JPS60149929A - アバランシエ．ダイオードの温度補償装置 - Google Patents
アバランシエ．ダイオードの温度補償装置Info
- Publication number
- JPS60149929A JPS60149929A JP24916084A JP24916084A JPS60149929A JP S60149929 A JPS60149929 A JP S60149929A JP 24916084 A JP24916084 A JP 24916084A JP 24916084 A JP24916084 A JP 24916084A JP S60149929 A JPS60149929 A JP S60149929A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- avalanche diode
- output
- circuit
- bias
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光波距離計等に用いられるアバランシェ・ダ
イオードの温度補償装置に関する。
イオードの温度補償装置に関する。
光検知素子としてのアバランシェ、ダイオードは温度に
よりその増倍率が変化する。このためアバランシェ・ダ
イオードを光波距離計等に組込む場合、バイアスを制御
して増倍率を一定′に保つことが必要となる。
よりその増倍率が変化する。このためアバランシェ・ダ
イオードを光波距離計等に組込む場合、バイアスを制御
して増倍率を一定′に保つことが必要となる。
第１図は従来のアバランシェ・ダイオードの温度補償方
式を示すものである。図において、ＰＤがアバランシェ
・ダイオード、Ｒが負荷抵抗であり、これに眠圧制御回
路Ｉから所定のバイアス電圧を印加して、測定信号光が
入ったときの出力を出力増幅器２、測定信号用フィルタ
３を介して取出すようになっている。４は参照信号源で
、参照用発光ダイオードＩＪＤを測定信号と異なる周波
数の参照信号で変調し７、得られる参照信号光をアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤに照射する。そして、この参照
信号光による出力成分を参照信号用フィルタ５により取
出し、検波器６で直流にｆ−換し、差動増幅器７により
基準電圧源８の出力と比−較して、この差動増幅器７の
出力により・電圧制御回路ｌの出方電圧、つまりアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤへのバイアス電圧を制御するよ
うにしている。
式を示すものである。図において、ＰＤがアバランシェ
・ダイオード、Ｒが負荷抵抗であり、これに眠圧制御回
路Ｉから所定のバイアス電圧を印加して、測定信号光が
入ったときの出力を出力増幅器２、測定信号用フィルタ
３を介して取出すようになっている。４は参照信号源で
、参照用発光ダイオードＩＪＤを測定信号と異なる周波
数の参照信号で変調し７、得られる参照信号光をアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤに照射する。そして、この参照
信号光による出力成分を参照信号用フィルタ５により取
出し、検波器６で直流にｆ−換し、差動増幅器７により
基準電圧源８の出力と比−較して、この差動増幅器７の
出力により・電圧制御回路ｌの出方電圧、つまりアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤへのバイアス電圧を制御するよ
うにしている。
いま、参照信号を受信する系を負帰還系に構成すれは、
検波器６の出力は基準電圧源８で設定された基準電圧と
等しくなるように動作する。
検波器６の出力は基準電圧源８で設定された基準電圧と
等しくなるように動作する。
これにより、アバランシェ・ダイオードＰＤの増倍率が
周囲１局度の変化により変化したとしても、上記負帰償
糸の働きにより屑に一定の増倍率となるようにアバラン
シェ・ダイオードＰＤのバイアス電圧が制御されること
になる。
周囲１局度の変化により変化したとしても、上記負帰償
糸の働きにより屑に一定の増倍率となるようにアバラン
シェ・ダイオードＰＤのバイアス電圧が制御されること
になる。
しかしながら、第１図に示した従来の方式には次のよう
な欠点がある。第１に、参擲用発光ダイオードＬＥＤの
出方Ｃども温度特性がチるため、アバランシェ・ダイオ
ードＰＤＯ）温度補償を正確に行うにはこの発光ダイオ
ードＬＥＤの温度補償も行わなければならない。第２に
、測定を行っている実時間にアバランシェ・ダイオード
ＰＤに撃照信号元を照射するため、測定信号′のＳ／Ｎ
が悪くなる。即ち、アバランシェ・ダイオードＰＤは入
射光が大きけわばそれだけ雑廿が大きくなる性質を持つ
。一方、通常の光波距離計等では測定信号は微小なもの
であるが、第１図の構成で負帰還系の利得は安定性の点
から余り大きくできないから、演１１定信号元に比べて
大きな参が信号光を照射しなけｎばならず、これが測定
信号の雑音を大きいものにしてしすう。
な欠点がある。第１に、参擲用発光ダイオードＬＥＤの
出方Ｃども温度特性がチるため、アバランシェ・ダイオ
ードＰＤＯ）温度補償を正確に行うにはこの発光ダイオ
ードＬＥＤの温度補償も行わなければならない。第２に
、測定を行っている実時間にアバランシェ・ダイオード
ＰＤに撃照信号元を照射するため、測定信号′のＳ／Ｎ
が悪くなる。即ち、アバランシェ・ダイオードＰＤは入
射光が大きけわばそれだけ雑廿が大きくなる性質を持つ
。一方、通常の光波距離計等では測定信号は微小なもの
であるが、第１図の構成で負帰還系の利得は安定性の点
から余り大きくできないから、演１１定信号元に比べて
大きな参が信号光を照射しなけｎばならず、これが測定
信号の雑音を大きいものにしてしすう。
この発明は上記の点に鑑み、参照信号光を用いることな
く、従って測定信号のＳ／Ｎ劣化をもたらすことなく、
アバランシェ・ダイオ−トノ増倍率を温度変動に拘りな
く一定に保つようにシタアバランシェ・ダイオードの温
度補償装置を提供するものである。
く、従って測定信号のＳ／Ｎ劣化をもたらすことなく、
アバランシェ・ダイオ−トノ増倍率を温度変動に拘りな
く一定に保つようにシタアバランシェ・ダイオードの温
度補償装置を提供するものである。
この発明によるアバランシェ・ダイオードの温度補償装
置は、アバランシェ−ダイオ−トノバイアス電圧調整期
間及び適正バイアス印加期間を示すタイミング信号を有
し、上記バイアス電圧調整期間を示すタイミング１６号
に従いアバランシェ・ダイオードの降伏時に印〃口され
たバイアス電圧に対応する電圧をサンプリングし、適正
バイアス印７ＪＯ期間を示すタイミング信号に従いサン
プリングした電圧を保持する保持部と、上記バイアス電
圧期間を示すタイミング信号ζこ従いアバランシェ・ダ
イオードヘアバランシエ・ダイオードを降伏状態にする
バイアス電圧を印加し、また上記適正バイアス印加期間
を示すタイミング信号に従い上記保持部が保持した電圧
に基づき、降伏電圧より所定電圧たけ少ないバイアス穎
：圧を印加する′電圧制御部と、から成ることを特徴と
する。
置は、アバランシェ−ダイオ−トノバイアス電圧調整期
間及び適正バイアス印加期間を示すタイミング信号を有
し、上記バイアス電圧調整期間を示すタイミング１６号
に従いアバランシェ・ダイオードの降伏時に印〃口され
たバイアス電圧に対応する電圧をサンプリングし、適正
バイアス印７ＪＯ期間を示すタイミング信号に従いサン
プリングした電圧を保持する保持部と、上記バイアス電
圧期間を示すタイミング信号ζこ従いアバランシェ・ダ
イオードヘアバランシエ・ダイオードを降伏状態にする
バイアス電圧を印加し、また上記適正バイアス印加期間
を示すタイミング信号に従い上記保持部が保持した電圧
に基づき、降伏電圧より所定電圧たけ少ないバイアス穎
：圧を印加する′電圧制御部と、から成ることを特徴と
する。
この発明によれは、周囲温度の変動によるアバランシェ
・り゛イオードの降伏電圧の変動を監視して、格にその
時の降伏電圧より所定値だけ低いバイアス電圧を与える
ことで、アバランシェ・ダイオードの増倍駆を一定に保
つことができる。なお上述での所定値とは、降伏電圧の
変動に関係しない一定値だけを意味するものでなく、降
伏電圧と一定比率の関係をもつ値をも含むものとする。
・り゛イオードの降伏電圧の変動を監視して、格にその
時の降伏電圧より所定値だけ低いバイアス電圧を与える
ことで、アバランシェ・ダイオードの増倍駆を一定に保
つことができる。なお上述での所定値とは、降伏電圧の
変動に関係しない一定値だけを意味するものでなく、降
伏電圧と一定比率の関係をもつ値をも含むものとする。
この発明の一実施例において、電圧制御部は主として電
圧発生器１１及び利得設定回路１２として、また保持部
は主として電流検出回路１３及びサンプルホールド回路
１４として岩わされ、その一実施例を第２図に示す。Ｉ
Ｉは電圧発生回路であり、トランジスタＱ＋、Ｑｔ、定
電流源用抵抗Ｒ１、負荷抵抗Ｒ２からなる差動増幅器と
その出力により制御されるトランジスタＱ３とから構成
される。差動増幅器の一方の入力端、即ちトランジスタ
Ｑ、のペースは抵抗Ｒｓを介Ｌ７て直流電源ＶＡに接続
され、またツェナーダイオードＺＤ＋を介して利得設定
回路１２の出力端に接続されている。即ち電圧発生回路
１１は利得設定回路１２の出力電圧を基準電圧として、
その出力端、つまりトランジスタＱ、のエミッタζこ所
定の出力電圧を出す。利得設定回路Ｉ２は通常は革命電
圧Ｖ、を出力しており、制御端子１５にタイミングパル
ス（通常の論理レベル５ｖ）が入ると、これを抵抗Ｒ４
、ダイオードＤの直列回路で０．７ Ｖ ｉこ落とし、
更に可変抵抗Ｒ１で所定の１）こ設定して演算増幅器ｏ
ｐに入力し、基皐胤圧Ｖ、（＞Ｖｔ）を出力するように
なっている。基準電圧ＶＩ ＋ ” ２の大きさについ
ては後述する。
圧発生器１１及び利得設定回路１２として、また保持部
は主として電流検出回路１３及びサンプルホールド回路
１４として岩わされ、その一実施例を第２図に示す。Ｉ
Ｉは電圧発生回路であり、トランジスタＱ＋、Ｑｔ、定
電流源用抵抗Ｒ１、負荷抵抗Ｒ２からなる差動増幅器と
その出力により制御されるトランジスタＱ３とから構成
される。差動増幅器の一方の入力端、即ちトランジスタ
Ｑ、のペースは抵抗Ｒｓを介Ｌ７て直流電源ＶＡに接続
され、またツェナーダイオードＺＤ＋を介して利得設定
回路１２の出力端に接続されている。即ち電圧発生回路
１１は利得設定回路１２の出力電圧を基準電圧として、
その出力端、つまりトランジスタＱ、のエミッタζこ所
定の出力電圧を出す。利得設定回路Ｉ２は通常は革命電
圧Ｖ、を出力しており、制御端子１５にタイミングパル
ス（通常の論理レベル５ｖ）が入ると、これを抵抗Ｒ４
、ダイオードＤの直列回路で０．７ Ｖ ｉこ落とし、
更に可変抵抗Ｒ１で所定の１）こ設定して演算増幅器ｏ
ｐに入力し、基皐胤圧Ｖ、（＞Ｖｔ）を出力するように
なっている。基準電圧ＶＩ ＋ ” ２の大きさについ
ては後述する。
電圧発生回路ＩＩの出力は、抵１冗Ｒ８、トランジスタ
Ｑ４、抵抗Ｒ０からなる゛域流検出回路１３を介してア
バランシェ・ダイオードＰＤ、負荷抵抗Ｒの直列回路に
バイアスとしＣ与えられる。なお、コンデンサＣは１ｌ
ｌｌｔ足信号のバイパスのため設けたものである。１４
はサンプルホールド回路であり、制御塵子１５に夕、イ
ミンクパルスが入るとサンプリング状幅となって電流検
出回路１３の出力をサンプリングし１、タイミングパル
スがなくなるとホールド状態に保たれるものである。Ｋ
Ａ検出回路Ｉ３の出力端とサンプルホールド回路１４の
入力端の間をこはツェナーダイオードＺＤ、、抵抗ＲＩ
Ｏが接続さｔｌ、またサンプルホールド回路Ｉ４の入
力端は抵抗Ｒｕを介して負電源−ＶＣＧこ＃続されてい
る。これらのツェナーダイオードＺＤ２、抵抗Ｒ，ｏ、
Ｒ，、および負電源−ｖｃは、正から負にまたがる入
力に対して動作するサンプルホールド回路Ｉ４ζこ合わ
せて入力レベルをシフトｙるために設けている。才た直
列接続したツェナーダイオードＺＤ、。
Ｑ４、抵抗Ｒ０からなる゛域流検出回路１３を介してア
バランシェ・ダイオードＰＤ、負荷抵抗Ｒの直列回路に
バイアスとしＣ与えられる。なお、コンデンサＣは１ｌ
ｌｌｔ足信号のバイパスのため設けたものである。１４
はサンプルホールド回路であり、制御塵子１５に夕、イ
ミンクパルスが入るとサンプリング状幅となって電流検
出回路１３の出力をサンプリングし１、タイミングパル
スがなくなるとホールド状態に保たれるものである。Ｋ
Ａ検出回路Ｉ３の出力端とサンプルホールド回路１４の
入力端の間をこはツェナーダイオードＺＤ、、抵抗ＲＩ
Ｏが接続さｔｌ、またサンプルホールド回路Ｉ４の入
力端は抵抗Ｒｕを介して負電源−ＶＣＧこ＃続されてい
る。これらのツェナーダイオードＺＤ２、抵抗Ｒ，ｏ、
Ｒ，、および負電源−ｖｃは、正から負にまたがる入
力に対して動作するサンプルホールド回路Ｉ４ζこ合わ
せて入力レベルをシフトｙるために設けている。才た直
列接続したツェナーダイオードＺＤ、。
ＺＤ、は、サンプルホールド回路１４への最大入力振幅
を規制するために設けたものである。
を規制するために設けたものである。
サンプルホールド回路１４の出力１圧と電圧発生回路１
１の出力電圧とは抵抗Ｊｔ ＋ ＲＩ３を介して加算さ
れて、電圧発生回路１１の差動増幅器の他方の入力端、
つまりトランジスタＱ２のペースに入力さｆＬるように
なっている。
１の出力電圧とは抵抗Ｊｔ ＋ ＲＩ３を介して加算さ
れて、電圧発生回路１１の差動増幅器の他方の入力端、
つまりトランジスタＱ２のペースに入力さｆＬるように
なっている。
このように構成された回路の動作を説明し、アバランシ
ェ・ダイオードｐＤｏ）ａｗ袖償が自動的に行われるこ
とを説明する。
ェ・ダイオードｐＤｏ）ａｗ袖償が自動的に行われるこ
とを説明する。
まず、測距時間内の始めにバイアス調整期間を設け、制
御端子１５にタイミングパルスを入力する。これにより
利得設定回路１２の出力電圧はＶ、となる。この電圧Ｖ
、はサンプルホールド回路１４の出力がＯｖのとき、電
圧発生回路ＩＩの出力電圧がアバランシェ・ダイオード
ＰＤの降伏電圧より高くなるように設定されている。即
ち、サンプルホールド回路Ｉ４の出力がＯｖであれば、
電圧発生回路ＩＩの出力は利得設定回路１２の用力礁圧
Ｖ、を基準とする定′亀圧出力であり、これにより、ア
バランシェ・ダイオードＰＤが降伏をおこす。ところが
、アバランシェ・ダイオードＰＤが降伏すると電流検出
回路Ｉ３が動作し、その出力はサンプルボールド回路１
４を通して電圧発生回路ｌＩの出力電圧を減じる方向に
作用する。この結果、電流検出回路１３は定蛾流源とな
り、電圧発生回路１１の出力電圧が例えばＶ ３ 、サ
ンプルホールド回路Ｉ４の出力電圧が例えばＶ、とｆｌ
って平衡する。
御端子１５にタイミングパルスを入力する。これにより
利得設定回路１２の出力電圧はＶ、となる。この電圧Ｖ
、はサンプルホールド回路１４の出力がＯｖのとき、電
圧発生回路ＩＩの出力電圧がアバランシェ・ダイオード
ＰＤの降伏電圧より高くなるように設定されている。即
ち、サンプルホールド回路Ｉ４の出力がＯｖであれば、
電圧発生回路ＩＩの出力は利得設定回路１２の用力礁圧
Ｖ、を基準とする定′亀圧出力であり、これにより、ア
バランシェ・ダイオードＰＤが降伏をおこす。ところが
、アバランシェ・ダイオードＰＤが降伏すると電流検出
回路Ｉ３が動作し、その出力はサンプルボールド回路１
４を通して電圧発生回路ｌＩの出力電圧を減じる方向に
作用する。この結果、電流検出回路１３は定蛾流源とな
り、電圧発生回路１１の出力電圧が例えばＶ ３ 、サ
ンプルホールド回路Ｉ４の出力電圧が例えばＶ、とｆｌ
って平衡する。
このときのサンプルホールド回路１４の出力電圧はアバ
ランシェ・ダイオードＰＤＯ）降伏電圧に対応した霊、
圧に相当する。タイミングパルスがなくなると、サンプ
ルホールド回路１４はホールド状態となって出力電圧Ｖ
、を保持し、利得設定回路１２の出力電圧はＶ、からＶ
、に低下する。そして、電圧発生回路１１の出力電圧は
入力する基準電圧が低下した結果、ｖ３からｖ４に低下
する。いま、（ｖｌ−■、）を適当な値に設定しておけ
ば、出力電圧Ｖ、はアバランシェ・ダイオードＦＤの降
伏電圧より小さい値とすることができ、この出力電圧Ｖ
、が−ｒアバランシェダイオードＰＤｔこバイアス電、
圧として与えられることになる。この実施例に２いては
、（Ｖ。
ランシェ・ダイオードＰＤＯ）降伏電圧に対応した霊、
圧に相当する。タイミングパルスがなくなると、サンプ
ルホールド回路１４はホールド状態となって出力電圧Ｖ
、を保持し、利得設定回路１２の出力電圧はＶ、からＶ
、に低下する。そして、電圧発生回路１１の出力電圧は
入力する基準電圧が低下した結果、ｖ３からｖ４に低下
する。いま、（ｖｌ−■、）を適当な値に設定しておけ
ば、出力電圧Ｖ、はアバランシェ・ダイオードＦＤの降
伏電圧より小さい値とすることができ、この出力電圧Ｖ
、が−ｒアバランシェダイオードＰＤｔこバイアス電、
圧として与えられることになる。この実施例に２いては
、（Ｖ。
Ｖｔ ）は降伏電圧の変動に関係しない一定値であるが
、降伏電圧に対して一定比率の値にすることも可能であ
る。
、降伏電圧に対して一定比率の値にすることも可能であ
る。
こうしてアバランシェ・ダイオードＰＤＩζバイアス電
圧として与えられる出力電圧ｖ４はアバランシェ・ダイ
オードＰＤの増倍率を一定に保つ値となる。即ち、雷、
圧発生回路１１の出力電圧の変化（Ｖ３−Ｖｔ ）は、
サンプルホールド回路１４の出力電圧力５Ｖ、に保持さ
れる結果、利得設定回路Ｉ２からの基準電圧の変化（ｖ
＋ −ｖｚ）に対応する。一方、出力電圧Ｖ、はアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤの降伏電圧が周囲温度により変
動すると、それに応じて変化するものである。
圧として与えられる出力電圧ｖ４はアバランシェ・ダイ
オードＰＤの増倍率を一定に保つ値となる。即ち、雷、
圧発生回路１１の出力電圧の変化（Ｖ３−Ｖｔ ）は、
サンプルホールド回路１４の出力電圧力５Ｖ、に保持さ
れる結果、利得設定回路Ｉ２からの基準電圧の変化（ｖ
＋ −ｖｚ）に対応する。一方、出力電圧Ｖ、はアバラ
ンシェ・ダイオードＰＤの降伏電圧が周囲温度により変
動すると、それに応じて変化するものである。
従って（Ｖ＋ Ｖｔ ）を設定しておくことによって、
アバランシェ・ダイオードＰＤの降伏電圧が変動してい
てもバイアスとして与えられる出力電圧■４はその降伏
電圧より所定値だけ低い処に自動的に設定され、アバラ
ンシェ・ダイオードＰＤの増倍率は一定に保たれること
になる。
アバランシェ・ダイオードＰＤの降伏電圧が変動してい
てもバイアスとして与えられる出力電圧■４はその降伏
電圧より所定値だけ低い処に自動的に設定され、アバラ
ンシェ・ダイオードＰＤの増倍率は一定に保たれること
になる。
以上のようにこの発明では、参照信号光を用いることな
く、測定開始前に降伏電圧を検知し、その降伏電圧より
所定の値たけ低いバイアス電圧を与えることによってア
バランシェ・タイオードの温度補償を行う。従ってこの
発明によれば、参照信号光を用いた従来の方式に比べて
Ｓ／Ｎのよい測定信号を得ることができ、また参照信号
元湯の温度変動に対する考慮も必要がなくなる。
く、測定開始前に降伏電圧を検知し、その降伏電圧より
所定の値たけ低いバイアス電圧を与えることによってア
バランシェ・タイオードの温度補償を行う。従ってこの
発明によれば、参照信号光を用いた従来の方式に比べて
Ｓ／Ｎのよい測定信号を得ることができ、また参照信号
元湯の温度変動に対する考慮も必要がなくなる。
第１図は従来のアバランシェ・多゛イオードの温度補償
方式を示す図、第２図はこの発明の一実施例の回路を示
す図である。 １１・・・電圧発生回蕗、Ｉ２・・・利得設定回路、１
３・・・電流検出回路、１４・・・廿ンプルホールド回
路、ＰＤ・・アバランシェ・ダイオード、Ｒ・・・負荷
抵抗。
方式を示す図、第２図はこの発明の一実施例の回路を示
す図である。 １１・・・電圧発生回蕗、Ｉ２・・・利得設定回路、１
３・・・電流検出回路、１４・・・廿ンプルホールド回
路、ＰＤ・・アバランシェ・ダイオード、Ｒ・・・負荷
抵抗。
Claims (1)
- アバランシェ・ダイオードのバイアス電圧調整期間尺°
び適正バイアス印加期間を示すタイミング信号を有し、
上記バイアス亀圧調整期間を示すタイミング信号に従い
アバランシェ・、ダイオードの降伏時に印加されたバイ
アス電圧に対応する電圧をサンプリングし、適正バイア
ス印加期間を示すタイミング信号に従いサンプリングし
た電圧を保持する保持部と、上記バイアス電圧期間を示
すタイミング信号に従いアバランシェ・ダイオードヘア
バランシェ・ダイオードを降伏状態にするバイアス電圧
を印加し、また上記適正バイアス印加期間を示すタイミ
ング信号に従い上記保持部が保持した電圧に基づき、降
伏電圧より所定電圧だけ少ないバイアス電圧を印加する
電圧制御部と、から成ることを特徴とするアバランシェ
・ダイオードの温度補償装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24916084A JPS60149929A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | アバランシエ．ダイオードの温度補償装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24916084A JPS60149929A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | アバランシエ．ダイオードの温度補償装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53142208A Division JPS6017051B2 (ja) | 1978-11-20 | 1978-11-20 | アバランシェ・ダイオ−ドの温度補償方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60149929A true JPS60149929A (ja) | 1985-08-07 |
| JPS611696B2 JPS611696B2 (ja) | 1986-01-20 |
Family
ID=17188796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24916084A Granted JPS60149929A (ja) | 1984-11-26 | 1984-11-26 | アバランシエ．ダイオードの温度補償装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60149929A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996009667A1 (de) * | 1994-09-24 | 1996-03-28 | Byk-Gardner Gmbh | Verfahren zur temperaturkompensation von optoelektronischen bauelementen und insbesondere von optoelektronischen halbleitern |
| JP2001165654A (ja) * | 1999-12-07 | 2001-06-22 | Topcon Corp | 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法 |
| WO2019073705A1 (ja) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像素子、および、電子装置 |
-
1984
- 1984-11-26 JP JP24916084A patent/JPS60149929A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996009667A1 (de) * | 1994-09-24 | 1996-03-28 | Byk-Gardner Gmbh | Verfahren zur temperaturkompensation von optoelektronischen bauelementen und insbesondere von optoelektronischen halbleitern |
| JP2001165654A (ja) * | 1999-12-07 | 2001-06-22 | Topcon Corp | 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法 |
| JP4630413B2 (ja) * | 1999-12-07 | 2011-02-09 | 株式会社トプコン | 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法 |
| WO2019073705A1 (ja) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像素子、および、電子装置 |
| US11533445B2 (en) | 2017-10-12 | 2022-12-20 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid-state image sensor and electronic device |
| US11818481B2 (en) | 2017-10-12 | 2023-11-14 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid-state image sensor and electronic device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS611696B2 (ja) | 1986-01-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6017051B2 (ja) | アバランシェ・ダイオ−ドの温度補償方法 | |
| JPH0434836B2 (ja) | ||
| US4433238A (en) | Optical measurement system for spectral analysis | |
| JPS60149929A (ja) | アバランシエ．ダイオードの温度補償装置 | |
| US4142159A (en) | Missing pulse detector for a variable frequency source | |
| JPS54142987A (en) | Protecting method from overdrive of semiconductor laser | |
| US3517261A (en) | Flasher circuit | |
| JP2530719B2 (ja) | 光電式煙感知器 | |
| US4549149A (en) | Current to frequency converter switched to increased frequency when current input low | |
| JPH0228104B2 (ja) | ||
| JPS582711A (ja) | 光電変換素子の感度安定化方法 | |
| US3397607A (en) | Single faraday cell polarimeter | |
| KR970022253A (ko) | 자동 문턱값 설정 회로 | |
| SU462156A1 (ru) | Ультрафиолетовый гигрометр | |
| SU757874A1 (ru) | Измеритель теплового излучения 1 | |
| SU436247A1 (ru) | Устройство для регистрации излучения в видимой области спектра | |
| SU1101690A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
| SU754214A1 (ru) | Устройство для регистрации уровня освещенности 1 | |
| SU395930A1 (ru) | I ВСЕСОЮЗНАЯ ? •. •, г!:;"^: TLVi'^niFriifiC ;. :Л(-.,1^ : п..'' (?Л!а. ILwllRl | |
| JPS5819465Y2 (ja) | 温度計 | |
| JPS60142232A (ja) | 赤外線式ガス分析計 | |
| JP2688895B2 (ja) | 光電式アナログ煙感知器 | |
| RU2006903C1 (ru) | Регулятор температуры | |
| SU561156A1 (ru) | Устройство дл измерени статического коэффициента передачи тока транзисторов | |
| JPH05176901A (ja) | 光電型容積計 |