JP5297736B2 - 高さ測定方法、荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 - Google Patents
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Description
Sensitive Detector)が用いられる。PSDとは、PIN型フォトダイオードと同様の構造であって、光起電力効果により光電流を測定して光の重心位置計測を実現するものである。PSDへスポット光が入射すると、入射位置には光エネルギーに比例した電荷が発生し、均一な抵抗値を持つ抵抗層(P層)を通り、PSD上の2端面に設置された電極へと流れる。このときの電流量は、電極までの距離に反比例して分割されたものとなる。一方の端面に設置された電極からの出力電流をI1とし、他方の端面に設置された電極からの出力電流をI2とすれば、スポット光のPSD中心からの重心位置Xは、下記式で求めることができる。但し、受光面の長さをLとする。
X=L/2×(I1−I2)/(I1+I2)
ここで、PSDの受光強度を示す全光電流は、I1とI2の和で得ることができる。
Z=α×(V1−V2)/(V1+V2)・・・(1)
しかし、オフセット電圧を考慮すると、実際に測定される高さZ’は、(2)式で表される。但し、(2)式において、V10、V20は、それぞれオフセット電圧である。
Z’=α×{(V1+V10)−(V2+V20)}/{(V1+V10)+(V2+V20)}
・・・(2)
Sensitive Detector)で受光することにより試料の高さを測定する高さ測定方法において、
PSDを含むアナログ信号処理回路上でのオフセット値を求める工程と、
PSDの出力値からオフセット値を差し引いた値を用いて試料の高さを求める工程とを有することを特徴とするものである。
本発明の第1の態様による高さ測定方法により得られた試料の高さを用いて、試料を所望の位置に調整する調整工程を有することを特徴とするものである。
この調整工程は、荷電粒子ビームによる描画前に行うことができる。調整工程を行った後は、測定により得られた高さに基づいて、荷電流粒子ビーム描画装置の光学系を調整する。
Sensitive Detector)とを備えた荷電粒子ビーム描画装置であって、
PSDを含むアナログ信号処理回路上でのオフセット値を記憶する手段と、
PSDの出力値からオフセット値を差し引いた値を用いて試料の高さを求める手段とを有することを特徴とするものである。
{(V1−V2)+(V10−V20)}/{(V1+V2)+(V10+V20)}=a
で表せる。このとき、オフセット電圧の和(V10+V20)を光量に対し十分に小さいとして省略すれば、
V1−V2=a(V1+V2)+(V20−V10)
である。よって、(V20−V10)=bとすれば、(V1−V2)は下記式で示すことができる。
V1−V2=a(V1+V2)+b
したがって、光量(V1+V2)を変化させた測定を最低2点で行うことで、係数aおよびbが求まる。
V10−V20=a(V10+V20)+b
この場合、オフセット電圧の和を省略したことによる誤差が生ずるが、得られたオフセット値を反復演算して加えることで、誤差を最小にしてV10、V20が得られる。
a=−{(V20−V10+b)/(V20+V10)}
の関係を用いることにより、オフセット値V10、V20が得られる。得られたオフセット値V10、V20は、オフセット値メモリ部80に記憶される。この測定を反復して行い、得られるオフセット値が許容値内または、変化しなくなったときの値を最終登録値とする。
Claims (5)
- 試料に光を斜めに入射し、前記試料の表面で反射した反射光をPSD(Position Sensitive Detector)で受光することにより前記試料の高さを測定するために、前記PSDを含むアナログ信号処理回路上でのオフセット値を求める工程と、
前記PSDの出力値から前記オフセット値を差し引いた値を用いて前記試料の高さを求める工程とを有し、
前記オフセット値を求める工程は、前記試料の表面の高さと前記光の光量を変動させ、前記PSDの出力を測定することを特徴とする高さ測定方法。 - 荷電粒子ビームを用いてステージ上に載置された試料の表面に所定のパターンを描画するために、請求項1に記載の高さ測定方法により得られた前記試料の高さを用いて、前記試料を所望の位置に調整する調整工程を有することを特徴とする荷電粒子ビーム描画方法。
- 前記調整工程は、前記荷電粒子ビームによる描画前に行うことを特徴とする請求項2に
記載の荷電粒子ビーム描画方法。 - 光を出射する光源と、前記光をステージ上に載置される試料の表面に収束させる投光レンズと、前記試料の表面で反射した反射光が入射する受光レンズと、前記受光レンズで収束された反射光を受光して前記試料の表面の位置を検出するPSD(Position Sensitive Detector)とを備え、
前記PSDを含むアナログ信号処理回路上でのオフセット値を記憶する手段と、
前記PSDの出力値から前記オフセット値を差し引いた値を用いて前記試料の高さを求める手段とを有し、
前記オフセット値を記憶する手段は、前記試料の表面の高さと前記光の光量を変動させ、前記PSDの出力を測定することを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記試料の高さを用いて、前記試料を所望の位置に調整する手段をさらに有することを特徴とする請求項4に記載の荷電粒子ビーム描画装置。
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