JP5232729B2 - 出力装置および試験装置 - Google Patents
出力装置および試験装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5232729B2 JP5232729B2 JP2009156183A JP2009156183A JP5232729B2 JP 5232729 B2 JP5232729 B2 JP 5232729B2 JP 2009156183 A JP2009156183 A JP 2009156183A JP 2009156183 A JP2009156183 A JP 2009156183A JP 5232729 B2 JP5232729 B2 JP 5232729B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- noise
- signal
- output
- driver
- waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31924—Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Claims (7)
- 与えられた入力信号に応じた出力信号を出力するメインドライバと、
ノイズ波形を含むノイズ信号を出力するノイズ用ドライバであって、イネーブル信号が印加されていない場合、出力端をハイインピーダンスとし、イネーブル信号が印加されている場合、与えられる制御信号の変化に応じて出力する前記ノイズ信号の電圧レベルを変化させるノイズ用ドライバと、
前記制御信号の変化タイミングおよび前記イネーブル信号の切替タイミングを制御して、前記出力信号が所定の伝送路を伝播した場合において発生するノイズ波形を含む前記ノイズ信号を前記ノイズ用ドライバから出力させる制御部と、
前記出力信号および前記ノイズ信号を合成した合成信号を出力する合成部と、
を備える出力装置。 - 前記制御部は、前記出力信号が所定の伝送路を伝播した場合において発生するリンギングノイズに応じたノイズ波形を含む前記ノイズ信号を前記ノイズ用ドライバから出力させる
請求項1に記載の出力装置。 - 前記制御部は、前記出力信号が所定の伝送路を伝播した場合において発生する不整合反射に応じたノイズ波形を含む前記ノイズ信号を前記ノイズ用ドライバから出力させる
請求項1または2に記載の出力装置。 - 前記ノイズ波形毎に、当該ノイズ波形を発生させるための前記制御信号の変化タイミングおよび前記イネーブル信号の切替タイミングを記憶するテーブル格納部を更に備え、
前記制御部は、外部から特定されたノイズ波形に応じて前記テーブル格納部から前記変化タイミングおよび前記切替タイミングを選択し、選択した前記変化タイミングおよび前記切替タイミングに応じて前記制御信号および前記イネーブル信号を生成する
請求項1から3の何れか一項に記載の出力装置。 - 前記制御部は、前記出力信号が所定の伝送路を伝播した場合において発生するノイズ波形を表す波形データを受け取り、受け取った前記波形データに応じて前記ノイズ波形を特定する
請求項4に記載の出力装置。 - 前記制御部は、前記出力信号が所定の伝送路を伝播した場合において発生するノイズのレベルに応じて、前記ノイズ用ドライバから出力される前記ノイズ信号の電圧レベルを変化させる
請求項1から5の何れか一項に記載の出力装置。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験信号を前記被試験デバイスに供給する請求項1から6の何れか一項に記載の出力装置を備える
試験装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009156183A JP5232729B2 (ja) | 2009-06-30 | 2009-06-30 | 出力装置および試験装置 |
TW099118425A TWI401451B (zh) | 2009-06-30 | 2010-06-07 | Output device and test device |
US12/796,584 US8451030B2 (en) | 2009-06-30 | 2010-06-08 | Output device and test apparatus |
KR1020100054350A KR20110001888A (ko) | 2009-06-30 | 2010-06-09 | 출력 장치 및 시험 장치 |
DE102010025708A DE102010025708A1 (de) | 2009-06-30 | 2010-06-30 | Ausgabegerät und Prüfvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009156183A JP5232729B2 (ja) | 2009-06-30 | 2009-06-30 | 出力装置および試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011013040A JP2011013040A (ja) | 2011-01-20 |
JP5232729B2 true JP5232729B2 (ja) | 2013-07-10 |
Family
ID=43379992
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009156183A Expired - Fee Related JP5232729B2 (ja) | 2009-06-30 | 2009-06-30 | 出力装置および試験装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8451030B2 (ja) |
JP (1) | JP5232729B2 (ja) |
KR (1) | KR20110001888A (ja) |
DE (1) | DE102010025708A1 (ja) |
TW (1) | TWI401451B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102015200442A1 (de) * | 2015-01-14 | 2016-07-14 | Robert Bosch Gmbh | Einschaltverzögerung für eigensichere Batteriezellen |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11326426A (ja) * | 1998-05-15 | 1999-11-26 | Advantest Corp | 雑音付加方法及びその装置 |
KR100295053B1 (ko) * | 1998-09-03 | 2001-07-12 | 윤종용 | 부하적응형저잡음출력버퍼 |
US6850441B2 (en) * | 2002-01-18 | 2005-02-01 | Sandisk Corporation | Noise reduction technique for transistors and small devices utilizing an episodic agitation |
JP2004012225A (ja) | 2002-06-05 | 2004-01-15 | Advantest Corp | 信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置 |
JP2004309153A (ja) | 2003-04-02 | 2004-11-04 | Advantest Corp | ノイズ試験装置 |
JP4176535B2 (ja) | 2003-04-02 | 2008-11-05 | 株式会社堀場製作所 | 赤外線分析装置 |
JP4567086B2 (ja) * | 2006-02-27 | 2010-10-20 | 富士通株式会社 | 回路基板、情報処理装置及び伝送方法 |
KR101223548B1 (ko) * | 2007-04-19 | 2013-01-18 | 고쿠사이 게이소쿠키 가부시키가이샤 | 만능 시험 장치, 직동 액추에이터, 및 비틀림 시험 장치 |
US7489190B2 (en) * | 2007-07-11 | 2009-02-10 | Himax Analogic, Inc. | Switching audio power amplifier with de-noise function |
-
2009
- 2009-06-30 JP JP2009156183A patent/JP5232729B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-06-07 TW TW099118425A patent/TWI401451B/zh not_active IP Right Cessation
- 2010-06-08 US US12/796,584 patent/US8451030B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-06-09 KR KR1020100054350A patent/KR20110001888A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-06-30 DE DE102010025708A patent/DE102010025708A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI401451B (zh) | 2013-07-11 |
US8451030B2 (en) | 2013-05-28 |
US20100327917A1 (en) | 2010-12-30 |
DE102010025708A1 (de) | 2011-02-03 |
KR20110001888A (ko) | 2011-01-06 |
JP2011013040A (ja) | 2011-01-20 |
TW201113538A (en) | 2011-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6105157A (en) | Salphasic timing calibration system for an integrated circuit tester | |
US6785858B2 (en) | Semiconductor device capable of adjusting timing of input waveform by tester with high accuracy | |
TWI404954B (zh) | 同步測試訊號的測試裝置以及測試方法 | |
JP4649480B2 (ja) | 試験装置、クロック発生装置、及び電子デバイス | |
JP6174296B2 (ja) | インターリーブ・デジタイザ・チャネルの校正方法 | |
US8324947B2 (en) | Output apparatus and test apparatus | |
KR100736676B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 장치 | |
KR100736680B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 장치의 캘리브레이션 방법 | |
JPWO2009075091A1 (ja) | 試験装置、試験方法、測定装置、および、測定方法 | |
CN109799373A (zh) | 具备多通道同步功能的任意波形发生器 | |
CN110967659B (zh) | 一种继电器综测仪的校准装置、系统及方法 | |
KR101355140B1 (ko) | 시험 장치 및 시험 방법 | |
US20090302917A1 (en) | Delay circuit and test method for delay circuit | |
TW201237982A (en) | High speed test circuit and method | |
JP5232729B2 (ja) | 出力装置および試験装置 | |
TW200708747A (en) | Time jitter injection testing circuit and related testing method | |
JP4469753B2 (ja) | 試験装置 | |
JP5331375B2 (ja) | サンプリング装置および試験装置 | |
JP5171811B2 (ja) | 試験装置および電子デバイス | |
JP5210840B2 (ja) | ジッタ印加装置および試験装置 | |
JP2000090693A (ja) | メモリ試験装置 | |
JP2007292471A (ja) | 半導体試験装置 | |
JPS6067869A (ja) | タイミング信号発生器 | |
JP2006179144A (ja) | Icの高速試験方法及び装置 | |
JP2002131394A (ja) | 半導体試験装置のテスト波形生成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120127 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130129 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130312 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130325 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160329 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |