JP5228968B2 - 試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース - Google Patents
試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース Download PDFInfo
- Publication number
- JP5228968B2 JP5228968B2 JP2009028672A JP2009028672A JP5228968B2 JP 5228968 B2 JP5228968 B2 JP 5228968B2 JP 2009028672 A JP2009028672 A JP 2009028672A JP 2009028672 A JP2009028672 A JP 2009028672A JP 5228968 B2 JP5228968 B2 JP 5228968B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- spacer
- holder
- sample holder
- fixing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
本発明の第1の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体は、図1及び図2に示すように、上面に複数のスペーサ取付用凹部m14,m24,…を配列した試料ホルダベース22と、スペーサ取付用凹部m14,m24を介して試料ホルダベース22にそれぞれ固定される試料ホルダ1,2とを備える試料ホルダ組み立て体である。
本発明の第2の実施の形態に係る試料ホルダ組み立て体は、図6及び図7に示すように、上面に複数のスペーサ取付用凹部m14,m24,…を配列した試料ホルダベース22と、スペーサ取付用凹部m14,m24を介して試料ホルダベース22にそれぞれ固定される試料ホルダ3,4とを備える試料ホルダ組み立て体である。
上記のように、本発明は第1及び第2の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
1S,2S…ホルダ高さ調整治具
11,16,24,161,171,181,191,201,411,421…試料収納部
41,42,81〜89,91〜95,101〜105,111〜114,121〜124,131,132,211〜219,221〜224,233,234…試料ホルダ本体
12,17,25,291,293,424…円形底部
13,18…スペーサ
14,19,72,73,275,286,287…固定ネジ
15,21…押しネジ
22…試料ホルダベース
23,144,232…取っ手
26,27…固定用ネジ穴
29a〜29d,31a〜31d,32a〜32d,81a〜81h,82a〜82h,103a〜103h,104a〜104h,105a〜105h,106a〜106h,107a〜107h…試料固定用ネジ穴
35,36,37,162,172,182,292,294,412,422…ホルダ固定用凸部
41a〜41h,71c,71d,91a,91b,…試料ホルダ固定用ネジ穴
183a,183b…試料ホルダ固定用穴
51a〜51d,61a〜61d…支柱
141,231…サブベース
142,235…ベース
151…分析可能領域
152…使用可能領域
425…高さ調節雄ネジ
301〜304…試料
m11〜m28…スペーサ取付用凹部
q11〜q14…試料ホルダ専用取付用穴
r11〜r19…試料ホルダ取付用穴
Claims (10)
- 上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースと、前記複数のスペーサ取付用凹部を介して前記試料ホルダベースにそれぞれ固定される複数の試料ホルダとを備える試料ホルダ組み立て体であって、前記複数の試料ホルダのそれぞれが、試料搭載空間をなす試料収納部、該試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部とを有する試料ホルダ本体と、
前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、前記ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段、前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具
とを備えることを特徴とする試料ホルダ組み立て体。 - 前記試料収納部の高さが互いに異なる複数の前記試料ホルダ本体が、それぞれ適合するホルダ高さ調整治具を用いて、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように、前記試料ホルダベースに固定されていることを特徴とする請求項1に記載の試料ホルダ組み立て体。
- 前記複数のスペーサ取付用凹部には雌ネジが設けられ、前記スペーサ固定手段は、前記スペーサに対して回転自在に設けられた雄ネジであることを特徴とする請求項1又は2に記載の試料ホルダ組み立て体。
- 前記試料収納部の形状及び大きさの少なくとも一方が互いに異なる複数の前記試料ホルダ本体が、それぞれ適合するホルダ高さ調整治具を用いて、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように、前記試料ホルダベースに固定されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の試料ホルダ組み立て体。
- 上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースに、前記複数のスペーサ取付用凹部を介して固定される複数の試料ホルダのセットであって、前記複数の試料ホルダのそれぞれが、
試料搭載空間をなす試料収納部、該試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部とを有する試料ホルダ本体と、
前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有し、前記ホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサ、該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段、前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段を有するホルダ高さ調整治具
とを備え、前記試料収納部の高さが互いに異なる複数の前記試料ホルダ本体と、複数の前記試料ホルダ本体にそれぞれ適合するホルダ高さ調整治具とが一対をなし、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように選定されていることを特徴とする複数の試料ホルダのセット。 - 前記複数のスペーサ取付用凹部には雌ネジが設けられ、前記スペーサ固定手段は、前記スペーサに対して回転自在に設けられた雄ネジであることを特徴とする請求項5に記載の複数の試料ホルダのセット。
- 上面に複数のスペーサ取付用凹部を配列した試料ホルダベースに、試料収納部の高さが互いに異なる複数の試料ホルダ本体を、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように固定するためのホルダ高さ調整治具であって、
前記試料ホルダ本体が有する前記試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有し、前記試料収納部の底部と前記試料ホルダベースの上面との間の距離を調整する高さを有するスペーサと、
該スペーサの上部において前記ホルダ固定用凸部を前記スペーサに固定するホルダ固定手段と、
前記スペーサの下部において前記スペーサを前記スペーサ取付用凹部のいずれかに挿入して固定するスペーサ固定手段
とを有することを特徴とするホルダ高さ調整治具。 - 前記複数のスペーサ取付用凹部には雌ネジが設けられ、前記スペーサ固定手段は、前記スペーサに対して回転自在に設けられた雄ネジであることを特徴とする請求項7に記載のホルダ高さ調整治具。
- 試料ホルダ本体が備える試料収納部の底部に設けられたホルダ固定用凸部を収納する凹部を上部に有するスペーサをそれぞれ介して、前記試料収納部の高さが互いに異なる複数の前記試料ホルダ本体を、前記試料収納部の上面の高さが同一となるように固定するための試料ホルダベースであって、
前記スペーサのそれぞれの下部に設けられたスペーサ固定手段を挿入するためのスペーサ取付用凹部を複数個、上面に配列したことを特徴とする試料ホルダベース。 - 前記複数のスペーサ取付用凹部には、前記試料ホルダベースの上面に垂直方向が回転軸の方向となる雌ネジが設けられ、雄ネジである前記スペーサ固定手段がそれぞれ挿入され、前記試料ホルダ本体が固定されることを特徴とする請求項9に記載の試料ホルダベース。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009028672A JP5228968B2 (ja) | 2009-02-10 | 2009-02-10 | 試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009028672A JP5228968B2 (ja) | 2009-02-10 | 2009-02-10 | 試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010186593A JP2010186593A (ja) | 2010-08-26 |
JP5228968B2 true JP5228968B2 (ja) | 2013-07-03 |
Family
ID=42767134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009028672A Active JP5228968B2 (ja) | 2009-02-10 | 2009-02-10 | 試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5228968B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103941117B (zh) * | 2014-03-14 | 2016-04-06 | 上海交通大学 | 电输运特性测量装置及测量方法 |
KR102118266B1 (ko) * | 2018-10-25 | 2020-06-03 | 한국기초과학지원연구원 | Tem 시료 지지 장치 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5234662U (ja) * | 1975-09-03 | 1977-03-11 | ||
JPS60156657U (ja) * | 1984-03-28 | 1985-10-18 | 株式会社東芝 | 走査電子顕微鏡用試料ステ−ジ |
JPS6267459U (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-27 | ||
JPH08254511A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Sony Corp | 試料ホルダ |
JP2001183317A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Nec Corp | 2次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 |
JP2008027602A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Fujifilm Corp | ホルダ装置及び加工観察方法 |
-
2009
- 2009-02-10 JP JP2009028672A patent/JP5228968B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010186593A (ja) | 2010-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Owen et al. | Current advances in synchrotron radiation instrumentation for MX experiments | |
JP5738980B2 (ja) | イオンビーム試料準備装置及び方法 | |
US8384050B2 (en) | Ion beam sample preparation thermal management apparatus and methods | |
US9627176B2 (en) | Fiducial formation for TEM/STEM tomography tilt-series acquisition and alignment | |
JP5228968B2 (ja) | 試料ホルダ組み立て体、複数の試料ホルダのセット、ホルダ高さ調整治具、及び試料ホルダベース | |
JP5851318B2 (ja) | 試料保持装置および試料解析装置 | |
KR20150095548A (ko) | X 선 분석용 샘플 홀더 및 샘플 설치용 지그 | |
JP2006292567A (ja) | X線用レンズ光軸調整機構、x線用レンズ光軸調整方法、およびx線分析装置 | |
US5726454A (en) | Tripod for polishing a sample and for viewing the sample under a microscope | |
US9012841B2 (en) | Specimen holder for observing cross section of specimen and method for controlling the same | |
JP3269039B2 (ja) | X線分析用試料ホルダおよびx線分析装置 | |
KR20100051902A (ko) | 주사 전자 현미경의 시편 홀더장치 | |
EP2420349A2 (en) | An adjustable locator for a workpiece fixture | |
JP4988175B2 (ja) | 荷電粒子装置用試料台 | |
JP5458742B2 (ja) | 電子線マイクロアナライザ | |
JP6326341B2 (ja) | 試料ホルダー、および電子顕微鏡 | |
JP6887611B2 (ja) | ブレードホルダー及び試料ホルダー | |
KR20100003682U (ko) | 판재 시료 고정용 지그 | |
JP2005294181A (ja) | バルク試料ホルダ | |
Falkenberg et al. | A Single-bounce Capillary for Focusing of Hard X-rays | |
JP2002231171A (ja) | 試料保持装置 | |
KR101149300B1 (ko) | 전자 탐침 미소 분석기용 시편 홀더 장치 | |
KR102118266B1 (ko) | Tem 시료 지지 장치 | |
JP2006261070A (ja) | 試料固定用治具 | |
Mika et al. | Imaging with STEM Detector, Experiments vs. Simulation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110426 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121102 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121113 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121226 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130304 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160329 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5228968 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |