JP5241977B1 - 光ファイバ部品の研磨量測定方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
フェルールの研磨量とは無関係に、研磨中の光ファイバ部品の研磨量を直接リアルタイムで、精度よく容易に測定できるようにする。
光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求める。
光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求める。
Description
本発明は、光ファイバの先端にレンズファイバ、エンドキャップ等を融着したものなどの光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定できる方法及び装置であって、特にＯＣＴ(Optical Coherence Tomography)を利用したものに関する。
光ファイバ部品の研磨量の測定で一般的なのは、光ファイバ部品の先端部をフェルールに挿入したものを、下記特許文献１、２に示されるような研磨機で研磨し、測定したフェルールの研磨量を光ファイバ部品の研磨量と推定するものである。
図７は、フェルール１５に挿入した光ファイバ部品１を研磨する場合の説明図である。光ファイバ部品は、例えば、光ファイバ１０の先端にエンドキャップ１３を溶着したものである。図７の左側は研磨する前の状態で、フェルールの先端と光ファイバ部品１の先端（エンドキャップ１３の先端）が一致している。これを、図７の右側に示すように研磨すると、測定したフェルールの研磨量ｇが光ファイバ部品１の研磨量となる。なお、図中符号１２は光ファイバ１０の被覆である。
上記の手法は、フェルール１５の先端部と光ファイバ部品１の先端部が一致していることが条件となる。一致していなければ、フェルール１５の研磨量と光ファイバ部品１の研磨量が異なってくるからである。そこで、光ファイバ部品１をフェルール１５に挿入するときに、フェルール１５の先端部と光ファイバ部品１の先端部を、誤差が例えば０．５μｍ未満となるように、一致させるのであるが、この作業には多大の時間と労力を要していた。
本発明は、フェルールの研磨量とは無関係に、研磨中の光ファイバ部品の長さの変化（すなわち研磨量）を直接リアルタイムで、精度よく容易に測定できるようにし、光ファイバ部品をフェルールに挿入するときに、フェルール１５の先端部と光ファイバ部品１の先端部を一致させることを不要にし、作業能率を高めることを課題とするものである。
図１は、ＯＣＴを利用して光ファイバ１０の長さ（全長）を測定する場合の説明図である。光ファイバの分岐手段であるファイバカプラ３の一端側に光ファイバ２０を介して光源２と光ファイバ６０を介して受光装置６が接続され、他端側に被測定（測定対象）光ファイバ１０と基準光路４が接続されている。
基準光路４は、光ファイバ４０とその先端に接続されたレンズ４１、レンズ４１に対向するミラー４２及びミラー移動装置４３を有する。レンズ４１は、光ファイバ４０の出射光をほぼ平行光にするためのものである。ミラー移動装置４３は、これに取り付けられたミラー４２を移動し、基準光路４の光路長を変化させる光路長変化手段である。なお、ミラー移動装置におけるミラーの位置情報は受光装置６に送られる。
光源２から出射した光は、ファイバカプラ３で分岐され、一方は被測定光ファイバ１０に進入し、他方は基準光路４に進入する。被測定光ファイバ１０に進入した光は、その先端面で反射し、その戻り光はファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。基準光路４に進入した光は光ファイバ４０を経て先端のレンズ４１からほぼ平行光となって出射し、ミラー４２で反射し、その戻り光はレンズ４１、光ファイバ４０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
受光装置６は、被測定光ファイバ１０の戻り光と基準光路４の戻り光を受光し、双方の戻り光が干渉したとき（光の強度がピークになったとき）のミラー４２の位置により光ファイバ１０の長さを検出する。双方の戻り光が干渉したとき、光ファイバ１０と基準光路４の長さは等しいので、光ファイバ４０及びレンズ４１の長さを予め測定しておけば、干渉時のミラー４２の位置情報を取得することで光ファイバ１０の長さを測定できる。
実際に図１の方法により、同一の光ファイバの長さ（全長）を多数回繰り返して測定したところ、その測定値は、約１５μｍの幅でバラツキがあった。その原因は、基準光路４において、レンズ４１を固定している部材及びミラー移動装置４３には多くの金属部品が使用されており、室温その他の温度変化によりこれらの金属部品が膨張又は収縮し、基準光路長が変化するためであると推測できる。
仮に温度変化が全くない場合は、研磨されている光ファイバの全長の変化を測定すれば、研磨量をリアルタイムで知ることができるのであるが、このような状態を作り出すためには恒温室での研磨、かつミラー移動装置での温度制御（ペルチェ素子を使った制御等）が必要になり、実用的な方法で光ファイバ部品の研磨量を測定できるとは言い難い。
仮に温度変化が全くない場合は、研磨されている光ファイバの全長の変化を測定すれば、研磨量をリアルタイムで知ることができるのであるが、このような状態を作り出すためには恒温室での研磨、かつミラー移動装置での温度制御（ペルチェ素子を使った制御等）が必要になり、実用的な方法で光ファイバ部品の研磨量を測定できるとは言い難い。
図２は、ＯＣＴを利用した光ファイバ部品１の先端部長さ測定方法の説明図であり、図１の被測定光ファイバ１０に代えて、被測定光ファイバ部品１が取り付けられており、その他は図１と全く同じである。この場合、光ファイバ部品１は、図５（Ａ）に示されるような、光ファイバ１０に、先端部としてエンドキャップ１３を接続したものである。この場合、特別に、光ファイバ１０とエンドキャップ１３の境界面でも光が反射するように光ファイバ部品を作成してある。なお、図５において符号１１は光ファイバのコアである。
ファイバカプラ３で分岐され、被測定光ファイバ部品１に進入した光の一部は、光ファイバ１０とエンドキャップ１３の境界面で反射し、その戻り光はファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。この戻り光と基準光路の戻り光に基づき、図１の方法で光ファイバ１０の長さ（境界面までの長さ）Ｌａを測定できる。
また、ファイバカプラ３で分岐され、被測定光ファイバ部品１に進入した光の一部は、光ファイバ１０とエンドキャップ１３の境界面を透過し、エンドキャップ１３の先端面で反射し、その戻り光は光ファイバ１０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。この戻り光と基準光路の戻り光に基づき、図１の方法で光ファイバ部品１の全長（光ファイバ１０とエンドキャップ１３の合計長さ）Ｌｂを測定できる。
したがって、光ファイバ部品１の全長Ｌｂから光ファイバ１０の長さＬａを引いた長さＬｃ（＝Ｌｂ−Ｌａ）がエンドキャップ１３の長さとなる。
また、ファイバカプラ３で分岐され、被測定光ファイバ部品１に進入した光の一部は、光ファイバ１０とエンドキャップ１３の境界面を透過し、エンドキャップ１３の先端面で反射し、その戻り光は光ファイバ１０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。この戻り光と基準光路の戻り光に基づき、図１の方法で光ファイバ部品１の全長（光ファイバ１０とエンドキャップ１３の合計長さ）Ｌｂを測定できる。
したがって、光ファイバ部品１の全長Ｌｂから光ファイバ１０の長さＬａを引いた長さＬｃ（＝Ｌｂ−Ｌａ）がエンドキャップ１３の長さとなる。
Ｌａ及びＬｂは、図１の場合と同様に、温度変化により約１５μｍの幅でバラツキを生じるが、温度変化による測定誤差の影響はＬａとＬｂにおいて等しいため、エンドキャップ１３の長さＬｃ（＝Ｌｂ−Ｌａ）は、温度変化による誤差が相殺され、正確な値となる。
実際に図２の方法により光ファイバ部品１のエンドキャップ１３の長さＬｃを多数回繰り返して測定したところ、その測定値は±０．５μｍ未満の範囲となった。
なお、Ｌｃは、基準光路４とエンドキャップ１３先端面反射の戻り光が干渉したときのミラー位置と、基準光路４と境界面反射戻り光が干渉したときのミラー位置の差（基準光路長さの差）であるので、必ずしもＬａとＬｂを測定する必要はなく、前記のミラー位置の差（基準光路長さの差）によりＬｃを求めることができる。
光ファイバ部品１の研磨を行いながら、エンドキャップ１３の長さＬｃを測定すれば、Ｌｃの減少量がすなわち研磨量となる。
図２では、特別に、光ファイバ１０とエンドキャップ１３の境界面でも光が反射するように光ファイバ部品１を作成した。しかし、実際の光ファイバ部品は、光ファイバとエンドキャップの境界面で損失が生じないものが求められており、光ファイバとエンドキャップは溶着により良好に接続され、境界面において光は殆ど反射しない場合は、図２の方法でエンドキャップの長さＬｃを求めることはできない。
〔請求項１〕
本発明は、光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
本発明は、光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
本発明においては、図２の、境界面からの戻り光の代わりに、比較用光路の戻り光を使用し、基準光路４とエンドキャップ１３先端面反射の戻り光が干渉したときのミラー位置と、基準光路４と比較用光路の戻り光が干渉したときのミラー位置の差（基準光路長さの差）Ｌｃにより、光ファイバ部品と比較用光路の長さの差Ｌｃを高精度で測定できる。
光ファイバ部品を研磨しながらＬｃを測定すると、比較用光路の長さは一定であるから、Ｌｃの減少量が、すなわち光ファイバ部品の研磨量となる。
〔請求項２〕
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
本発明において、測定対象となる光ファイバ部品は、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものとすることができる。
光ファイバは、単一モード光ファイバ、マルチモード光ファイバ、偏波保持光ファイバ（ＰＭＦ）など、種々の光ファイバに適用される。エンドキャップは、コアのないシリカガラスファイバである。図５（Ａ）は、このような光ファイバ部品の一例で、単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）１０の先端に、円柱状のエンドキャップ１３を融着したものである。
光ファイバは、単一モード光ファイバ、マルチモード光ファイバ、偏波保持光ファイバ（ＰＭＦ）など、種々の光ファイバに適用される。エンドキャップは、コアのないシリカガラスファイバである。図５（Ａ）は、このような光ファイバ部品の一例で、単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）１０の先端に、円柱状のエンドキャップ１３を融着したものである。
〔請求項３〕
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
本発明において、測定対象となる光ファイバ部品は、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものとすることができる。
光ファイバは、単一モード光ファイバ、マルチモード光ファイバ、偏波保持光ファイバ（ＰＭＦ）など、種々の光ファイバに適用される。レンズファイバは、例えば、円柱状の分布屈折率レンズであるＧＲＩＮレンズ（Graded Index Lens）である。図５（Ｂ）は、このような光ファイバ部品の一例で、単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）１０の先端に、円柱状のレンズファイバ１４（ＧＲＩＮレンズ）を融着したものである。
光ファイバは、単一モード光ファイバ、マルチモード光ファイバ、偏波保持光ファイバ（ＰＭＦ）など、種々の光ファイバに適用される。レンズファイバは、例えば、円柱状の分布屈折率レンズであるＧＲＩＮレンズ（Graded Index Lens）である。図５（Ｂ）は、このような光ファイバ部品の一例で、単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）１０の先端に、円柱状のレンズファイバ１４（ＧＲＩＮレンズ）を融着したものである。
〔請求項４〕
また本発明は、検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
また本発明は、検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法である。
本発明において、複数本の光ファイバ部品を同時に研磨しながら、各光ファイバ部品について研磨量を測定することができる。
〔請求項５〕
また本発明は、検査光の光源と、
検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐する分岐手段と、
前記基準光路、被測定光ファイバ部品、及び比較用光路の戻り光を受光する受光装置を備え、
該受光装置が、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
また本発明は、検査光の光源と、
検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐する分岐手段と、
前記基準光路、被測定光ファイバ部品、及び比較用光路の戻り光を受光する受光装置を備え、
該受光装置が、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
〔請求項６〕
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
〔請求項７〕
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
また本発明は、前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
〔請求項８〕
また本発明は、前記分岐手段が、検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐するものであり、
前記受光装置が、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めるものであることを特徴とする請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
また本発明は、前記分岐手段が、検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐するものであり、
前記受光装置が、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めるものであることを特徴とする請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置である。
本発明の光ファイバ部品の研磨量測定方法は、フェルールの研磨量に関係なく、光ファイバ部品の研磨量を直接、高精度に測定できるので、光ファイバ部品をフェルールに挿入するときに、フェルールの先端部と光ファイバ部品の先端部を一致させる必要がなく、作業能率を高めることができる。
本発明の光ファイバ部品の研磨量測定装置によれば、本発明の光ファイバ部品の研磨方法を容易に実施することができる。
本発明の光ファイバ部品の研磨量測定装置によれば、本発明の光ファイバ部品の研磨方法を容易に実施することができる。
図３は、本発明の光ファイバ部品の研磨量測定方法及び装置の説明図である。
この装置は、検査光の光源２、光路長が可変の基準光路４、比較用光路５、検査光の分岐手段及び測定対象である被測定光ファイバ部品１を有する。
この装置は、検査光の光源２、光路長が可変の基準光路４、比較用光路５、検査光の分岐手段及び測定対象である被測定光ファイバ部品１を有する。
ファイバカプラ３の一端側に光ファイバ２０を介して光源２と、光ファイバ６０を介して受光装置６が接続され、他端側に光ファイバ３０を介してファイバカプラ３ａと、基準光路４が接続されている。ファイバカプラ３ａの他端側には、被測定（測定対象）光ファイバ部品１と、比較用光路５が接続されている。
検査光の光源としては、種々のものを使用可能であるが、例えば１３１０ｎｍのＳＬＤ(Super Luminescent
Diode)光源を用いることができる。
Diode)光源を用いることができる。
分岐手段はファイバカプラ３、及びこれと光ファイバ３０で接続されたファイバカプラ３ａである。
基準光路４は、光ファイバ４０、その先端に設けられたレンズ４１、及び光路長変化手段を有する。光路長変化手段は、ミラー移動装置４３に取り付けられ、レンズ４１と対向するミラー４２を有し、移動装置４３によりミラー４２をレンズ４１に接近又は離隔する方向に移動することで基準光路４の長さが変化する。測定中は、ミラー４２は常時移動している。
なお、ミラー移動装置４３におけるミラーの位置情報は受光装置６に送られる。
なお、ミラー移動装置４３におけるミラーの位置情報は受光装置６に送られる。
比較用光路５は、一定の長さを有し、戻り光を生じるものであればどのようなものでもよいが、例えば単一モード光ファイバを用いることができる。
受光装置６は、基準光路４、被測定光ファイバ部品１、及び比較用光路５の戻り光の受光素子を備える。また、基準光路４と被測定光ファイバ部品１の戻り光が干渉したときの基準光路４の長さと、基準光路４と比較用光路５の戻り光が干渉したときの基準光路の長さの差Ｌｃの変化量、すなわち光ファイバ部品１の研磨量を求める処理装置（マイクロコンピュータ）を備える。なお、基準光路４の長さはミラー移動装置４３から送られるミラー位置情報により得られる。
光源２から出射した光は、ファイバカプラ３で分岐され、一方は光ファイバ３０を経てファイバカプラ３ａを通過し、ここで分岐されて一方は被測定光ファイバ部品１に進入し、他方は比較用光路５（光ファイバ）に進入する。被測定光ファイバ部品１に進入した光は、その先端面で反射し、その戻り光はファイバカプラ３ａ、光ファイバ３０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。比較用光路５（光ファイバ）に進入した光は、比較用光路５の先端で反射し、その戻り光はファイバカプラ３ａ、光ファイバ３０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
ファイバカプラ３で分岐されて基準光路４に進入した光は光ファイバ４０を経て先端のレンズ４１からほぼ平行光となって出射し、ミラー４２で反射し、その戻り光はレンズ４１、光ファイバ４０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
ファイバカプラ３で分岐されて基準光路４に進入した光は光ファイバ４０を経て先端のレンズ４１からほぼ平行光となって出射し、ミラー４２で反射し、その戻り光はレンズ４１、光ファイバ４０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
受光装置６は、基準光路４と被測定光ファイバ部品１の先端面反射の戻り光が干渉したときのミラー４２位置と、基準光路４と比較用光路５の戻り光が干渉したときのミラー４２位置の差（基準光路４の長さの差）Ｌｃを求めることにより、光ファイバ部品１と比較用光路５の長さの差Ｌｃを高精度で測定できる。光ファイバ部品１を研磨機７で研磨しながらＬｃを測定すると、比較用光路の長さは一定であるから、Ｌｃの減少量が、すなわち光ファイバ部品１の研磨量となる。
図４は、本発明の光ファイバ部品の研磨量測定方法及び装置の説明図である。
図４は、図３のファイバカプラ３ａをチャンネルセレクタ３ｂに代え、チャンネルセレクタ３ｂには、複数の被測定光ファイバ部品１と、１個の比較用光路５を接続している。
図４は、図３のファイバカプラ３ａをチャンネルセレクタ３ｂに代え、チャンネルセレクタ３ｂには、複数の被測定光ファイバ部品１と、１個の比較用光路５を接続している。
図４において、光源２から出射した光は、ファイバカプラ３で分岐され、一方は光ファイバ３０を経てチャンネルセレクタ３ｂを通過し、ここで分岐されて複数の被測定光ファイバ部品１に進入し、また、１個の比較用光路５（光ファイバ）に進入する。複数の被測定光ファイバ部品１に進入した光は、各々その先端面で反射し、その戻り光はチャンネルセレクタ３ｂ、光ファイバ３０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。比較用光路５（光ファイバ）に進入した光は、比較用光路５の先端で反射し、その戻り光はチャンネルセレクタ３ｂ、光ファイバ３０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
ファイバカプラ３で分岐されて基準光路４に進入した光は光ファイバ４０を経て先端のレンズ４１からほぼ平行光となって出射し、ミラー４２で反射し、その戻り光はレンズ４１、光ファイバ４０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
ファイバカプラ３で分岐されて基準光路４に進入した光は光ファイバ４０を経て先端のレンズ４１からほぼ平行光となって出射し、ミラー４２で反射し、その戻り光はレンズ４１、光ファイバ４０、ファイバカプラ３、光ファイバ６０を経て受光装置６に至る。
受光装置６は、基準光路４と各々の被測定光ファイバ部品１の先端面反射の戻り光とが干渉したときのミラー４２位置と、基準光路４と比較用光路５の戻り光が干渉したときのミラー４２位置の差（基準光路４の長さの差）Ｌｃにより、各々の光ファイバ部品１と比較用光路５の長さの差Ｌｃを高精度で測定できる。複数の光ファイバ部品１を研磨機７で研磨しながらそれぞれの光ファイバ部品についてＬｃを測定すると、比較用光路の長さは一定であるから、それぞれの光ファイバ部品におけるＬｃの減少量が、すなわちその光ファイバ部品１の研磨量となる。
このように、図４の測定方法及び装置によれば、複数の光ファイバ部品を同時に研磨する場合、それぞれの光ファイバ部品の研磨量をリアルタイムで測定できる。
図６は、基準光路における光路長変化手段の他例を示している。
図６の光路長変化手段は、ミラー４２と回転子４４を有する。回転子４４は、直角の角度差をもって設けられた一対のミラー４４ａ、４４ｂを有し、矢印で示すように回転する。レンズ４１から出射した光はミラー４４ａ、４４ｂで反射し、さらにミラー４２で反射して戻り光となり、ミラー４４ｂ、４４ａで反射してレンズ４１に入射する。回転子４４が回転することで、レンズ４１からミラー４２までの光路長が変化し、基準光路の光路長さが変化する。
図６の光路長変化手段は、ミラー４２と回転子４４を有する。回転子４４は、直角の角度差をもって設けられた一対のミラー４４ａ、４４ｂを有し、矢印で示すように回転する。レンズ４１から出射した光はミラー４４ａ、４４ｂで反射し、さらにミラー４２で反射して戻り光となり、ミラー４４ｂ、４４ａで反射してレンズ４１に入射する。回転子４４が回転することで、レンズ４１からミラー４２までの光路長が変化し、基準光路の光路長さが変化する。
本発明で測定可能な光ファイバ部品は、図５に示すものに限らず、先端面で反射した光が戻り光となるものであればすべて含まれる。先端に何も接続されていない光ファイバ単独であっても、先端が斜め形状やＰＣ（Physical
Contact）形状の光ファイバ単独、もしくはエンドキャップ又はレンズ製品であっても、本発明における光ファイバ部品に含まれ、本発明によって研磨量を測定できる。
Contact）形状の光ファイバ単独、もしくはエンドキャップ又はレンズ製品であっても、本発明における光ファイバ部品に含まれ、本発明によって研磨量を測定できる。
本発明はＯＣＴ技術の中のＴＤ−ＯＣＴ（タイムドメイン方式）を採用したが、この利点は光通信分野の技術を多用できることであり、例えば光源については１３１０ｎｍのＳＬＤ光源が使用でき、安価な装置構成が実現できる。但しこれに限ることは無く、医療等で活用されているＳＳ−ＯＣＴ（周波数掃引方式）やその他の方式も利用できる。
１ 光ファイバ部品
１０ 光ファイバ
１１ コア
１２ 被覆
１３ エンドキャップ
１４ レンズファイバ
１５ フェルール
２光源
３ ファイバカプラ
３ａ ファイバカプラ
３ｂ チャンネルセレクタ
３０ 光ファイバ
４ 基準光路
４０ 光ファイバ
４１ レンズ
４２ ミラー
４３ ミラー移動装置
４４ 回転子
４４ａ ミラー
４４ｂ ミラー
５ 比較用光路
６ 受光装置
７ 研磨機
１０ 光ファイバ
１１ コア
１２ 被覆
１３ エンドキャップ
１４ レンズファイバ
１５ フェルール
２光源
３ ファイバカプラ
３ａ ファイバカプラ
３ｂ チャンネルセレクタ
３０ 光ファイバ
４ 基準光路
４０ 光ファイバ
４１ レンズ
４２ ミラー
４３ ミラー移動装置
４４ 回転子
４４ａ ミラー
４４ｂ ミラー
５ 比較用光路
６ 受光装置
７ 研磨機
Claims (8)
- 光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、
検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定方法。 - 前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法。
- 前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法。
- 検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ部品の研磨量測定方法。
- 検査光の光源と、
検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐する分岐手段と、
前記基準光路、被測定光ファイバ部品、及び比較用光路の戻り光を受光する受光装置を備え、
該受光装置が、前記基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、前記基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Ｌｃの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求めることを特徴とする光ファイバ部品の研磨量測定装置。 - 前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にエンドキャップを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置。
- 前記光ファイバ部品が、光ファイバの先端にレンズファイバを溶着したものである請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置。
- 前記分岐手段が、検査光を、光路長が可変の基準光路と、複数の被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐するものであり、
前記受光装置が、各々の被測定光ファイバ部品について、前記Ｌｃの変化量により研磨量を求めるものであることを特徴とする請求項５に記載の光ファイバ部品の研磨量測定装置。
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