JP5247980B2 - 1以上のledの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置 - Google Patents

1以上のledの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5247980B2
JP5247980B2 JP2005214541A JP2005214541A JP5247980B2 JP 5247980 B2 JP5247980 B2 JP 5247980B2 JP 2005214541 A JP2005214541 A JP 2005214541A JP 2005214541 A JP2005214541 A JP 2005214541A JP 5247980 B2 JP5247980 B2 JP 5247980B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
led
current
voltage
value
operating current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005214541A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006041528A (ja
Inventor
ケン・エイ・ニシムラ
Original Assignee
アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド filed Critical アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド
Publication of JP2006041528A publication Critical patent/JP2006041528A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5247980B2 publication Critical patent/JP5247980B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/10Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/20Controlling the colour of the light
    • H05B45/24Controlling the colour of the light using electrical feedback from LEDs or from LED modules

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Description

本発明は、1以上のLEDの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置に関するものである。
温度、老化およびその他の要素は、発光ダイオード(LED)により放射される光の強度の変動をもたらす可能性がある。光源が複数のLEDから形成される場合、光源における個々のLEDの強度が変動すると、光源の色点が変動する可能性がある。光源の色点の変動は、異なる波長の光を生成するLED(たとえば、赤色、緑色および青色LED)を使用して、予め決められたスペクトルバランスの光源(たとえば、白色光源)を生成する場合、特に顕著である。特許文献1は、1)1個または複数のフォトセンサを使用してLED光源のスペクトル成分を測定し、2)測定したスペクトル成分に応じて、光源の1個または複数のLEDの動作電流を変更して、それにより光源の色点を維持する方法を開示している。
米国特許第6,448,550号、Nishimuraに付与された「LED光源のスペクトル成分を測定するための方法および装置、並びにその制御」(Mehtod and Apparatus for Measuring Spectral Content of LED Light Source and Control Thereof)
LEDが放射する光の強度の変動は、LEDの接合部の温度変化、または老化作用(aging effect)などの要素により促進されることがある。従来、こうした変動は、フォトセンサを使用してLED光を感知し、感知された光に応じてLEDの動作電流を調整することにより明らかに(account)されてきた。したがって、感知された光は、LEDの動作電流、ひいてはLEDの光強度を制御するための「フィードバック」を提供する。こうしたシステムは効果的だが、LED光を感知するために必要なフォトセンサをインプリメントすることが非常に高く付き、非常に複雑であるか、またはインプリメントすることが実行不可能である場合がある。
一実施態様では、LEDの動作電流を変更し、その動作電流の1つ以上の値において、該LEDの対応する電圧を測定する。次に、測定された電圧をフィードフォワード変数として使用して、LEDの光強度を設定する。
もう1つの実施態様では、LEDの動作電流が予め決められた方法で公称動作値付近に変更される。動作電流の2つ以上の値において、LEDの対応する電圧を測定する。次に、測定された電圧をフィードフォワード変数として使用して、LEDの光強度を設定する。
さらに、もう1つの実施態様では、LEDの測定電圧がコンプライアンス電圧に達することを条件として、逆電流がLEDに印加される。その逆電流では、LEDの逆電圧を測定する。LEDの逆電圧またはコンプライアンス電圧の小さい方の大きさをフィードフォワード変数として使用して、LEDの光強度を設定する。
もう1つの実施態様では、装置は、動作時に混合光を生成する色が異なる複数のLEDを備える。少なくとも1個のLEDは、電流センサ、電圧センサおよび制御回路と結合する。電流センサは、LEDに供給する動作電流を測定する。電圧センサは、LEDの電圧を測定する。制御回路は、LEDおよびセンサに結合し、電流センサおよび電圧センサから取得された指示値に応じて、LEDの動作電流を設定するように動作可能である。
その他の実施態様についても開示する。
本発明の具体的かつ現在好ましい実施態様を図面に示す。
図1〜図3は、LEDの光強度を設定するための様々な「フィードフォワード」法を示し、図4および図5は、これらの方法を使用して、LED光源(たとえば、ディスプレイ400)の色点を設定する方法を示す。
公知のとおり、LEDが感知可能な電流の伝導を開始する電圧(つまり、ターンオン電圧)、およびLEDの動的インピーダンスは、LEDの接合部の温度および老化作用の関数である。したがって、LEDのターンオン電圧および/または動的インピーダンスは、LEDが放射する光の強度をLEDの動作電流の関数として厳密に予測するために使用される。次に、こうした予測を使用して、LEDの光強度を設定する。この方法では、LED光の出力は、「フィードフォワード」様式で調整され、フォトセンサの必要性はなくなる(しかし、LED光出力は、フィードバック法およびフィードフォワード方法の両方の組合せにより確実に調整することができる)。複数のLEDから成るLED光源(異なる波長の光を生成するLEDから成る光源を含む)の場合、1個以上の光源のLEDのフィードフォワード調整は、さらに光源の色点の設定に使用することができる。
図1は、LEDの光強度を設定するための第1の例示的なフィードフォワード方法100を示す。方法100は、LEDの動作電流を変更するステップ102と、動作電流の1つ以上の値においてLEDの対応する電圧(たとえば、LEDを横断する(across)電圧)を測定するステップ104とを含む。次に、測定電圧は、フィードフォワード変数として使用され106、LEDの光強度を設定する(たとえば、LEDの動作電流を調整することにより)。
LEDの動作電流は、様々な時点で、多くの方法で変更することができる。LEDの動作電流が変更される明白な時点は、最初のターンオン時である(たとえば、LEDの電流がゼロから公称動作値にランプ(ramp)する時)。LEDがラスタ走査ディスプレイ(つまり、LEDが周期的にリフレッシュして新しい画像を生成するディスプレイ)に組み込まれる場合、LEDの動作電流は、各々のラスタ走査の開始時に変化させることができる(たとえば、ランプする)。LEDの動作電流は、LEDの通常の動作時にも周期的に変化することが可能である。しかし、場合によっては、これは、LEDの感知可能な点滅、またはLEDが一部を構成するディスプレイにおけるフリッカーを生じる原因にもなる。
測定電圧は、様々に選択することができる。第1の電圧測定値は、ゼロ電流、またはLEDの伝導の開始を表す動作電流値(つまり、LEDの「ターンオン電圧」に対応する電流)で取得される。第2および第3の電圧測定値は、LEDの公称動作電流の第1および第2の予め決められた部分に対応する動作電流値で取得される。こうした第2および第3の電圧測定値は、LEDの動的インピーダンスを概算するために使用される(たとえば、ΔV/Δ|=R、式中、ΔVは、LEDの2つの測定電圧の差であり、Δ|は、測定電圧に対応する電流の差であり、RはLEDの動的インピーダンスである)。第2および第3の電圧を使用して、LEDの動的インピーダンスを概算すると仮定すると、好ましくは、電圧測定値は、LEDの公称動作電流またはその付近にある動作電流値で取得される。したがって、一実施態様では、第2の電圧測定値は、LEDの公称動作電流の大多数を表す動作電流値で取得され、第3の電圧測定値は、LEDの公称動作電流で取得される。好ましくは、第2電圧は、LEDの公称動作電流の20%以内にある動作電流で測定される。さらに好ましくは、第2電圧は、LEDの公称動作電流の2%以内にある動作電流で測定される。
図2は、LEDの光強度を設定するための第2の例示的なフィードフォワード方法を示す。方法200は、予め決められた方法で、LEDの公称動作値付近においてLEDの動作電流を変更するステップ202を含む。前記動作電流の2つ以上の値では、LEDの対応する電圧が測定される204。次に、測定電圧は、フィードフォワード変数として使用されて206、LEDの光強度を設定する。
LEDの動作電流を変更する様々な方法がある。1つの方法は、LEDの意図された動作電流に追加されるパイロットトーンによる方法である。
一実施態様では、パイロットトーンは、既知の周波数のシヌソイドである。この実施態様では、LEDの電圧はシヌソイドの2つ以上の異なる位相で測定され、シヌソイドの周波数は公知であるから、LEDの電圧の発生は公知である。別法によると、LEDの電圧は連続的に監視され、結果として得られた測定値がフィルタされて、周波数がパイロットトーンの周波数である成分が抽出される。次に、動的インピーダンスは、抽出された電圧成分の振幅を、パイロットトーンにより与えられる電流変動の振幅で除算して計算することができる。パイロットトーンにより与えられる電流変動の振幅は、パイロットトーンシステムのノイズ排除性が比較的高いため、非常に小さい。LEDの電圧を監視するために使用できる回路はロックイン増幅器を備える。なぜなら、ロックイン増幅器は、刺激の位相および周波数が既知である場合(上記のシステムの場合と同様)、刺激に対するシステムの反応を正確に検出できるためである。
もう1つの実施態様では、LEDの動作電流を変更するために使用されるパイロットトーンは、擬似ランダムビットシーケンス(PRBS)により変調される予め決められた信号である。シヌソイドと同様、PRBS変調信号はLEDの意図された動作電流に追加される。この実施態様の利点は、PRBS信号の明らかにランダムな性質が、LEDにより生成される光から「一定のトーン」特性を除去するという点である。さらに、PRBSシーケンスの長さを増加すると、さらにノイズ排除性を与えることは公知である。次に、動的インピーダンスの測定は、LEDの測定電圧をPRBSシーケンスと関連付けて、予め決められた信号から生じる電圧測定値の成分を回復して行なうことができる。次に、動的インピーダンスの計算は、回復した電圧成分の振幅を、PRBS変調信号を追加して生じた動作電流の振幅で除算することを含む。PRBS変調信号の性質は比較的拘束されないが、好ましい実施態様は、第1の値と第2の値との間で振動する単純な方形波を使用するであろう。また、PRBSは、比較的短期間で平均からゼロに拘束され、LEDの平均光出力に対するPRBSの影響は最小限である。
好ましくは、LEDの動作電流の変更は、LED、またはLEDが一部を構成する光源のユーザが認識可能なフリッカー点を超える周波数で行なわれる。また、やはりユーザが認識可能な光のフリッカーを防止するため、動作電流の変更は振幅が小さいことが好ましい(たとえば、LEDの公称動作電流の2%以下など)。
図3は、LEDの光強度を設定するための第3の例示的なフィードフォワード方法を示す。LEDのp−n接合部のこれから起こる老化や損失を被ることにより逆漏れ電流を増加させ、その結果、LED光出力に影響すると仮定すると、方法300は、LEDが逆バイアスされた場合のLEDの漏れ電流を概算し、この概算に応じてLEDの光強度を設定する。この方法は、LEDの測定電圧がコンプライアンス限界Vcに達することを条件(subject)として、逆電流をLEDに印加するステップ302を含む。つまり、測定電圧がコンプライアンス限界に達する場合、逆電流全体の振幅がLEDに印加されるわけではない。この方法では、LEDの漏れ電流が印加逆電流未満である場合、コンプライアンス限界は、LEDを過剰電圧から保護する機能を果たす。一例として、LEDによっては、逆電流は50μA(マイクロアンペア)台であり、コンプライアンス限界は15V(ボルト)台である。逆電流では、LEDの逆電圧Vrが測定される304。次に、ステップ306では、LEDの逆電圧またはコンプライアンス電圧の振幅の小さい方(つまり、MIN[Vr,Vc])をフィードフォワード変数として使用して、LEDの光強度が設定される。
図4および図5は、LEDの光強度を設定するための上記の様々な方法100、200、300(すなわち、いくつかまたは全部)をインプリメントする例示的な装置400、500を示す。LEDがLED光源(たとえば、ディスプレイ)の一部である場合、光源の色点は、1個以上の光源における個々のLEDの光強度を設定することにより設定することができる。
一例として、図4および図5に示す装置は、異なる波長(つまり、赤色、緑色および青色などの異なる色)の光を生成する複数のLED402〜418を備える。動作時、LEDにより生成される光は混合して、予め決められた(および、おそらく動的な)スペクトル成分の光を形成する(たとえば、液晶ディスプレイ(LCD)をバックライトで照明する白色光)。LEDの少なくともいくつか(好ましくはLEDの全部)は、電流センサ502、電圧センサ504および制御回路506に結合する。LEDの電流センサ502は、LED402に供給される動作電流を測定し(たとえば、直列抵抗器Rを横断する(across)電圧を感知することにより)、LEDの電圧センサ504は、LED402の電圧を測定する。LEDの制御回路506は、LED402およびそのセンサ502、504の両方に結合され、その結果、LEDの電流および電圧センサ502、504から取得した指示値に応じて、LED402の動作電流(I)を設定する。
方法100または300をインプリメントする場合、少なくとも1個のLED402の制御回路506は、LEDの動作電流または逆電流(I)を生成するためのランプ電流源を備え、ランプ電流源が作動すると、制御回路506は、様々にLEDの電圧センサ504から指示値を取得し、電流センサの指示値は、ターンオン電圧、部分電圧、動作電圧またはLED402の逆電圧を表す。
方法200をインプリメントする場合、少なくとも1個のLED402の制御回路506は、既知の周波数のシヌソイド(またはPRBS)をLEDの動作電流に追加する。次に、LED402の制御回路506は、シヌソイドの様々な振幅で(または異なるPRBS点で)LEDのセンサ502、504から指示値を取得する。一実施態様では、LEDの制御回路506は、ロックイン増幅器を備える。このロックイン増幅器は、1)シヌソイド(またはPRBS)、および2)電圧センサ504の出力を受信し、これに応じて、LED402の所望の電圧指示値を出力する。ロックイン増幅器は、あるレベルのノイズ排除性を測定電圧に与えるという点で有用である。
少なくとも1個のLED402の制御回路506は、動作電流ルックアップテーブルも備え、このテーブルは、LEDの電流および電圧センサ502、504から取得した対応指示値により索引付けされる。このテーブル内に記憶される値は、1)LED402により生成される光の波長の強度、および2)LED402のターンオン電圧または動的インピーダンスとの既知の関係または取得された関係から得られる。
本発明の具体的かつ現在好ましい実施態様について、本明細書で詳細に説明してきたが、創意に富むコンセプトは、さもなければ様々な方法で具現して使用することができ、添付の請求の範囲は、先行技術により制限されない限り、こうした変形を含むと解釈するように意図されていると考えるべきである。
LEDの光強度を設定する第1の例示的なフィードフォワード方法を示す。 LEDの光強度を設定する第2の例示的なフィードフォワード方法を示す。 LEDの光強度を測定する第3の例示的なフィードフォワード方法を示す。 LEDの光強度またはLED光源の色点を設定する様々な方法をインプリメントする例示的な装置を示す。 LEDの光強度またはLED光源の色点を設定する様々な方法をインプリメントする例示的な装置を示す。
符号の説明
402〜418 LED
502 電流センサ
504 電圧センサ
506 制御回路

Claims (4)

  1. LEDの動作電流に振幅が時間変化する所定の信号を加えて、該LEDに流れる第1の電流を設定するステップと、
    前記第1の電流における前記LEDの電圧値(該電圧値を第1の電圧値という)を測定するステップと、
    前記LEDの動作電流に前記所定の信号を加えて、該LEDに流れる第2の電流を設定するステップであって、該第2の電流の電流値は前記第1の電流の電流値とは異なる、ステップと、
    前記第2の電流における前記LEDの電圧値(該電圧値を第2の電圧値という)を測定するステップと、
    前記第1の電流の値、前記第2の電流の値、前記第1の電圧値、及び前記第2の電圧値から前記LEDの動的インピーダンスを得て、フィードフォワード法を使用して、前記LEDの所望の動作電流値を設定し、前記LEDの所望の光強度を設定するステップと、
    を含むことを特徴とする方法。
  2. 前記LEDの前記第1の電流の値が、公称動作電流値の80%以上100未満の値であり、
    前記LEDの前記第2の電流の値が、前記公称動作電流値である
    ことを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 前記所定の信号が、パイロットトーンであることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 前記所定の信号が、擬似ランダムビットシーケンスにより変調される予め決められた信号であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
JP2005214541A 2004-07-23 2005-07-25 1以上のledの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置 Expired - Fee Related JP5247980B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/897,892 US7332699B2 (en) 2004-07-23 2004-07-23 Feed-forward methods and apparatus for setting the light intensities of one or more LEDs
US10/897892 2004-07-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006041528A JP2006041528A (ja) 2006-02-09
JP5247980B2 true JP5247980B2 (ja) 2013-07-24

Family

ID=35656135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005214541A Expired - Fee Related JP5247980B2 (ja) 2004-07-23 2005-07-25 1以上のledの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7332699B2 (ja)
JP (1) JP5247980B2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080238340A1 (en) * 2007-03-26 2008-10-02 Shun Kei Mars Leung Method and apparatus for setting operating current of light emitting semiconductor element
US7504783B2 (en) * 2007-03-23 2009-03-17 National Semiconductor Corporation Circuit for driving and monitoring an LED
EP2132581B1 (en) 2007-03-30 2011-12-21 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Method of automatically determining and adjusting a status and/or condition of a LED/OLED device and diagnostic device
DE102007029123A1 (de) * 2007-06-25 2009-01-02 Tridonicatco Schweiz Ag System und Verfahren zur Erfassung der Kennlinien für eine Leuchtdioden-Anordnung
JP5097628B2 (ja) * 2008-07-03 2012-12-12 パナソニック株式会社 半導体光源駆動装置および半導体光源駆動方法
CN101635131B (zh) * 2008-07-25 2011-12-21 群康科技(深圳)有限公司 背光驱动电路及光源驱动单元
TW201012302A (en) * 2008-09-12 2010-03-16 Univ Nat Central Control method for maintaining the luminous intensity of a light-emitting diode light source
JP5105203B2 (ja) * 2009-04-27 2012-12-26 ブラザー工業株式会社 画像形成装置
US20140354169A1 (en) * 2013-05-31 2014-12-04 Kevin McDermott Light emitting diode lighting device
JP6534307B2 (ja) * 2015-06-30 2019-06-26 新日本無線株式会社 Led電源装置
US20190072820A1 (en) * 2016-02-29 2019-03-07 Quarkstar Llc Backlight for signage display
EP3254636B1 (en) * 2016-06-07 2019-07-24 Braun GmbH Skin treatment device
CN107179514B (zh) * 2017-04-24 2019-08-20 歌尔股份有限公司 灯具闪烁测试方法及系统
US11349277B2 (en) * 2018-11-14 2022-05-31 Lumentum Operations Llc In-situ bias voltage measurement of VCSELs
US11359392B2 (en) 2019-08-05 2022-06-14 Ccs Contractor Equipment & Supply, Llc Form bracket for concrete panel form

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62218155A (ja) * 1986-03-19 1987-09-25 Matsushita Graphic Commun Syst Inc Ledアレイヘツド
US5614715A (en) * 1995-10-11 1997-03-25 Hughes Electronics Thermal imaging device with scanned light emitting diodes (LEDs) and second linear array of plural symbology LEDs
JP3767877B2 (ja) * 1997-09-29 2006-04-19 三菱化学株式会社 アクティブマトリックス発光ダイオード画素構造およびその方法
US6359918B1 (en) * 1998-06-30 2002-03-19 Honeywell International Inc. Light source control device
US6448550B1 (en) 2000-04-27 2002-09-10 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for measuring spectral content of LED light source and control thereof
US6596977B2 (en) * 2001-10-05 2003-07-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Average light sensing for PWM control of RGB LED based white light luminaries
JP2003188415A (ja) * 2001-12-18 2003-07-04 Asahi Matsushita Electric Works Ltd Led点灯装置
JP3450001B1 (ja) * 2002-11-21 2003-09-22 株式会社テクノローグ Ledの劣化検査方法
US7057359B2 (en) * 2003-10-28 2006-06-06 Au Optronics Corporation Method and apparatus for controlling driving current of illumination source in a display system
CA2559718C (en) * 2004-03-15 2012-05-22 Color Kinetics Incorporated Power control methods and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
US20060016959A1 (en) 2006-01-26
JP2006041528A (ja) 2006-02-09
US7332699B2 (en) 2008-02-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5247980B2 (ja) 1以上のledの光強度を設定するためのフィードフォワード方法および装置
EP1635617A2 (en) Methods and apparatus for regulating the drive currents of a plurality of light emitters
JP4317751B2 (ja) 発光ダイオードを主体とするアレイのパルス幅変調制御
US8358075B2 (en) Device and a method for controlling light emission
KR101126094B1 (ko) 공간적으로 변화 가능한 백라이트를 갖는 디스플레이들의 캘리브레이션
US8534914B2 (en) System and method for estimating the junction temperature of a light emitting diode
US8427079B2 (en) Method and device for driving a multicolor light source
US7319298B2 (en) Digitally controlled luminaire system
KR101203249B1 (ko) 레이저 다이오드 광원의 스펙트럼 콘텐츠 유지 장치
US20080238340A1 (en) Method and apparatus for setting operating current of light emitting semiconductor element
KR20070029867A (ko) 온도 보상 기능을 갖는 led 구동 제어 회로
KR101123709B1 (ko) 디스플레이장치 및 그 제어방법
WO2010150119A2 (en) System and method for controlling led cluster
KR20080063372A (ko) 조명 디바이스의 노화 프로세스를 보상하는 방법 및 그조명 디바이스
US7081720B2 (en) Driver circuit and method for driving electroluminescent lamp to emit light at brightness set level
WO2010049882A2 (en) Lighting unit with temperature protection
US9723669B2 (en) LED lighting system and controller, a method of controlling a plurality of LEDs, and a computer program therefor
JP2000187215A (ja) バックライトの寿命検出方法およびこれを利用する寿命検出装置
JP2007080572A (ja) 液晶バックライト用調光回路
JP2008506222A (ja) ディスプレイ装置のバックライト発光体駆動方法及び回路、ディスプレイ装置
JP5509955B2 (ja) 半導体装置及びそれを用いた電子機器
JPS59214897A (ja) エレクトロルミネツセンス表示器駆動装置
JP5331415B2 (ja) ゆらぎ信号生成装置、駆動回路、及び照明装置
EP2473011A1 (en) Method and apparatus for dimming a light source
JPS60149929A (ja) アバランシエ.ダイオードの温度補償装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20070326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070405

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070405

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080520

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110325

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110620

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120306

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120619

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130319

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130409

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130410

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160419

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees