形成されている。
しかるに、サファイヤ基板、炭化珪素基板等はモース硬度が高いため、上記切削ブレードによる切断は必ずしも容易ではない。更に、切削ブレードは20μm程度の厚さを有するため、デバイスを区画する分割予定ラインとしては幅が50μm程度必要で、ストリートの占める面積比率が高くなり、生産性が悪いという問題がある。
一方、近年半導体ウエーハ等の板状の被加工物を分割する方法として、その被加工物に対して透過性を有するパルスレーザー光線を用い、分割すべき領域の内部に集光点を合わせてパルスレーザー光線を照射するレーザー加工方法も試みられている。このレーザー加工方法を用いた分割方法は、被加工物の一方の面側から内部に集光点を合わせて被加工物に対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線を照射し、被加工物の内部に分割予定ラインに沿って変質層を連続的に形成し、この変質層が形成されることによって強度が低下した分割予定ラインに沿って外力を加えることにより、被加工物を分割するものである。(例えば、特許文献1参照。)
特許第3408805号公報
上述したように分割予定ラインに沿って変質層が形成されたウエーハの分割予定ラインに沿って外力を付与し、ウエーハを個々のデバイスに分割する際には、分割されたデバイスがバラバラにならないようにウエーハは粘着テープに貼着される。そして、粘着テープに貼着されるウエーハは、個々のデバイスに分割した後のボンディング工程を容易にするために裏面が粘着テープに貼着される。従って、ウエーハは表面が露出された状態となる。
而して、ウエーハを変質層が形成された分割予定ラインに沿って外力を付与して分割すると、微細な破片が飛散し、特に帯電している場合には微細な破片がデバイスに付着してワイヤーボンディングの際に断線を引き起こす原因となる。また、デバイスが発光ダイオードやCCD等の光デバイスの場合には、微細な破片が付着すると品質が著しく低下するという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術的課題は、ウエーハを変質層が形成された分割予定ラインに沿って外力を付与して分割する際に飛散する微細な破片がデバイスに付着することなく分割することができるウエーハの割装置を提供することである。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成されているとともに複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが形成され内部に複数の分割予定ラインに沿って変質層が形成されたウエーハを、環状のフレームに装着された粘着テープに裏面が貼着された状態で複数の分割予定ラインに沿って破断するウエーハの分割装置において、
該環状のフレームを保持するフレーム保持手段と、
該フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された粘着テープを拡張するテープ拡張手段と、
該フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された該粘着テープに貼着されているウエーハを水没するためのウエーハ水没手段と、を具備し、
該ウエーハ水没手段は、該フレーム保持手段に保持される該環状のフレームの表面に載置可能な外形および内径を有し下端面に環状のシールが装着された環状の水溜め部材を備え、該環状の水溜め部材の下端面に装着された該環状のシールを該フレーム保持手段に保持された該環状のフレームの表面に載置し、該環状の水溜め部材と該環状のフレームおよび該粘着テープによって囲まれた領域に水を供給することにより、該粘着テープの表面に貼着されたウエーハを水没せしめる、
ことを特徴とするウエーハの分割装置が提供される。
本発明によるウエーハの分割装置によれば、環状のフレームを保持するフレーム保持手段と、フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された粘着テープを拡張するテープ拡張手段と、フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された粘着テープに貼着されているウエーハを水没するためのウエーハ水没手段を具備しているので、粘着テープに貼着されたウエーハを水没させた状態でウエーハに外力を付与することにより、ウエーハを変質層が形成された分割予定ラインに沿って破断するため、ウエーハが変質層に沿って破断される際に微細な破片が飛散するが、この破片は水中に浮遊してデバイスの表面に付着することはない。そして、ウエーハ水没手段は、フレーム保持手段に保持される環状のフレームの表面に載置可能な外形および内径を有し下端面に環状のシールが装着された環状の水溜め部材を備え、環状の水溜め部材の下端面に装着された環状のシールを該フレーム保持手段に保持された環状のフレームの表面に載置し、環状の水溜め部材と環状のフレームおよび粘着テープによって囲まれた領域に水を供給することにより、粘着テープの表面に貼着されたウエーハを水没せしめる構成であるため、その構造が極めて簡単となる。
以下、本発明に従って構成されたウエーハの割装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1には、本発明に従って個々のデバイスに分割されるウエーハとしての半導体ウエーハの斜視図が示されている。図1に示す半導体ウエーハ10はシリコンウエーハからなっており、表面10aには複数の分割予定ライン101が格子状に形成されている。そして、半導体ウエーハ10の表面10aには、複数の分割予定ライン101によって区画された複数の領域にデバイス102が形成されている。以下、この半導体ウエーハ10を個々のデバイスに分割する分割方法について説明する。
半導体ウエーハ10を個々のデバイスに分割するには、半導体ウエーハ10に対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線を複数の分割予定ライン101に沿って照射し、半導体ウエーハ10の内部に複数の分割予定ライン101に沿って変質層を形成することにより分割予定ラインに沿って強度を低下せしめる変質層形成工程を実施する。
この変質層形成工程は、図2に示すレーザー加工装置2を用いて実施する。図2に示すレーザー加工装置2は、被加工物を保持するチャックテーブル21と、該チャックテーブル21上に保持された被加工物にレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段22と、チャックテーブル21上に保持された被加工物を撮像する撮像手段23を具備している。チャックテーブル21は、被加工物を吸引保持するように構成されており、図示しない加工送り手段によって図2において矢印Xで示す方向に加工送りされるとともに、図示しない割り出し送り手段によって図2において矢印Yで示す方向に割り出し送りされるようになっている。
上記レーザー光線照射手段22は、実質上水平に配置された円筒形状のケーシング221の先端に装着された集光器222からパルスレーザー光線を照射する。また、上記レーザー光線照射手段22を構成するケーシング221の先端部に装着された撮像手段23は、図示の実施形態においては可視光線によって撮像する通常の撮像素子(CCD)の外に、被加工物に赤外線を照射する赤外線照明手段と、該赤外線照明手段によって照射された赤外線を捕らえる光学系と、該光学系によって捕らえられた赤外線に対応した電気信号を出力する撮像素子(赤外線CCD)等で構成されており、撮像した画像信号を後述する制御手段に送る。
上述したレーザー加工装置2を用いて実施する変質層形成工程について、図2および図3を参照して説明する。
この変質層形成工程は、先ず上述した図2に示すレーザー加工装置2のチャックテーブル21上に半導体ウエーハ10を裏面10bを上にして載置し、該チャックテーブル21上に半導体ウエーハ10を吸着保持する。半導体ウエーハ10を吸引保持したチャックテーブル21は、図示しない加工送り手段によって撮像手段23の直下に位置付けられる。
チャックテーブル21が撮像手段23の直下に位置付けられると、撮像手段23および図示しない制御手段によって半導体ウエーハ10のレーザー加工すべき加工領域を検出するアライメント作業を実行する。即ち、撮像手段23および図示しない制御手段は、半導体ウエーハ10の所定方向に形成されている分割予定ライン101と、該分割予定ライン101に沿ってレーザー光線を照射するレーザー光線照射手段22の集光器222との位置合わせを行うためのパターンマッチング等の画像処理を実行し、レーザー光線照射位置のアライメントを遂行する。また、半導体ウエーハ10に形成されている複数の分割予定ライン101と直交する方向に形成されている複数の分割予定ライン101に対しても、同様にレーザー光線照射位置のアライメントが遂行される。このとき、半導体ウエーハ10の複数の分割予定ライン101が形成されている表面10aは下側に位置しているが、撮像手段23が上述したように赤外線照明手段と赤外線を捕らえる光学系および赤外線に対応した電気信号を出力する撮像素子(赤外線CCD)等で構成された撮像手段を備えているので、裏面10bから透かして分割予定ライン101を撮像することができる。
以上のようにしてチャックテーブル21上に保持された半導体ウエーハ10に形成されている分割予定ライン101を検出し、レーザー光線照射位置のアライメントが行われたならば、図3の(a)で示すようにチャックテーブル21をレーザー光線照射手段22の集光器222が位置するレーザー光線照射領域に移動し、所定の分割予定ライン101の一端(図3の(a)において左端)をレーザー光線照射手段22の集光器222の直下に位置付ける。そして、集光器222から半導体ウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線を照射しつつチャックテーブル21を図3の(a)において矢印X1で示す方向に所定の加工送り速度で移動せしめる。そして、図3の(b)で示すようにレーザー光線照射手段22の集光器222の照射位置が分割予定ライン101の他端(図3の(b)において右端)の位置に達したら、パルスレーザー光線の照射を停止するとともにチャックテーブル21の移動を停止する。この変質層形成工程においては、パルスレーザー光線の集光点Pを半導体ウエーハ10の表面10a(下面)付近に合わせる。この結果、半導体ウエーハ10の表面10a(下面)に露出するとともに表面10aから内部に向けて変質層110が形成される。この変質層110は、溶融再固化層として形成される。
上記変質層形成工程における加工条件は、例えば次のように設定されている。
光源 :LD励起QスイッチNd:YVO4レーザー
波長 :1064nmのパルスレーザー
平均出力 :1W
集光スポット径 :φ1μm
繰り返し周波数 :70kHz
加工送り速度 :30mm/秒
上記変質層110は、表面10aおよび裏面10bに露出しないように内部だけに形成してもよく、また、上記集光点Pを段階的に変えて上述したレーザー加工工程を複数回実行することにより、複数の変質層110を形成してもよい。そして、上述した変質層形成工程を半導体ウエーハ2に形成された全ての分割予定ライン101に沿って実施する。
上述した変質層形成工程によって半導体ウエーハ10の内部に複数の分割予定ライン101に沿って変質層110を形成したならば、分割予定ラインに沿って変質層が形成されたウエーハの裏面を環状のフレームに装着された粘着テープに貼着するウエーハ支持工程を実施する。即ち、図4に示すように環状のフレームFの内側開口部を覆うように外周部が装着された粘着テープTの表面に半導体ウエーハ10の裏面10bを貼着する。なお、上記粘着テープTは、図示の実施形態においては厚さが100μmのポリ塩化ビニル(PVC)からなるシート基材の表面にアクリル樹脂系の粘着剤が厚さが5μm程度塗布されている。
なお、ウエーハ支持工程は上記変質層形成工程の前に実施してもよく、この場合、環状のフレームFに装着された粘着テープTの表面に半導体ウエーハ10の裏面10bを貼着した状態で上述した変質層形成工程を実施する。即ち、図5の(a)および(b)に示すように上記レーザー加工装置2のチャックテーブル21上に半導体ウエーハ10の粘着テープT側を載置する。そして、図示しない吸引手段を作動することにより、粘着テープTを介して半導体ウエーハ10をチャックテーブル21上に保持する。なお、図5の(a)および(b)においては粘着テープTが装着された環状のフレームFを省いて示しているが、環状のフレームFはチャックテーブル21に配設された適宜のフレーム保持手段に保持される。そして、上述したレーザー光線照射位置のアライメント作業が実施される。次に、図5の(a)に示すようにチャックテーブル21をレーザー光線照射手段22の集光器222が位置するレーザー光線照射領域に移動し、所定の分割予定ライン101の一端(図5の(a)において左端)をレーザー光線照射手段22の集光器222の直下に位置付ける。そして、集光器222から半導体ウエーハに対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線を照射しつつチャックテーブル21を図5の(a)において矢印X1で示す方向に所定の加工送り速度で移動せしめる。そして、図5の(b)で示すようにレーザー光線照射手段22の集光器222の照射位置が分割予定ライン101の他端(図5の(b)において右端)の位置に達したら、パルスレーザー光線の照射を停止するとともにチャックテーブル21の移動を停止する。この変質層形成工程においては、パルスレーザー光線の集光点Pを半導体ウエーハ10の裏面10b(下面)付近に合わせる。この結果、半導体ウエーハ10の裏面10b(下面)に露出するとともに裏面10bから内部に向けて変質層110が形成される。
上述した変質層形成工程およびウエーハ支持工程を実施したならば、粘着テープTに貼着された半導体ウエーハ10を水没させた状態で半導体ウエーハ10に外力を付与することにより、半導体ウエーハ10を変質層110が形成された分割予定ライン101に沿って破断するウエーハ破断工程を実施する。このウエーハ破断工程は、図6および図7に示すウエーハの分割装置を用いて実施する。図6には本発明に従って構成されたウエーハの分割装置の一実施形態の斜視図が示されており、図7には図6に示すウエーハの分割装置の断面図が示されている。
図6および図7に示すウエーハの分割装置4は、矩形状の基台40を具備している。この基台40の上面に上記環状のフレームFを保持するフレーム保持手段5が配設されている。このフレーム保持手段5は、基台40の上面に配設された筒状のフレーム保持部材51と、該筒状のフレーム保持部材51の上端部外周に配設された固定手段としての4個のクランプ52(図6には3個が示されている)とからなっている。筒状のフレーム保持部材51の上面は環状のフレームFを載置する載置面511を形成しており、この載置面511上に環状のフレームFが載置される。そして、載置面511上に載置された環状のフレームFは、クランプ52によって筒状のフレーム保持部材51に固定される。
上記フレーム保持手段5の筒状のフレーム保持部材51内には、上記環状のフレームFに装着された粘着テープTを拡張するテープ拡張手段6が配設されている。このテープ拡張手段6について図7を参照して説明する。図7に示すテープ拡張手段6は、環状のフレームFに装着された粘着テープTにおけるウエーハが貼着されているウエーハ貼着領域と環状のフレームFとの間に作用する拡張部材61と、拡張部材61を図7に示す基準位置から該基準位置より上方の拡張位置の間を移動せしめる進退手段62を具備している。拡張部材61は、環状部611と底部612とからなっている。このように形成された拡張部材61の環状部611は、環状のフレームFの内径より小さく環状のフレームFに装着された粘着テープTに貼着されている半導体ウエーハ10の外径より大きい内径および外径を有している。上記進退手段62は、図示の実施形態においてはエアシリンダ機構からなり、そのピストンロッド621の上端が上記拡張部材61の底部612に連結されている。なお、拡張部材61を構成する環状部611と底部612とによって形成された空間には水を満たしておくことが望ましい。
図6に戻って説明を続けると、図示の実施形態におけるウエーハの分割装置4は、上記フレーム保持手段5に保持された環状のフレームFに装着された粘着テープTに貼着されている半導体ウエーハ10を水没するためのウエーハ水没手段7を具備している。ウエーハ水没手段7は、環状の水溜め部材71を具備している。この環状の水溜め部材71は、上記フレーム保持手段5に保持される環状のフレームFの表面(上面)に載置可能な外形および内径を有しており、その下端面には図7に示すように環状のシール711が装着されている。環状の水溜め部材71には、図6に示すように内周面に開口する排水穴712が形成されている。この排水穴712に排水管72が接続されており、排水管72には開閉弁73が配設されている。このように構成された環状の水溜め部材71は、水溜め部材作動手段74によって支持されている。水溜め部材作動手段74は、一端が環状の水溜め部材71に取り付けた作動アーム741と、該作動アーム741の他端に取付けられた作動ロッド742と、該作動ロッド742を回動するとともに上下方向に移動する駆動手段743とからなっている。また、ウエーハ水没手段7は、上記フレーム保持手段5に保持される環状のフレームFの上面に載置された環状の水溜め部材71に水を供給するノズル750を備えた水供給手段75を具備している。このノズル750は支持部751と該支持部に接続されたノズル部752とからなっており、支持部751を回動することによりノズル部752が上記フレーム保持部材51の上方において揺動せしめられる構成されている。
図示の実施形態におけるウエーハの分割装置4は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
ウエーハの分割作業を開始するに際しては、テープ拡張手段6の拡張部材61は図8に示す基準位置に位置付けられている。即ち、拡張部材61の上端がフレーム保持手段5を構成する筒状のフレーム保持部材51の載置面511と略同一高さとなる基準位置に位置付けられる。このように拡張部材61が基準位置に位置付けられている状態で、上記図4に示すように半導体ウエーハ10を粘着テープTを介して支持した環状のフレームFを、図8に示すようにフレーム保持手段5を構成する筒状のフレーム保持部材51の載置面511上に載置し、クランプ52によって筒状のフレーム保持部材51に固定する(フレーム保持工程)。
上述したフレーム保持工程を実施したならば、ウエーハ水没手段7を構成する水溜め部材作動手段74を作動して、図9に示すように環状の水溜め部材71をフレーム保持手段5を構成する筒状のフレーム保持部材51の載置面511上に保持された環状のフレームFの上方に位置付けるとともに下降せしめ、環状の水溜め部材71の下端に装着された環状のシール711を環状のフレームFの表面(上面)に押圧する。そして、水供給手段75のノズル750を作動してノズル部752を環状の水溜め部材71の上方に位置付け、水供給手段75を作動しノズル750から環状の水溜め部材71と環状のフレームFおよび粘着テープTによって囲まれた領域に水70を供給する。従って、粘着テープTの表面に貼着された半導体ウエーハ10は、水没した状態となる(ウエーハ水没工程)。なお、水供給手段75によって供給される水には、炭酸ガス(CO2)を混入して導電性をもたせることが望ましい。水供給手段75によって供給される水に導電性を持たせることにより、水没したウエーハに静電気が帯電することを防止できる。なお、環状の水溜め部材71と環状のフレームFおよび粘着テープTによって囲まれた領域に水70を供給する際に、上述したように拡張部材61を構成する環状部611と底部612とによって形成された空間には水を満たしておくことにより、半導体ウエーハ10が貼着された粘着テープTが水70の重量によって下方にダレるのを防止することができる。
次に、エアシリンダ機構からなる進退手段62を作動して、拡張部材61を図10に示す拡張位置まで上昇せしめる。従って、拡張部材61の環状部611の上端が粘着テープTに当接して押し上げるので、粘着テープTが拡張せしめられる(テープ拡張工程)。この結果、粘着テープTに貼着されている半導体ウエーハ10は、放射状に引張力が作用する。このように半導体ウエーハ10に放射状に引張力が作用すると、分割予定ライン101に沿って形成された変質層110は強度が低下せしめられているので、半導体ウエーハ10は変質層110に沿って破断され個々のデバイス102に分割される。このように半導体ウエーハ10が変質層110に沿って破断される際に微細な破片が飛散するが、この破片は水中に浮遊してデバイス102の表面に付着することはない。なお、半導体ウエーハ10を水没させる水に導電性を持たせることにより半導体ウエーハ10に静電気が帯電することを防止できるので、半導体ウエーハ10が変質層110に沿って破断される際に飛散する微細な破片がデバイス102の表面に付着することをより効果的に防止できる。
上述したテープ拡張工程を実施することにより、半導体ウエーハ10を分割予定ライン101に沿って破断し個々のデバイス102に分割したならば、ウエーハ水没手段7の排水管72に配設された開閉弁73を開路して、環状の水溜め部材71と環状のフレームFおよび粘着テープTによって囲まれた領域に収容された水70を排出する。この結果、図11に示すように環状のフレームFに装着された粘着テープTの表面に貼着され個々に分割されたデバイス102は、露出せしめられる。次に、図11に示すようにピックアップ装置8を作動しピックアップコレット81によって所定位置に位置付けられたデバイス102をピックアップ(ピックアップ工程)し、図示しないトレーまたはダイボンディング工程に搬送する。
本発明によるウエーハの分割方法によって個々のデバイスに分割される半導体ウエーハの斜視図。 本発明によるウエーハの分割方法における変質層形成工程を実施するためのレーザー加工装置の要部斜視図。 本発明によるウエーハの分割方法における変質層形成行程の一実施形態を示す説明図。 本発明によるウエーハの分割方法におけるウエーハ支持工程を実施したウエーハの斜視図。 本発明によるウエーハの分割方法における変質層形成行程の他の実施形態を示す説明図。 本発明に従って構成されたウエーハの分割装置の一実施形態を示す斜視図。 図6に示すウエーハの分割装置の断面図。 本発明によるウエーハの分割方法のウエーハ破断工程におけるフレーム保持工程を示す説明図。 本発明によるウエーハの分割方法のウエーハ破断工程におけるウエーハ水没工程を示す説明図。 本発明によるウエーハの分割方法のウエーハ破断工程におけるテープ拡張工程を示す説明図。 本発明によるウエーハの分割方法におけるピックアップ工程を示す説明図。
符号の説明
2:レーザー加工装置
21:レーザー加工装置のチャックテーブル
22:レーザー光線照射手段
4:ウエーハの分割装置
40:基台
5:フレーム保持手段
51:筒状のフレーム保持部材
52:クランプ
6:テープ拡張手段
61:拡張部材
62:進退手段
7:ウエーハ水没手段
71:環状の水溜め部材
72:排水管
74:水溜め部材作動手段
75:水供給手段
10:半導体ウエーハ
F:環状のフレーム
T:粘着テープ

Claims (1)

  1. 表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成されているとともに複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが形成され内部に複数の分割予定ラインに沿って変質層が形成されたウエーハを、環状のフレームに装着された粘着テープに裏面が貼着された状態で複数の分割予定ラインに沿って破断するウエーハの分割装置において、
    該環状のフレームを保持するフレーム保持手段と、
    該フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された粘着テープを拡張するテープ拡張手段と、
    該フレーム保持手段に保持された環状のフレームに装着された該粘着テープに貼着されているウエーハを水没するためのウエーハ水没手段と、を具備し、
    該ウエーハ水没手段は、該フレーム保持手段に保持される該環状のフレームの表面に載置可能な外形および内径を有し下端面に環状のシールが装着された環状の水溜め部材を備え、該環状の水溜め部材の下端面に装着された該環状のシールを該フレーム保持手段に保持された該環状のフレームの表面に載置し、該環状の水溜め部材と該環状のフレームおよび該粘着テープによって囲まれた領域に水を供給することにより、該粘着テープの表面に貼着されたウエーハを水没せしめる、
    ことを特徴とするウエーハの分割装置。
JP2008032124A 2008-02-13 2008-02-13 ウエーハの分割装置 Active JP5307416B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008032124A JP5307416B2 (ja) 2008-02-13 2008-02-13 ウエーハの分割装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008032124A JP5307416B2 (ja) 2008-02-13 2008-02-13 ウエーハの分割装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009194097A JP2009194097A (ja) 2009-08-27
JP5307416B2 true JP5307416B2 (ja) 2013-10-02

Family

ID=41075875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008032124A Active JP5307416B2 (ja) 2008-02-13 2008-02-13 ウエーハの分割装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5307416B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011096764A (ja) * 2009-10-28 2011-05-12 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの分割方法
JP2018182079A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 株式会社ディスコ 分割方法
JP7068028B2 (ja) * 2018-05-09 2022-05-16 株式会社ディスコ ウェーハの分割方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH065700A (ja) * 1992-06-19 1994-01-14 Fujitsu Ltd ダイシング方法
JP2007149860A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Disco Abrasive Syst Ltd 基板の分割方法および分割装置
JP4986511B2 (ja) * 2006-06-16 2012-07-25 株式会社ディスコ 切削装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009194097A (ja) 2009-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5307384B2 (ja) ウエーハの分割方法
JP5307612B2 (ja) 光デバイスウエーハの加工方法
TWI618132B (zh) Optical component wafer processing method
JP2008294191A (ja) ウエーハの分割方法
JP5436917B2 (ja) レーザー加工装置
JP2007305687A (ja) ウエーハの分割方法および分割装置
JP6305853B2 (ja) ウエーハの加工方法
JP5643036B2 (ja) 光デバイスウエーハの加工方法
JP2008283025A (ja) ウエーハの分割方法
JP2007158108A (ja) ウエーハの分割方法
JP2005129607A (ja) ウエーハの分割方法
JP2007173475A (ja) ウエーハの分割方法
JP2009200140A (ja) 半導体チップの製造方法
KR20110106791A (ko) 광 디바이스 웨이퍼의 가공 방법
JP2008042110A (ja) ウエーハの分割方法
JP2005332841A (ja) ウエーハの分割方法
JP2011091293A (ja) ウエーハの加工方法
JP2006229021A (ja) ウエーハの分割方法
JP2006108273A (ja) ウエーハの分割方法および分割装置
JP2011003757A (ja) ウエーハの分割方法
JP4447392B2 (ja) ウエーハの分割方法および分割装置
JP2010021397A (ja) ウエーハのクリーニング方法
JP5307416B2 (ja) ウエーハの分割装置
JP2008311404A (ja) ウエーハの加工方法
JP2006245103A (ja) ウエーハの分割方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110124

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120905

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120911

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130604

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5307416

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250