JP5235832B2 - アナログ出力装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態1の構成を示す図である。アナログ出力ユニット200は、CPUユニット(ユーザ)100と、バルブなどの外部機器110とに接続されている。CPUユニット100およびアナログ出力ユニット200は、プログラマブルコントローラを構成し、協働して外部機器110を制御する。
a≦b≦c、
a≦A、
b≦B、
c≦C。
なお、A、B、C、D、a、b、およびcの値は、ROM220にテーブル形式のデータ構造で保持されておくようにしてもよいし、起動時などのタイミングでCPUユニット100から与えられるようにしてもよい。CPUユニット100から与えられるようにする場合、与えられたA、B、C、D、a、b、およびcの値は、RAM230に格納される。
実施の形態1では、出力設定値に対してしきい値をステップ状に変化させる。これに対して実施の形態2では、しきい値を連続的に変化させることができる。図5は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態2の機能構成を示す図である。
(b−a)×(出力設定値−A)/(B−A)+a
に設定する(ステップS22)。
(c−b)×(出力設定値−B)/(C−B)+b
に設定する(ステップS24)。
(d−c)×(出力設定値−C)/(D−C)+c
に設定する(ステップS25)。ただし、dは、d≦c、かつd≦Dを満たすとする。また、dは、a、b、cなどと同様に、予め与えられているものとする。
実施の形態3によれば、出力設定値がしきい値未満となるとき、断線検出処理を自動的に無効とする。図8は、本発明の実施の形態3のアナログ出力ユニットの機能構成を説明する図である。
実施の形態4のアナログ出力ユニットは、実施の形態3と同様に、出力設定値がしきい値未満となるとき、断線検出処理を自動的に無効とする。また、実施の形態4のアナログ出力ユニットは、出力設定値に応じてしきい値をステップ状に変化させる。図11は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態4の機能構成を示す図である。
A<B<C<D、
a≦b≦c、
a≦A、
b≦B、
およびc≦C、
の関係が満たされることが必要であったが、本実施の形態4においては、出力設定値がしきい値を下回ると、断線の誤検出を防ぐために自動的に断線検出を無効とするので、
A<B<C<D、
およびa≦b≦c、
の関係を満たしていればよい。
A<B<C<D、
a≦b≦c、
a>A、
b≦B、
およびc≦C、
を満たしているとしている。図示するように、実施の形態1のようにしきい値がステップ状に変化しているが、出力設定値がaより小さい場合は断線検出が無効とされるのがわかる。
実施の形態4では、出力設定値に応じてしきい値をステップ状に変化させるようにした。これに対し、実施の形態5のアナログ出力ユニットは、出力設定値に応じてしきい値を連続的に変化させることができる。図14は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態5の機能構成を示す図である。
(b−a)×(出力設定値−A)/(B−A)+a
に設定する(ステップS52)。
(c−b)×(出力設定値−B)/(C−B)+b
に設定する(ステップS54)。
(d−c)×(出力設定値−C)/(D−C)+c
に設定する(ステップS55)。
A<B<C<D、
a≦b≦c、
a>A、
b≦B、
およびc=d≦C、
の関係を満たしているとしている。図示するように、実施の形態2のように出力設定値に対してしきい値が連続的に変化しているが、出力設定値がしきい値未満となる場合は断線検出が無効とされているのがわかる。
実施の形態3では、出力設定値がしきい値を下回る場合、断線検出処理を行わないようにした。しかしながら、実施の形態3では、断線検出処理を行う場合、A/D変換器250の測定誤差に起因して出力されたアナログ電流信号の真の値がしきい値を上回っているにも関わらず断線ありと誤判定される可能性があった。これに対し、実施の形態6では、A/D変換器250の測定値の精度を考慮し、出力設定値から所定のマージン(マージン値)を減算した値としきい値との比較に基づいて断線検出処理を実行するか否かを判定するようにした。マージン値は、よりくわしくは、A/D変換器250による測定値の真の値からの系統的および/または統計的なズレに基づいて定められる。例えば、測定値の分布が正規分布に従う場合、95.4%信頼区間は、測定値の平均値±2×標準誤差となる。統計的なズレに基づいて定める場合、2×標準誤差をマージン値とするようにしてもよい。
本実施の形態7のアナログ出力ユニットは、実施の形態6と同様、断線検出処理を実行するか否かの判定の際、出力設定値からマージン値を減算した値としきい値とを比較する。さらに、実施の形態7は、しきい値を出力設定値に対してステップ状に変化させる。図20は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態7の機能構成を示す図である。図示するように、実施の形態7のアナログ出力ユニット800は、断線検出実行/不実行判定部711を除いて実施の形態4と同様の機能構成を備えている。断線検出実行/不実行判定部711は、CPUユニット100から入力された出力設定値からマージン値を減算した値としきい値設定部211が設定したしきい値とに基づいて断線検出を行うか否かを判定する。
実施の形態7では、しきい値をステップ状に変化させるようにした。これに対し、実施の形態8のアナログ出力ユニットは、しきい値を連続的に変化させることができる。図23は、本発明にかかるアナログ出力ユニットの実施の形態8の機能構成を示す図である。図示するように、実施の形態8のアナログ出力ユニット900は、しきい値設定部311を除いて実施の形態7と同じ機能構成を備えている。しきい値設定部311は、CPUユニット100から受信した出力設定値に対してなだらかなしきい値を設定する。
(b−a)×(出力設定値−A)/(B−A)+a
に設定する(ステップS82)。
(c−b)×(出力設定値−B)/(C−B)+b
に設定する(ステップS84)。
(d−c)×(出力設定値−C)/(D−C)+c
に設定する(ステップS85)。
実施の形態1では、出力設定値に対してステップ状にしきい値が設定された。また、実施の形態2では、出力設定値に対して連続的に変化するしきい値が設定された。実施の形態9のアナログ出力ユニットは、出力設定値に対してしきい値をステップ状に変化させるか、連続的に変化させるかを選択することができるようになっている。
複数のチャネルに夫々異なる電流信号を出力できるアナログ出力ユニットがある。このようなアナログ出力ユニットに本発明を適用する場合、チャネル毎に異なる方法でしきい値を設定できるようにしてもよい。実施の形態10では、チャネル毎に異なる方法でしきい値を設定する。以下、実施の形態10のアナログ出力ユニットは、二つのチャネル(ch.1およびch.2)に出力できるものとして説明する。また、実施の形態10のアナログ出力ユニットの機能構成として実施の形態9の機能構成を用いて説明する。
110 外部機器
200 アナログ出力ユニット
210 プロセッサ
220 ROM
230 RAM
211 しきい値設定部
212 断線検出部
240 D/A変換器
250 A/D変換器
260 SRAM
300 アナログ出力ユニット
311 しきい値設定部
400 アナログ出力ユニット
411 断線検出実行/不実行判定部
500 アナログ出力ユニット
600 アナログ出力ユニット
700 アナログ出力ユニット
711 断線検出実行/不実行判定部
800 アナログ出力ユニット
900 アナログ出力ユニット
1000 アナログ出力ユニット
1011 しきい値設定部選択部
Claims (7)
- ユーザにより設定される出力設定値に基づいて、外部機器を制御するためのアナログ電流信号であって、0mAより大きい第1電流値が前記外部機器に対する0%指令に対応付けられ、前記第1電流値より大きい第2電流値が前記外部機器に対する100%指令に対応付けられ、0mA以上かつ前記第1電流値未満の第3電流値が前記外部機器に対する負の所定%指令に対応付けられている前記アナログ電流信号を算出し、前記算出したアナログ電流信号を前記外部機器へ出力する、前記第3電流値から前記第2電流値までのアナログ電流信号を出力可能なアナログ出力装置において、
前記外部機器へアナログ電流信号を供給する信号線が断線しているか否かを判定する断線検出処理を行うための断線しきい値を設定するしきい値設定部と、
前記外部機器へ出力されたアナログ電流信号を測定するアナログ電流信号測定部と、
前記しきい値設定部が設定した断線しきい値と前記アナログ電流信号測定部が測定したアナログ電流信号の測定値との比較に基づいて前記断線検出処理を行う断線検出部と、
を備え、
前記しきい値設定部は、少なくとも前記所定%指令から100%指令の範囲において前記出力設定値よりも小さいしきい値を設定する、
ことを特徴とするアナログ出力装置。 - ユーザにより設定される出力設定値に基づいて、外部機器を制御するためのアナログ電流信号であって、0mAより大きい第1電流値が前記外部機器に対する0%指令に対応付けられ、前記第1電流値より大きい第2電流値が前記外部機器に対する100%指令に対応付けられている前記アナログ電流信号を算出し、前記算出したアナログ電流信号を前記外部機器へ出力する、前記第1電流値未満のアナログ電流信号を出力可能なアナログ出力装置において、
前記外部機器へ出力されたアナログ電流信号を測定するアナログ電流信号測定部と、
前記アナログ電流信号測定部が測定したアナログ電流信号の測定値と断線しきい値との比較に基づいて前記外部機器へアナログ電流信号を供給する信号線が断線しているか否かを判定する断線検出処理を行う断線検出部と、
を備え、
前記断線しきい値と前記出力設定値との比較に基づいて前記断線検出部に断線検出処理を実行させるか否かを判定する断線検出実行/不実行判定部をさらに備える、
ことを特徴とするアナログ出力装置。 - 前記断線検出実行/不実行判定部は、前記出力設定値から所定のマージンを減算した値が前記断線しきい値よりも小さい場合、前記断線検出部に前記断線検出処理を実行せしめず、前記出力設定値から所定のマージンを減算した値が前記断線しきい値よりも大きい場合、前記断線検出部に前記断線検出処理を実行せしめる、
ことを特徴とする請求項2に記載のアナログ出力装置。 - 前記所定のマージンは、前記アナログ電流信号測定部の測定誤差に基づいて定められた値である、ことを特徴とする請求項3に記載のアナログ出力装置。
- 前記出力設定値に応じて前記断線しきい値を設定するしきい値設定部をさらに備える、ことを特徴とする請求項2乃至請求項4のうちの何れか一項に記載のアナログ出力装置。
- 前記しきい値設定部は、前記出力設定値の変化に対して前記しきい値をステップ状に変化させるか、または連続的に変化させるか、を切り替え可能とする、ことを特徴とする請求項1に記載のアナログ出力装置。
- 複数チャネルに夫々個別にアナログ電流出力を出力可能であって、
前記しきい値設定部は、前記出力設定値の変化に対して前記しきい値をステップ状に変化させるか、または連続的に変化させるか、をチャネル毎に切り替え可能とする、ことを特徴とする請求項6に記載のアナログ出力装置。
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JP2009228416A JP5235832B2 (ja) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | アナログ出力装置 |
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JP2009228416A JP5235832B2 (ja) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | アナログ出力装置 |
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JP2011075446A JP2011075446A (ja) | 2011-04-14 |
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2009
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