JP5231070B2 - 気体軸受けの接触検知機構 - Google Patents

気体軸受けの接触検知機構 Download PDF

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本発明は、半導体ウエーハや電子部品を研削、研磨、又は切削する半導体製造装置に用いられる気体軸受けの接触検知機構に関する。
シリコン基板にIC、LSI等の回路が複数形成された半導体ウエーハ、又は電子部品に使用される各種セラミック基板、ガラス基板、樹脂基板等の板状物は研削・研磨装置によってその裏面が研削・研磨された後に、ダイシング装置やレーザー加工機等の切削装置によって個々のチップに分割され、各種電子機器に広く利用されている。
これら研削装置、研磨装置、切削装置等の半導体製造装置には、例えば切削ブレードや研削ホイールを回転させるスピンドルの支持手段として、切削装置において被加工物を保持し、加工中に切削ブレードに対してチャックテーブルを加工送りするチャックテーブルのスライダの支持手段として、更に研削装置においては、粗研削領域から仕上げ研削領域に被加工物を移動せしめるターンテーブルの支持手段として空気軸受け等の気体軸受けが用いられている。
特許公報第2688623号 特開2001−313326号公報
一般にこれら気体軸受けの気体供給路には気体の供給量を管理する電磁弁が設置されているが、電磁弁と気体軸受けとの間で気体供給路に破損が生じた場合には気体軸受けに気体が供給されず、可動部が基台に接触してしまうことになる。可動部が基台に接触した状態で装置が稼動されると、当然部品が破壊されてしまうという問題を生じる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、可動部と基台とが接触した際に接触を検知可能な気体軸受けの接触検知機構を提供することである。
発明によると、基台に対して可動部を絶縁状態で支持する気体軸受けの接触検知機構であって、第1及び第2接触検知回路と、該第1及び第2接触検知回路の異常を判定する異常判定手段とを具備し、前記第1接触検知回路は、該可動部に接続された電源と、該基台に一端が接続された抵抗値R1を有する第1抵抗体と、一端が該電源に接続され他端が該第1抵抗体の他端に接続された抵抗値R2を有する第2抵抗体と、一端が該第1及び第2抵抗体の他端に接続され、他端がグランドに接続された抵抗値R3を有する第3抵抗体と、該第3抵抗体の前記一端と他端との間の電位差を検出する第1電位差検出手段とから構成され、前記第2接触検知回路は、該基台に一端が接続された抵抗値R1を有する第4抵抗体と、一端が前記可動部を介して前記電源に接続され他端が該第4抵抗体の他端に接続された抵抗値R2を有する第5抵抗体と、一端が該第4及び第5抵抗体の他端に接続され、他端がグランドに接続された抵抗値R3を有する第6抵抗体と、該第6抵抗体の前記一端と他端との間の電位差を検出する第2電位差検出手段から構成され、前記異常判定手段は、電源電圧をEとしたとき、前記第1電位差検出手段で検出された電位差と前記第2電位差検出手段で検出された電位差が{R3/(R2+R3)}Eに一致した場合のみ正常と判定し、{R3/(R2+R3)}Eに一致しない電位差が検出された場合に異常と判定することを特徴とする気体軸受けの接触検知機構が提供される。
発明によると、複数の接触検知回路を有するため、回路に破断が生じることで接触を検知できない危険性を低減することができ、可動部を基台に接触した状態で装置を稼動させてしまうことを確実に防止できる。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の気体軸受けの接触検知機構を適用するのに適した研削装置2の斜視図を示している。
4は研削装置2のハウジングであり、ハウジング4の後方には二つのコラム6a,6bが垂直に立設されている。コラム6aには、上下方向に伸びる一対のガイドレール(一本のみ図示)8が固定されている。
この一対のガイドレール8に沿って粗研削ユニット10が上下方向に移動可能に装着されている。粗研削ユニット10は、そのハウジング20が一対のガイドレール8に沿って上下方向に移動する移動基台12に取り付けられている。
粗研削ユニット10は、ハウジング20と、ハウジング20中に回転可能に収容された図示しないスピンドルと、スピンドルを回転駆動するサーボモータ22と、スピンドルの先端に固定された複数の粗研削用の研削砥石26を有する研削ホイール24を含んでいる。
粗研削ユニット10は、粗研削ユニット10を一対の案内レール8に沿って上下方向に移動するボールねじ14とパルスモータ16とから構成される粗研削ユニット移動機構18を備えている。パルスモータ16をパルス駆動すると、ボールねじ14が回転し、移動基台12が上下方向に移動される。
他方のコラム6bにも、上下方向に伸びる一対のガイドレール(一本のみ図示)19が固定されている。この一対のガイドレール19に沿って仕上げ研削ユニット28が上下方向に移動可能に装着されている。
仕上げ研削ユニット28は、そのハウジング36が一対のガイドレール19に沿って上下方向に移動する図示しない移動基台に取り付けられている。仕上げ研削ユニット28は、ハウジング36と、ハウジング36中に回転可能に収容された図示しないスピンドルと、スピンドルを回転駆動するサーボモータ38と、スピンドルの先端に固定された仕上げ研削用の研削砥石42を有する研削ホイール40を含んでいる。
仕上げ研削ユニット28は、仕上げ研削ユニット28を一対の案内レール19に沿って上下方向に移動するボールねじ30とパルスモータ32とから構成される仕上げ研削ユニット移動機構34を備えている。パルスモータ32を駆動すると、ボールねじ30が回転し、仕上げ研削ユニット28が上下方向に移動される。
研削装置2は、コラム6a,6bの前側においてハウジング4の上面と略面一となるように配設されたターンテーブル44を具備している。ターンテーブル44は比較的大径の円盤状に形成されており、図示しない回転駆動機構によって矢印45で示す方向に回転される。
ターンテーブル44は図示しないターンテーブルベースとターンテーブル44との間に導入された圧縮空気等の気体軸受けにより回転可能に支持されている。ターンテーブル44とターンテーブルベースとの間の接触を検知する本発明実施形態の気体軸受けの接触検知機構については後に詳細に説明する。
ターンテーブル44には、互いに円周方向に120°離間して3個のチャックテーブル46が水平面内で回転可能に配置されている。チャックテーブル46は、ポーラスセラミック材によって円盤状に形成された吸着チャックを有しており、吸着チャックの保持面上に載置されたウエーハを真空吸引手段を作動することにより吸引保持する。48は研削されたウエーハの厚みを測定する厚みゲージである。
ターンテーブル44に配設された3個のチャックテーブル46は、ターンテーブル44が適宜回転することにより、ウエーハ搬入・搬出領域A、粗研削加工領域B、仕上げ研削加工領域C、及びウエーハ搬入・搬出領域Aに順次移動される。
ハウジング4の前側部分には、第1のウエーハカセット50と、第2のウエーハカセット52と、ウエーハ搬送ロボット54と、複数の位置決めピン58を有する位置決めテーブル56と、ウエーハ搬入機構(ローディングアーム)60と、ウエーハ搬出機構(アンローディングアーム)62と、スピンナユニット63が配設されている。ウエーハ搬出機構62は本発明の板状物の搬送装置の一実施形態である。
また、ハウジング4の概略中央部には、チャックテーブル46を洗浄する洗浄水噴射ノズル67が設けられている。この洗浄水噴射ノズル67は、チャックテーブル46がウエーハ搬入・搬出領域Aに位置付けられた状態において、チャックテーブル46に向かって洗浄水を噴射する。
図2を参照すると、本発明実施形態の気体軸受けの接触検知機構の回路図が示されている。68は静止基台としてのターンテーブルベースであり、図示しないモータによりターンテーブル回転軸70を回転することにより、ターンテーブル44が空気軸受け等の気体軸受け72により支持されながらターンテーブルベース68に対して回転される。
第1抵抗体R1の一端はターンテーブルベース68に接続され、第2抵抗体R2の一端はEボルト(V)の電源及びターンテーブル44に接続されている。第1及び第2抵抗体R1,R2の他端同士は互いに接続されている。
さらに、第3抵抗体R3の一端が第1及び第2抵抗体R1,R2の他端に接続され、第3抵抗体R3の他端はグランドに接続されている。第3抵抗体R3の両端には第1電位差検出手段V1が接続されており、第3抵抗体R3の一端と他端との間の電位差を検出する。
第4抵抗体R4の一端がターンテーブルベース68に接続され、第5抵抗体R5の一端がターンテーブル44を介してEボルト(V)の電源に接続されている。第4及び第5抵抗体R4,R5の他端同士は互いに接続されている。
さらに、第6抵抗体R6の一端が第4及び第5抵抗体R4,R5の他端に接続され、第6抵抗体R6の他端はグランドに接続されている。第6抵抗体R6の両端には第2電位差検出手段V2が接続されており、第6抵抗体R6の一端と他端との間の電位差を検出する。
本実施形態では、第1抵抗体R1と第4抵抗体R4の抵抗値は等しく、第2抵抗体R2と第5抵抗体R5の抵抗値は等しく、第3抵抗体R3と第6抵抗体R6の抵抗値は等しく設定されている。
第1から第3抵抗体R1〜R3と、第1電位差検出手段V1により第1接触検知回路74を構成し、第4から第6抵抗体R4〜R6と、第2電位差検出手段V2により第2接触検知回路76を構成する。すなわち、本実施形態の気体軸受けの接触検知機構においては、電源とグランドとの間に同一構成の第1及び第2接触検知回路74,76が並列に接続されている。
図3〜図9を参照して、上述した気体軸受けの接触検知機構の作用について説明する。簡単化のために第1から第6抵抗体R1〜R6の抵抗値は全て1Ωとして、電源電圧EVは24Vとして計算する。
図3(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触で回路の断線がない場合の接触検知機構の接続状態を示しており、図3(B)はその等価回路を示している。
この場合には、V1={R3/(R2+R3)}× 24V
= 1/2×24V
= 12Vとなる。
同様に、V2=12Vとなる。このように、V1=V2=12Vを検出することにより、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触であることを検出できる。
図4(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触し、且つ回路の断線がない時の気体軸受けの接触検知機構の接続状態を示しており、図4(B)はその等価回路図である。
この場合には、第1抵抗体R1と第2抵抗体R2の合成抵抗をRとすると、
1/R=1/R1+1/R2
1/R=1+1=2
よって、R=1/2となる。
従って、V1={R3/(R+R3)}×24={1+(1/2+1)}×24=16Vとなる。同様に、V2=16Vとなり、第1及び第2電位差検出手段V1,V2が共に16Vを検出することにより、回路の断線はないがターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触していると検出できる。
図5(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ第1抵抗体R1が断線している場合の気体軸受けの接触検知機構の接続状態を示しており、図5(B)はその等価回路図である。この場合には、V1=12Vが検出され、V2=16Vが検出される。
よって、V1=12V且つV2=16Vを検出することにより、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、第1抵抗体R1が断線していると検出することができる。
ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触時で、第1抵抗体R1に代わり第4抵抗体R4が断線している場合も同様に計算することができ、この時にはV1=16V、V2=12Vとなる。
図6(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触時で第1抵抗体R1が断線している場合の気体軸受けの接触検知機構の接続状態を示しており、図6(B)はその等価回路図である。
この場合には、図6(B)の等価回路図を参照すると明らかなように、回路的には図3(B)の等価回路と全く同じになる。よって、V1=12V、V2=12Vが検出され、図3に示した正常時と全く区別することができないが、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触であるため問題はない。
ターンテーブル44とターンテーブルベース68が非接触時で第4抵抗体R4が断線した場合も同様であり、本実施形態では、ターンテーブル44とターンテーブルベース68が非接触時に第4抵抗体R4の断線は検出することができないが、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触であるため問題はない。
図7(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触時に第2抵抗体R2が断線した場合の気体軸受けの接触検知機構の接続状態を示しており、図7(B)はその等価回路図である。
この場合には、図7(B)に示す等価回路は図5(B)に示す等価回路と同一であるため、V1=12V、V2=16Vが検出される。よって、V1=12V、V2=16Vが検出された場合には、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ第1抵抗体R1又は第2抵抗体R2のいずれかが断線していると検出される。
ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触時に第5抵抗体R5が断線している場合には、同様にしてV1=16V、V2=12Vが検出される。よって、V1=16V、V2=12Vが検出された場合には、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ第4抵抗体R4又は第5抵抗体R5のいずれかが断線していると検出できる。
図8(A)はターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触時で、且つ第2抵抗体R2が断線している場合の気体軸受けの接触検知機構の接続状態を示しており、図8(B)はその等価回路図である。
この場合には、第1、第3、第4、第6抵抗体の合成抵抗をRyとすると、
1/Ry=1/R6+1/(R4+R1+R3)
=1+1/3=4/3となり、
Ry=3/4と求められる。
Ryにかかる電圧をEyとすると、
Ey=24V×{Ry/(R5+Ry)}
=24V×{3/4/(1+3/4)}
=24V×3/7=10.28Vとなる。
よって、
V1=10.28V×R3/(R4+R1+R3)
=10.28V×1/3
=3.42Vとなる。
また、第6抵抗体R6にかかる電圧V2は、合成抵抗Ryにかかる電圧と同じであるので、V2=10.28Vとなる。よって、V1=3.42V、V2=10.28Vを検出することにより、ターンテーブル44はターンテーブルベース68に非接触だが、第2抵抗体R2が断線していると検出できる。
同様にして、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触で第5抵抗体R5が断線している場合には、V1=10.28V、V2=3.42Vとなる。よって、V1=10.28V、V2=3.42Vを検出することにより、ターンテーブル44はターンテーブルベース68に非接触であるが、第5抵抗体R5は断線していると検出できる。
図9を参照すると、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ配線が第3抵抗体R3側で断線している場合の、気体軸受けの接触検知機構の配線状態を示している。この時には、第3抵抗体R3側には電流が流れないので、V1=N/A(ノンアドレス)、すなわちV1は検出エラーとなる。また、V2=16Vと検出される。
よって、V1=N/A、V2=16Vと検出された場合には、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ配線が第3抵抗体R3側で断線していると検出できる。
同様にして、V1=16V、V2=N/A(検出エラー)を検出した場合には、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に接触しており、且つ配線が第6抵抗体R6側で断線していると検出できる。
ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触時で、且つ配線が第3抵抗体R3側で断線している場合には、V1=N/A(検出エラー)、V2=12Vと検出される。
よって、V1=N/A(検出エラー)、V2=12Vと検出された場合には、ターンテーブル44はターンテーブルベース68に非接触であるが、配線が第3抵抗体R3側で断線していると検出できる。
同様にして、ターンテーブル44がターンテーブルベース68に非接触時に、配線が第6抵抗体R6側で断線している場合には、V1=12V、V2=N/A(検出エラー)と検出される。
よって、V1=12V、V2=N/A(検出エラー)と検出した場合には、ターンテーブル44はターンテーブルベース68に非接触であるが、配線が第6抵抗体R6側で断線していると検出できる。
以上の説明では、本発明の気体軸受けの接触検知機構を研削装置のターンテーブルに適用した例について説明したが、本発明の適用例はこれに限定されるものではなく、切削装置のスピンドルの気体軸受け、切削装置のX軸方向移動機構の気体軸受け、更には研削装置又は研磨装置のスピンドルの気体軸受け等にも同様に適用可能である。
本発明の気体軸受けの接触検知機構を適用するのに適した研削装置の全体斜視図である。 本発明実施形態にかかる気体軸受けの接触検知機構の配線関係を示す図である。 図3(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに非接触時で且つ断線なしの時の配線状態を示す図であり、図3(B)はその等価回路図である。 図4(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに接触時で且つ断線なしの時の配線状態を示す図であり、図4(B)はその等価回路図である。 図5(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに接触時で且つ第1抵抗体が断線している時の配線状態を示す図であり、図5(B)はその等価回路図である。 図6(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに非接触時で且つ第1抵抗体が断線している時の配線状態を示す図であり、図6(B)はその等価回路図である。 図7(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに接触時で且つ第2抵抗体が断線している時の配線状態を示す図であり、図7(B)はその等価回路図である。 図8(A)はターンテーブルがターンテーブルベースに非接触時で且つ第2抵抗体が断線している時の配線状態を示す図であり、図8(B)はその等価回路図である。 ターンテーブルがターンテーブルベースに接触時で且つ配線が第3抵抗体側で断線している時の配線状態を示す図である。
符号の説明
2 研削装置
10 粗研削ユニット
28 仕上げ研削ユニット
44 ターンテーブル
46 チャックテーブル
68 ターンテーブルベース
70 回転軸
72 気体軸受け(空気軸受け)
74 第1接触検知回路
76 第2接触検知回路

Claims (1)

  1. 基台に対して可動部を絶縁状態で支持する気体軸受けの接触検知機構であって、
    第1及び第2接触検知回路と、
    該第1及び第2接触検知回路の異常を判定する異常判定手段とを具備し、
    前記第1接触検知回路は、
    該可動部に接続された電源と、
    該基台に一端が接続された抵抗値R1を有する第1抵抗体と、
    一端が該電源に接続され他端が該第1抵抗体の他端に接続された抵抗値R2を有する第2抵抗体と、
    一端が該第1及び第2抵抗体の他端に接続され、他端がグランドに接続された抵抗値R3を有する第3抵抗体と、
    該第3抵抗体の前記一端と他端との間の電位差を検出する第1電位差検出手段とから構成され、
    前記第2接触検知回路は、
    該基台に一端が接続された抵抗値R1を有する第4抵抗体と、
    一端が前記可動部を介して前記電源に接続され他端が該第4抵抗体の他端に接続された抵抗値R2を有する第5抵抗体と、
    一端が該第4及び第5抵抗体の他端に接続され、他端がグランドに接続された抵抗値R3を有する第6抵抗体と、
    該第6抵抗体の前記一端と他端との間の電位差を検出する第2電位差検出手段から構成され、
    前記異常判定手段は、電源電圧をEとしたとき、前記第1電位差検出手段で検出された電位差と前記第2電位差検出手段で検出された電位差が{R3/(R2+R3)}Eに一致した場合のみ正常と判定し、{R3/(R2+R3)}Eに一致しない電位差が検出された場合に異常と判定することを特徴とする気体軸受けの接触検知機構。
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