JP5227701B2 - Substrate processing system - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 571
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 240
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 238
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 66
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 61
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 39
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 39
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 claims description 8
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 5
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 153
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 48
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 26
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 18
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 16
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- RFHAOTPXVQNOHP-UHFFFAOYSA-N fluconazole Chemical compound C1=NC=NN1CC(C=1C(=CC(F)=CC=1)F)(O)CN1C=NC=N1 RFHAOTPXVQNOHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000012160 loading buffer Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
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Description
本発明は、基板処理システムに関する。 The present invention relates to a substrate processing system.
例えば半導体基板、液晶パネルを構成するガラス基板、ハードディスクを構成する基板など、各種基板上にレジスト膜などの薄膜を形成する際に、基板を回転させながら当該基板に塗布膜を形成する塗布装置が用いられる(例えば、特許文献1参照)。塗布装置は、例えば塗布ユニットとして、基板の搬入動作、塗布動作、搬出動作を含めた基板処理システムに搭載されることがある。 For example, when a thin film such as a resist film is formed on various substrates such as a semiconductor substrate, a glass substrate that constitutes a liquid crystal panel, and a substrate that constitutes a hard disk, a coating apparatus that forms a coating film on the substrate while rotating the substrate Used (see, for example, Patent Document 1). For example, the coating apparatus may be mounted as a coating unit on a substrate processing system including a substrate carry-in operation, a coating operation, and a carry-out operation.
このような基板処理システムは、メインとなる動作毎にユニット化されていることが多く、例えば上記の例では、搬入動作を行う基板搬入ユニット、搬出動作を行う基板搬出ユニットが搭載されることになる。複数のユニット間に亘って基板を搬送する場合、ユニットごとに搬送装置を配置し、各搬送装置間で基板又は当該基板を収容するカセット等の受け渡しを行わせる構成が一般的である。
しかしながら、ユニット間の搬送動作に複数の搬送装置を用いる基板処理システムでは、当該搬送装置の配置や受け渡し制御のタイミングなど、構成上あるいは制御上の設定等が複雑になりやすく、これに伴ってシステム構成全体が複雑化すると共に処理タクトが長くなってしまうという問題がある。 However, in a substrate processing system that uses a plurality of transfer devices for transfer operations between units, configuration and control settings such as arrangement of the transfer devices and delivery control timing are likely to be complicated. There is a problem that the entire configuration becomes complicated and the processing tact becomes long.
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、システム構成を簡略化し、処理タクトを短縮化することが可能な基板処理システムを提供することにある。 In view of the circumstances as described above, an object of the present invention is to provide a substrate processing system capable of simplifying the system configuration and shortening the processing tact.
上記目的を達成するため、本発明に係る基板処理システムは、基板に所定処理を行う処理ユニットと、前記所定処理前の前記基板を収容した搬入用容器が供給されると共に、空の前記搬入用容器が回収される基板搬入ユニットと、前記所定処理後の前記基板を収容した搬出用容器が回収されると共に、空の前記搬出用容器が供給される基板搬出ユニットと、前記処理ユニット内のローディングポジションと前記基板搬入ユニットとの間で前記搬入用容器を搬送すると共に前記処理ユニット内のアンローディングポジションと前記基板搬出ユニットとの間で前記搬出用容器を搬送する搬送機構を有する搬送ユニットとを備えることを特徴とする。 In order to achieve the above object, a substrate processing system according to the present invention is provided with a processing unit for performing predetermined processing on a substrate, and a loading container for storing the substrate before the predetermined processing, and for empty loading. A substrate carry-in unit for collecting a container, a substrate carry-out unit for collecting an unloading container containing the substrate after the predetermined processing, and an empty carrying-out container are supplied, and loading in the processing unit A transport unit having a transport mechanism for transporting the carry-in container between a position and the substrate carry-in unit, and carrying the carry-out container between the unloading position in the processing unit and the substrate carry-out unit. It is characterized by providing.
本発明によれば、搬送ユニットに設けられる搬送機構が、処理ユニット内のローディングポジションと基板搬入ユニットとの間で搬入用容器を搬送すると共に処理ユニット内のアンローディングポジションと基板搬出ユニットとの間で搬出用容器を搬送することとしたので、異なる搬送区間の搬送動作を1つの搬送機構に行わせることができる。これにより、搬送機構による搬送処理を一元化することができるので、システム構成を簡略化することができ、処理タクトを短縮化させることができる。また、本発明によれば、搬入用容器と搬出用容器とを使い分けることとしたので、基板の汚染を防ぐことができるという利点もある。 According to the present invention, the transport mechanism provided in the transport unit transports the loading container between the loading position in the processing unit and the substrate loading unit, and between the unloading position in the processing unit and the substrate unloading unit. Since the carry-out container is transferred in step 1, the transfer operation in different transfer sections can be performed by one transfer mechanism. Thereby, since the conveyance process by a conveyance mechanism can be unified, a system configuration can be simplified and a process tact can be shortened. In addition, according to the present invention, since the carry-in container and the carry-out container are used separately, there is an advantage that the contamination of the substrate can be prevented.
上記の基板処理システムは、前記処理ユニット、前記基板搬入ユニット及び前記基板搬出ユニットは、直線方向上に配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、処理ユニット、基板搬入ユニット及び基板搬出ユニットが直線方向上に配置されていることとしたので、各ユニットの間の搬送経路を当該直線方向上に設定することができる。これにより、搬送経路の複雑化を回避することができ、システム構成を簡略化することができる。
The substrate processing system is characterized in that the processing unit, the substrate carry-in unit, and the substrate carry-out unit are arranged in a linear direction.
According to the present invention, since the processing unit, the substrate carry-in unit, and the substrate carry-out unit are arranged in the linear direction, the transfer path between the units can be set in the linear direction. Thereby, complication of a conveyance route can be avoided and a system configuration can be simplified.
上記の基板処理システムは、前記処理ユニットは、前記基板搬入ユニットと前記基板搬出ユニットとの間に配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、処理ユニットが基板搬入ユニットと基板搬出ユニットとの間に配置されていることとしたので、各ユニットが基板の流れの方向に沿って配置されることになる。これにより、処理の効率を高めることができる。
The substrate processing system is characterized in that the processing unit is disposed between the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit.
According to the present invention, since the processing unit is arranged between the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit, each unit is arranged along the direction of the substrate flow. Thereby, the processing efficiency can be increased.
上記の基板処理システムは、前記搬送ユニットは、前記搬送機構を前記直線方向に移動させる移動機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、搬送ユニットが搬送機構を直線方向に移動させる移動機構を有することとしたので、搬送機構の移動動作を単純化することができる。これにより、システム構成を簡略化することができる。
In the substrate processing system, the transport unit includes a moving mechanism that moves the transport mechanism in the linear direction.
According to the present invention, since the transport unit has the moving mechanism for moving the transport mechanism in the linear direction, the moving operation of the transport mechanism can be simplified. Thereby, the system configuration can be simplified.
上記の基板処理システムは、前記基板搬入ユニット及び前記基板搬出ユニットには、それぞれ複数の容器待機部が設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、基板搬入ユニット及び基板搬出ユニットには、それぞれ複数の容器待機部が設けられていることとしたので、より多くの基板を迅速に処理することが可能となる。
In the substrate processing system, the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit are each provided with a plurality of container standby units.
According to the present invention, each of the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit is provided with a plurality of container standby units, so that more substrates can be processed quickly.
上記の基板処理システムは、前記基板搬入ユニット及び前記基板搬出ユニットのうち少なくとも一方は、複数の前記容器待機部を移動させる第2移動機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、基板搬入ユニット及び基板搬出ユニットのうち少なくとも一方は、複数の容器待機部を移動させる第2移動機構を有することとしたので、容器待機部を搬送ユニットにより近い位置に移動させることができる。これにより、搬送動作を迅速に行うことができ、処理の効率化を図ることができる。
In the substrate processing system, at least one of the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit includes a second moving mechanism that moves a plurality of the container standby units.
According to the present invention, since at least one of the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit has the second moving mechanism that moves the plurality of container standby units, the container standby unit is moved closer to the transport unit. be able to. As a result, the transport operation can be performed quickly, and the processing efficiency can be improved.
上記の基板処理システムは、前記第2移動機構は、供給対象容器を前記搬送ユニットに近づけると共に回収対象容器を前記搬送ユニットから遠ざけるように前記容器待機部を移動させることを特徴とする。
本発明によれば、第2移動機構が供給対象容器を搬送ユニットに近づけると共に回収対象容器を搬送ユニットから遠ざけるように容器待機部を移動させることとしたので、供給対象容器の供給動作及び回収対象容器の回収動作をより迅速に行うことが可能となる。これにより、処理の効率化を図ることができる。
In the substrate processing system, the second moving mechanism moves the container standby unit so that the supply target container is brought closer to the transport unit and the collection target container is moved away from the transport unit.
According to the present invention, the second moving mechanism moves the container standby unit so as to bring the supply target container closer to the transport unit and move the recovery target container away from the transport unit. The container collecting operation can be performed more quickly. Thereby, efficiency of processing can be achieved.
上記の基板処理システムは、前記処理ユニットには、前記ローディングポジション及び前記アンローディングポジションのうち少なくとも一方に対応する複数の第2容器待機部を有するバッファ機構が設けられていることを特徴とする。
本発明によれば、処理ユニットには、ローディングポジション及びアンローディングポジションのうち少なくとも一方に対応する複数の第2容器待機部を有するバッファ機構が設けられていることとしたので、処理ユニットにおける基板のローディング動作及びアンローディング動作を迅速に行うことができる。これにより、処理の効率化を図ることができる。
In the substrate processing system described above, the processing unit is provided with a buffer mechanism having a plurality of second container standby portions corresponding to at least one of the loading position and the unloading position.
According to the present invention, the processing unit is provided with a buffer mechanism having a plurality of second container standby portions corresponding to at least one of the loading position and the unloading position. Loading operation and unloading operation can be performed quickly. Thereby, efficiency of processing can be achieved.
上記の基板処理システムは、前記バッファ機構は、複数の前記第2容器待機部を移動させる第3移動機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、バッファ機構が複数の第2容器待機部を移動させる第3移動機構を有することとしたので、容器内の基板の残量に応じて第2容器待機部を移動させることができる。これにより、処理の効率化を図ることができる。
The substrate processing system is characterized in that the buffer mechanism has a third moving mechanism for moving the plurality of second container standby portions.
According to the present invention, since the buffer mechanism has the third movement mechanism that moves the plurality of second container standby parts, the second container standby part can be moved according to the remaining amount of the substrate in the container. it can. Thereby, efficiency of processing can be achieved.
上記の基板処理システムは、前記第3移動機構は、前記搬送機構の搬送方向と同一方向に前記第2容器待機部を移動させることを特徴とする。
本発明によれば、第3移動機構が搬送機構の搬送方向と同一方向に第2容器待機部を移動させることとしたので、第2容器待機部が搬送方向に沿って移動することになる。このため、搬送機構と第2容器待機部との間の距離が一定に保持されることになる。当該距離が一定に保持されることにより、搬送機構と第2容器待機部との間の搬送動作を一定にすることができるので、搬送動作の複雑化を回避することができる。
In the substrate processing system, the third moving mechanism moves the second container standby unit in the same direction as the transport direction of the transport mechanism.
According to the present invention, since the third movement mechanism moves the second container standby unit in the same direction as the conveyance direction of the conveyance mechanism, the second container standby unit moves along the conveyance direction. For this reason, the distance between the transport mechanism and the second container standby unit is kept constant. Since the distance is kept constant, the transfer operation between the transfer mechanism and the second container standby unit can be made constant, so that the complexity of the transfer operation can be avoided.
上記の基板処理システムは、前記処理ユニットは、前記搬入用容器から前記基板を持ち上げて前記ローディングポジションに配置するピックアップ機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、処理ユニットが搬入用容器から基板を持ち上げてローディングポジションに配置するピックアップ機構を有することとしたので、基板のローディング動作を迅速に行うことができる。
In the substrate processing system, the processing unit includes a pickup mechanism that lifts the substrate from the loading container and places the substrate at the loading position.
According to the present invention, since the processing unit has the pickup mechanism that lifts the substrate from the loading container and places it in the loading position, the substrate loading operation can be performed quickly.
上記の基板処理システムは、前記搬送ユニットは、前記搬送機構の向きを回転させる回転機構を有することを特徴とする。
本発明によれば、送ユニットが搬送機構の向きを回転させる回転機構を有することとしたので、搬送方向と容器の受け渡し方向とが異なる場合であっても、搬送動作及び受け渡し動作をスムーズに行うことができる。
The substrate processing system is characterized in that the transport unit has a rotation mechanism that rotates the direction of the transport mechanism.
According to the present invention, since the feeding unit has the rotation mechanism that rotates the direction of the transport mechanism, the transport operation and the transfer operation are smoothly performed even when the transport direction and the container delivery direction are different. be able to.
上記の基板処理システムは、前記搬入用容器及び前記搬出用容器には係合部が形成されており、前記搬送機構は、前記係合部に係合させて前記搬入用容器及び前記搬出用容器を保持する保持部材を有することを特徴とする。
本発明によれば、搬入用容器及び搬出用容器には係合部が形成されており、搬送機構が当該係合部に係合させて搬入用容器及び搬出用容器を保持する保持部材を有することとしたので、搬入用容器及び搬出用容器を確実に保持することができる。
In the substrate processing system, an engagement part is formed in the carry-in container and the carry-out container, and the transport mechanism is engaged with the engagement part so that the carry-in container and the carry-out container are engaged. It has the holding member which hold | maintains.
According to the present invention, the carry-in container and the carry-out container have the engaging portion, and the transport mechanism has the holding member that holds the carry-in container and the carry-out container by engaging with the engage portion. As a result, the carrying-in container and the carrying-out container can be reliably held.
上記の基板処理システムは、前記処理ユニットにおける前記基板の処理状況に応じて、前記搬入用容器及び前記搬出用容器のうち少なくとも一方の搬送位置を制御する制御装置を更に備えることを特徴とする。
本発明によれば、処理ユニットにおける基板の処理状況に応じて、搬入用容器及び搬出用容器のうち少なくとも一方の搬送位置を制御することとしたので、搬送動作をより効率的に行うことができる。
The substrate processing system further includes a control device that controls a transfer position of at least one of the carry-in container and the carry-out container in accordance with a processing state of the substrate in the processing unit.
According to the present invention, since the transfer position of at least one of the loading container and the unloading container is controlled according to the processing status of the substrate in the processing unit, the transfer operation can be performed more efficiently. .
上記の基板処理システムは、前記所定処理は、前記基板に液状体を塗布する塗布処理、前記塗布処理の前処理及び前記塗布処理の後処理を含むことを特徴とする。
本発明によれば、所定処理が基板に液状体を塗布する塗布処理、塗布処理の前処理及び塗布処理の後処理を含むこととしたので、塗布処理の前後の処理段階においてもシステム構成を簡略化することができる。
In the substrate processing system, the predetermined process includes a coating process for coating a liquid on the substrate, a pre-process for the coating process, and a post-process for the coating process.
According to the present invention, since the predetermined process includes the coating process for applying the liquid material to the substrate, the pre-process of the coating process, and the post-process of the coating process, the system configuration can be simplified even in the processing stage before and after the coating process. Can be
上記の基板処理システムは、前記前処理は、前記基板に紫外線を照射する処理及び前記基板を洗浄する処理のうち少なくとも一方の処理を含むことを特徴とする。 In the substrate processing system, the preprocessing includes at least one of a process of irradiating the substrate with ultraviolet rays and a process of cleaning the substrate.
本発明によれば、前処理として基板に紫外線を照射する処理及び基板を洗浄する処理のうち少なくとも一方の処理を含む幅広い処理を行う場合において処理システムの簡略化を図ることができる。 According to the present invention, it is possible to simplify the processing system when performing a wide range of processes including at least one of a process of irradiating a substrate with ultraviolet rays and a process of cleaning the substrate as pre-processing.
上記の基板処理システムは、前記後処理は、前記基板の周囲を減圧させる処理及び前記基板を加熱する処理のうち少なくとも一方の処理を含むことを特徴とする。
本発明によれば、後処理として基板の周囲を減圧させる処理及び基板を加熱する処理のうち少なくとも一方の処理を含む幅広い処理を行う場合において処理システムの簡略化を図ることができる。
In the substrate processing system, the post-processing includes at least one of a process for reducing the pressure around the substrate and a process for heating the substrate.
According to the present invention, it is possible to simplify the processing system when performing a wide range of processes including at least one of a process for reducing the pressure around the substrate and a process for heating the substrate as post-processing.
上記の基板処理システムは、前記所定処理後の前記基板上における異物の有無を検知する異物検知ユニットを更に備えることを特徴とする。
所定処理後の基板に異物が付着していると、その後の処理によっては当該異物の付着位置において基板が破損する可能性がある。本発明によれば、所定処理後の基板上における異物の有無を検知する異物検知ユニットを更に備えることとしたので、このような異物の付着した基板がその後の処理に用いられるのを防ぐことができ、基板の破損を回避することができる。
The substrate processing system may further include a foreign matter detection unit that detects the presence or absence of foreign matter on the substrate after the predetermined processing.
If foreign matter adheres to the substrate after the predetermined processing, the substrate may be damaged at the position where the foreign matter is attached depending on the subsequent processing. According to the present invention, since the foreign matter detection unit for detecting the presence or absence of foreign matter on the substrate after the predetermined processing is further provided, it is possible to prevent the substrate having such foreign matter from being used for subsequent processing. And damage to the substrate can be avoided.
本発明によれば、システム構成を簡略化し、処理タクトを短縮化することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to simplify the system configuration and shorten the processing tact.
本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
図1は、本実施形態に係る基板処理システムSYSの概略的な構成を示す平面図である。図2は、基板処理システムSYSの概略的な構成を示す正面図である。図3は、基板処理システムSYSの概略的な構成を示す側面図である。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing system SYS according to the present embodiment. FIG. 2 is a front view showing a schematic configuration of the substrate processing system SYS. FIG. 3 is a side view showing a schematic configuration of the substrate processing system SYS.
本実施形態では、基板処理システムSYSの構成を説明するにあたり、表記の簡単のため、XYZ座標系を用いて図中の方向を説明する。当該XYZ座標系においては、図中左右方向をX方向と表記し、平面視でX方向に直交する方向をY方向と表記する。X方向軸及びY方向軸を含む平面に垂直な方向はZ方向と表記する。X方向、Y方向及びZ方向のそれぞれは、図中の矢印の方向が+方向であり、矢印の方向とは反対の方向が−方向であるものとして説明する。 In the present embodiment, in describing the configuration of the substrate processing system SYS, for simplicity of description, directions in the drawing will be described using an XYZ coordinate system. In the XYZ coordinate system, the left-right direction in the figure is denoted as the X direction, and the direction orthogonal to the X direction in plan view is denoted as the Y direction. A direction perpendicular to the plane including the X direction axis and the Y direction axis is referred to as a Z direction. In each of the X direction, the Y direction, and the Z direction, the direction of the arrow in the figure is the + direction, and the direction opposite to the arrow direction is the − direction.
図1〜図3に示すように、基板処理システムSYSは、例えば工場などの製造ラインに組み込まれて用いられ、基板Sの所定の領域に薄膜を形成するシステムである。基板処理システムSYSは、ステージユニットSTUと、基板処理ユニット(処理ユニット)SPUと、基板搬入ユニットLDUと、基板搬出ユニットULUと、搬送ユニットCRUと、制御ユニットCNUとを備えている。 As shown in FIGS. 1 to 3, the substrate processing system SYS is a system that is used by being incorporated in a production line such as a factory, and forms a thin film in a predetermined region of the substrate S. The substrate processing system SYS includes a stage unit STU, a substrate processing unit (processing unit) SPU, a substrate carry-in unit LDU, a substrate carry-out unit ULU, a transport unit CRU, and a control unit CNU.
基板処理システムSYSは、ステージユニットSTUが例えば脚部材などを介して床面に支持されており、基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU、基板搬出ユニットULU及び搬送ユニットCRUがステージユニットSTUの上面に配置された構成になっている。基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU、基板搬出ユニットULU及び搬送ユニットCRUは、各ユニット内部がカバー部材によって覆われた状態になっている。基板処理システムSYSは、基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUがX軸方向に沿った直線上に配列されている。基板処理ユニットSPUは、基板搬入ユニットLDUと基板搬出ユニットULUとの間に設けられている。ステージユニットSTUのうち基板処理ユニットSPUが配置される部分の平面視中央部は、他の部分に対して−Z方向に窪んだ状態になっている。 In the substrate processing system SYS, the stage unit STU is supported on the floor surface through, for example, leg members, and the substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, the substrate carry-out unit ULU, and the transfer unit CRU are provided on the upper surface of the stage unit STU. It is an arranged configuration. The substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, the substrate carry-out unit ULU, and the transfer unit CRU are in a state where the inside of each unit is covered with a cover member. In the substrate processing system SYS, a substrate processing unit SPU, a substrate carry-in unit LDU, and a substrate carry-out unit ULU are arranged on a straight line along the X-axis direction. The substrate processing unit SPU is provided between the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU. In the stage unit STU, the central portion in plan view of the portion where the substrate processing unit SPU is disposed is depressed in the −Z direction with respect to the other portions.
本実施形態の基板処理システムSYSの処理対象である基板Sとしては、例えばシリコンなどの半導体基板、液晶パネルを構成するガラス基板、ハードディスクを構成する基板などが挙げられる。本実施形態では、例えばハードディスクを構成する基板であり、ガラスなどからなる円盤状の基材の表面にダイヤモンドがコーティングされた基板を例に挙げて説明する。 Examples of the substrate S to be processed by the substrate processing system SYS of the present embodiment include a semiconductor substrate such as silicon, a glass substrate constituting a liquid crystal panel, and a substrate constituting a hard disk. In the present embodiment, for example, a substrate constituting a hard disk and having a disk-shaped base material made of glass or the like coated with diamond will be described as an example.
本実施形態の基板処理システムSYSにおける基板Sの搬入及び搬出は、当該基板Sを複数枚収容可能なカセットCを用いて行われるようになっている。カセットCは枡状に形成された容器であり、複数の基板Sの基板面が対向するように当該基板Sを一列に収容可能になっている。したがって、カセットCは、Z軸方向に基板Sを立てた状態で当該基板Sを収容する構成になっている。カセットCは、底部に開口部(図4及び図5を参照)を有している。各基板Sは当該開口部を介してカセットCの底部に露出した状態で収容されるようになっている。カセットCは、平面視で矩形状に形成されており、例えば図2に示すように+Z側の各辺部分に係合部Cxを有している。本実施形態では、カセットCとして、基板Sを搬入する際に用いられる搬入用カセットC1と、基板Sを搬出する際に用いられる搬出用カセットC2との2種類のカセットが用いられる。搬入用カセットC1には処理前の基板Sのみが収容され、搬出用カセットC2には処理後の基板Sのみが収容される。搬入用カセットC1は基板処理ユニットSPUと基板搬入ユニットLDUとの間で用いられる。搬出用カセットC2は基板処理ユニットSPUと基板搬出ユニットULUとの間で用いられる。したがって、搬入用カセットC1と搬出用カセットC2とが混合されて用いられることは無い。搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2は、例えば同一形状、同一寸法に形成されている。 Loading and unloading of the substrate S in the substrate processing system SYS of the present embodiment is performed using a cassette C that can accommodate a plurality of the substrates S. The cassette C is a container formed in a bowl shape, and can accommodate the substrates S in a row so that the substrate surfaces of the plurality of substrates S face each other. Therefore, the cassette C is configured to accommodate the substrate S with the substrate S standing in the Z-axis direction. The cassette C has an opening (see FIGS. 4 and 5) at the bottom. Each board | substrate S is accommodated in the state exposed to the bottom part of cassette C through the said opening part. The cassette C is formed in a rectangular shape in a plan view, and has engaging portions Cx on each side portion on the + Z side, for example, as shown in FIG. In the present embodiment, two types of cassettes are used as the cassette C: a loading cassette C1 used when loading the substrate S and a loading cassette C2 used when loading the substrate S. Only the substrate S before processing is accommodated in the loading cassette C1, and only the substrate S after processing is accommodated in the unloading cassette C2. The carry-in cassette C1 is used between the substrate processing unit SPU and the substrate carry-in unit LDU. The carry-out cassette C2 is used between the substrate processing unit SPU and the substrate carry-out unit ULU. Therefore, the carry-in cassette C1 and the carry-out cassette C2 are not mixed and used. The carry-in cassette C1 and the carry-out cassette C2 are formed in, for example, the same shape and the same dimensions.
(基板搬入ユニット)
基板搬入ユニットLDUは、基板処理システムSYSのうち−X側に配置されている。基板搬入ユニットLDUは、処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1が供給されると共に空の搬入用カセットC1が回収されるユニットである。基板搬入ユニットLDUはY軸方向が長手になっており、複数の搬入用カセットC1がY軸方向に沿って待機可能になっている。
(Board carry-in unit)
The substrate carry-in unit LDU is disposed on the −X side of the substrate processing system SYS. The substrate carry-in unit LDU is a unit in which a carry-in cassette C1 containing a substrate S before processing is supplied and an empty carry-in cassette C1 is collected. The substrate carry-in unit LDU is elongated in the Y-axis direction, and a plurality of carry-in cassettes C1 can stand by along the Y-axis direction.
基板搬入ユニットLDUは、カセット出入口10及びカセット移動機構(第2移動機構)51を備えている。カセット出入口10は、基板搬入ユニットLDUを覆うカバー部材の−Y側に設けられた開口部である。カセット出入口10は、処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1の入口(供給口)であり、空の搬入用カセットC1の出口(回収口)である。
The substrate carry-in unit LDU includes a cassette inlet /
カセット移動機構11は、例えばベルトコンベア機構などの駆動機構を有している。本実施形態では、当該駆動機構として搬送ベルト(供給用ベルト11a及び回収用ベルト11b)を有している。搬送ベルトは、基板搬入ユニットLDUの+Y側端部から−Y側端部にかけてY軸方向に延設されており、X軸方向に2本並ぶように配置されている。
The
供給用ベルト11aは、2本の搬送ベルトのうち−X側に配置された搬送ベルトである。供給用ベルト11aの+Z側が搬送面となっている。供給用ベルト11aは、当該搬送面が−Y方向に移動するように回転する構成となっている。供給用ベルト11aの搬送面上には、カセット出入口10を介して基板搬入ユニットLDU内へ入ってきた搬入用カセットC1が複数載置されるようになっている。当該搬入用カセットC1は、供給用ベルト11aの回転によって搬送ユニットCRU側へ移動するようになっている。
The
回収用ベルト11bは、2本の搬送ベルトのうち+X側に配置された搬送ベルトである。回収用ベルト11bの+Z側が搬送面となっている。回収用ベルト11bは、搬送面が−Y方向に移動するように回転する構成となっている。回収用ベルト11bの搬送面上には、空の搬入用カセットC1が複数載置されるようになっている。当該搬入用カセットC1は、回収用ベルト11bの回転によってカセット出入口10側へ移動するようになっている。
The
本実施形態では、例えば供給用ベルト11a上及び回収用ベルト11b上にそれぞれ5箇所ずつ設けられた待機位置(容器待機部)で搬入用カセットC1が待機可能になっている。基板搬入ユニットLDUでは、供給用ベルト11a及び回収用ベルト11bを回転させることによって搬入用カセットC1の待機位置を移動させることができるようになっており、当該待機位置を移動させることによって搬入用カセットC1の搬送時間を短縮させることが可能になっている。
In the present embodiment, for example, the loading cassette C1 can wait at standby positions (container standby portions) provided at five locations on the
(基板処理ユニット)
基板処理ユニットSPUは、基板処理システムSYSのうち基板搬入ユニットLDUの+X側であってX軸方向のほぼ中央に配置されている。基板処理ユニットSPUは、基板Sに対してレジストなどの液状体を塗布して薄膜を形成する処理や、基板Sの周辺部分に形成された薄膜を除去する処理など、基板Sに対する各種処理を行うユニットである。基板処理ユニットSPUは、塗布装置(基板処理領域)CTと、周縁部除去装置EBRと、バッファ機構(基板搬入領域、基板搬出領域)BFと、基板搬送装置(搬送装置)SCとを備えている。
(Substrate processing unit)
The substrate processing unit SPU is disposed on the + X side of the substrate carry-in unit LDU in the substrate processing system SYS and at substantially the center in the X-axis direction. The substrate processing unit SPU performs various processes on the substrate S such as a process of forming a thin film by applying a liquid material such as a resist to the substrate S and a process of removing the thin film formed on the peripheral portion of the substrate S. Is a unit. The substrate processing unit SPU includes a coating device (substrate processing region) CT, a peripheral edge removing device EBR, a buffer mechanism (substrate loading region, substrate unloading region) BF, and a substrate transport device (transport device) SC. .
塗布装置CTは、基板処理ユニットSPUのうち平面視ほぼ中央に配置されており、ステージユニットSTUの窪んだ部分の上面に固定されている。塗布装置CTは、基板Sに液状体の薄膜を塗布形成する装置である。本実施形態では、塗布装置CTは、インプリント処理を行わせるための薄膜を基板S上に形成する。塗布装置CTは、当該薄膜の構成材料である液状体を基板S上に吐出する不図示のノズルを有している。塗布装置CTは、−X側及び+X側の両側からアクセスすることができるようになっている。したがって、例えば−X側及び+X側の両側から基板Sの搬入及び搬出が可能になっている。塗布装置CTは、X軸方向のほぼ中央部に設定される塗布位置(図中破線で示す部分)で塗布処理を行うようになっている。 The coating apparatus CT is disposed in the center of the substrate processing unit SPU in plan view, and is fixed to the upper surface of the recessed portion of the stage unit STU. The coating device CT is a device that coats and forms a liquid thin film on the substrate S. In the present embodiment, the coating apparatus CT forms a thin film on the substrate S for performing the imprint process. The coating device CT has a nozzle (not shown) that discharges a liquid material, which is a constituent material of the thin film, onto the substrate S. The coating device CT can be accessed from both the −X side and the + X side. Therefore, for example, the substrate S can be loaded and unloaded from both the −X side and the + X side. The coating device CT is configured to perform coating processing at a coating position (portion indicated by a broken line in the drawing) set at a substantially central portion in the X axis direction.
周縁部除去装置EBRは、塗布装置CTの+X側であって基板処理ユニットSPUの−Y側の端辺に沿った位置に設けられている。周縁部除去装置EBRは、基板Sの周縁部に形成された薄膜を除去する装置である。周縁部除去装置EBRによる除去処理は基板Sに形成された薄膜が乾燥しないうちに行うことが好ましい。このため、周縁部除去装置EBRは、塗布装置CTから基板Sを短時間で搬送可能な位置に配置されていることが好ましい。周縁部除去装置EBRは、例えば基板Sを回転させながら当該基板Sの周縁部を溶解液に浸すことで基板S周縁部に形成された薄膜を溶解して除去する不図示のディップ部を有している。 The peripheral edge removing device EBR is provided at a position along the + X side of the coating device CT and along the −Y side edge of the substrate processing unit SPU. The peripheral edge removing device EBR is an apparatus for removing a thin film formed on the peripheral edge of the substrate S. The removal process by the peripheral edge removing device EBR is preferably performed before the thin film formed on the substrate S is dried. For this reason, it is preferable that the peripheral edge removing device EBR is disposed at a position where the substrate S can be transported from the coating device CT in a short time. The peripheral edge removing device EBR has a dip portion (not shown) that dissolves and removes the thin film formed on the peripheral edge of the substrate S by, for example, immersing the peripheral edge of the substrate S in the solution while rotating the substrate S. ing.
バッファ機構BFは、基板処理ユニットSPUの+Y側端辺に沿った位置であってX軸方向に塗布装置CTを挟んだ2箇所の位置に設けられている。2箇所のバッファ機構BFのうち、塗布装置CTの−X側に配置されるバッファ機構が搬入側バッファ機構BF1であり、塗布装置CTの+X側に配置されるバッファ機構が搬出側バッファ機構BF2である。 The buffer mechanism BF is provided at two positions along the + Y side edge of the substrate processing unit SPU and sandwiching the coating apparatus CT in the X-axis direction. Of the two buffer mechanisms BF, the buffer mechanism disposed on the −X side of the coating apparatus CT is the carry-in side buffer mechanism BF1, and the buffer mechanism disposed on the + X side of the coating apparatus CT is the unloading side buffer mechanism BF2. is there.
搬入側バッファ機構BF1は、基板処理ユニットSPU内へ供給されてくる搬入用カセットC1を待機させる部分である。搬入側バッファ機構BF1には、カセット移動機構(第3移動機構)20が設けられている。カセット移動機構20は、例えばベルトコンベア機構などの駆動機構を有している。本実施形態では、駆動機構として2つの搬送ベルト20a及び20bが設けられている。
The carry-in buffer mechanism BF1 is a part for waiting the carry-in cassette C1 supplied into the substrate processing unit SPU. The carry-in buffer mechanism BF1 is provided with a cassette moving mechanism (third moving mechanism) 20. The
搬送ベルト20aは、搬入側バッファ機構BF1のX軸方向に沿った領域に設けられている。搬送ベルト20aの+Z側の面が搬送面になっており、供給されてくる搬入用カセットC1は当該搬送面上に載置されるようになっている。搬送ベルト20aは、搬送面がX軸方向へ移動するように回転する構成となっている。搬送ベルト20aの回転により、搬入用カセットC1が搬入側バッファ機構BF1内をX軸方向に移動可能になっている。搬送ベルト20bは、搬入側バッファ機構BF1内のX軸方向の中央部に設けられている。搬送ベルト20bの+Z側の面が搬送面になっており、当該搬送面に搬入用カセットC1が載置されるようになっている。搬送ベルト20bは、搬送面がY軸方向に沿って移動するように回転する構成となっている。搬送ベルト20bの回転により、搬入用カセットC1がY軸方向に移動するようになっている。このように、カセット移動機構20によって、各搬入用カセットC1は待機位置が移動するようになっている。
The
搬入側バッファ機構BF1は、搬送ベルト20aの形成領域に沿って複数、例えば3つの搬入用カセットC1をX軸方向に並べて待機させるようになっている(第2容器待機部)。図中−X側の待機位置P1は、例えば基板処理ユニットSPUへ供給されてくる搬入用カセットC1の待機位置である。図中X軸方向の中央の待機位置P2は、待機位置P1から移動してきた搬入用カセットC1の待機位置である。図中+X側の待機位置P3は、待機位置P2から移動してきた搬入用カセットC1の待機位置である。
The carry-in side buffer mechanism BF1 is arranged to stand by by arranging a plurality of, for example, three carry-in cassettes C1 in the X-axis direction along the region where the
待機位置P2内には、上記搬送ベルト20bの+Y側端部が配置されている。このため、待機位置P2に配置される搬入用カセットC1は、搬送ベルト20bによって待機位置P2に対して−Y側に移動し、当該移動先の待機位置P4で待機できるようになっている。待機位置P4の+Z方向上には、基板SのローディングポジションLPが設けられている。基板Sは、このローディングポジションLPを経由して塗布装置CTへ搬送されるようになっている。
In the standby position P2, the + Y side end of the
搬出側バッファ機構BF2は、基板処理ユニットSPU内へ供給されてくる搬出用カセットC2を待機させる部分である。搬出側バッファ機構BF2には、カセット移動機構(第3移動機構)22が設けられている。カセット移動機構22は、例えばベルトコンベア機構などの駆動機構を有している。本実施形態では、搬入側バッファ機構BF1と同様、駆動機構として2つの搬送ベルト22a及び22bが設けられている。 The carry-out side buffer mechanism BF2 is a part for waiting the carry-out cassette C2 supplied into the substrate processing unit SPU. The carry-out side buffer mechanism BF2 is provided with a cassette moving mechanism (third moving mechanism) 22. The cassette moving mechanism 22 has a drive mechanism such as a belt conveyor mechanism. In the present embodiment, like the carry-in buffer mechanism BF1, two transport belts 22a and 22b are provided as drive mechanisms.
搬送ベルト22aは、搬出側バッファ機構BF2のX軸方向に沿った領域に設けられている。搬送ベルト22aの+Z側の面が搬送面になっており、供給されてくる搬出用カセットC2は当該搬送面上に載置されるようになっている。搬送ベルト22aは、搬送面がX軸方向へ移動するように回転する構成となっている。搬送ベルト22aの回転により、搬出用カセットC2が搬出側バッファ機構BF2内をX軸方向に移動可能になっている。搬送ベルト22bは、搬出側バッファ機構BF2内のX軸方向の中央部に設けられている。搬送ベルト20bと同様、搬送ベルト22bの+Z側の面が搬送面になっており、当該搬送面に搬出用カセットC2が載置されるようになっている。搬送ベルト22bは、搬送面がY軸方向に沿って移動するように回転する構成となっている。搬送ベルト22bの回転により、搬出用カセットC2がY軸方向に移動するようになっている。このように、カセット移動機構22によって、各搬出用カセットC2は待機位置が移動するようになっている。
The conveyor belt 22a is provided in a region along the X-axis direction of the carry-out side buffer mechanism BF2. The + Z side surface of the conveyor belt 22a is a conveyor surface, and the unloading cassette C2 that is supplied is placed on the conveyor surface. The conveyor belt 22a is configured to rotate so that the conveyor surface moves in the X-axis direction. The carry-out cassette C2 can move in the carry-out side buffer mechanism BF2 in the X-axis direction by the rotation of the carry belt 22a. The conveyor belt 22b is provided at the center in the X-axis direction in the carry-out side buffer mechanism BF2. Similar to the
搬出側バッファ機構BF2は、搬送ベルト22aの形成領域に沿って複数、例えば3つの搬出用カセットC2をX軸方向に並べて待機させるようになっている(第2容器待機部)。図中−X側の待機位置P5は、例えば基板処理ユニットSPUへ供給されてくる搬出用カセットC2の待機位置である。図中X軸方向の中央の待機位置P6は、待機位置P5から移動してきた搬出用カセットC2の待機位置である。図中+X側の待機位置P7は、待機位置P6から移動してきた搬出用カセットC2の待機位置である。 The carry-out side buffer mechanism BF2 is arranged to stand by by placing a plurality of, for example, three carry-out cassettes C2 in the X-axis direction along the formation region of the transport belt 22a (second container standby unit). A standby position P5 on the −X side in the drawing is a standby position of the unloading cassette C2 supplied to the substrate processing unit SPU, for example. A standby position P6 in the center in the X-axis direction in the drawing is a standby position of the unloading cassette C2 that has moved from the standby position P5. The + X side standby position P7 in the figure is the standby position of the carry-out cassette C2 that has moved from the standby position P6.
待機位置P6内には、上記搬送ベルト22bの+Y側端部が配置されている。このため、待機位置P6に配置される搬出用カセットC2は、搬送ベルト22bによって待機位置P6に対して−Y側に移動し、当該移動先の待機位置P8で待機できるようになっている。待機位置P8の+Z方向上には、基板SのアンローディングポジションUPが設けられている。基板Sは、このアンローディングポジションUPを経由して塗布装置CTから搬出用カセットC2側へ搬送されてくるようになっている。 In the standby position P6, the + Y side end of the transport belt 22b is disposed. For this reason, the unloading cassette C2 disposed at the standby position P6 is moved to the -Y side with respect to the standby position P6 by the transport belt 22b, and can be standby at the standby position P8 of the destination. An unloading position UP for the substrate S is provided above the standby position P8 in the + Z direction. The substrate S is transported from the coating apparatus CT to the unloading cassette C2 via the unloading position UP.
基板搬送装置SCは、基板処理ユニットSPUのY軸方向中央の位置であって塗布装置CTをX軸方向に挟む2箇所の位置に設けられている。2箇所の基板搬送装置SCのうち、塗布装置CTの−X側に配置されている装置が搬入側搬送装置SC1であり、塗布装置CTの+X側に配置されている装置が搬出側搬送装置SC2である。搬入側搬送装置SC1、搬出側搬送装置SC2及び塗布装置CTは、X軸方向に沿った直線上に配置されている。 The substrate transport device SC is provided at two positions in the center in the Y-axis direction of the substrate processing unit SPU and sandwiching the coating apparatus CT in the X-axis direction. Of the two substrate transport devices SC, the device disposed on the −X side of the coating device CT is the carry-in transport device SC1, and the device disposed on the + X side of the coating device CT is the transport-side transport device SC2. It is. The carry-in side conveyance device SC1, the carry-out side conveyance device SC2, and the coating device CT are arranged on a straight line along the X-axis direction.
搬入側搬送装置SC1は、塗布装置CT及び搬入側バッファ機構BF1のローディングポジションLPにそれぞれアクセスし、これらの間で基板Sを搬送する。搬入側搬送装置SC1は、基部30と、アーム部31と、保持部32とを有している。
The carry-in transport device SC1 accesses the loading positions LP of the coating device CT and the carry-in buffer mechanism BF1, and transports the substrate S therebetween. The carry-in side transport device SC <b> 1 includes a
基部30は、ステージユニットSTUのうち窪んだ部分の上面に支持されている。基部30は、固定台30aと、回転台30bとを有している。固定台30aは、ステージユニットSUTの窪んだ部分の上面に固定された台である。回転台30bは、固定台30a上に配置されている。回転台30bは、固定台30aに対しZ軸を回転軸として回転可能に設けられている。
The
アーム部31は、基部30の回転台30b上に支持されている。アーム部31は、XY平面方向に伸縮可能な不図示の伸縮機構を有している。アーム部31の先端には、保持部32を取り付けるための不図示の取付機構が設けられている。
The
保持部32は、上記取付機構を介してアーム部31に取り付けられている。保持部32は、例えば吸着力などの保持力を用いて基板Sを保持する。当該吸着力の発生源としては、例えば不図示の吸引機構などが挙げられる。吸引機構は、例えばアーム部31内部などに配置させることができる。
The holding
搬入側搬送装置SC1は、アーム部31がZ軸を回転軸として回転したり、XY平面方向に伸縮したりすることによって、塗布装置CTとローディングポジションLPとの両方に保持部32をアクセスさせる構成になっている。
The carry-in side conveyance device SC1 is configured to allow the holding
搬出側搬送装置SC2は、塗布装置CT、搬出側バッファ機構BF2のアンローディングポジションUP及び周縁部除去装置EBRにそれぞれアクセスし、これらの間で基板Sを搬送する。搬出側搬送装置SC2は、搬入側搬送装置SC1と同様の構成になっており、基部40(固定台40a、回転台40b)と、アーム部41と、保持部42とを有している。搬出側搬送装置SC2は、アーム部41がZ軸を回転軸として回転したり、XY平面方向に伸縮したりすることにより、保持部42が塗布装置CT、周縁部除去装置EBR及びアンローディングポジションUPにそれぞれアクセスできるようになっている。
The unloading-side transport device SC2 accesses the coating device CT, the unloading position UP of the unloading-side buffer mechanism BF2, and the peripheral edge removing device EBR, and transports the substrate S therebetween. The carry-out side conveyance device SC2 has the same configuration as the carry-in side conveyance device SC1, and includes a base 40 (a fixed
基板処理ユニットSPUは、上記構成の他、基板ローディング機構(ピックアップ機構)21及び基板アンローディング機構27を有している。基板ローディング機構21は、待機位置P4の近傍に配置されている。図4〜図6は、基板ローディング機構21の構成を概略的に示す図である。
The substrate processing unit SPU includes a substrate loading mechanism (pickup mechanism) 21 and a
これらの図に示すように、基板ローディング機構21は、基板上部保持機構23と、基板下部保持機構24とを有している。基板上部保持機構23は、待機位置P4の+X側に配置されている。基板上部保持機構23は、基板Sの+Z側を保持してZ軸方向に移動する。基板上部保持機構23は、昇降部材23aと、クランプ部材23bと、昇降機構23cとを有している。
As shown in these drawings, the
昇降部材23aは、側面視L字状に形成された支柱部材であり、Z軸方向に移動可能に設けられている。昇降部材23aは、Z軸方向に延在する支柱部分と、当該支柱部分の上端からX軸方向に突出する突出部分とを有している。このうち支柱部分は、搬入用カセットC1の+Z端面よりも+Z側まで設けられている。昇降部材23aのうち突出部分は、平面視でローディングポジションLPに重なる位置に配置されている。当該突出部分の−Z側には、基板Sの形状に合うように凹部が形成されている。
The elevating
クランプ部材23bは、昇降部材23aの当該凹部に取り付けられている。したがって、当該クランプ部材23bについても平面視でローディングポジションLPに重なる位置に設けられていることになる。昇降機構23cは、昇降部材23aに取り付けられた駆動部であり、搬入用カセットC1の−Z側に配置されている。昇降機構23cとしては、例えばエアシリンダなどの駆動機構を用いることができる。
The
基板下部保持機構24は、平面視でローディングポジションLPの中央部に重なる位置に設けられている。基板下部保持機構24は、基板Sの−Z側を保持してZ軸方向に移動する。基板下部保持機構24は、昇降部材24aと、クランプ部材24bと、昇降機構24cとを有している。昇降部材24aは、棒状に形成された支柱部材であり、Z軸方向に移動可能に設けられている。クランプ部材24bは、昇降部材24aの+Z側の先端に取り付けられており、当該クランプ部材24bについても平面視でローディングポジションLPの中央部に重なる位置に配置されていることになる。昇降機構24cは、昇降部材24aに取り付けられた駆動部であり、搬入用カセットC1の−Z側に配置されている。昇降機構24cとしては、例えばエアシリンダなどの駆動機構を用いることができる。
The substrate lower
基板上部保持機構23の昇降機構23cと、基板下部保持機構24の昇降機構24cとは、それぞれ独立して動作させることが可能であると共に、両者を連動させて動作させることも可能となっている。
The elevating
基板アンローディング機構27は、待機位置P8の近傍に配置されている。基板アンローディング機構27は、基板ローディング機構21と同一の構成になっている。図4〜図6には、基板ローディング機構21の各構成要素(ローディングポジションLPを含む)に対応する基板アンローディング機構27の構成要素(アンローディングポジションUPを含む)を、括弧内の符号によって示している。
The
基板アンローディング機構27は、基板上部保持機構25と、基板下部保持機構26とを有している。基板上部保持機構25は、昇降部材25aと、クランプ部材25bと、昇降機構25cとを有している。基板下部保持機構26は、昇降部材26aと、クランプ部材26bと、昇降機構26cとを有している。基板アンローディング機構27の各構成要素の位置関係や機能などについては、基板ローディング機構21の対応する構成要素と同一であるため、説明を省略する。
The
(基板搬出ユニット)
図1〜図3に戻って、基板搬出ユニットULUは、基板処理システムSYSのうち基板処理ユニットSPUの+X側に配置されている。基板搬出ユニットULUは、処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2が回収されると共に空の搬出用カセットC2が供給されるユニットである。基板搬出ユニットULUはY軸方向が長手になっており、複数の搬出用カセットC2をY軸方向に沿って配置可能になっている。
(Substrate unloading unit)
1 to 3, the substrate carry-out unit ULU is arranged on the + X side of the substrate processing unit SPU in the substrate processing system SYS. The substrate carry-out unit ULU is a unit in which a carry-out cassette C2 containing the processed substrate S is collected and an empty carry-out cassette C2 is supplied. The substrate carry-out unit ULU is elongated in the Y-axis direction, and a plurality of carry-out cassettes C2 can be arranged along the Y-axis direction.
基板搬出ユニットULUは、カセット出入口60及びカセット移動機構(第2移動機構)61を備えている。カセット出入口60は、基板搬出ユニットULUを覆うカバー部材の−Y側に設けられた開口部である。カセット出入口60は、空の搬出用カセットC2の入口(供給口)であり、処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2の出口(回収口)である。
The substrate carry-out unit ULU includes a cassette inlet /
カセット移動機構61は、例えばベルトコンベア機構などの駆動機構を有している。本実施形態では、当該駆動機構として搬送ベルトを有している。搬送ベルトは、基板搬出ユニットULUの+Y側端部から−Y側端部にかけてY軸方向に延設されており、X軸方向に2本並ぶように配置されている。
The
供給用ベルト61aは、2本の搬送ベルトのうち−X側に配置された搬送ベルトである。供給用ベルト61aの+Z側が搬送面となっている。供給用ベルト61aは、当該搬送面が−Y方向に移動するように回転する構成となっている。供給用ベルト61aの搬送面上には、カセット出入口60を介して基板搬出ユニットULU内へ入ってきた搬出用カセットC2が複数載置されるようになっている。当該搬出用カセットC2は、供給用ベルト61aの回転によって搬送ユニットCRU側へ移動するようになっている。
The
回収用ベルト61bは、2本の搬送ベルトのうち+X側に配置された搬送ベルトである。回収用ベルト61bの+Z側が搬送面となっている。回収用ベルト61bは、搬送面が−Y方向に移動するように回転する構成となっている。回収用ベルト61bの搬送面上には、処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2が複数載置されるようになっている。当該搬出用カセットC2は、回収用ベルト61bの回転によってカセット出入口60側へ移動するようになっている。
The
本実施形態では、例えば供給用ベルト61a上及び回収用ベルト61b上にそれぞれ5つずつ設けられた待機位置(容器待機部)で搬出用カセットC2が待機可能になっている。基板搬出ユニットULUでは、供給用ベルト61a及び回収用ベルト61bを回転させることによって搬出用カセットC2の待機位置を移動させることができるようになっており、当該待機位置を移動させることによって搬出用カセットC2の搬送時間を短縮させることが可能になっている。
In this embodiment, for example, the carry-out cassette C2 can stand by at a stand-by position (container stand-by portion) provided on the
(搬送ユニット)
搬送ユニットCRUは、基板処理システムSYS内の+Y側端辺に沿った領域に配置されており、基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUのそれぞれに接するように設けられている。搬送ユニットCRUは、基板処理ユニットSPUと基板搬入ユニットLDUとの間で搬入用カセットC1を搬送すると共に、基板処理ユニットSPUと基板搬出ユニットULUの間で搬出用カセットC2を搬送する。搬送ユニットCRUは、レール機構RL及びカセット搬送装置CCを有している。
(Transport unit)
The transport unit CRU is disposed in a region along the + Y side end in the substrate processing system SYS, and is provided so as to be in contact with each of the substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, and the substrate carry-out unit ULU. The transport unit CRU transports the carry-in cassette C1 between the substrate processing unit SPU and the substrate carry-in unit LDU, and transports the carry-out cassette C2 between the substrate process unit SPU and the substrate carry-out unit ULU. The transport unit CRU includes a rail mechanism RL and a cassette transport device CC.
レール機構RLは、ステージユニットSTU上に固定されており、搬送ユニットCRUの−X側端部から+X側端部までX軸方向に直線状に延設されている。レール機構RLは、カセット搬送装置CCの移動位置を案内する案内機構である。レール機構RLは、Y軸方向に並んで配置される平行な2本のレール部材70を有している。
The rail mechanism RL is fixed on the stage unit STU and extends linearly in the X-axis direction from the −X side end to the + X side end of the transport unit CRU. The rail mechanism RL is a guide mechanism that guides the moving position of the cassette carrying device CC. The rail mechanism RL has two
カセット搬送装置CCは、2本のレール部材70を平面視で跨ぐように当該2本のレール部材70上に設けられている。カセット搬送装置CCは、基板処理ユニットSPUのバッファ機構BF、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUのそれぞれにアクセスし、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を保持して搬送する搬送装置である。カセット搬送装置CCは、可動部材71と、カセット支持板72と、支持板回転機構73と、カセット保持部材74と、保持部材昇降機構75と、保持部材スライド機構76とを有している。
The cassette carrying device CC is provided on the two
可動部材71は、平面視でH字状に形成されており、2本のレール部材70に嵌合する凹部71aを有している。可動部材71は、不図示の駆動機構(モータ機構など)を例えば内部に有している。可動部材71は、当該駆動機構の駆動力によりレール部材70に沿った直線状の移動区間を移動可能になっている。
The
カセット支持板72は、可動部材71に固定された平面視矩形の板状部材である。カセット支持板72は、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の底部の寸法よりも大きい寸法に形成されており、当該搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を載置した状態で安定させることができるようになっている。カセット支持板72は、可動部材71に固定されているため、可動部材71と一体的に移動するようになっている。
The
支持板回転機構73は、Z軸を回転軸としたXY平面上でカセット支持板72を回転させる回転機構である。支持板回転機構73は、カセット支持板72を回転させることにより、カセット搬送装置CC上に載置される搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の長手方向の向きを変化させることができるようになっている。
The support
カセット保持部材74は、平面視でカセット支持板72の+Y側に配置された平面視U字状の保持部材である。カセット保持部材74は、X軸方向上の位置がカセット支持板72と重なるように設けられている。カセット保持部材74は、不図示の支持部材を介して可動部材71に支持されており、可動部材71と一体的に移動するようになっている。カセット保持部材74のU字の両端部分は、それぞれ搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2に設けられた係合部Cxに係合する保持部74aとなっている。保持部74a(U字の両端部分)のX軸方向の間隔は、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2に設けられる係合部Cxの間隔に合わせて調節可能になっている。カセット保持部材74は、保持部74aを係合部Cxに係合させることにより、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2に対してZ軸方向の保持をより確実に行うことができるようになっている。
The
保持部材昇降機構75は、カセット保持部材74に設けられ、当該カセット保持部材74をZ軸方向に移動させる移動機構である。保持部材昇降機構75としては、例えばエアシリンダなどの駆動機構を用いることができる。保持部材昇降機構75によってカセット保持部材74を+Z方向に移動させることで、カセット保持部材74に保持される搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を持ち上げることができるようになっている。逆に保持部材昇降機構75によってカセット保持部材74を−Z方向に移動させることで、持ち上げたカセットを載置することができるようになっている。
The holding
保持部材スライド機構76は、カセット保持部材74に設けられ、当該カセット保持部材74をY軸方向に移動させる移動機構である。保持部材スライド機構76は、Y軸方向に延在するガイドバー76aと、当該ガイドバー76aに沿って移動する可動部材76bとを有している。可動部材76bはカセット保持部材74に固定されている。可動部材76bがガイドバー76aに沿ってY軸方向に移動することにより、カセット保持部材74は可動部材76bと一体的にY軸方向に移動するようになっている。
The holding
(制御ユニット)
制御ユニットCNUは、基板処理システムSYSのステージユニットSTU内に設けられている。制御ユニットCNUは、例えば基板処理ユニットSPUでの基板処理動作、基板搬入ユニットLDUや基板搬出ユニットULUでのカセット移動動作、搬送ユニットCRUでの搬送動作など上記各ユニットでの諸動作を制御する制御装置や、上記各ユニットで必要となる材料の供給源などを備えている。材料の供給源としては、例えば液状体の供給源や、洗浄液の供給源などが挙げられる。
(Controller unit)
The control unit CNU is provided in the stage unit STU of the substrate processing system SYS. The control unit CNU controls various operations in the above units such as a substrate processing operation in the substrate processing unit SPU, a cassette moving operation in the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU, and a transport operation in the transport unit CRU. A device and a supply source of materials necessary for each unit are provided. Examples of the material supply source include a liquid supply source and a cleaning liquid supply source.
制御装置は、例えばカセット搬送装置CCがどの位置にカセットCを搬送したかという情報や、何個のカセットCを搬送したかという情報などを記憶させておくことができるようになっており、当該情報に基づいてカセット搬送装置CCの搬送動作を行わせることができるようになっている。また、制御装置は、基板処理ユニットSPU内の基板Sの処理過程を情報として受信できるようにもなっており、当該情報に基づいてカセット搬送装置CCの搬送動作を行わせることができるようになっている。 The control device can store, for example, information as to which position the cassette transport device CC has transported the cassette C, information as to how many cassettes C have been transported, and the like. Based on the information, the cassette transport device CC can be transported. In addition, the control device can receive the processing process of the substrate S in the substrate processing unit SPU as information, and can perform the transport operation of the cassette transport device CC based on the information. ing.
次に、上記のように構成された基板処理システムSYSの動作を説明する。基板処理システムSYSの各ユニットで行われる動作は、制御ユニットCNUによって制御される。以下の説明では、動作が行われるユニットを主体として説明するが、実際には制御ユニットCNUの制御に基づいて各動作が行われる。 Next, the operation of the substrate processing system SYS configured as described above will be described. The operation performed in each unit of the substrate processing system SYS is controlled by the control unit CNU. In the following description, the unit in which the operation is performed will be mainly described. However, each operation is actually performed based on the control of the control unit CNU.
(カセット供給動作)
まず、処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1を基板搬入ユニットLDUに配置させ、空の搬出用カセットC2を基板搬出ユニットULUに配置させるカセット供給動作を説明する。
(Cassette supply operation)
First, a cassette supply operation in which the carry-in cassette C1 containing the unprocessed substrate S is arranged in the substrate carry-in unit LDU and the empty carry-out cassette C2 is arranged in the substrate carry-out unit ULU will be described.
例えば不図示の供給装置等により、処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1がカセット出入口10を介して基板搬入ユニットLDU内に供給されてくる。基板搬入ユニットLDUは、搬入用カセットC1が供給用ベルト11aの−Y側端部に載置されたのを確認した後、供給用ベルト11aを回転させる。搬入用カセットC1は、供給用ベルト11aの回転により+Y方向に移動する。基板搬入ユニットLDUは、供給用ベルト11aが当該搬入用カセットC1のスペース分だけ移動したところで一旦ベルトの回転を停止させ、次の搬入用カセットC1が供給されてくるまで待機させる。次の搬入用カセットC1が供給されてきた場合、上記同様、搬入用カセットC1のスペース分だけ移動したところで一旦ベルトの回転を停止させ、再び待機状態にさせる。供給用ベルト11aを回転させながら搬入用カセットC1を順次供給させることにより、基板搬入ユニットLDU内には処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1が複数配列される。
For example, a carry-in cassette C1 containing a substrate S before processing is supplied into the substrate carry-in unit LDU through the
一方、例えば不図示の供給装置等により、空の搬出用カセットC2がカセット出入口60を介して基板搬出ユニットULU内に供給されてくる。基板搬出ユニットULUは、搬出用カセットC2が供給用ベルト61aの−Y側端部に載置されたのを確認した後、供給用ベルト61aを回転させる。搬出用カセットC2は、供給用ベルト61aの回転により+Y方向に移動する。基板搬出ユニットULUは、供給用ベルト61aが当該搬出用カセットC2のスペース分だけ移動したところで一旦ベルトの回転を停止させ、次の搬出用カセットC2が供給されてくるまで待機させる。次の搬出用カセットC2が供給されてきた場合、上記同様、搬出用カセットC2のスペース分だけ移動したところで一旦ベルトの回転を停止させ、再び待機状態にさせる。供給用ベルト61aを回転させながら搬出用カセットC2を順次供給させることにより、基板搬出ユニットULU内には空の搬出用カセットC2が複数配列される。
On the other hand, for example, an empty unloading cassette C2 is supplied into the substrate unloading unit ULU through the cassette inlet /
(カセット搬送動作)
次に、基板搬入ユニットLDUに供給された搬入用カセットC1及び基板搬出ユニットULUに供給された搬出用カセットC2を、それぞれ基板処理ユニットSPUへ搬送するカセット搬送動作を説明する。カセット搬送動作は、搬送ユニットCRUに設けられたカセット搬送装置CCを用いて行う。
(Cassette transfer operation)
Next, a cassette carrying operation for carrying the carry-in cassette C1 supplied to the substrate carry-in unit LDU and the carry-out cassette C2 supplied to the substrate carry-out unit ULU to the substrate processing unit SPU will be described. The cassette carrying operation is performed using a cassette carrying device CC provided in the carrying unit CRU.
搬入用カセットC1の搬送動作を説明する。搬送ユニットCRUは、基板搬入ユニットLDUに面する位置までカセット搬送装置CCをX軸方向に移動させ、搬入用カセットC1との間でX軸方向上の位置が重なるように位置合わせを行わせる。搬送ユニットCRUは、位置合わせの後、カセット保持部材74を−Y方向にスライドさせ、基板搬入ユニットLDU内の最も+Y側の位置で待機している搬入用カセットC1の係合部Cxの−Z側に保持部74aを配置させる。搬送ユニットCRUは、スライド時に保持部74aが係合部Cxの−Z側にスムーズに配置されるように、予め保持部74aのX軸方向の間隔及びZ軸方向の位置を調整しておく。
The carrying operation of the carry-in cassette C1 will be described. The transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the X-axis direction to a position facing the substrate carry-in unit LDU, and performs alignment so that the position in the X-axis direction overlaps with the carry-in cassette C1. After the alignment, the transport unit CRU slides the
保持部74aを係合部Cxに係合させた後、搬送ユニットCRUは、カセット保持部材74を+Z方向に移動させ、搬入用カセットC1を持ち上げさせる。搬送ユニットCRUは、搬入用カセットC1を持ち上げた状態のカセット保持部材74を+Y方向にスライドさせ、カセット支持板72に平面視で重なる位置に搬入用カセットC1を移動させる。搬送ユニットCRUは、当該位置においてカセット保持部材74を−Z方向に移動させ、搬入用カセットC1をカセット支持板72上に載置させる。搬送ユニットCRUは、搬入用カセットC1を載置したときに搬入用カセットC1の長手方向とカセット支持板72の長手方向とが一致するように、カセット支持板72の向きを予め調節しておく。これらの動作により、基板搬入ユニットLDU内の最も+Y側の搬入用カセットC1がカセット搬送装置CCに取り込まれる。取り込みが行われた後、基板搬入ユニットLDUは、基板搬入ユニットLDU内の残りの搬入用カセットC1のうち最も+Y側に配置される搬入用カセットC1が基板搬入ユニットLDUの+Y側端部に配置されるように供給用ベルト11aを移動させる。この動作により、当該残りの搬入用カセットC1が全体的に+Y方向に移動し、供給用ベルト11a上の−Y側端部のスペースが空くため、不図示の供給機構により新たな搬入用カセットC1を当該空いたスペースに供給させておく。
After engaging the holding
搬入用カセットC1を取り込んだ後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを+X方向に移動させ、カセット支持板72の長手方向がY軸方向に一致するように当該カセット支持板72を回転させる。搬送ユニットCRUは、カセット支持板72を回転させた後、基板処理ユニットSPUの搬入側バッファ機構BF1に設定される待機位置P1のX軸方向上の位置と搬入用カセットC1のX軸方向上の位置とが重なるようにカセット搬送装置CCの位置を合わせる。カセット支持板72の回転動作と、カセット搬送装置CCの位置合わせ動作とは、どちらを先に行っても構わない。
After taking in the loading cassette C1, the transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the + X direction and rotates the
位置合わせ動作(若しくは回転動作)の後、搬送ユニットCRUは、カセット支持板72上に載置された搬入用カセットC1をカセット保持部材74によって持ち上げさせ、この状態でカセット保持部材74を−Y方向にスライドさせる。搬送ユニットCRUは、搬入用カセットC1が平面視で待機位置P1に重なる位置に配置されたら、カセット保持部材74を−Z方向に移動させて搬入用カセットC1を待機位置P1に載置させる。
After the alignment operation (or rotation operation), the transport unit CRU lifts the loading cassette C1 placed on the
搬入用カセットC1を載置させた後、搬送ユニットCRUは、搬入用カセットC1に対する保持力を解除させてカセット保持部材74を+Y側へ退避させる。これらの動作により、カセット搬送装置CCに取り込まれた搬入用カセットC1が基板処理ユニットSPU内に搬送された状態になる。
After placing the loading cassette C1, the transport unit CRU releases the holding force with respect to the loading cassette C1 and retracts the
搬出用カセットC2の搬送動作を説明する。この搬送動作は、上記の搬入用カセットC1の搬送動作で用いたカセット搬送装置CCを用いて行う。搬送ユニットCRUは、基板搬出ユニットULUに面する位置までカセット搬送装置CCをX軸方向に移動させ、搬出用カセットC2との間でX軸方向上の位置が重なるように位置合わせを行わせて、基板搬出ユニットULU内の最も+Y側の搬出用カセットC2の取り込みを行わせる。この取り込み動作は、搬入用カセットC1の取り込み動作と同一である。取り込みが行われた後、供給用ベルト61aを移動させ、残りの搬出用カセットC2を全体的に+Y方向に移動させておく。搬出用カセットC2の移動により供給用ベルト61a上の−Y側端部のスペースが空くので、不図示の供給機構により新たな搬出用カセットC2を当該空いたスペースに供給させておく。
The carrying operation of the carry-out cassette C2 will be described. This transport operation is performed using the cassette transport device CC used in the transport operation of the carry-in cassette C1. The transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the X-axis direction to a position facing the substrate carry-out unit ULU, and performs alignment so that the position in the X-axis direction overlaps with the carry-out cassette C2. Then, the carry-out cassette C2 on the most + Y side in the substrate carry-out unit ULU is taken in. This taking-in operation is the same as the taking-in operation of the loading cassette C1. After the loading, the
搬出用カセットC2の取り込み後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを搬出側バッファ機構BF2へ向けて+X方向に移動させ、カセット支持板72の長手方向がY軸方向に一致するように当該カセット支持板72を回転させる。搬送ユニットCRUは、カセット支持板72を回転させた後、基板処理ユニットSPUの搬出側バッファ機構BF2に設定される待機位置P5のX軸方向上の位置と搬出用カセットC2のX軸方向上の位置とが重なるようにカセット搬送装置CCの位置を合わせる。
After taking in the carry-out cassette C2, the carrying unit CRU moves the cassette carrying device CC in the + X direction toward the carry-out side buffer mechanism BF2, so that the longitudinal direction of the
位置合わせの後、搬送ユニットCRUは、カセット支持板72上に載置された搬出用カセットC2を待機位置P5に載置させ、保持力を解除させてカセット保持部材74を+Y側へ退避させる。この載置動作及び退避動作は、搬入用カセットC1について記載した載置動作及び退避動作と同一である。これらの動作により、カセット搬送装置CCに取り込まれた搬出用カセットC2が基板処理ユニットSPU内に搬送された状態になる。
After the alignment, the transport unit CRU places the unloading cassette C2 placed on the
(基板処理動作)
次に、基板処理ユニットSPUにおける処理動作を説明する。
基板処理ユニットSPUでは、処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1と空の搬出用カセットC2とを移動させる移動動作、搬入用カセットC1に収容された基板Sのローディング動作、基板Sに液状体を塗布する塗布動作、基板Sに形成された薄膜の周辺部を除去する周縁部除去動作、処理後の基板Sのアンローディング動作及び空になった搬入用カセットC1と処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2とを移動させる移動動作がそれぞれ行われる。上記各動作に加え、ローディング動作と塗布動作との間、塗布動作と周縁部除去動作との間及び整形動作とアンローディング動作との間には、基板Sの搬送動作が行われる。
(Substrate processing operation)
Next, the processing operation in the substrate processing unit SPU will be described.
In the substrate processing unit SPU, a moving operation for moving the carry-in cassette C1 containing the unprocessed substrate S and an empty carry-out cassette C2, a loading operation for the substrate S contained in the carry-in cassette C1, and a liquid state on the substrate S The coating operation for applying the body, the peripheral edge removing operation for removing the peripheral portion of the thin film formed on the substrate S, the unloading operation for the processed substrate S, and the empty loading cassette C1 and the processed substrate S A moving operation for moving the accommodated unloading cassette C2 is performed. In addition to the above operations, a substrate S transfer operation is performed between the loading operation and the coating operation, between the coating operation and the peripheral edge removal operation, and between the shaping operation and the unloading operation.
これらの動作のうち、まず搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の移動動作を説明する。基板処理ユニットSPUは、搬入側バッファ機構BF1の待機位置P1に搬送された搬入用カセットC1を搬送ベルト20aによって待機位置P2へ移動させ、当該待機位置P2へ移動させた搬入用カセットC1を搬送ベルト20bによって更に待機位置P4へと移動させる。同様に、基板処理ユニットSPUは、搬出側バッファ機構BF2の待機位置P5に搬送された搬出用カセットC2を搬送ベルト22aによって待機位置P6へ移動させ、当該待機位置P6へ移動させた搬出用カセットC2を搬送ベルト22bによって更に待機位置P8へと移動させる。これらの動作により、基板処理ユニットSPU内に搬送されてきた搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2が処理開始時の位置に配置されることとなる。
Of these operations, the moving operation of the loading cassette C1 and the unloading cassette C2 will be described first. The substrate processing unit SPU moves the loading cassette C1 conveyed to the standby position P1 of the loading-side buffer mechanism BF1 to the standby position P2 by the
次に、基板Sのローディング動作を説明する。基板処理ユニットSPUは、搬入用カセットC1が待機位置P4に配置されていることを確認した後、基板上部保持機構23をクランプ位置に配置させると共に、基板下部保持機構24の昇降部材24aを+Z方向へ移動させる。この移動により、昇降部材24aの+Z側端部に取り付けられたクランプ部材24bが搬入用カセットC1内に収容された基板Sのうち最も−Y側に配置された1枚の−Z側に当接し、当該クランプ部材24bによって基板Sの−Z側が保持される。
Next, the loading operation of the substrate S will be described. After confirming that the loading cassette C1 is placed at the standby position P4, the substrate processing unit SPU places the substrate
基板Sの−Z側を保持した後、基板処理ユニットSPUは、保持状態を維持したまま昇降部材24aを+Z方向に更に移動させる。この移動により、基板下部保持機構24によって基板Sが+Z側に持ち上げられ、基板Sの+Z側が基板上部保持機構23のクランプ部材23bに当接し、当該クランプ部材23bによって基板Sの+Z側が保持される。基板Sは、基板上部保持機構23のクランプ部材23b及び基板下部保持機構24のクランプ部材24bの両方によって保持された状態となる。
After holding the −Z side of the substrate S, the substrate processing unit SPU further moves the elevating
基板処理ユニットSPUは、クランプ部材23b及びクランプ部材24bによって基板Sを保持したまま、昇降部材23a及び昇降部材24aを同時に+Z方向へ移動させる。基板処理ユニットSPUは、昇降部材23a及び昇降部材24aの移動が等速となるように昇降機構23c及び昇降機構24cを連動させる。基板Sは、クランプ部材23b及びクランプ部材24bによって保持された状態で+Z方向へ移動する。基板処理ユニットSPUは、基板SがローディングポジションLPに配置されたら、昇降部材23a及び昇降部材24aの移動を停止させる。このようにして、基板Sのローディング動作を行う。
The substrate processing unit SPU simultaneously moves the elevating
ローディング動作の後、基板処理ユニットSPUは、搬入側搬送装置SC1の保持部32をローディングポジションLPへアクセスさせ、当該ローディングポジションLPに配置された基板Sを保持部32に保持させる。基板処理ユニットSPUは、保持部32によって基板Sを保持させた後、クランプ部材23b及びクランプ部材24bによる保持力を解除し、基板Sが保持部32のみに保持された状態とする。この状態から、基板処理ユニットSPUは、保持力を解除させたクランプ部材23b及びクランプ部材24bを−Z方向へ退避させるとともに、搬入側搬送装置SC1の回転台30bを回転させ、基板Sを塗布装置CT内の塗布位置に配置させる。
After the loading operation, the substrate processing unit SPU causes the holding
次に、基板Sに液状体を塗布する塗布動作を説明する。この塗布動作には、塗布装置CTが用いられる。基板処理ユニットSPUは、処理位置に配置された基板Sを高速で回転させると共に、塗布装置CTに設けられた不図示のノズルを基板Sの塗布領域にアクセスさせて当該ノズルから基板Sへ液状体を吐出させる。基板S上に吐出された液状体は、回転の遠心力によって基板Sの外周まで行き渡り、基板Sの全面に薄膜が形成される。 Next, an application operation for applying a liquid material to the substrate S will be described. A coating device CT is used for this coating operation. The substrate processing unit SPU rotates the substrate S arranged at the processing position at a high speed and accesses a nozzle (not shown) provided in the coating apparatus CT to the coating region of the substrate S to transfer the liquid material from the nozzle to the substrate S. To discharge. The liquid material discharged onto the substrate S reaches the outer periphery of the substrate S by the rotational centrifugal force, and a thin film is formed on the entire surface of the substrate S.
塗布動作の後、基板処理ユニットSPUは、塗布装置CT内の基板Sに対して、+X側から搬出側搬送装置SC2の保持部42をアクセスさせ、当該保持部42によって基板Sを保持させる。基板処理ユニットSPUは、保持部42によって基板Sを保持させた後、回転台40bを回転させると共にアーム部41を適宜伸縮させて、保持部42を周縁部除去装置EBRにアクセスさせる。この動作により、基板Sが周縁部除去装置EBR内に配置される。
After the coating operation, the substrate processing unit SPU accesses the holding
次に、基板Sの周囲に形成された薄膜を除去する周縁部除去動作を説明する。この周縁部除去動作には、周縁部除去装置EBRが用いられる。基板処理ユニットSPUは、周縁部除去装置EBR内に配置された基板Sの周縁部をディップ部内の溶解液に浸し、この状態で基板Sを回転させると、溶解液に浸された周縁部の薄膜が溶解して除去される。 Next, the peripheral edge removing operation for removing the thin film formed around the substrate S will be described. For this peripheral edge removing operation, the peripheral edge removing device EBR is used. The substrate processing unit SPU immerses the peripheral edge of the substrate S disposed in the peripheral edge removing device EBR in the solution in the dip portion, and rotates the substrate S in this state. Dissolves and is removed.
周縁部除去動作の後、基板処理ユニットSPUは、基板上部保持機構25のクランプ部材25bがアンローディングポジションUPの+Z側に位置するように昇降部材25aを移動させる。昇降部材25aの移動後、基板処理ユニットSPUは、搬出側搬送装置SC2の保持部42によって基板Sを保持させた状態で回転台40bを回転させると共にアーム部41を適宜伸縮させて、保持部42をアンローディングポジションUPにアクセスさせる。この動作により、基板SがアンローディングポジションUPに配置される。
After the peripheral edge removing operation, the substrate processing unit SPU moves the elevating
次に、基板Sのアンローディング動作を説明する。基板処理ユニットSPUは、基板SがアンローディングポジションUPに配置されていることを確認した後、基板上部保持機構25の昇降部材25aを−Z方向へ移動させると共に、基板下部保持機構26の昇降部材26aを+Z方向へ移動させる。この移動により、昇降部材25aの−Z側に取り付けられたクランプ部材25bが基板Sの+Z側に当接すると共に、昇降部材26aの+Z側端部に取り付けられたクランプ部材26bが基板Sの−Z側に当接し、当該クランプ部材25b及びクランプ部材26bによって基板Sの+Z側及び−Z側がそれぞれ保持される。
Next, the unloading operation of the substrate S will be described. After confirming that the substrate S is disposed at the unloading position UP, the substrate processing unit SPU moves the lifting
基板処理ユニットSPUは、保持状態を維持したまま昇降部材25a及び昇降部材26aを−Z方向に同時に移動させる。基板処理ユニットSPUは、昇降部材25a及び昇降部材26aの移動が等速となるように昇降機構25c及び昇降機構26cを連動させる。基板Sは、クランプ部材25b及びクランプ部材26bによって保持された状態で−Z方向へ移動する。
The substrate processing unit SPU moves the elevating
昇降部材25aの突出部分が搬出用カセットC2に近づいたら、基板処理ユニットSPUは、クランプ部材25bによる保持力を解除させると共に昇降部材25aの移動を停止させ、昇降部材26aのみを−Z方向へ移動させる。基板Sは、クランプ部材26bの保持力によってのみ保持された状態で−Z方向に移動する。
When the protruding portion of the elevating
基板処理ユニットSPUは、基板Sが搬出用カセットC2内の収容位置に到達するまでクランプ部材26bによる保持を継続させる。当該収容位置に到達後、基板処理ユニットSPUは、クランプ部材26bによる保持を解除させ、昇降部材26aを−Z方向へ移動させる。この動作により、基板Sが搬出用カセットC2内に収容される。
The substrate processing unit SPU continues to be held by the
上記各動作の説明では、搬入用カセットC1の最も−Y側に収容された1枚の基板Sについて順を追って動作を行っていく様子を説明したが、実際には、複数の基板Sについて連続して動作が行われる。この場合、基板処理ユニットSPUは、搬送ベルト20bを回転させ、搬入用カセットC1に収容される残りの基板Sのうち最も−Y側の基板SがローディングポジションLPに平面視で重なる位置に配置されるように当該搬入用カセットC1を−Y方向に移動させる。
In the above description of each operation, the state in which the operation is sequentially performed for one substrate S accommodated on the most −Y side of the loading cassette C1 has been described. Then the operation is performed. In this case, the substrate processing unit SPU rotates the
同様に、基板処理ユニットSPUは、搬送ベルト22bを回転させ、搬出用カセットC2内の収容位置のうち最も−Y側の収容位置がアンローディングポジションUPに平面視で重なる位置に配置されるように当該搬出用カセットC2を−Y方向に移動させる。基板処理ユニットSPUは、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2について当該移動を行わせながら、上記の各処理を繰り返し行わせる。 Similarly, the substrate processing unit SPU rotates the transport belt 22b so that the accommodation position on the most −Y side of the accommodation positions in the unloading cassette C2 is arranged at a position overlapping the unloading position UP in plan view. The unloading cassette C2 is moved in the -Y direction. The substrate processing unit SPU repeatedly performs each of the above processes while moving the carry-in cassette C1 and the carry-out cassette C2.
複数の基板Sについて処理を行わせる場合、基板処理ユニットSPUは、当該複数の基板Sについて並行して処理動作を行わせる。具体的には、ある基板Sについて塗布動作を行わせている間、他の基板Sについては周縁部除去動作を行わせ、更にこれらとは異なる基板Sについてはローディング動作やアンローディング動作を行わせる、というように複数の基板Sについて並行して処理動作を行わせる。このように並行処理を行わせることで、基板Sの待機時間を極力短縮させるようにし、基板Sの処理タクトの短縮を図っている。 When processing a plurality of substrates S, the substrate processing unit SPU performs a processing operation on the plurality of substrates S in parallel. Specifically, while the coating operation is performed on a certain substrate S, the peripheral portion removing operation is performed on the other substrate S, and the loading operation and the unloading operation are performed on the substrate S different from these. As described above, the processing operations are performed in parallel on the plurality of substrates S. By performing parallel processing in this way, the standby time of the substrate S is shortened as much as possible, and the processing tact of the substrate S is shortened.
搬入用カセットC1内に収容されていた全ての基板Sの処理が完了した場合、当該搬入用カセットC1は空の状態になり、待機位置P8に待機する搬出用カセットC2の全ての収容位置が処理後の基板Sで満たされた状態になる。基板処理ユニットSPUは、この状態を確認した後、搬送ベルト20bを上記とは逆向きに回転させて搬入用カセットC1を待機位置P4から待機位置P2へと移動させ、更には搬送ベルト20aを回転させて搬入用カセットC1を待機位置P3へと移動させる。同様に、基板処理ユニットSPUは、搬送ベルト22bを上記とは逆向きに回転させて搬出用カセットC2を待機位置P8から待機位置P6へ移動させ、更には搬送ベルト22aを回転させて搬出用カセットC2を待機位置P7へと移動させる。
When processing of all the substrates S accommodated in the carry-in cassette C1 is completed, the carry-in cassette C1 becomes empty, and all the receiving positions of the carry-out cassette C2 waiting at the standby position P8 are processed. It will be in the state filled with the board | substrate S after. After confirming this state, the substrate processing unit SPU rotates the
(カセット搬送動作)
次に、空になった搬入用カセットC1を基板搬入ユニットLDUへ搬送すると共に処理後の基板Sが収容された搬出用カセットC2を基板搬出ユニットULUへ搬送するカセット搬送動作を説明する。
(Cassette transfer operation)
Next, a cassette carrying operation for carrying the empty carry-in cassette C1 to the substrate carry-in unit LDU and carrying the carry-out cassette C2 containing the processed substrate S to the substrate carry-out unit ULU will be described.
搬入用カセットC1の搬送動作を説明する。この搬送動作は、上記の搬送動作で用いたカセット搬送装置CCを用いて行う。搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを基板処理ユニットSPUの搬入側バッファ機構BF1まで移動させる。搬入側バッファ機構BF1内の待機位置P3には、空になった搬入用カセットC1が待機している。搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCのカセット支持板72の長手方向が搬入用カセットC1の長手方向に一致するようにカセット支持板72を回転させる。
The carrying operation of the carry-in cassette C1 will be described. This carrying operation is performed using the cassette carrying device CC used in the above carrying operation. The transport unit CRU moves the cassette transport device CC to the carry-in buffer mechanism BF1 of the substrate processing unit SPU. An empty carry-in cassette C1 stands by at a stand-by position P3 in the carry-in buffer mechanism BF1. The transport unit CRU rotates the
カセット支持板72を回転させた後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCと搬入用カセットC1との間でのX軸方向上の位置合わせを行わせる。位置合わせの後、搬送ユニットCRUは、待機位置P3で待機している空の搬入用カセットC1の取り込み動作をカセット搬送装置CCに行わせる。この取り込み動作は、上述した取り込み動作と同一である。
After rotating the
搬入用カセットC1の取り込み後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを基板搬入ユニットLDUへ向けて−X方向に移動させ、カセット支持板72の長手方向がX軸方向に一致するように当該カセット支持板72を回転させる。搬送ユニットCRUは、カセット支持板72を回転させた後、カセット搬送装置CCと基板搬入ユニットLDUに設けられる回収用ベルト11bとの間でX軸方向上の位置合わせを行わせる。
After taking in the carry-in cassette C1, the transport unit CRU moves the cassette transport device CC toward the substrate carry-in unit LDU in the -X direction so that the longitudinal direction of the
位置合わせの後、搬送ユニットCRUは、カセット支持板72上に載置された空の搬入用カセットC1を回収用ベルト11bの+Y側端部上に載置させ、カセット保持部材74を+Y側へ退避させる。この載置動作及び退避動作は、上述した載置動作及び退避動作と同一である。これらの動作により、カセット搬送装置CCに取り込まれた搬入用カセットC1が基板搬入ユニットLDU内に搬送される。
After the alignment, the transport unit CRU places the empty loading cassette C1 placed on the
搬出用カセットC2の搬送動作を説明する。この搬送動作は、上記搬入用カセットC1の搬送動作と同様、カセット搬送装置CCを用いて行う。搬送ユニットCRUは、基板処理ユニットSPUの搬出側バッファ機構BF2までカセット搬送装置CCをX軸方向に移動させる。搬出側バッファ機構BF2内の待機位置P7には、処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2が待機している。搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCのカセット支持板72の長手方向が搬出用カセットC2の長手方向に一致するようにカセット支持板72を回転させる。
The carrying operation of the carry-out cassette C2 will be described. This transfer operation is performed by using the cassette transfer device CC, similarly to the transfer operation of the carry-in cassette C1. The transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the X-axis direction to the carry-out buffer mechanism BF2 of the substrate processing unit SPU. At the standby position P7 in the carry-out side buffer mechanism BF2, a carry-out cassette C2 containing the processed substrate S is on standby. The transport unit CRU rotates the
カセット支持板72を回転させた後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCのX軸方向上の位置が当該搬出用カセットC2のX軸方向上の位置と一致するように当該カセット搬送装置CCの位置合わせを行う。位置合わせの後、搬送ユニットCRUは、待機位置P7で待機している搬出用カセットC2の取り込みをカセット搬送装置CCに行わせる。この取り込み動作は、上述した取り込み動作と同一である。
After rotating the
取り込み動作の後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを基板搬出ユニットULUへ向けて−X方向に移動させ、カセット支持板72の長手方向がX軸方向に一致するように当該カセット支持板72を回転させる。搬送ユニットCRUは、カセット支持板72を回転させた後、カセット搬送装置CCと基板搬出ユニットULUに設けられる回収用ベルト61bとの間でX軸方向上の位置合わせを行わせる。
After the capturing operation, the transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the −X direction toward the substrate transport unit ULU, and the
位置合わせの後、搬送ユニットCRUは、カセット支持板72上に載置された搬出用カセットC2を回収用ベルト61bの+Y側端部上に載置させ、カセット保持部材74を+Y側へ退避させる。この載置動作及び退避動作は、上述した載置動作及び退避動作と同一である。これらの動作により、カセット搬送装置CCに取り込まれた搬出用カセットC2が基板搬出ユニットULU内に搬送される。
After the alignment, the transport unit CRU places the unloading cassette C2 placed on the
(カセット回収動作)
次に、空になった搬入用カセットC1及び処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2を回収するカセット回収動作を説明する。
(Cassette collection operation)
Next, a cassette collecting operation for collecting the empty loading cassette C1 and the unloading cassette C2 containing the processed substrate S will be described.
基板搬入ユニットLDUは、空になった搬入用カセットC1が搬送されてきたことを確認した後、回収用ベルト11bを回転させて当該搬入用カセットC1を−Y方向へ移動させる。当該−Y方向への移動に際しては、例えば搬入用カセットC1をカセット出入口10へ直行させるようにしても良いし、回収用ベルト11bの+Y側端部を空ける程度に搬入用カセットC1を少しずつ移動させていくようにしても良い。
After confirming that the empty carry-in cassette C1 has been transported, the substrate carry-in unit LDU rotates the
搬入用カセットC1をカセット出入口10へ直行させた場合、搬入用カセットC1は、カセット出入口10を介して基板搬入ユニットLDUの外部へ搬送される。基板搬入ユニットLDUの外部へ搬送された搬入用カセットC1は、不図示の回収機構によって回収される。搬入用カセットC1が基板搬入ユニットLDUに搬送されてくる度に、この動作を繰り返すことになる。
When the carry-in cassette C1 is made to go straight to the cassette inlet /
搬入用カセットC1を少しずつ移動させる場合、例えば搬入用カセットC1が基板搬入ユニットLDUに搬送される毎に、1個分の搬入用カセットC1のスペースずつ−Y方向へずれるように移動させることができる。この動作を複数回繰り返し、最も−Y側の搬入用カセットC1がカセット出入口10に到達した場合には、不図示の回収機構による回収動作を行わせるようにする。
When the carry-in cassette C1 is moved little by little, for example, every time the carry-in cassette C1 is transported to the substrate carry-in unit LDU, the carry-in cassette C1 is moved so as to be shifted in the −Y direction by one space. it can. This operation is repeated a plurality of times, and when the most -Y side loading cassette C1 reaches the cassette inlet /
一方、基板搬出ユニットULUは、処理後の基板Sを収容した搬出用カセットC2が搬送されてきたことを確認した後、回収用ベルト61bを回転させて当該搬出用カセットC2を−Y方向へ移動させる。当該移動に際しては、基板搬入ユニットLDUの場合と同様、搬出用カセットC2をカセット出入口60へ直行させても良いし、少しずつ−Y方向へずらすように移動させても良い。当該移動により、最終的に搬出用カセットC2は、カセット出入口60を介して基板搬出ユニットULUの外部へ搬送される。基板搬出ユニットULUの外部へ搬出された搬出用カセットC2は、不図示の回収機構によって回収される。
On the other hand, after confirming that the unloading cassette C2 containing the processed substrate S has been transported, the substrate unloading unit ULU rotates the
(カセット補充動作)
上記の説明では、基板処理ユニットSPUでの処理が行われている間、搬入用カセットC1は搬入側バッファ機構BF1の待機位置P4に配置され、搬出用カセットC2は搬出側バッファ機構BF2の待機位置P8に配置されている。このとき、搬入側バッファ機構BF1の待機位置P1及び搬出側バッファ機構BF2の待機位置P5が空いた状態(カセットが待機していない状態)となる。
(Cassette refill operation)
In the above description, during the processing in the substrate processing unit SPU, the loading cassette C1 is disposed at the standby position P4 of the loading side buffer mechanism BF1, and the unloading cassette C2 is positioned at the standby position of the loading side buffer mechanism BF2. It is arranged at P8. At this time, the standby position P1 of the carry-in side buffer mechanism BF1 and the standby position P5 of the carry-out side buffer mechanism BF2 are vacant (a state where the cassette is not in standby).
搬送ユニットCRUは、待機位置P1及び待機位置P5が空いた状態になっていることを確認した後、カセット搬送装置CCによって当該待機位置P1及び待機位置P5に次の搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を搬送させる。搬送ユニットCRUは、まずカセット搬送装置CCを基板搬入ユニットLDUまで移動させて次の搬入用カセットC1を取り込ませる。 After confirming that the standby position P1 and the standby position P5 are vacant, the transport unit CRU uses the cassette transport device CC to move to the standby position P1 and the standby position P5 to the next loading cassette C1 and unloading cassette. C2 is conveyed. The transport unit CRU first moves the cassette transport device CC to the substrate carry-in unit LDU and takes in the next carry-in cassette C1.
取り込み動作の後、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを搬入側バッファ機構BF1まで移動させ、取り込んだ搬入用カセットC1を待機位置P1に載置させる。同様に、搬送ユニットCRUは、カセット搬送装置CCを基板搬出ユニットULUに移動させて次の搬出用カセットC2を取り込ませ、その後カセット搬送装置CCを搬出側バッファ機構BF2に移動させて搬出用カセットC2を待機位置P5に載置させる。 After the taking-in operation, the carrying unit CRU moves the cassette carrying device CC to the loading-side buffer mechanism BF1, and places the loaded carrying-in cassette C1 at the standby position P1. Similarly, the transport unit CRU moves the cassette transport device CC to the substrate unloading unit ULU to take in the next unloading cassette C2, and then moves the cassette transport device CC to the unloading side buffer mechanism BF2 to unload the cassette C2. Is placed at the standby position P5.
搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の載置動作の後、基板処理ユニットSPUは、待機位置P4の搬入用カセットC1に収容されていた基板Sの処理が一通り終了するまで搬送ベルト20a及び搬送ベルト20bの動作を待機させる。当該処理が終了したら、基板処理ユニットSPUは、搬送ベルト20bを回転させて搬入用カセットC1を待機位置P4から待機位置P2へ移動させる。
After the loading cassette C1 and the unloading cassette C2 are placed, the substrate processing unit SPU transfers the
この動作により、待機位置P1には処理前の基板Sを収容した搬入用カセットC1が待機し、待機位置P2には空の搬入用カセットC1が待機した状態となる。この状態で基板処理ユニットSPUが搬送ベルト20aを回転させると、待機位置P2の搬入用カセットC1は待機位置P3へ移動し、待機位置P1の搬入用カセットC1は待機位置P2へ移動する。このように、移動動作が効率的に行われる。したがって、実際には、基板処理ユニットSPUで塗布動作等を行う場合、待機位置P1及び待機位置P2に搬入用カセットC1を待機させた状態にしておくことが好ましい。
By this operation, the loading cassette C1 that accommodates the unprocessed substrate S waits at the standby position P1, and the empty loading cassette C1 waits at the standby position P2. When the substrate processing unit SPU rotates the
同様に、搬出用カセットC2が待機位置P8から待機位置P6へ移動した状態になったときに搬送ベルト22aを回転させると、待機位置P6の搬出用カセットC2は待機位置P7へ移動し、待機位置P5の搬出用カセットC2は待機位置P6へ移動する。このように、搬出側バッファ機構BF2においても移動動作が効率的に行われる。したがって、実際には、基板処理ユニットSPUで塗布動作等を行う場合、待機位置P5及び待機位置P6に搬出用カセットC2を待機させた状態にしておくことが好ましい。 Similarly, when the transport belt 22a is rotated when the carry-out cassette C2 is moved from the standby position P8 to the standby position P6, the carry-out cassette C2 at the standby position P6 moves to the standby position P7, and The unloading cassette C2 of P5 moves to the standby position P6. Thus, the moving operation is also efficiently performed in the carry-out buffer mechanism BF2. Therefore, in practice, when performing the coating operation or the like in the substrate processing unit SPU, it is preferable to keep the unloading cassette C2 in the standby position P5 and the standby position P6.
搬入用カセットC1が待機位置P1から待機位置P2へ移動し、搬出用カセットC2が待機位置P5から待機位置P6へ移動すると、待機位置P1及び待機位置P5が再び空いた状態になる。この空いた状態の待機位置P1及び待機位置P5には、更に次の搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を搬送しそれぞれ待機させることができる。このように、搬入側バッファ機構BF1及び搬出側バッファ機構BF2の待機位置P1及び待機位置P5が空いた状態になる毎に、搬送ユニットCRUは、基板搬入ユニットLDUから搬入用カセットC1を搬送させ、基板搬出ユニットULUから搬出用カセットC2を搬送させる。 When the carry-in cassette C1 moves from the standby position P1 to the standby position P2, and the carry-out cassette C2 moves from the standby position P5 to the standby position P6, the standby position P1 and the standby position P5 become empty again. Further, the next carry-in cassette C1 and carry-out cassette C2 can be conveyed to the standby position P1 and the standby position P5 in the vacant state, and can be made to stand by respectively. Thus, every time the standby position P1 and standby position P5 of the carry-in side buffer mechanism BF1 and the carry-out side buffer mechanism BF2 become empty, the transport unit CRU transports the carry-in cassette C1 from the substrate carry-in unit LDU, The unloading cassette C2 is transported from the substrate unloading unit ULU.
以上のように、本実施形態によれば、搬送ユニットCRUに設けられるカセット搬送装置CCが、ローディングポジションLPと基板搬入ユニットLDUとの間で搬入用カセットC1を搬送すると共にアンローディングポジションUPと基板搬出ユニットULUとの間で搬出用カセットC2を搬送することとしたので、異なる搬送区間の搬送動作を1つのカセット搬送装置CCに行わせることができる。このため、カセット搬送装置CCによる搬送処理を一元化することができ、基板処理システムSYSの構成を簡略化することができ、処理タクトを短縮化させることができる。また、本実施形態によれば、搬入用カセットC1と搬出用カセットC2とを使い分けることとしたので、基板Sの汚染を防ぐことができるという利点もある。 As described above, according to the present embodiment, the cassette transport device CC provided in the transport unit CRU transports the loading cassette C1 between the loading position LP and the substrate loading unit LDU, and unloads the position UP and the substrate. Since the unloading cassette C2 is transported to and from the unloading unit ULU, it is possible to cause one cassette transporting device CC to perform transporting operations in different transport sections. For this reason, the conveyance processing by the cassette conveyance device CC can be unified, the configuration of the substrate processing system SYS can be simplified, and the processing tact can be shortened. Further, according to the present embodiment, since the carry-in cassette C1 and the carry-out cassette C2 are selectively used, there is an advantage that the contamination of the substrate S can be prevented.
また、本実施形態によれば、基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUが直線方向上に配置されているので、各ユニットの間の搬送経路を当該直線方向上に設定することができる。これにより、搬送経路の複雑化を回避することができ、基板処理システムSYSの構成を簡略化することができる。加えて、本実施形態によれば、基板処理ユニットSPUが基板搬入ユニットLDUと基板搬出ユニットULUとの間に配置されていることとしたので、各ユニットが基板の搬送の流れの方向に沿って配置されることになる。これにより、処理の効率を高めることができる。 Moreover, according to this embodiment, since the substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, and the substrate carry-out unit ULU are arranged in the linear direction, the conveyance path between the units is set in the linear direction. Can do. Thereby, complication of a conveyance route can be avoided and the composition of substrate processing system SYS can be simplified. In addition, according to the present embodiment, since the substrate processing unit SPU is disposed between the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU, each unit moves along the direction of the substrate carrying flow. Will be placed. Thereby, the processing efficiency can be increased.
これらの他、本実施形態では、搬送ユニットCRUがカセット搬送装置CCを直線方向(X軸方向)に移動させることとしたので、カセット搬送装置CCの移動動作を単純化することができる。また、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUには、それぞれ複数のカセットを待機させることができるようになっており、これらが複数のカセット待機部となっているため、より多くの基板を迅速に処理することが可能となる。 In addition to these, in this embodiment, since the transport unit CRU moves the cassette transport device CC in the linear direction (X-axis direction), the moving operation of the cassette transport device CC can be simplified. In addition, the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU can each wait for a plurality of cassettes, and these serve as a plurality of cassette standby units, so that more substrates can be quickly transferred. It becomes possible to process.
また、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUは、供給用ベルト11a、61a及び回収用ベルト11b、61bによって、搬入用カセットC1については搬送ユニットCRU側へ、搬出用カセットC2についてはカセット出入口10、60側へ、それぞれカセット待機部を移動可能となっているので、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の供給動作及び回収動作を効率的に行うことができる。
Further, the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU are fed by the
また、基板処理ユニットSPUには、ローディングポジションLP及びアンローディングポジションUPに対応する搬入側バッファ機構BF1及び搬出側バッファ機構BF2が設けられており、各バッファ機構において複数のカセットCを待機させることができるようになっているので、基板処理ユニットSPUにおける基板Sのローディング動作及びアンローディング動作を迅速に行うことができ、処理の効率化を図ることができる。また、このバッファ機構BFは、カセットCの待機位置を移動させる搬送ベルト20、22を有しており、カセットC内の基板Sの残量に応じてカセットCの待機位置を移動可能となっているため、処理の効率化を図ることができる。これらの待機位置は、カセット搬送装置CCによる搬送方向(X軸方向)に沿って設けられているので、カセット搬送装置CCと各待機位置との距離がそれぞれ一定となる。当該距離が一定に保持されることにより、カセット搬送装置CCが各待機位置にアクセスしやすくなる。
Further, the substrate processing unit SPU is provided with a carry-in side buffer mechanism BF1 and a carry-out side buffer mechanism BF2 corresponding to the loading position LP and the unloading position UP, and a plurality of cassettes C can stand by in each buffer mechanism. Thus, the loading operation and unloading operation of the substrate S in the substrate processing unit SPU can be performed quickly, and the processing efficiency can be improved. Further, the buffer mechanism BF has
また、基板処理ユニットSPUが搬入用カセットC1から基板Sを持ち上げてローディングポジションLPに配置する基板ローディング機構21を有することとしたので、基板のローディング動作を迅速に行うことができる。同様に、基板処理ユニットSPUが基板アンローディング機構27を有することとしたので、基板Sのアンローディング動作についても迅速に行うことができる。
Further, since the substrate processing unit SPU has the
また、カセット搬送装置CCがカセット支持板72の向きを回転させる回転機構を有することとしたので、搬送方向とカセットの向きとが異なる場合であっても、搬送動作及び受け渡し動作をスムーズに行うことができる。また、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2には係合部Cxが形成されており、搬送装置が当該係合部Cxに係合させて搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を保持するカセット保持部材74を有することとしたので、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を確実に保持することができる。
Further, since the cassette carrying device CC has a rotating mechanism that rotates the direction of the
また、制御ユニットCNUが基板処理ユニットSPUにおける基板Sの処理状況に応じて、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の搬送位置を制御することとしたので、搬送動作をより効率的に行うことができる。 Further, since the control unit CNU controls the transfer positions of the loading cassette C1 and the unloading cassette C2 according to the processing status of the substrate S in the substrate processing unit SPU, the transfer operation can be performed more efficiently. it can.
本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加えることができる。
上記実施形態においては、制御ユニットCNUが基板処理ユニットSPUにおける基板Sの処理状況に応じて搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の搬送位置を制御する構成としたが、これに限られることは無く、例えば、基板処理システムSYSの全体の動作の中に搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の搬送の位置及びタイミングが予め決定された状態で制御する構成であっても構わない。
The technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and appropriate modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
In the above embodiment, the control unit CNU controls the transfer positions of the loading cassette C1 and the unloading cassette C2 according to the processing status of the substrate S in the substrate processing unit SPU. However, the present invention is not limited to this. For example, the configuration may be such that the transfer position and timing of the carry-in cassette C1 and the carry-out cassette C2 are controlled in advance during the entire operation of the substrate processing system SYS.
また、上記実施形態においては、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2には係合部Cxが形成されており、カセット搬送装置CCがカセット保持部材74の保持部74aを当該係合部Cxに係合させて搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2を保持する構成としたが、これに限られることは無く、例えばカセット保持部材74が搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の底部など、他の部分を保持する構成になっていても構わない。
In the above embodiment, the loading cassette C1 and the unloading cassette C2 are formed with the engaging portion Cx, and the cassette carrying device CC engages the holding
また、上記実施形態においては、カセット搬送装置CCがカセット支持板72の向きを回転させる回転機構を有する構成としたが、これに限られることは無く、例えばカセット支持板72の向きが固定されている構成としても構わない。この場合、基板処理システムSYS内においては、カセットCの長手方向がカセット支持板72の長手方向と常に一致させた状態になるように供給させ、回収させ、移動させるようにする。これにより、カセット搬送装置CCの動作をより単純化することができる。
Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which has the rotation mechanism in which the cassette conveyance apparatus CC rotates the direction of the
また、上記実施形態においては、基板処理ユニットSPUが搬入用カセットC1から基板Sを持ち上げてローディングポジションLPに配置する基板ローディング機構21を有する構成としたが、これに限られることは無く、基板ローディング機構21の構成を他の構成としても構わない。基板アンローディング機構27の構成についても同様である。
In the above embodiment, the substrate processing unit SPU includes the
また、上記実施形態においては、バッファ機構BFが、X軸方向にカセットCの待機位置を移動させる構成としたが、これに限られることは無く、カセットCの待機位置を他の方向に移動させるようにしても構わない。また、カセットCの待機位置を移動させずに固定させる構成としても構わない。 In the above embodiment, the buffer mechanism BF is configured to move the standby position of the cassette C in the X-axis direction. However, the present invention is not limited to this, and the standby position of the cassette C is moved in another direction. It doesn't matter if you do. Further, the standby position of the cassette C may be fixed without being moved.
また、上記実施形態においては、バッファ機構BFとして搬入側バッファ機構BF1及び搬出側バッファ機構BF2をそれぞれ配置する構成としたが、これに限られることは無く、例えば両者のバッファ機構BFのうちいずれか一方のみを配置させる構成であっても構わない。バッファ機構BFを複数配置する構成に限られず、1箇所にまとめてバッファ機構BFを配置する構成であっても構わない。 Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which each arrange | positions carrying-in side buffer mechanism BF1 and carrying-out side buffer mechanism BF2 as buffer mechanism BF, it is not restricted to this, For example, either one of both buffer mechanism BF It may be configured to arrange only one of them. The configuration is not limited to a configuration in which a plurality of buffer mechanisms BF are arranged, and a configuration in which the buffer mechanisms BF are arranged in one place may be used.
また、上記実施形態においては、供給用ベルト11a、61a及び回収用ベルト11b、61bによって、搬入用カセットC1については搬送ユニットCRU側へ、搬出用カセットC2についてはカセット出入口10、60側へ、それぞれカセット待機部を移動させる構成としたが、これに限られることは無く、いずれか一方へカセット待機部を移動させる構成であっても構わない。
In the above-described embodiment, the
また、上記実施形態においては、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUにそれぞれ複数のカセットCを待機させる構成としたが、これに限られることは無く、例えば各ユニットに1つのカセットCのみを待機させる構成としても構わない。これにより、基板処理システムSYSが小型の場合であっても本発明を適用させることができる。 In the above embodiment, the substrate loading unit LDU and the substrate unloading unit ULU are each configured to wait for a plurality of cassettes C. However, the present invention is not limited to this. For example, each unit waits for only one cassette C. It does not matter as a configuration to be made. Accordingly, the present invention can be applied even when the substrate processing system SYS is small.
また、上記実施形態においては、搬送ユニットCRUがカセット搬送装置CCを直線方向(X軸方向)に移動させる構成としたが、これに限られることは無く、異なる複数の方向に移動可能な構成としても構わないし、曲線方向に移動可能な構成としても構わない。このように搬送経路を直線方向にこだわらず幅広く設定することにより、各ユニットの配置に関する設計の幅を広げることができる。 In the above embodiment, the transport unit CRU is configured to move the cassette transport device CC in the linear direction (X-axis direction). However, the present invention is not limited to this, and is configured to be movable in a plurality of different directions. Alternatively, it may be configured to be movable in the curve direction. In this way, by setting a wide conveyance path regardless of the linear direction, it is possible to widen the design range regarding the arrangement of each unit.
例えば、上記実施形態のように基板処理ユニットSPUが基板搬入ユニットLDUと基板搬出ユニットULUとの間に配置された構成の他、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUと、基板処理ユニットSPUとを異なる位置に配置させる構成とすることもできる。 For example, in addition to the configuration in which the substrate processing unit SPU is disposed between the substrate carry-in unit LDU and the substrate carry-out unit ULU as in the above embodiment, the substrate carry-in unit LDU, the substrate carry-out unit ULU, and the substrate processing unit SPU It can also be set as the structure arrange | positioned in a different position.
また、上記実施形態のように基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU及び基板搬出ユニットULUが直線方向上に配置された構成に限られず、例えば正三角形の頂点位置や直角三角形の頂点位置に各ユニットを配置したりするなど、幅広い設計が可能となる。 In addition, the substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, and the substrate carry-out unit ULU are not limited to the configuration arranged in the linear direction as in the above embodiment. For example, each unit is placed at the vertex position of an equilateral triangle or the right triangle position. A wide range of designs is possible, such as arranging
また、上記実施形態においては、基板処理ユニットSPUにおける処理として、基板Sに薄膜を塗布形成する塗布処理をメインとして行う例を挙げて説明したが、これに限られることは無く、例えば基板処理ユニットとして当該塗布処理の前処理及び後処理をメインとして行う構成であっても構わない。前処理としては、例えば基板Sに紫外線を照射する処理や、基板Sを洗浄する処理などが挙げられる。後処理としては、基板Sの周囲を減圧させる処理や、基板Sを加熱する処理などが挙げられる。 Moreover, in the said embodiment, although the example which performs mainly the application | coating process which apply | coats and forms a thin film to the board | substrate S as a process in the substrate processing unit SPU was demonstrated, it is not restricted to this, For example, a substrate processing unit As a main configuration, the pre-processing and post-processing of the coating process may be performed. Examples of the pretreatment include a process of irradiating the substrate S with ultraviolet light and a process of cleaning the substrate S. Examples of the post-processing include a process for reducing the pressure around the substrate S and a process for heating the substrate S.
また、上記実施形態においては、ローディングポジションLP及びアンローディングポジションUPを先に設定し、当該ローディングポジションLP及びアンローディングポジションUPに合わせて基板ローディング機構21及び基板アンローディング機構25を配置する構成になっているものとして説明したが、これとは逆に、先に基板ローディング機構21及び基板アンローディング機構25の位置を設定し、基板下部支持機構24及び26の位置の+Z方向上にローディングポジションLP及びアンローディングポジションUPを設定する構成になっているものとしても構わない。
In the above embodiment, the loading position LP and the unloading position UP are set first, and the
また、上記実施形態においては、塗布装置CTとして、基板Sを回転させながら当該基板S上に液状体を吐出させる構成としたが、これに限られることは無く、他のタイプの塗布装置、例えばディップ式の塗布装置やスリットノズル式の塗布装置などを用いた場合であっても本発明の適用は可能である。また、塗布装置CTとして、基板Sの片面側に薄膜を形成するタイプの装置に限られず、基板Sの両面に薄膜を形成可能なタイプの装置であっても構わない。 In the above embodiment, the coating apparatus CT is configured to discharge the liquid material onto the substrate S while rotating the substrate S. However, the present invention is not limited to this, and other types of coating apparatuses, for example, The present invention can be applied even when a dip type coating device or a slit nozzle type coating device is used. Further, the coating apparatus CT is not limited to a type of apparatus that forms a thin film on one side of the substrate S, and may be a type of apparatus that can form a thin film on both sides of the substrate S.
また、上記実施形態においては、また、上記実施形態において、基板搬入ユニットLDUはカセット移動機構11としてベルトコンベア機構を有している構成を例に挙げて説明したが、これに限られることは無く、これに限られることは無く、ベルトコンベア機構以外にも例えば搬入用カセットC1の係合部Cxを保持するホーク部材を有する構成であっても構わない。このホーク部材としては、例えばカセット搬送装置CCのカセット保持部材74と同様の構成とすることができる。ホーク部材によって搬入用カセットC1の係合部Cxを保持して基板搬入ユニットLDU内を移動させる構成とすることができる。当該ホーク部材は、基板搬出ユニットULUのカセット移動機構61として用いることも可能である。ホーク部材の他、例えばレール機構やリニアモータ、エアシリンダなど、他の搬送機構を用いる構成であっても勿論構わない。
Moreover, in the said embodiment, although the board | substrate carrying-in unit LDU demonstrated and demonstrated the structure which has a belt conveyor mechanism as the
また、上記実施形態においては、搬入側バッファ機構BF1及び搬出側バッファ機構BF2において、搬入用カセットC1及び搬出用カセットC2の待機位置を移動する機構として搬送ベルト20a、20b、22a及び22bを例に挙げて説明したが、これに限られることは無く、例えば搬入側バッファ機構BF1において、搬入用カセットC1を待機位置P1、待機位置P2、待機位置P4、待機位置P2、待機位置P3と順に移動させる移動機構を設ける構成であっても構わない。バッファ機構BF2においても同様に、搬出用カセットC2を待機位置P5、待機位置P6、待機位置P8、待機位置P6、待機位置7と順に移動させる移動機構を設ける構成であっても構わない。このような移動機構としては、例えば搬入用カセットC1、搬出用カセットC2の係合部Cxを保持するホーク部材を有する構成などが挙げられる。このホーク部材としては、例えばカセット搬送装置CCのカセット保持部材74と同様の構成とすることができる。
In the above-described embodiment, the
また、上記実施形態においては、基板搬送装置SCが基板処理ユニットSPU内の2箇所に配置された構成としたが、これに限られることは無く、例えば基板搬送装置SCが1箇所に配置された構成であっても構わないし、3箇所以上に配置された構成であっても構わない。 Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure by which the board | substrate conveyance apparatus SC was arrange | positioned in two places in the substrate processing unit SPU, it is not restricted to this, For example, the board | substrate conveyance apparatus SC was arrange | positioned in one place. It may be a configuration, or may be a configuration arranged at three or more locations.
また、上記実施形態においては、カセットCが基板SをZ軸方向に立てた状態で収容可能であり、基板Sを立てた状態のまま搬送する構成としたが、これに限られることは無く、カセットCが基板Sの基板面をXY平面に平行な状態で収容可能であり、この状態のまま搬送する構成であっても構わない。 In the above embodiment, the cassette C can be accommodated in a state where the substrate S is erected in the Z-axis direction and is transported while the substrate S is erected. However, the present invention is not limited to this. The cassette C can accommodate the substrate surface of the substrate S in a state parallel to the XY plane, and the cassette C may be transported in this state.
また、上記実施形態においては、周縁部除去装置EBRを搬出側搬送装置SC2側にのみ配置する構成としたが、これに限られることは無く、例えば搬入側搬送装置SC1側にも配置する構成としても構わない。このように構成することにより、例えば搬入側搬送装置SC1及び搬出側搬送装置SC2の両方について搬送動作を同時に行わせることができる。 Moreover, in the said embodiment, although it was set as the structure which arrange | positions the peripheral part removal apparatus EBR only in the carrying-out side conveying apparatus SC2 side, it is not restricted to this, For example, as a structure arrange | positioned also in the carrying-in side conveying apparatus SC1 side. It doesn't matter. By configuring in this way, for example, both the carry-in side transfer device SC1 and the carry-out side transfer device SC2 can be simultaneously carried.
また、基板処理システムSYSが、上記実施形態の構成に加えて、例えば塗布処理後の基板S上における異物の有無を検知する異物検知ユニットを更に備えている構成としても構わない。塗布処理後の基板Sに異物が付着していると、その後の処理、例えばインプリント処理を行う際に当該異物の付着位置において基板Sが破損する可能性がある。これに対して、塗布処理後の基板S上における異物の有無を検知する異物検知ユニットを更に備える構成とすることで、このような異物の付着した基板Sを検出することができ、その後のインプリント処理に用いられるのを防ぐことができるため、基板Sの破損を回避することができる。 In addition to the configuration of the above embodiment, the substrate processing system SYS may further include, for example, a foreign matter detection unit that detects the presence or absence of foreign matter on the substrate S after the coating process. If a foreign substance adheres to the substrate S after the coating process, the substrate S may be damaged at the position where the foreign substance is attached when a subsequent process such as an imprint process is performed. On the other hand, by further including a foreign matter detection unit that detects the presence or absence of foreign matter on the substrate S after the coating process, the substrate S to which such foreign matter is attached can be detected. Since it can be prevented from being used for the printing process, the substrate S can be prevented from being damaged.
また、基板処理システムSYSに異物検知ユニットを備えることとした場合、当該異物検知ユニットを上記ステージユニットSTU、基板処理ユニットSPU、基板搬入ユニットLDU、基板搬出ユニットULU、搬送ユニットCRUに対して独立したユニットとして配置する構成にしても構わないし、例えば基板処理ユニットSPUの内部に配置する構成にしても構わない。塗布処理後の基板Sが搬出用カセットC2に収容される前に異物検知を行うことができるような構成が好ましいが、当該搬出用カセットC2に収容された状態で異物検知ができる構成であっても勿論構わない。基板Sが搬出用カセットC2に収容される前に異物検知を行う構成とする場合、例えば異物が検知された基板Sを搬出用カセットC2に収容させずに別途回収させる回収機構を備える構成であっても構わない。 If the substrate processing system SYS includes a foreign substance detection unit, the foreign substance detection unit is independent of the stage unit STU, the substrate processing unit SPU, the substrate carry-in unit LDU, the substrate carry-out unit ULU, and the transfer unit CRU. It may be configured as a unit, for example, may be configured inside the substrate processing unit SPU. A configuration in which foreign matter detection can be performed before the substrate S after coating processing is accommodated in the carry-out cassette C2 is preferable, but foreign matter detection can be performed in a state where the substrate S is accommodated in the carry-out cassette C2. Of course. When the foreign substance is detected before the substrate S is accommodated in the carry-out cassette C2, for example, the substrate S in which the foreign substance is detected is provided with a collecting mechanism that separately collects the substrate S without being accommodated in the carry-out cassette C2. It doesn't matter.
SYS…基板処理システム S…基板 STU…ステージユニット SPU…基板処理ユニット LDU…基板搬入ユニット ULU…基板搬出ユニット CRU…搬送ユニット CNU…制御ユニット SUT…ステージユニット C1…搬入用カセット C2…搬出用カセット CT…塗布装置 EBR…周縁部除去装置 BF…バッファ機構 SC…基板搬送装置 P1〜P8…待機位置 LP…ローディングポジション UP…アンローディングポジション RL…レール機構 CC…カセット搬送装置 Cx…係合部 20、22…カセット移動機構 21…基板ローディング機構 27…基板アンローディング機構 11、61…カセット移動機構 11a、61a…供給用ベルト 11b、61b…回収用ベルト 71…可動部材 71a…凹部 72…カセット支持板 73…支持板回転機構 74…カセット保持部材 74a…保持部 75…保持部材昇降機構 76…保持部材スライド機構 76a…ガイドバー 76b…可動部材
SYS ... Substrate processing system S ... Substrate STU ... Stage unit SPU ... Substrate processing unit LDU ... Substrate carry-in unit ULU ... Substrate carry-out unit CRU ... Transfer unit CNU ... Control unit SUT ... Stage unit C1 ... Carry-in cassette C2 ... Carry-out cassette CT ... coating device EBR ... peripheral edge removing device BF ... buffer mechanism SC ... substrate transport device P1 to P8 ... standby position LP ... loading position UP ... unloading position RL ... rail mechanism CC ... cassette transport device Cx ... engaging
Claims (18)
前記所定処理前の前記基板を収容した搬入用容器が供給されると共に、空の前記搬入用容器が回収される基板搬入ユニットと、
前記所定処理後の前記基板を収容した搬出用容器が回収されると共に、空の前記搬出用容器が供給される基板搬出ユニットと、
前記処理ユニット内のローディングポジションと前記基板搬入ユニットとの間で前記搬入用容器を搬送すると共に前記処理ユニット内のアンローディングポジションと前記基板搬出ユニットとの間で前記搬出用容器を搬送する搬送機構を有する搬送ユニットと
を備えることを特徴とする基板処理システム。 A processing unit for performing predetermined processing on the substrate;
A substrate loading unit for storing the substrate before the predetermined processing is supplied, and a substrate loading unit for collecting the empty loading container;
A substrate unloading unit in which the unloading container containing the substrate after the predetermined processing is collected and the empty unloading container is supplied;
A transport mechanism for transporting the loading container between the loading position in the processing unit and the substrate carry-in unit and transporting the unloading container between the unloading position in the processing unit and the substrate unloading unit. A substrate processing system.
ことを特徴とする請求項1に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 1, wherein the processing unit, the substrate carry-in unit, and the substrate carry-out unit are arranged in a linear direction.
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 1, wherein the processing unit is disposed between the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit.
ことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 2, wherein the transport unit includes a moving mechanism that moves the transport mechanism in the linear direction.
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to any one of claims 1 to 4, wherein each of the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit is provided with a plurality of container standby portions.
ことを特徴とする請求項5に記載の基板処理システム。 6. The substrate processing system according to claim 5, wherein at least one of the substrate carry-in unit and the substrate carry-out unit includes a second moving mechanism that moves a plurality of the container standby units.
ことを特徴とする請求項6に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 6, wherein the second moving mechanism moves the container standby unit so as to bring the supply target container closer to the transport unit and to move the collection target container away from the transport unit.
ことを特徴とする請求項1から請求項7のうちいずれか一項に記載の基板処理システム。 8. The buffer mechanism having a plurality of second container standby portions corresponding to at least one of the loading position and the unloading position is provided in the processing unit. The substrate processing system as described in any one of them.
ことを特徴とする請求項8に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 8, wherein the buffer mechanism includes a third moving mechanism that moves the plurality of second container standby portions.
ことを特徴とする請求項9に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 9, wherein the third movement mechanism moves the second container standby unit in the same direction as the conveyance direction of the conveyance mechanism.
ことを特徴とする請求項1から請求項10のうちいずれか一項に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to any one of claims 1 to 10, wherein the processing unit includes a pickup mechanism that lifts the substrate from the loading container and places the substrate in the loading position.
ことを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to any one of claims 1 to 11, wherein the transport unit includes a rotation mechanism that rotates a direction of the transport mechanism.
前記搬送機構は、前記係合部に係合させて前記搬入用容器及び前記搬出用容器を保持する保持部材を有する
ことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか一項に記載の基板処理システム。 An engaging portion is formed in the carry-in container and the carry-out container,
The said conveyance mechanism has a holding member engaged with the said engaging part, and hold | maintains the said container for carrying in and the said container for carrying out. The Claims 1-12 characterized by the above-mentioned. Substrate processing system.
ことを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか一項に記載の基板処理システム。 The apparatus according to claim 1, further comprising a control device that controls a transfer position of at least one of the carry-in container and the carry-out container in accordance with a processing state of the substrate in the processing unit. The substrate processing system as described in any one of Claims.
ことを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか一項に記載の基板処理システム。 15. The predetermined process includes a coating process for coating a liquid material on the substrate, a pre-process for the coating process, and a post-process for the coating process. Substrate processing system.
ことを特徴とする請求項15に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 15, wherein the pretreatment includes at least one of a process of irradiating the substrate with ultraviolet rays and a process of cleaning the substrate.
ことを特徴とする請求項16に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to claim 16, wherein the post-processing includes at least one of a process for reducing the pressure around the substrate and a process for heating the substrate.
ことを特徴とする請求項1から請求項17のいずれか一項に記載の基板処理システム。 The substrate processing system according to any one of claims 1 to 17, further comprising a foreign matter detection unit that detects the presence or absence of foreign matter on the substrate after the predetermined processing.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008219562A JP5227701B2 (en) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | Substrate processing system |
CN2012105803182A CN103021918A (en) | 2008-08-28 | 2009-08-25 | A carrying device |
CN2012105800199A CN103077911A (en) | 2008-08-28 | 2009-08-25 | Coating device |
CN 200910167447 CN101661873B (en) | 2008-08-28 | 2009-08-25 | Substrate processing system, carrying device and coating device |
US12/547,270 US9214372B2 (en) | 2008-08-28 | 2009-08-25 | Substrate processing system, carrying device and coating device |
US12/877,881 US8919756B2 (en) | 2008-08-28 | 2010-09-08 | Substrate processing system, carrying device, and coating device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008219562A JP5227701B2 (en) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | Substrate processing system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010056286A JP2010056286A (en) | 2010-03-11 |
JP5227701B2 true JP5227701B2 (en) | 2013-07-03 |
Family
ID=42071893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008219562A Expired - Fee Related JP5227701B2 (en) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | Substrate processing system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5227701B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5443070B2 (en) | 2009-06-19 | 2014-03-19 | 東京エレクトロン株式会社 | Imprint system |
JP5611112B2 (en) * | 2010-05-21 | 2014-10-22 | 東京エレクトロン株式会社 | IMPRINT SYSTEM, IMPRINT METHOD, PROGRAM, AND COMPUTER STORAGE MEDIUM |
JP6183033B2 (en) * | 2013-07-30 | 2017-08-23 | 大日本印刷株式会社 | Foreign matter inspection method, imprint method, and foreign matter inspection device |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0682773A (en) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Seiko Instr Inc | Ferroelectric liquid crystal device |
JP3340181B2 (en) * | 1993-04-20 | 2002-11-05 | 株式会社東芝 | Semiconductor manufacturing method and system |
JP3437559B2 (en) * | 1993-12-24 | 2003-08-18 | 東京エレクトロン株式会社 | Processing equipment |
JP3350234B2 (en) * | 1994-06-06 | 2002-11-25 | 東京エレクトロン株式会社 | Object buffer device, processing device using the same, and method of transporting the same |
JPH0817894A (en) * | 1994-06-27 | 1996-01-19 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate surface treatment device |
JP3441321B2 (en) * | 1996-12-05 | 2003-09-02 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing method and apparatus |
US6641350B2 (en) * | 2000-04-17 | 2003-11-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Dual loading port semiconductor processing equipment |
JP2003037043A (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processing apparatus and substrate processing system |
JP3845585B2 (en) * | 2002-01-25 | 2006-11-15 | 東京エレクトロン株式会社 | Processing equipment |
JP2005085913A (en) * | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp | System for manufacturing wafer |
JP2004080053A (en) * | 2003-11-07 | 2004-03-11 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Semiconductor manufacturing apparatus |
-
2008
- 2008-08-28 JP JP2008219562A patent/JP5227701B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010056286A (en) | 2010-03-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130318 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5227701 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160322 Year of fee payment: 3 |
|
S802 | Written request for registration of partial abandonment of right |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R311802 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |