JP5220995B2 - X線照射装置及びx線照射時間制御方法 - Google Patents

X線照射装置及びx線照射時間制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5220995B2
JP5220995B2 JP2006024147A JP2006024147A JP5220995B2 JP 5220995 B2 JP5220995 B2 JP 5220995B2 JP 2006024147 A JP2006024147 A JP 2006024147A JP 2006024147 A JP2006024147 A JP 2006024147A JP 5220995 B2 JP5220995 B2 JP 5220995B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
irradiation
time
tube
ray
irradiation time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006024147A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007207542A (ja
Inventor
正彦 小野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2006024147A priority Critical patent/JP5220995B2/ja
Publication of JP2007207542A publication Critical patent/JP2007207542A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5220995B2 publication Critical patent/JP5220995B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)

Description

本発明は、X線を被検体に照射(曝射、放射)して撮像し、撮像して得られたX線画像を診断に用いるためのX線照射装置及びそのX線照射制御方法に関する。特に、X線管を含むその駆動系の応答時間の照射時間における影響を考慮し、実照射時間が本来の所望の照射時間になるように制御する技術に係る。
X線照射装置は、被検体にX線を照射して、その被検体からの透過X線をX線検出部により検出し、検出したデータを基にその画像処理手段により被検体内部の構造を画像化して、表示手段により可視できる構成を有する。そのとき、X線の照射量を、不要な量をできるだけ減らして必要なX線画像を得るようにして照射している。
しかし、一般に、X線照射装置は、X線管のフィラメント(カソード)をフィラメント電源で熱するとともに、高電圧電源によりX線管のアノードとフィラメント(カソード)間に高電圧を印加して駆動している。その高電圧の供給にあたっては、高電圧ケーブルが用いられことが多い(特許文献1)。このため、高電圧ケーブルに見込まれる浮遊容量、さらにX線管、高電圧電源の回路構成を含めて構成された駆動系は立ち上がり、立ち下がりにおいて応答特性を有するので、照射開始信号もしくは照射終了信号を受けてX線管を照射させたとき、X線管に実際の照射は、所定の立ち上がり時間もしくは所定の立ち下がり時間(以下、駆動系の「応答時間」と言う。)を経過して、X線照射を開始し、もしくは終了する。
一方、照射時間は、被検体が被曝することを考慮すれば、できるだけ短時間が望ましいが、照射の目的である撮像、或いは観察に適切な時間(以下、纏めて「撮像時間」と言うことがある。)を確保する必要がある。
上記の例では、所望の照射時間Tを設定しても、上記のように駆動系の応答時間により実照射時間とのズレが生じて、設定した照射時間通りの照射をすることが困難であった。そのため、撮像する時間が適切に確保できないという問題があった。
そこで、従来は、設計者が種々の照射条件下における所望の照射時間と実際の実照射時間とのズレ量を測定して、各条件に対する補正値を定めて照射をする構成としていた。そして適切な撮像時間を確保するようにしていた。
特開2001−46363号公報
しかしながら、各種の条件下で、測定して補正値を決めていたのでは、非常に多くの時間がかかっていた。また、各X線照射装置のバラツキ迄は、対応が困難であったが、必要な場合は、微調整を行うようにしていた。
本発明は、上記問題を解決するために、撮像のための照射開始以前に、X線管を駆動する駆動系の応答特性を知って、その応答特性を基に、設定された所望の照射時間と実照射時間とを合わせる技術を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、X線管と、制御信号に応答して前記X線管の管電圧を駆動してX線を照射させる駆動手段とを備えたX線照射装置において、所望の照射時間を入力するための操作手段と、前記駆動手段によって駆動されたときの前記X線管の管電圧又は管電流に対応した信号を受けて、その受けた信号の大きさと参照電圧とを比較して、前記駆動手段による前記管電圧の立ち上がり及び立ち下がりの応答時間を含む実照射時間を測定して取得する時間測定手段と、測定した前記実照射時間を基に前記所望の照射時間を補正し、前記補正された照射時間、照射させる制御信号を送る補正手段とを備えた。
請求項に記載の発明は、請求項に記載の発明において、所望の管電流値が入力可能にされ、前記駆動手段は、前記X線管の管電流を検出して入力された前記所望の管電流値との差を演算し、該差が無くなるように前記X線管の管電流を制御する管電流制御手段を備えた。
請求項に記載の発明は、所望の照射時間を操作手段により入力される入力段階と、X線管を有する駆動手段に対して、前記所望の照射時間、照射するよう前記X線管の管電圧を駆動してX線を照射させる試照射段階と、前記駆動手段によって駆動されたときの前記X線管の管電圧又は管電流に対応した信号を受けて、その受けた信号の大きさと参照電圧とを比較して、前記駆動手段によって駆動されたときの立ち上がり及び立ち下がりの応答時間を測定する時間測定段階と、測定した前記応答時間を基に前記所望の照射時間を補正手段により補正し、前記補正された照射時間、照射させる制御信号を前記駆動手段に送る実照射段階とを備えた。
本発明の構成によれば、設定された所望の照射時間と実照射時間とを合わせることができる。特に間欠照射するような場合は、予定の通りの照射時間で照射させることができる。さらには、適切な撮像時間を確保できる。また、測定して照射時間を補正するので管電圧等の条件によらず所望の照射時間、照射できる。またバラツキも含めて測定するので、バラツキを吸収して補正できる。
本発明に係るX線照射装置及びその照射制御方法の実施形態について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態の機能構成を示す図である。図2は、図1の実施形態における時間補正部20の変形例を示す図である。図3は、他の実施形態の機能構成を示す図である。図4は、図1及び図3の駆動手段40の機能構成を示す図である。図5は、図1の実施形態におけるタイミングを説明するために模式的に表した図である。図6は、図3の他の実施形態における補正について説明するための図である。
図1を基に実施形態を説明する。なお、図1では、背景技術で説明したような、透過X線を検出するX線検出部、画像として再構成するための画像データを生成する画像処理部、及びがその画像データに基づく画像を表示する表示手段等を備えているが、省略している。
図1において、X線管50はアノード51とフィラメント52(カソード)との間に駆動手段40から高電圧、例えば75KVを高電圧用のケーブル46を通して印加される。
駆動手段40は、所定の照射時間照射することを指示する時間制御信号を受けて、その照射時間だけスイッチSpをオンにしてX線管50に高電圧を印加させる。一方、駆動手段40は、操作者が所望する管電圧、及び管電流に対応した管電圧生制御信号及び管電流制御信号を受けて、それらの制御信号に沿ってX線管50に印加する高電圧、及び流す管電流を調整する。分圧手段41は、後記する時間測定手段21で実照射時間を測定するのに用いるために、高電圧を低電圧に落として、例えば、m=1/10に分圧して取り出すための手段である。
駆動手段40の詳細例を図4に示す。高電圧電源部42は、管電圧制御信号に応じた高電圧を生成し、時間制御信号のタイミングでX線管50に印加する。管電流検出手段43はX線管50に高電圧が印加されてアノード51に流れる管電流を検出する。管電流制御手段44は、その検出した管電流と所望の管電流を表す管電流制御信号と比較して、管電流が管電流制御信号より小さい場合は大きなフィラメント電流が流れるように、管電流が管電流制御信号より大きい場合は小さなフィラメント電流が流れるように、フィラメント電源部45を制御する。フィラメント電源部45は、パルス生成部45aにより管電流制御手段44からの制御にしたがったパルス幅のパルスを生成し、トランス45bを介してフィラメント52の電流を制御する。フィラメント52をトランス45bでパルス駆動するのは、高電圧から分離して駆動するためである。結果として、管電流制御手段44は、管電流制御信号と管電流が一致するようにフィードバック制御する。
図1に戻って、ユーザインタフェース10は、操作手段11及び表示手段12を備え、所望の管電圧、所望の管電流、及び所望の照射時間(照射の開始時期、及び照射の終了時期を含む)を入力設定可能にされている。
操作手段11で入力された管電圧情報及び管電流情報は、照射制御部30により駆動手段40とのインタフェースの合った管電圧制御信号、及び感電流制御信号として、駆動手段40へ送られる。操作手段11で入力された所望の照射時間情報は、図1では時間補正部20へ、図3では時間制御信号生成手段60を介して時間補正部70へ、送られ、次に示す[照射時間の補正(1)]、[照射時間の補正(2)]又は[照射時間の補正(3)]の形態で処理される。
[照射時間の補正(1)]
図1の例は、操作手段11により設定された照射時間情報に応じた時間制御信号を生成して駆動手段40を駆動することによって、試照射して実照射時間を測定し、測定した実照射時間を基に設定された照射時間情報を補正し、次の実照射から補正された照射時間により照射することにより、駆動手段40の応答時間の問題をクリアして所望の照射時間=実照射時間にするものである。図1、及び図5のタイミング波形を基に説明する。
(a)操作手段11により照射時間情報を設定されたとき、補正手段22は、そのままパスし、時間制御信号生成手段60が、図5(A)に示す1回目の照射用(測定のための試照射)の時間制御信号、つまり設定された照射時間情報に基づく時間制御信号を生成し、これを基に駆動手段40を動作させる。駆動手段40を動作させるときの管電圧等の照射条件は、本照射時の条件に基づいて行う。
(b)参照電圧発生手段は、所望の管電圧情報Eから、次に示す参照電圧を発生させる。
参照電圧=n×m×E
ただし、n:設定された管電圧と参照電圧との比で0.5<n<1、つまり、設定
された管電圧Eの(1−n)%以内であれば、実照射電圧と判断するものであ
る。nは、予め決めておく値である。
m:分圧手段41の分圧比
なお、以下の説明では、係数p=n×mとして説明する。
したがって、参照電圧はp×Eで説明される。
(c)時間測定手段21により実照射時間を測定する。
カウンタ21d及びカウンタ21eは、入力パルスの立ち上がりで時間を計数するカウンタ(或いはタイマー)である。いずれも1回目の時間制御信号の立ち上がりでカウントを開始している。そして、比較手段21b及び比較手段21cは、いずれも参照電圧発生部21aからの参照電圧と、分圧手段41からの管電圧検出信号とを受けて、互いの大きさを比較する。比較手段21bは参照電圧より管電圧検出信号が大きくなったとき(図5のΔt1のとき)に立ち上がるパルスを発生してカウンタ21dのカウント値をΔt1で停止させる。比較手段21cは参照電圧が管電圧検出信号より小さくなったとき(図5の[T+Δt2]のとき)立ち上がるパルスを発生してカウンタ21eのカウント値を[T+Δt2]で停止させる。これらのことにより、カウンタ21d及びカウンタ21eは、駆動手段40による立ち上がりもしくは立ち下がりの応答時間(応答特性)の影響を受けた実照射時間を測定したことになる。実照射時間は図5に示すように[T―Δt1+Δt2]で示される。
(d)補正手段22は、カウンタ21d及びカウンタ21eより受けた、駆動手段40の応答時間の要素、つまり図5に示すΔt1(立ち上がりの応答時間)及びT+Δt2(Δt2は、立ち下がりの応答時間)を基に、最初に操作手段11で設定された所望の照射時間情報Tを、照射時間情報[T+Δt1―Δt2]に補正して出力する。
(e)時間制御信号生成手段60は、補正された照射時間情報[T+Δt1―Δt2]を基に、図5に示すように2回目の照射(本照射)の時間制御信号を生成して、駆動手段40に送り照射させる。この照射時の他の条件、例えば管電圧等の条件は、試照射のときと同じ条件にする。特に、管電圧は、その大きさが変われば、応答時間も変わってしまうおそれがある。
(f)次に図5(B)の補正後の管電圧検出信号が観測されるが、これの実照射時間は、最初に設定された所望の照射時間と等しくなる。1回目の試照射を除く、2回目以降の実照射にあたっては、時間測定手段21による実照射時間の測定は行われない。時間測定手段21による実照射時間の測定が行われ、補正されるのは、改めて、新たな所望の照射時間が設定、或いは変更されたときである。
数値例で示すと、所望の照射時間T=100msとして、測定したのがΔt1=1ms、T+Δt2=110msであれば、このときの実照射時間は[T―Δt1+Δt2]=109msである。したがって、次に所望の照射時間Tを[T+Δt1―Δt2]=91msに補正して実照射すれば、結果として実照射時間T=100msが得られることになる。
[照射時間の補正(2)]
図2は、操作手段11から設定された照射時間情報に基づいて時間制御信号生成手段60が図5(A)の1回目の照射の時間制御信号波形を生成した後に、2回目に補正手段22からの指示により2回目の照射の時間制御信号波形に補正する例である。これは、図1の補正のように、時間制御信号生成手段60に入力される所望の照射時間を変更して補正し、補正した後に時間制御信号を生成したのと実質同じである。
[照射時間の補正(3)]
図3を基に他の補正の実施形態を説明する。図3は、操作手段11からの照射時間情報を基に時間制御信号生成手段60が時間制御信号を作成した後に、補正手段72により補正している形態であるが、これらの前後関係は、上記説明のように反対の形態であっても良い。この図3の形態が図1及び図2の形態と異なるのは、管電圧等の照射条件が変更されたときの駆動手段40の応答時間(特性)を予め経験的に取得し、その取得したデータを基に照射条件に応じた補正関数を記憶して、その補正関数により、時間制御信号生成手段60からの時間制御信号を補正して、駆動手段40に送って制御するものである。
図6(A)に操作手段11から設定された照射時間情報及び管電圧(縦軸が管電圧)を反映した時間制御信号を表す。図6(B)は実際に図6(A)の制御信号で照射したときの実管電圧波形を示す。このときの立ち上がり時間Δt1、立ち下がり時間Δt2は、管電圧Eに応じて変化する。この変化のしかたは、上記したように、応答時間が高電圧ケーブル46のように受動素子の影響が強い場合、或いは、高電圧電源部42が出力する管電圧Eの違いによって不連続な動きを示さない場合、次式に示すように表すことができる。
立ち上がり特性:Er=Fr(E、t)
立ち下がり特性:Ed=−Qd(E、t−T)+E、
ただし、Eは、所望の管電圧、t−Tは正。
ここで、Er=Ed=p×E、ただし、p×Eは参照電圧、pは係数とすると、上記各立ち上がり特性は、次式で示される。
(式1) Fr(E、tp)/E=p、
(式2) Qd(E、tp−T)/E=1−p
係数pを固定にすると、立ち上がり関数Fr(E、tp)及び立ち下がり関数Qd(E、tp−T)は、所望の管電圧Eに比例する。
したがって、係数p(又はn)毎に、経験的に調べて、立ち上がり関数Fr(E、tp)、立ち下がり関数Qd(E、tp−T)、又はそれらの近似関数を求めて、補正関数として記憶しておき、管電圧Eと係数pを指定されたときに、上記式1及び式2に代入して、tp及びtp−Tを求める演算を行うことによって、所望の管電圧Eに対応した応答時間Δt1及びΔt2を求めることができる。
図3の補正関数記憶手段74は、補正関数として例えば上記したような式1、式2のような補正関数を記憶させておき、補正値演算手段73が、操作手段11から設定された所望の管電圧E、所望の照射時間Tを受けて、補正関数記憶手段74に記憶されている補正関数に参照電圧を決定する係数p(又はn)、所望の管電圧E、所望の照射時間Tを代入して、応答時間Δt1及びΔt2を算出する。補正値演算手段73はCPUで構成できる。
補正手段72は、応答時間Δt1及びΔt2を受けて、時間制御信号生成手段60から照射時間Tの時間制御信号を、照射時間[T+Δt1―Δt2]の時間制御信号に補正して、駆動手段40を駆動する。そうすることにより、照射時間[T+Δt1―Δt2]の時間制御信号で駆動したときの実管電圧の照射時間は、所望の管電圧でかつ所望の照射時間Tとなる。
なお、補正関数には、高電圧や参照電圧といった条件の外、それが変更すると応答時間が連続、ある関数に沿って変わる要素があれば、その要素で応答時間が引き出せる形態で関連する関数(近似関数)を記憶させて、補正する構成にしても良い。
このように照射時間を補正する形態としては、主に上記[照射時間の補正(1)]と上記[照射時間の補正(3)]があるが、前者は、実照射時間を測定してその測定値を基に補正するので、管電圧等の設定条件に依存した補正はしなくともよいが、その測定のために一度、試照射する必要がある。ただし、試照射は、被検体に対する照射である必要はない。また、前者の場合は、X線照射装置毎の補正値のバラツキも自動で測定して得た補正値に吸収されるので、そのための微調整は不要である。一方、後者は、予め管電圧等の条件に応じた応答時間を推定する関数を準備する必要があるが、試照射の必要がないので、直ちに、本照射が可能である。また、後者は、補正関数としてX線照射装置毎に想定されるバラツキの範囲の平均的な関数を用意することにより、実照射時間のバラツキを許容値内に抑え込むことも可能である。
また、上記のように駆動手段41による管電圧の応答時間に起因した補正は、管電流制御とは独立しているので、本発明に係る補正を図4に示すような管電流の自動制御回路を有する駆動系であっても適用できる。
本実施形態の機能構成を示す図である。 図1の実施形態における時間補正部を変形した実施形態の機能構成を示す図である。 他の実施形態の機能構成を示す図である。 図1及び図3の駆動手段を詳細説明するための機能構成図である。 図1の実施形態におけるタイミングを説明するための図である。 図3の実施形態におけるタイミングを説明するための図である。
符号の説明
10 ユーザインタフェース
20 時間補正部
30 照射制御部
40 駆動手段
50 X線管
60 時間制御信号生成手段
70 時間補正部

Claims (3)

  1. X線管と、制御信号に応答して前記X線管の管電圧を駆動してX線を照射させる駆動手段とを備えたX線照射装置において、
    所望の照射時間を入力するための操作手段と、
    前記駆動手段によって駆動されたときの前記X線管の管電圧又は管電流に対応した信号を受けて、その受けた信号の大きさと参照電圧とを比較して、前記駆動手段による前記管電圧の立ち上がり及び立ち下がりの応答時間を含む実照射時間を測定して取得する時間測定手段と、
    測定した前記実照射時間を基に前記所望の照射時間を補正し、前記補正された照射時間、照射させる制御信号を送る補正手段と、を備えたことを特徴とするX線照射装置。
  2. 所望の管電流値が入力可能にされ、前記駆動手段は、前記X線管の管電流を検出して入力された前記所望の管電流値との差を演算し、該差が無くなるように前記X線管の管電流を制御する管電流制御手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載のX線照射装置。
  3. 所望の照射時間を操作手段により入力される入力段階と、
    X線管を有する駆動手段に対して、前記所望の照射時間、照射するよう前記X線管の管電圧を駆動してX線を照射させる試照射段階と、
    前記駆動手段によって駆動されたときの前記X線管の管電圧又は管電流に対応した信号を受けて、その受けた信号の大きさと参照電圧とを比較して、前記駆動手段によって駆動されたときの立ち上がり及び立ち下がりの各応答時間を測定する時間測定段階と、
    測定した前記各応答時間を基に前記所望の照射時間を補正手段により補正し、前記補正された照射時間、照射させる制御信号を前記駆動手段に送る実照射段階とを備えたことを特徴とするX線照射時間制御方法。
JP2006024147A 2006-02-01 2006-02-01 X線照射装置及びx線照射時間制御方法 Expired - Fee Related JP5220995B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006024147A JP5220995B2 (ja) 2006-02-01 2006-02-01 X線照射装置及びx線照射時間制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006024147A JP5220995B2 (ja) 2006-02-01 2006-02-01 X線照射装置及びx線照射時間制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007207542A JP2007207542A (ja) 2007-08-16
JP5220995B2 true JP5220995B2 (ja) 2013-06-26

Family

ID=38486815

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006024147A Expired - Fee Related JP5220995B2 (ja) 2006-02-01 2006-02-01 X線照射装置及びx線照射時間制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5220995B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5774302B2 (ja) * 2010-12-20 2015-09-09 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー X線ct装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2314265C3 (de) * 1973-03-22 1978-03-30 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Zeitmeßvorrichtung für einen Röntgengenerator mit einem Belichtungsautomaten
JPS628160Y2 (ja) * 1974-04-22 1987-02-25
JPH0278198A (ja) * 1988-09-13 1990-03-19 Hitachi Medical Corp X線装置
JP3077761B2 (ja) * 1990-01-08 2000-08-14 株式会社東芝 X線撮影装置
JPH0529092A (ja) * 1991-07-18 1993-02-05 Hitachi Medical Corp X線高電圧装置
JP3713349B2 (ja) * 1997-01-16 2005-11-09 株式会社日立メディコ インバータ式x線高電圧装置
JP4122575B2 (ja) * 1998-06-24 2008-07-23 株式会社島津製作所 X線シネ撮影装置
JP4075166B2 (ja) * 1998-11-30 2008-04-16 松下電器産業株式会社 X線基板検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007207542A (ja) 2007-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4406533B2 (ja) X線照射制御のための方法及び装置
JP5676096B2 (ja) X線撮影装置
US7535231B2 (en) Method for adjustment of a shim device of a magnetic resonance apparatus
US9326740B2 (en) Radiographic system
JPH07204196A (ja) X線ct装置
JP5220995B2 (ja) X線照射装置及びx線照射時間制御方法
US10595389B2 (en) X-ray high voltage generator, X-ray imaging apparatus, assessing circuit, and medical power supply device
JP2005511222A (ja) X線検査装置及び方法
JP4075166B2 (ja) X線基板検査装置
JP2008108440A (ja) X線高電圧装置およびx線高電圧装置を含むx線診断装置
JP2008218338A (ja) X線発生装置、x線コンピュータ断層撮影装置及びx線診断装置
JP2008073201A (ja) X線ct装置、線量表示システムおよび線量表示方法
JP5071676B2 (ja) パルス透視モードを備えたx線装置
JP4738044B2 (ja) 医用画像診断装置及び医用画像診断装置の制御方法
JP5604965B2 (ja) 放射線透視・撮影装置
JP4976880B2 (ja) X線装置およびx線画像作成方法
JP5640690B2 (ja) X線検査装置
JP2014039873A (ja) X線撮影装置
JP2009218527A (ja) レーザ樹脂溶着機
JP2007213979A (ja) X線診断装置
CN110933827B (zh) X射线摄影装置及x射线源的消耗度推断方法
US11450502B2 (en) X-ray imaging apparatus and consumption level estimation method for X-ray source
CN111989043B (zh) 数字放射线摄像装置
JP2007082886A (ja) X線診断装置及びx線診断装置の間欠照射制御方法
JP7380749B2 (ja) 放射線画像撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090130

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110830

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111028

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120612

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120801

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130212

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130307

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees