JP6094300B2 - 白色干渉測定方法及び白色干渉測定装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係る白色干渉測定装置の全体構成を示す概念図である。
非干渉2光束形成部Aは、主として、白色光源12、白色光源12から送出される白色光をP偏光光とS偏光光とに分割する第1の偏光ビームスプリッタ14、分割した測定光と参照光とを再び同軸光路上に合成する第2の偏光ビームスプリッタ16、第1の偏光ビームスプリッタ14で分割された参照光を参照光路長走査部Bに導き、参照光路長走査部Bで反射された参照光を第2の偏光ビームスプリッタ16に導く第1の偏波保持サーキュレータ18、の各部材12〜18を備えた偏波依存型の光学系として構成される。
参照光路長走査部Bは、参照光の光路長を変化させる走査部であり、主として、参照ミラー22、直動ステージ24、スケールヘッド26、リニアスケール28、コリメータレンズ30で構成される。
対象物測定部Cは、主として、第2の偏波保持サーキュレータ34と、測定用プローブ36とで構成され、第2の偏波保持サーキュレータ34と測定用プローブ36との間は、偏波保持ファイバ38が介在される。
干渉・非干渉ルート形成部Dは、対象物測定部Cからの照射後2光束について、第1のカプラ40によって、非干渉ルート42に送出する2光束と、干渉ルート44に送出する2光束とを形成する部分である。
検出部Fは、主として差動光検出器52で構成される。差動光検出器52は、非干渉ルート42から取得される信号と、干渉ルート44から取得される信号との差分を取ることによって、ノイズ信号を有しない干渉信号のみを取り出し、電気信号として演算部Gに出力する。
演算部Gは、コンピュータ等の処理装置54で構成される。処理装置54は、必要に応じて各部材の動作制御、取得データの演算処理を行う。動作制御としては、参照光路長走査部Bから取得したスケール信号に応じて移動制御信号を生成し、直動ステージ24の位置を制御する等がある。
次に、上記の如く構成された白色干渉測定装置10を用いて測定対象物Wを位置及び変位を測定する白色干渉測定方法を説明する。
Claims (6)
- 白色光の干渉によって生じる干渉縞を検出する白色干渉法を利用して測定対象物の位置及び変位を測定する白色干渉測定方法において、
白色光をP偏光光とS偏光光とに分割して一方を測定光とすると共に他方を参照光とした後、前記測定光と前記参照光とを再び同軸光路上に合成して、非干渉な測定光と参照光との2光束を形成する非干渉2光束形成工程と、
前記分割と前記合成との間に設けられ、前記参照光の光路長を変化させて測長範囲を走査する参照光路長走査工程と、
前記2光束のうち前記測定光を透過させ前記参照光を反射すると共に前記透過した測定光を前記測定対象物に照射し、測定対象物で反射した測定光と前記反射した参照光とにより非干渉な照射後2光束を形成する対象物測定工程と、
前記照射後2光束について干渉信号を形成する干渉ルートと干渉信号を形成しない非干渉ルートとの2つのルートを形成する干渉・非干渉ルート形成工程と、
前記干渉・非干渉ルート形成工程の前記干渉ルートに設けられ、前記照射後2光束を前記測定光と前記参照光とに分割すると共に測定光と参照光とが同一の偏光になるように変換した後、重ね合わせて干渉光を形成する干渉光形成工程と、
前記干渉ルートからの光信号と前記非干渉ルートからの光信号とをそれぞれ検出して、その差分を取ることによって、ノイズを除去した干渉信号のみを取得する検出工程と、
前記ノイズが除去された干渉信号から前記測定対象物の位置及び変位を演算する演算工程と、を備えたことを特徴とする白色干渉測定方法。 - 白色光の干渉によって生じる干渉縞を検出する白色干渉法を利用して測定対象物の位置及び変位を測定する白色干渉測定装置において、
白色光をP偏光光とS偏光光とに分割して一方を測定光とすると共に他方を参照光とした後、前記測定光と前記参照光とを再び同軸光路上に合成して、非干渉な測定光と参照光との2光束を形成する非干渉2光束形成部と、
前記分割と前記合成との間に設けられ、前記参照光の光路長を変化させて測長範囲を走査する参照光路長走査部と、
前記2光束のうち前記測定光を透過させ前記参照光を反射すると共に前記透過した測定光を前記測定対象物に照射し、測定対象物で反射した測定光と前記反射した参照光とにより非干渉な照射後2光束を形成する対象物測定部と、
前記照射後2光束について干渉ルートと非干渉ルートとの2つのルートを形成する干渉・非干渉ルート形成部と、
前記干渉・非干渉ルート形成部の前記干渉ルートに設けられ、前記照射後2光束を前記測定光と前記参照光とに分割すると共に測定光と参照光とが同一の偏光になるように変換した後、重ね合わせて干渉光を形成する干渉光形成手段と、
前記干渉ルートからの光信号と前記非干渉ルートからの光信号とをそれぞれ検出して、その差分を取ることによって、ノイズを除去した干渉信号のみを取得する検出部と、
前記ノイズが除去された干渉信号から前記測定対象物の位置及び変位を演算する演算部と、備え、
前記各部同士及び前記各部を構成する部材同士は光ファイバによって連結されていることを特徴とする白色干渉測定装置。 - 前記非干渉2光束形成部は、
白色光源と、
前記白色光源から送出される白色光をP偏光光とS偏光光とに分割する第1の偏光ビームスプリッタと、
前記分割した測定光と参照光とを再び同軸光路上に合成する第2の偏光ビームスプリッタと、
前記第1の偏光ビームスプリッタで分割された参照光を前記参照光路長走査部に導き、前記参照光路長走査部で反射された参照光を前記第2の偏光ビームスプリッタに導く第1の偏波保持サーキュレータと、の各部材を備えた偏波依存型の光学系である請求項2に記載の白色干渉測定装置。 - 前記対象物測定部は、
前記2光束のうち前記測定光を透過させて前記参照光を反射する機能を有し、前記透過した測定光を前記測定対象物に照射する測定用プローブと、
前記非干渉2光束形成部からの2光束を前記測定用プローブに導き、前記測定対象物で反射した測定光と前記測定用プローブで反射した参照光との非干渉な照射後2光束を前記干渉・非干渉ルート形成部に導く第2の偏波保持サーキュレータと、を備える請求項2又は3に記載の白色干渉測定装置。 - 前記干渉光形成手段は、
前記干渉ルートに設けられ、前記照射後2光束を前記測定光と前記参照光とに分割する第3の偏光ビームスプリッタと、
前記干渉ルートに設けられ、前記測定光と参照光とが同一の偏光になるように変換する偏光回転手段と、
前記干渉ルートに設けられ、偏光が同一となった測定光と参照光とを重ね合わせて干渉光を形成する光カプラと、を備えた請求項2〜4のいずれか1に記載の白色干渉測定装置。 - 前記白色干渉測定装置は、
前記非干渉2光束形成部から多軸測定チャンネルに分岐され、それぞれの多軸測定チャンネルに前記対象物測定部、干渉・非干渉ルート形成部、干渉光形成手段、及び検出部を少なくとも備えると共に、前記参照光路長走査部は前記多軸測定チャンネルに対して1つ設けられている請求項2〜5のいずれか1に記載の白色干渉測定装置。
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