JP5229332B2 - 信号入力回路、及び集積回路 - Google Patents
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Description
また、判定処理部は、例えば、AD変換回路を有していても良く、AD変換により検査経路の電圧値を検知することで、端子異常を検出しても良い。また、判定処理部は、検査経路の電圧の変化を検知する回路を有していても良く、導通手順の前後で検査経路の電圧値がどの程度変化したかを検知することで、端子異常を検出しても良い。
こうすることにより、端子検査電圧値が設定された検査コンデンサと検査経路とを導通させるに際して、寄生容量の影響による検査経路の電圧値の変化を抑えることができる。このため、端子異常が生じた場合に、端子異常検出処理の導通手順により高い精度で検査経路を端子検査電圧値にすることができ、端子異常の検出精度を高めることができる。
こうすることにより、信号入力装置内部の寄生容量等に応じて、検査コンデンサの容量を容易に変更することができる。
すなわち、請求項4に記載されているように、信号入力装置には、異なる入力信号が入力される複数の信号入力端子が設けられており、接続部は、それぞれの信号入力端子についての検査経路を一括して導通,遮断する検査スイッチと、それぞれの信号入力端子について、検査スイッチとの間の端子経路を導通,遮断する選択スイッチとを有しており、検査スイッチと選択スイッチとにより、それぞれの信号入力端子についての検査経路を導通,遮断しても良い。
また、請求項5に記載されているように、信号入力端子と基準電位との間に設けられた入力側コンデンサをさらに備えていても良い。
こうすることにより、信号入力端子の電圧値の変化を抑えることができ、端子異常検出処理の影響による入力信号の電圧値の変動を抑えることができる。
こうすることにより、入力側コンデンサのオープンを検出することが可能となる。
しかしながら、入力信号の電圧値がコンデンサ検査電圧値に近い値である場合には、入力側コンデンサのオープンが生じていても、検査経路の導通の前後で検査区間の電圧値が十分に変動せず、入力側コンデンサのオープンを検出することができない。
ところで、検査コンデンサの電圧値を検査電圧値に設定した後に、いずれかの信号入力端子と検査コンデンサとの間を導通させると、該信号入力端子に設けられた入力側コンデンサと検査コンデンサとの間で電荷の移動が生じ、該信号入力端子の電圧変化が生じる。ここで、信号入力装置の各信号入力端子には、入力側コンデンサと共にフィルタ回路を構成する入力側抵抗が設けられていても良く、このような入力側抵抗の端子のオープンが生じていない場合には、検査コンデンサや入力側コンデンサと外部との間で電荷が移動するため、上記電圧変化が生じた後、信号入力端子の電圧値は入力信号の電圧値に戻る。これに対し、入力側抵抗のオープンが生じている場合には、外部との間で電荷の移動が生じず、変化後の電圧が維持される。このため、入力側抵抗のオープンが生じている場合に、検査コンデンサに検査電圧値を設定する処理と、該検査コンデンサといずれかの信号入力端子との間を導通させる処理とを繰り返すと、該信号入力端子の電圧が段階的に変化し、検査電圧値に近づく。したがって、これらの処理を繰り返した後の信号入力端子の電圧値を検知することで、入力側抵抗のオープンを検出することができる。
こうすることにより、入力側抵抗のオープンを検出することが可能となる。
しかしながら、入力信号の電圧値が抵抗検査電圧値付近である場合には、入力側抵抗のオープンが生じていない場合であっても、上記処理を繰り返した後には、信号入力端子は抵抗検査電圧値付近の電圧値となる。
そこで、請求項12に記載の信号入力回路では、判定処理部は、検査スイッチにより検査経路を遮断させた後に、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定する検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理を実行した後の検査経路の電圧値に基づき、検査スイッチの異常を検出する。
また、請求項13に記載の信号入力回路では、判定処理部は、検査スイッチにより検査経路を遮断させると共に、選択スイッチにより全ての信号入力端子についての端子経路を遮断させた後に、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、検査スイッチにより検査経路を導通させる充放電部異常検出処理をさらに実行し、該充放電部異常検出処理を実行した後の検査経路の電圧値に基づき、充放電部と、接続部と、検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出する。
まず、第1実施形態のセンサ信号入力回路について説明する。
[構成の説明]
図1は、第1実施形態のセンサ信号入力回路100の構成を示すブロック図である。このセンサ信号入力回路100には、温度センサや車両のアクセルの操作状態を検知するスロットルセンサ等のように、測定対象の状態やユーザの操作に応じて0V〜5Vの範囲で電圧値が変化するセンサ信号を生成する複数の第1〜第Nセンサ200a〜200cが接続されており、これらのセンサから入力されたセンサ信号の電圧値をAD変換により検知し、検知した電圧値に基づき処理を行うよう構成されている。
次に、第1実施形態のセンサ信号入力回路100の動作について説明する。センサ信号入力回路100は、検査用電源117や検査スイッチ118やマルチプレクサ114等により、検査対象となるいずれか一つの信号入力端子に接続された入力側コンデンサと検査コンデンサ150との間で電荷の移動を生じさせることで、センサ信号の伝達経路の断線等といった各種異常を検出するよう構成されている。
まず、検査コンデンサ150に5Vの電圧を印加することで、検査コンデンサ150の電圧値を5Vに設定する5Vチャージ処理について、図2(a)に記載のフローチャートを用いて説明する。この処理は、異常検出を行う際にIC110の制御回路115により実行される処理である。
(2)0Vチャージ処理について
次に、検査コンデンサ150に0Vの電圧を印加することで、検査コンデンサ150の電圧値を0Vに設定する0Vチャージ処理について、図2(b)に記載のフローチャートを用いて説明する。この処理は、異常検出を行う際にIC110の制御回路115により実行される処理である。なお、0Vチャージ処理は5Vチャージ処理と類似した処理であるので、5Vチャージ処理との相違点を中心に説明する。
5Vチャージ処理のS315に相当するS340では、制御回路115は、検査用電源117の5Vスイッチ117aをOFF、0Vスイッチ117bをONとし、検査コンデンサ150に0Vの電圧を印加する。そして、S345に処理を移行する。
(3)IC異常検出処理について
次に、IC110の信号入力端子のオープン、或いは信号入力端子から検査スイッチ118までの経路上の断線である端子異常の検出について説明する。
S402では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S403に処理を移行する。
S405では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S406に処理を移行する。
続いて、図4に基づき説明を行う。S403やS406にて否定判定が得られた場合に移行するS408では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行し、S409に処理を移行する。
S410では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S411に処理を移行する。
S413では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S414に処理を移行する。
S415では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S415:Yes)、図5のS423に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S415:No)、S416に処理を移行する。
S418では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S419に処理を移行する。
S420では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S420:Yes)、S421に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S420:No)、S422に処理を移行する。
S425では、制御回路115は、検査対象の信号入力端子に接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、該信号入力端子と信号ライン119dとの間の接続状態を導通状態に設定する。そして、S426に処理を移行する。
S427では、制御回路115は、検知した電圧値が5V或いは5V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S427:Yes)、S428に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S427:No)、S434に処理を移行する。
S429では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S430に処理を移行する。
S431では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S432に処理を移行する。
なお、図6には、IC異常検出処理により検出される異常の一覧を示す表が記載されている。該表に記載されているように、IC異常検出処理のS401〜S407では、5Vチャージ処理後に検知された電圧値が5V付近、かつ、0Vチャージ処理後に検知された電圧値が0V付近である場合には、検査スイッチ118のON固着が検出される。
次に、第1〜第N信号入力端子111a〜111cに接続されたフィルタ回路140a〜140cを構成する入力側抵抗のオープンを検出する入力側抵抗異常検出処理について説明する。
センサ信号入力回路100のIC110では、5Vチャージ処理或いは0Vチャージ処理が実行された後に、いずれかの信号入力端子と検査コンデンサ150との間を導通状態に設定する処理(導通処理と記載)が実行されると、該信号入力端子に接続された入力側コンデンサと検査コンデンサ150との間で電荷の移動が生じる。そして、正常時には、センサ信号入力回路100の外部と入力側コンデンサ,検査コンデンサとの間で電荷が移動するため、導通処理の後、一時的に信号入力端子の電圧値が変動するが、その後、信号入力端子の電圧値はセンサ信号の電圧値となる。これに対し、入力側抵抗のオープンが生じている場合には、センサ信号入力回路100の外部との間で電荷の移動が生じず、5Vチャージ処理等と導通処理とを複数回にわたり実行すると、信号入力端子の電圧値が5V或いは0Vに近づく。
次に、入力側抵抗異常検出処理の詳細について、図9に記載のフローチャートを用いて説明する。なお、本処理は、いずれか一つの入力側抵抗を検査対象として実行され、センサ信号入力回路100の動作中に、検査対象とする入力側抵抗を切り替えながら定期的に実行される処理である。
S510では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S515に処理を移行する。
S520では、制御回路115は、5Vチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S520:Yes)、S525に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S520:No)、S505に処理を移行する。
S530では、制御回路115は、検知した電圧値が5V或いは5V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S530:Yes)、S535に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S530:No)、S570に処理を移行する。
S540では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S545に処理を移行する。
S550では、制御回路115は、0Vチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S550:Yes)、S555に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S550:No)、S535に処理を移行する。
S560では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S560:Yes)、S565に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S560:No)、S570に処理を移行する。
一方、S570では、制御回路115は、検査対象の入力側抵抗の異常は無いものとみなし、本処理を終了する。
次に、第1〜第N信号入力端子111a〜111bに接続されたフィルタ回路140a〜140cを構成する入力側コンデンサのオープンを検出する入力側コンデンサ異常検出処理について説明する。
第1実施形態のセンサ信号入力回路100では、5Vチャージ処理或いは0Vチャージ処理の後に、いずれかの信号入力端子と検査コンデンサ150との間を導通状態に設定する処理(導通処理と記載)が実行されると、検査コンデンサ150の充放電が生じ、信号入力端子の電圧が一時的に変動する。そして、信号入力端子に入力側コンデンサが接続されていない場合には、入力側コンデンサが接続されている場合に比べて信号入力端子の電圧の変動幅が大きくなる。センサ信号入力回路100では、この変動幅を検知することで、入力側コンデンサのオープンが検出される。
次に、入力側コンデンサ異常検出処理の詳細について、図12に記載のフローチャートを用いて説明する。なお、本処理は、いずれか一つの入力側コンデンサを検査対象として実行され、センサ信号入力回路100の動作中に、検査対象とする入力側コンデンサを切り替えながら定期的に実行される処理である。
S610では、制御回路115は、検査対象の入力側コンデンサに繋がる信号入力端子に接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、S615に処理を移行する。
S620では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S625に処理を移行する。
S640では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行し、S645に処理を移行する。
S650では、制御回路115は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路112aに信号ライン119dの電圧値を保持させる。そして、S655に処理を移行する。
S660では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路112bにより信号ライン119dの電圧値と判定電圧保持回路112aに保持された電圧値との差分(判定結果保持値)を検知させ、判定結果保持値を判定結果保持回路112cに保持させる。そして、S665に処理を移行する。
一方、S675では、制御回路115は、検査対象の入力側コンデンサの異常は無いものとみなし、本処理を終了する。
次に、第2実施形態のセンサ信号入力回路について説明する。
[構成の説明]
図13は、第2実施形態のセンサ信号入力回路800の構成を示すブロック図である。このセンサ信号入力回路800には、第1実施形態と同様の第1〜第Nセンサ200a〜200cが接続されており、これらのセンサから入力された0V〜5Vの範囲のセンサ信号に応じて処理を実行するよう構成されている。
次に、第2実施形態のセンサ信号入力回路800の動作について説明する。センサ信号入力回路800においても、第1実施形態と同様の5Vチャージ処理や0Vチャージ処理が実行され、検査対象の信号入力端子に接続された入力側コンデンサと検査コンデンサ150との間で電荷の移動を生じさせることで、端子異常等が検出される。しかしながら、第1実施形態のセンサ信号入力回路100では、ADコンバータ116により信号ライン119dの電圧値を検知することで電荷の移動が検出されるが、第2実施形態のセンサ信号入力回路800では、電圧変化検知回路812により信号ライン819dの電圧値の変化を検知することで電荷の移動が検出され、この点において相違している。
次に、第1〜第N信号入力端子811a〜811cのオープンや、該信号入力端子からのセンサ信号の伝達経路における断線等の検出を行うIC異常検出処理について、図14〜16に記載のフローチャートを用いて説明する。なお、本処理は、いずれか一つの信号入力端子を検査対象として実行され、センサ信号入力回路800の動作中に、検査対象とする信号入力端子を切り替えながら定期的に実行される処理である。
S903、及びこれに続くS904では、制御回路815は、判定回路812bにより、信号ライン819dの電圧値と判定電圧保持回路812aに保持された5Vの電圧値との差分(判定結果保持値)を検知させ、その後、判定結果保持回路812cに対して判定結果保持信号を出力して該判定結果保持値を判定結果保持回路812cに保持させる。そして、S905に処理を移行する。
S908、及びこれに続くS909では、制御回路815は、判定回路812bにより、信号ライン819dの電圧値と判定電圧保持回路812aに保持された0Vの電圧値との差分(判定結果保持値)を検知させ、その後、判定結果保持回路812cに対して判定結果保持信号を出力して該判定結果保持値を判定結果保持回路812cに保持させる。そして、S910に処理を移行する。
続いて、図15に基づき説明を行う。S905やS910にて否定判定が得られた場合に移行するS912では、制御回路815は、上述のごとく、判定電圧保持回路812aに5Vの電圧値を保持させ、S913に処理を移行する。
S914では、制御回路815は、検査スイッチ818をONとし、S915に処理を移行する。
S919では、制御回路815は、0Vチャージ処理を実行し、S920に処理を移行する。
S921、及びこれに続くS922では、制御回路815は、上述のごとく、信号ライン819dの電圧値と判定電圧保持回路812aに保持された0Vの電圧値との差分(判定結果保持値)を判定結果保持回路812cに保持させる。そして、S923に処理を移行する。
S926では、制御回路815は、0Vチャージ処理を実行し、S927に処理を移行する。
S928、及びこれに続くS929では、制御回路815は、上述のごとく、信号ライン819dの電圧値と判定電圧保持回路812aに保持された0Vの電圧値との差分(判定結果保持値)を判定結果保持回路812cに保持させる。そして、S930に処理を移行する。
S935では、制御回路815は、判定電圧保持信号を出力することで、判定電圧保持回路812aに5Vの電圧値を保持させ、S936に処理を移行する。
S937、及びこれに続くS938では、制御回路815は、上述のごとく、信号ライン819dの電圧値と判定電圧保持回路812aに保持された5Vの電圧値との差分(判定結果保持値)を判定結果保持回路812cに保持させる。そして、S939に処理を移行する。
S941では、制御回路815は、検査スイッチ818をONとし、S942に処理を移行する。
S943では、制御回路815は、検査対象の信号入力端子に接続されたマルチプレクサ814のスイッチをONとし、S944に処理を移行する。
(2)入力側抵抗異常検出処理について
次に、第1〜第N信号入力端子811a〜811bに接続されたフィルタ回路840a〜840cを構成する入力側抵抗のオープンを検出する入力側抵抗異常検出処理について説明する。第2実施形態のセンサ信号入力回路800においても、第1実施形態と同様の方法で入力側抵抗のオープンが検出される。しかしながら、第2実施形態では、ADコンバータに替えて電圧変化検知回路812により信号入力端子の電圧の変化が検出され、この点において相違している。
S1010では、制御回路815は、5Vチャージ処理を実行し、S1015に処理を移行する。
S1020では、制御回路815は、検査対象の入力側抵抗に繋がる信号入力端子に接続されたマルチプレクサ814のスイッチをONとし、S1025に処理を移行する。
S1050では、制御回路815は、上述のごとく、判定電圧保持回路812aに0Vの電圧値を保持させ、S1055に処理を移行する。
S1060では、制御回路815は、検査スイッチ118をONとし、S1065に処理を移行する。
S1070では、制御回路815は、0Vチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合には(S1070:Yes)、S1075に処理を移行し、否定判定が得られた場合には(S1070:No)、S1055に処理を移行する。
一方、S1095では、制御回路815は、検査対象の入力側抵抗の異常は無いものとみなし、本処理を終了する。
第2実施形態のセンサ信号入力回路800においても、第1〜第N信号入力端子811a〜811bに接続されたフィルタ回路840a〜840cを構成する入力側コンデンサの断線を検出する入力側コンデンサ異常検出処理が実行される。本処理は、第1実施形態の入力側コンデンサ異常検出処理と同様であるため、説明を省略する。
第1,第2実施形態のセンサ信号入力回路によれば、検査コンデンサにセンサ信号の変動範囲(0〜5V)内の電圧値を設定することで端子異常等が検出される。このため、ICにより検知可能な電圧範囲をセンサ信号の変動範囲よりも広げる必要が無くなり、ICに搭載されたADコンバータや電圧変化検知回路の構成が複雑化、大型化してしまうことを防ぐことができる。あるいは、センサ信号の変動範囲をICにより検知可能な電圧範囲よりも狭める必要が無くなり、センサ信号入力回路に接続されるセンサに制限を与えてしまうことが無くなる。
(1)第1実施形態のIC異常検出処理のS401〜S407や、S408〜S422や、S423〜S434では、5Vチャージ処理,0Vチャージ処理が順次実行されると共に、各処理の後に信号ライン819dの電圧値が検知され、該電圧値に基づき各種異常が検出されるが、5Vチャージ処理と0Vチャージ処理の実行順序を入れ替えても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。第1実施形態における入力側抵抗異常検出処理,入力側コンデンサ異常検出処理や、第2実施形態におけるIC異常検出処理,入力側抵抗異常検出処理,入力側コンデンサ異常検出処理に関しても同様である。
上記実施形態の説明で用いた用語と、特許請求の範囲の記載に用いた用語との対応を示す。
また、第2実施形態のIC異常検出処理のS933,S940が、充放電手順に、S934,S941が導通手順に相当する。
また、入力側抵抗異常検出処理が抵抗異常検出処理に、入力側抵抗のオープンが抵抗異常に相当する。
Claims (15)
- 予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される信号入力装置が搭載された信号入力回路であって、
一端が前記信号入力端子に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、
前記信号入力装置内部に設けられ、前記検査コンデンサと前記信号入力端子とを結ぶ検査経路を導通,遮断する接続部と、
前記信号入力装置内部に設けられ、前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記信号入力装置内部に設けられ、前記接続部により前記検査経路を遮断させる検査経路遮断を行った後、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、前記接続部により前記検査経路を導通させる検査経路導通を行う導通手順とを順次行う端子異常検出処理を実行する判定処理部と、
を備え、
前記判定処理部は、前記端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行すると共に、前記端子検査電圧値を、前記第1端子検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行し、それぞれの前記端子異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に入力された前記入力信号の伝達経路の異常である端子異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項1に記載の信号入力回路において、
前記検査コンデンサの容量は、前記信号入力装置内部に生じる寄生容量よりも十分大きいこと、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項1または請求項2のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、
前記検査コンデンサは、前記信号入力装置の外部に設けられていること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項1から請求項3のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、
前記信号入力装置には、異なる前記入力信号が入力される複数の前記信号入力端子が設けられており、
前記接続部は、それぞれの前記信号入力端子についての前記検査経路を一括して導通,遮断する検査スイッチと、それぞれの前記信号入力端子について、前記検査スイッチとの間の端子経路を導通,遮断する選択スイッチとを有しており、前記検査スイッチと前記選択スイッチとにより、それぞれの前記信号入力端子についての前記検査経路を導通,遮断し、
前記判定処理部は、
前記検査経路遮断では、前記接続部により、全ての前記信号入力端子についての前記検査経路を遮断させ、前記検査経路導通では、前記接続部により、いずれか1つの前記信号入力端子についての前記検査経路を導通させると共に、他の前記信号入力端子についての前記検査経路を遮断させ、
いずれか一つの前記信号入力端子を検査対象として前記端子異常検出処理を実行し、
前記端子異常検出処理の前記導通手順では、検査対象の前記信号入力端子についての前記検査経路を導通させる前記検査経路導通を行い、
前記端子異常検出処理を実行した後に、検査対象の前記信号入力端子についての前記検査経路の電圧値に基づき、該信号入力端子についての前記端子異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項4に記載の信号入力回路において、
前記信号入力端子と基準電位との間に設けられた入力側コンデンサをさらに備えること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項5に記載の信号入力回路において、
前記入力側コンデンサの容量は、前記検査コンデンサの容量よりも大きいこと、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項5または請求項6に記載の信号入力回路において、
前記判定処理部は、
予め定められた期間において、前記検査経路における前記信号入力端子と前記検査スイッチとの間の検査区間の電圧の変化を検知する電圧変化検知手段を有し、
いずれか一つの前記信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサを検査対象とし、該入力側コンデンサについての異常であるコンデンサ異常を検出するためのコンデンサ異常検出処理をさらに実行し、
前記コンデンサ異常検出処理において、前記検査経路遮断を行った後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められたコンデンサ検査電圧値に設定し、その後、検査対象の前記入力側コンデンサに接続された前記信号入力端子についての前記検査経路導通を行い、前記電圧変化検知手段により、該検査経路導通の前の第1時点と、該検査経路導通の後の第2時点との間で、前記検査区間の電圧値がどの程度変化したかを検知し、
前記コンデンサ異常検出処理にて検知された前記検査区間の電圧値の変化に基づき、前記コンデンサ異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項7に記載の信号入力回路において、
前記判定処理部は、同一の前記入力側コンデンサを検査対象として、前記コンデンサ検査電圧値を第1コンデンサ検査電圧値とする前記コンデンサ異常検出処理と、前記コンデンサ検査電圧値を、前記第1コンデンサ検査電圧値とは異なる第2コンデンサ検査電圧値とする前記コンデンサ異常検出処理とを実行し、それぞれの前記コンデンサ異常検出処理にて検知された前記検査区間の電圧値の変化に基づき、前記コンデンサ異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項7または請求項8に記載の信号入力回路において、
前記電圧変化検知手段は、
前記検査区間の電圧値を保持する電圧値保持回路と、
前記検査区間の電圧値と、前記電圧値保持回路に保持された電圧値との差分を検知し、該差分を保持する差分保持回路と、
を有し、
前記判定処理部は、前記コンデンサ異常検出処理において、前記電圧値保持回路により、前記第1時点の前記検査区間の電圧値を保持させると共に、前記差分保持回路により、前記電圧値保持回路に保持された電圧値と、前記第2時点の前記検査区間の電圧値の差分を保持させることで、前記第1時点と前記第2時点との間で前記検査区間の電圧値がどの程度変化したかを検知すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項5から請求項9のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、
前記信号入力端子に接続され、該信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサと共にフィルタ回路をなす入力側抵抗をさらに備え、
前記判定処理部は、
いずれか一つの前記信号入力端子に接続された前記入力側抵抗を検査対象とし、該入力側抵抗についての異常である抵抗異常を検出するための抵抗異常検出処理をさらに実行し、
前記抵抗異常検出処理において、前記検査経路遮断を行った後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた抵抗検査電圧値に設定し、その後、検査対象の前記入力側抵抗に接続された前記信号入力端子についての前記検査経路導通を行う手順を複数回にわたり行い、
前記抵抗異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記抵抗異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項10に記載の信号入力回路において、
前記判定処理部は、同一の前記入力側抵抗を検査対象として、前記抵抗検査電圧値を第1抵抗検査電圧値とする前記抵抗異常検出処理と、前記抵抗検査電圧値を、前記第1抵抗検査電圧値とは異なる第2抵抗検査電圧値とする前記抵抗異常検出処理とを実行し、これらの抵抗異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記抵抗異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項5から請求項11のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、
前記判定処理部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させた後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定する検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記検査スイッチの異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 請求項5から請求項12のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、
前記判定処理部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させると共に、前記選択スイッチにより全ての前記信号入力端子についての前記端子経路を遮断させた後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる充放電部異常検出処理をさらに実行し、該充放電部異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記充放電部と、前記接続部と、前記検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出すること、
を特徴とする信号入力回路。 - 予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、
一端が基準電位に接続された状態で当該集積回路の外部に設けられた検査コンデンサと前記信号入力端子とを結ぶ検査経路を導通,遮断する接続部と、
前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記接続部により前記検査経路を遮断させる検査経路遮断を行った後、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、前記接続部により前記検査経路を導通させる検査経路導通を行う導通手順とを順次行う端子異常検出処理を実行する判定処理部と、
を備え、
前記判定処理部は、前記端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行すると共に、前記端子検査電圧値を、前記第1端子検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行し、それぞれの前記端子異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に入力された前記入力信号の伝達経路の異常である端子異常を検出すること、
を特徴とする集積回路。 - 予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、
一端が前記信号入力端子に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、
前記検査コンデンサと前記信号入力端子とを結ぶ検査経路を導通,遮断する接続部と、
前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、
前記接続部により前記検査経路を遮断させる検査経路遮断を行った後、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、前記接続部により前記検査経路を導通させる検査経路導通を行う導通手順とを順次行う端子異常検出処理を実行する判定処理部と、
を備え、
前記判定処理部は、前記端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行すると共に、前記端子検査電圧値を、前記第1端子検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした前記端子異常検出処理を実行し、それぞれの前記端子異常検出処理を実行した後の前記検査経路の電圧値に基づき、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に入力された前記入力信号の伝達経路の異常である端子異常を検出すること、
を特徴とする集積回路。
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