JP5236506B2 - 基板検査装置 - Google Patents
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Description
12 治具
13 固定側支持部
14 可動側支持部
22 一側検査ユニット
23 可動本体
24 取付け片
25 吸引プローブ体
26 吸引筒体部
26a 先端開口部
26b 空間部
27 コンタクトプローブ
27a 接触端
29 空間部
32 他側検査ユニット
33 可動本体
34 取付け片
35 吸引プローブ体
36 吸引筒体部
36a 先端開口部
36b 空間部
37 コンタクトプローブ
37a 接触端
41 フレキシブルプリント基板
42,43 側縁部
44 一側面
45 他側面
Claims (2)
- 検査対象基板であるフレキシブルプリント基板を保持する治具と、該フレキシブルプリント基板の一側面側に配置される一側検査ユニットと、他側面側に配置される他側検査ユニットとを少なくとも備え、これら一側検査ユニットと他側検査ユニットとは、装置本体側にX−Y−Zの3軸方向への移動を可能に各別に配設される可動本体と、これらの可動本体に各別に取り付けられた吸引プローブ体とで構成され、該吸引プローブ体のそれぞれは、先端開口部からの空気引きを可能に配設される少なくとも1本以上の吸引筒体部と、該吸引筒体部の前記先端開口部を前記フレキシブルプリント基板に接触させてその空間部内が負圧となった状態のもとで検査ポイントにその接触端を接触させる各1本のコンタクトプローブとで形成される基板検査装置において、
前記吸引プローブ体のそれぞれは、各1本の前記吸引筒体部と、該吸引筒体部の前記先端開口部を前記フレキシブルプリント基板側に接触させて前記空間部内を負圧にした後に前記接触端を前記検査ポイントに接触させるべく、前記吸引筒体部内を軸心方向へと移動可能に配設された前記コンタクトプローブとで形成したことを特徴とする基板検査装置。 - 検査対象基板であるフレキシブルプリント基板を保持する治具と、該フレキシブルプリント基板の一側面側に配置される一側検査ユニットと、他側面側に配置される他側検査ユニットとを少なくとも備え、これら一側検査ユニットと他側検査ユニットとは、装置本体側にX−Y−Zの3軸方向への移動を可能に各別に配設される可動本体と、これらの可動本体に各別に取り付けられた吸引プローブ体とで構成され、該吸引プローブ体のそれぞれは、先端開口部からの空気引きを可能に配設される少なくとも1本以上の吸引筒体部と、該吸引筒体部の前記先端開口部を前記フレキシブルプリント基板に接触させてその空間部内が負圧となった状態のもとで検査ポイントにその接触端を接触させる各1本のコンタクトプローブとで形成される基板検査装置において、
前記吸引プローブ体のそれぞれは、各複数本の前記吸引筒体部と、これら吸引筒体部を長さ方向に束ねて中心位置に確保される空間部内にその軸心方向に沿わせて配設されたコンタクトプローブとで形成したことを特徴とする基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009000568A JP5236506B2 (ja) | 2009-01-06 | 2009-01-06 | 基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009000568A JP5236506B2 (ja) | 2009-01-06 | 2009-01-06 | 基板検査装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010159978A JP2010159978A (ja) | 2010-07-22 |
JP5236506B2 true JP5236506B2 (ja) | 2013-07-17 |
Family
ID=42577253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009000568A Active JP5236506B2 (ja) | 2009-01-06 | 2009-01-06 | 基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5236506B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101253206B1 (ko) * | 2010-08-20 | 2013-04-16 | 주식회사 엘지화학 | 복합 기능성 입체영상표시장치용 광학 필터 및 이를 포함하는 입체영상표시장치 |
CN106483452B (zh) * | 2016-10-17 | 2024-03-19 | 苏州润弘安创自动化科技有限公司 | 一种高精度防反光超薄柔性电路板ict测试设备及其工作方法 |
JPWO2021064788A1 (ja) * | 2019-09-30 | 2021-04-08 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4626153Y1 (ja) * | 1968-12-20 | 1971-09-08 | ||
JPS63184348A (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-29 | Nec Corp | 半導体装置用コンタクトピン |
JPS63152564U (ja) * | 1987-03-25 | 1988-10-06 | ||
JPH06347476A (ja) * | 1993-06-10 | 1994-12-22 | Nec Corp | 信号測定用プローブ |
JP4835317B2 (ja) * | 2006-08-10 | 2011-12-14 | パナソニック株式会社 | プリント配線板の電気検査方法 |
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2009
- 2009-01-06 JP JP2009000568A patent/JP5236506B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010159978A (ja) | 2010-07-22 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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