JP5179333B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
2 レンジ切替部
3 A/D変換部
4 演算制御部
5 記憶部
Ve 電圧実効値
VH,VH1,VH2 上限しきい値
VL,VL1,VL2 下限しきい値
Claims (3)
- 複数の測定レンジの中から切り替えられた現在の測定レンジで入力信号についてのパラメータを測定する測定部と、当該測定されたパラメータに基づいて前記測定レンジの切り替えを制御する制御部とを備えた測定装置であって、
前記各測定レンジの測定範囲を規定する上限しきい値および下限しきい値が記憶された記憶部を備え、
前記制御部は、前記現在の測定レンジで測定された前記パラメータが当該現在の測定レンジにおける前記上限しきい値を超えているときには上位の前記測定レンジに切り替えると共に、当該現在の測定レンジにおける前記下限しきい値を下回っているときには下位の前記測定レンジに切り替えるレンジ切替処理を実行し、かつ所定の条件を満たしたと判別したときに、前記記憶部に記憶されている前記各測定レンジの前記上限しきい値を上昇させるしきい値上昇処理および前記下限しきい値を低下させるしきい値低下処理の少なくとも一方を実行する測定装置。 - 前記制御部は、前記所定の条件を満たしたときに、前記しきい値低下処理および前記しきい値上昇処理の双方を実行する請求項1記載の測定装置。
- 前記制御部は、前記レンジ切替処理の実行によって発生する前記測定レンジの切り替えの単位時間当たりの回数が基準値以上となったときに前記所定の条件が満たされたと判別する請求項1または2記載の測定装置。
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