JP2007082886A - X線診断装置及びx線診断装置の間欠照射制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 輝度調整制御ループを使ってパルスによる間欠照射を行うX線診断装置において、早期にかつスムースに安定した輝度レベルの画像を得る。
【解決手段】 駆動信号生成部が照射開始後は所望の照射レートより高レートのパルスを出力し、(1)該パルスによりX線照射部がX線を間欠照射し、(2)X線検出部がX線を検出し、(3)誤差検出手段が検出された間欠出力と参照値との誤差を検出し、(4)誤差をパルスのタイミングで更新、保持し、(5)X線制御部が、X線照射部の照射強度をパルスの1周期前の誤差に応じて負帰還して変更させる。(6)誤差が少なくなる所定期間(輝度調整制御ループの立ち上がり時間に相当)が判定手段により検知されたとき所望の照射レートのパルスに切り替え、以後、上記(1)〜(5)を実行する。
【選択図】 図1
【解決手段】 駆動信号生成部が照射開始後は所望の照射レートより高レートのパルスを出力し、(1)該パルスによりX線照射部がX線を間欠照射し、(2)X線検出部がX線を検出し、(3)誤差検出手段が検出された間欠出力と参照値との誤差を検出し、(4)誤差をパルスのタイミングで更新、保持し、(5)X線制御部が、X線照射部の照射強度をパルスの1周期前の誤差に応じて負帰還して変更させる。(6)誤差が少なくなる所定期間(輝度調整制御ループの立ち上がり時間に相当)が判定手段により検知されたとき所望の照射レートのパルスに切り替え、以後、上記(1)〜(5)を実行する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、X線を被検体に照射(曝射、放射)して撮像し、撮像されて得られたX線画像を診断に用いるX線診断装置及びそのX線診断装置における間欠照射制御方法に関する。特に、撮像して得られるX線画像の輝度レベルを適正に制御する輝度自動制御(Automatic Brightness Contorol:以下、「ABC」と言う。)を備えたX線診断装置における間欠照射の際に、前記ABCの応答時間を考慮した繰り返しレートのX線照射を行う技術に係る。
X線診断装置は、被検体にX線を照射して、その被検体からの透過X線を検出し、その被検体内部の構造を画像化して、可視できる構成を有する。そのとき、X線の照射量をできるだけ減らすためにX線をパルス状に間欠照射していた。一方、良質のX線画像を得るために、ABCによる自動輝度調整を行っていた(特許文献1)。
従来から行われていたパルスを用いた間欠照射の技術については、特許文献1に記載されている。特許文献1の記載によれば、ABCを用いた間欠照射の場合は、X線透視画像の輝度レベルを適正値にするためには、パルス状のX線を繰り返し照射する必要があり、X線透視画像の輝度レベルが安定するまでに時間を要しており、特に、パルスによる間欠照射のレートが低い場合に、X線透視画像の輝度レベルが安定するまで数十秒要することがあった旨の記載がある。
特許文献1の技術は、X線透視画像の輝度レベルを早期に安定させるために、被検体からの透過X線量を基に、最適な輝度レベルになるようにパルス幅を制御する(特許文献1ではAECと呼んでいる。)方法を採用している。つまり、X線の照射時間を制御している。そして、このAECにより、X線管の及び管電流を決定し、その後、自動的にこの決定したX線管の管電圧及び管電流の条件で照射して、透過X線画像を得る構成としている。
このような従来の構成では、当初は、ABCの制御ループとAECによる2つの制御ループが動作し、透視画像の輝度レベルが安定するまでになったときに、ABC制御による1つの制御ループを遮断して、そのとき決定したX線管の管電圧及び管電流の条件で制御すると認められる。しかし、2つの制御ループ動作から、1つの制御ループへの切替、決定した管電圧及び管電流設定の等の具体的手段が複雑になりかねないこと、そしてそれらの切替、設定が必ずしもスムースにいかなかった。
本発明は、上記問題を解決するために、ABCを使ってパルスによる間欠照射を行うX線診断装置において、照射開始より所定期間は、操作者が所望とする照射レートより高レートの間欠照射を行わせ、所定期間経過後にスムースに通常の所望の照射レートに切り替えて間欠照射することにより、早期にかつスムースに安定した輝度レベルの画像を得ることを目的とする。
なお、AECとともに、照射開始より所定期間、操作者が所望とする照射レートより高レートの間欠照射を行わせる概念については、特許文献1に記載されている。しかし、今日、一般的には、例えば、間欠照射(パルス)のレートを60,30,15,7.5(代表例として、これを境に以上を「高レート」と言い、これ下回るのを「低レート」と言う。),3.75,2,及び1(いずれも単位:pps)で行われており、所定の輝度レベルに安定するまでの時間の遅さが問題になるのは、低レートの場合であり、高レート、特に60又は30ppsの場合は、ほとんど時間の遅さへの影響が少なくなってくる。したがって例えば、所望の照射レートが2ppsであっても,そのABCによる輝度レベルが安定するまでの立ち上がり期間だけレート30ppsで動作させ、安定したならば、所望の照射レート2ppsで動作させる構成にすれば、少なくとも所望の照射レートが30ppsと同じ時間でABCを立ち上げることができる。
なお、レートは、単位時間当たりの繰り返し回数を言う。
なお、レートは、単位時間当たりの繰り返し回数を言う。
ABCの早期立ち上げについては上記のように着眼するとともに、所定期間の高レートの間欠照射から所望の照射レートの間欠照射へスムースに切り替えることについては、各要素の動作をレート切り替えによって変化するパルス列のタイミングで追随して動作させることにより、パルス発生部におけるレート(間欠照射のレート)切替を行うだけで他の要素が自動的にスムースに動作する構成とした。
請求項1に記載の発明は、所望の照射レートと照射開始指示とを受けて、前記照射開始後の所定期間は前記所望の照射レートより高レートのパルスを出力し、前記所定期間経過後に前記所望の照射レートのパルスに切り替えて出力する駆動信号生成部と、
前記パルスに応答してX線を間欠照射するX線照射部と、
前記照射されたX線を検出するX線検出部と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルスのタイミングで更新し、保持する誤差保持手段と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させるX線制御部とを、備えた。
前記パルスに応答してX線を間欠照射するX線照射部と、
前記照射されたX線を検出するX線検出部と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルスのタイミングで更新し、保持する誤差保持手段と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させるX線制御部とを、備えた。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記駆動信号生成部は、少なくとも5倍を超える差の低レートのパルスと高レートのパルスを操作手段からの指示により選択的に設定可能にされ、前記所望の照射レートとして該低レートが選択されたときだけ、前記所定期間、前記高レートのパルスを生成し前記所定期間経過後に前記選択された前記低レートのパルスに切り替えて生成し、前記所望の照射レートとして前記高レートが選択されたときは前記高レートのパルスを生成するパルス発生部を備えた。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、前記駆動信号生成部は、前記X線照射部が前記高レートのパルスに応答した場合に前記照射開始指示から前記X線検出部の出力が前記参照値へ近づくまでの予測期間を前記所定期間として予め記憶し、前記照射開始指示を受けた後から予め記憶している前記予測期間までをカウントしたとき終了信号を出力するタイマーを備え、前記タイマーからの前記終了信号を基に前記パルスのレート切り替えを行う構成とした。
請求項4に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、さらに、前記照射開始指示を受けた後から前記X線検出部からの出力が前記参照値へ近づいたことを示す判定結果を出力することにより前記所定時間を検知する判定手段を備え、
前記駆動信号生成部は、前記判定手段からの前記判定結果を基に前記パルスのレート切り替えを行う構成とした。
前記駆動信号生成部は、前記判定手段からの前記判定結果を基に前記パルスのレート切り替えを行う構成とした。
請求項5に記載の発明は、所望の照射レートと照射開始指示とを受けて、前記所望の照射レートを記憶する段階と、パルス発生部に対して前記照射開始後に前記所望の照射レートより高レートのパルスを出力させるパルス発生段階と、
前記パルスに応答してX線照射部がX線を間欠照射する照射段階と、
前記照射されたX線をX線検出部が検出するX線検出段階と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出段階と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルス毎に更新し、保持する誤差保持段階と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させる制御段階と、
前記X検出部からの間欠出力の大きさが前記参照値に近づいたことを示すタイミング信号を出力する判定段階と、
前記タイミング信号が出力されたとき、前記記憶された所望の照射レートを読み出して、前記パルス発生部に対して該所望の照射レートのパルスに切り替えて出力させ、その後、該所望の照射レートのパルスに基づいて、前記X線検出段階、前記誤差検出段階、前記誤差保持段階、及び前記制御段階を該パルス毎に実行させる段階と、を備えた。
前記パルスに応答してX線照射部がX線を間欠照射する照射段階と、
前記照射されたX線をX線検出部が検出するX線検出段階と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出段階と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルス毎に更新し、保持する誤差保持段階と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させる制御段階と、
前記X検出部からの間欠出力の大きさが前記参照値に近づいたことを示すタイミング信号を出力する判定段階と、
前記タイミング信号が出力されたとき、前記記憶された所望の照射レートを読み出して、前記パルス発生部に対して該所望の照射レートのパルスに切り替えて出力させ、その後、該所望の照射レートのパルスに基づいて、前記X線検出段階、前記誤差検出段階、前記誤差保持段階、及び前記制御段階を該パルス毎に実行させる段階と、を備えた。
本発明よれば、所望の繰り返しレートと照射開始指示とを受けて、照射手段を駆動するパルスを所定期間は前記所望のレートより高レートのパルスを生成してX線照射を行い、その後に所望のレートのパルスに切り替えるだけで、輝度一定になるまでの時間が高レート並みに短時間にし、かつスムースなレート切替ができる。しかも、高レートは、元々操作手段から設定可能にされているレートを使用することができるので、構成も簡単である。
本発明に係るX線診断装置及びその間欠照射制御方法の実施形態について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態の機能構成を示す図である。図2は、図1の実施形態を変形した実施形態を示す図である。図3は、本実施形態におけるタイミングを説明するための図である。
図1を基に構成を説明する。図1において、X線管を備えたX線照射部1及びX線照射部1から被検体を透過してきた透過X線を検出するX線検出部2は、アーム3aの両端に設けられ、アーム駆動部3により回転、傾斜可能にされている。アーム駆動部3、及び被検体を搭載するベッドを駆動するベッド駆動部4は、メイン制御部7からの制御信号に応じて機械制御部5により制御され、被検体の対象部位を照射するのに適切な位置、傾斜に調整される。
駆動信号生成部12は、パルス発生部12a、及びシーケンシャル制御手段12bを有する。シーケンシャル制御手段12bは、パネルから操作者により選択設定された所望の低いレート(例えば、2pps)の照射レート(パルスのレートと同じ)の指示と照射開始指示とを受けて、その所望の照射レートを記憶する。そして、パルス発生部12aに対して、所望の照射レートより高い予め決められた(例えば30pps)レートで、かつ設定されたレートのパルスを発生させる。例えば、間欠照射のレートをパネルの操作手段(不図示)により選択設定可能な範囲の例としては、ここでは、60,30,15,7.5(一例として、これを境に以上を「高レート」と言い、これ下回るのを「低レート」と言う。),3.75,2,及び1(いずれも単位:pps)とする。なお、上記例では、予め決められたレートとして、30ppsとしているが、パネルから選択設定できない値、例えば、45ppsでも構わない。ただし前者は、元々、パネルから設定できるレートを利用するので、簡単である。
シーケンシャル制御手段12bは、後記する判定手段11dから判定結果を受けたときは、パルス発生部12aに対して、予め決められた高レート(30pps)から記憶しておいた所望の照射レート(2pps)を読み出して、そのレートへ切替を指示する。なお、所望の照射レート(低レート)と所定期間の高レートとの比は、約5倍以上が好ましい。
パルス発生部12aは、シーケンシャル制御手段12bからの要求に応じたレートのパルスを生成する。例えば、パルス波形を関数として記憶した記憶手段と、パネルから設定可能にされたレートに対応したクロック信号を発生するクロック発生手段と、シーケンシャル制御手段12bにより指定されたレートに対応する(速度、繰り返し)クロック信号で記憶手段からパルス波形を読み出す読出手段と、読み出した波形をアナログに変換するD/A変換器と、で構成される(以上、不図示)。
電源駆動部6は、X線照射部1のX線管のアノードとフィラメント(カソード)との間に高電圧(以下、「管電圧」ということがある。)を印加するための高圧電源部6a、及びフィラメントの電流を駆動して、アノードに衝突させる熱電子量を制御することにより、結果としてアノード電流(管電流)を制御するフィラメント電源部6bとで構成される。X線照射部1が駆動信号生成部12からのパルスに応じた繰り返しでX線の照射をオン/オフするためには、高電圧電源6aの出力をオン/オフさせたり、或いはX線管が3極管であればグリッド電圧を制御することより管電流をオン・オフさせることができる。また、X線照射部1のX線照射の強度(曝射量、曝射強度)は、フィラメント電流の制御によって行うことができるが、高電圧電源部6aの出力電圧、つまり管電圧を可変することでも制御できる。制御方法は、従来から各種のものがあるが、いずれの場合でもX線の照射強度が変わる。例えば、特開平2003−317997号公報に記載の技術は、管電流を検出してその管電流が制御信号の大きさ(パルス波形)と一致するようにフィラメント電源を制御するものである。
電源駆動部6は、初期時点では、操作パネルから照射強度を決定づける照射条件として管電圧及び/又は管電流の情報を、メイン制御部7及びX線制御部7を介して受けて、それらの情報に沿ってX線照射部1を制御している。
X線制御部8は、高圧電源部6a及びフィラメント電源部6bを制御するためのインタフェースを有し、パルス発生部12aから間欠照射するためのパルスを受けて、そのパルスのレートの繰り返しで、電源駆動部6に対してX線を間欠照射させる。間欠照射のレートとしては、上記のように、例えば、60,30,15、7.5があり、さらに単位時間あたりのX線照射を抑えるために、3.75,2,及び1(いずれも単位:pps)がある。
輝度調整部11は、電源駆動部6,X線照射部1、X線検出部2及びX線制御部8と共に、ABCを構成(図1の輝度調整ループ構成部)している。
参照電圧生成手段11cは、パネルの操作手段により設定された照射強度をメイン制御部7から受けてその照射強度に応じた参照電圧(参照値)を生成して、誤差検出手段11aに送っている。参照電圧は、画像の輝度を調整するためレファレンスとなるものである。また、操作手段により設定された照射強度に応じた参照電圧にすることもなく、別途設定可能にしても良い。
誤差検出手段11aは、X線検出部2から出力される間欠出力の大きさと参照電圧(参照値)とを比較し、その差の電圧を求めて誤差電圧(値)として出力し、誤差電圧保持手段11bに保持させる。誤差検出手段11aは、X線検出部2から出力される間欠出力の一部(パルス幅の最後の部分)をサンプリングして間欠出力の大きさとしている。誤差電圧保持手段11bは、誤差電圧を少なくともパルスの一周期分の期間を保持する。誤差電圧保持手段11bは、パルス発生部12aからパルスを受けて、そのパルスのタイミングを基に記憶、保持(或いは更新)、出力を行う。なお、上記説明(以下の説明も同様)における輝度調整部11は、プログラムとCPUで構成することもできる。そのときは、電圧に代えて値が用いられる。
判定手段11dは、予め設定された基準電圧(範囲)と誤差検出手段11aが出力する誤差とを比較し、誤差検出手段11aが出力する誤差が基準電圧の範囲内に入ったとき、X線検出部の出力が参照電圧に近くなった旨の判定結果を出力して、シーケンシャル制御手段12bに対してレート切り替えを行わせる。この判定結果は、誤差が基準電圧の範囲内に入ったときを示すタイミング信号でも良い。基準電圧としては、輝度調整する際の許容範囲になる値が設定される。
X線制御部8は、上記したようにパルスのレートでX線を間欠照射させるとともに、メイン制御部7からのX線照射条件で電源駆動部6を制御するが、上記誤差電圧保持手段11bからパルスレートの1周期遅れの誤差電圧を受けて、メイン制御部7からの照射条件(管電圧及び管電流)に対して負帰還になるように加算して、加算した制御条件で電源駆動部を通してX線照射部1を制御する。メイン制御部7からの照射条件に対して負帰還になるように加算した制御条件とは、言い換えると、X線検出部2からの出力の大きさが、参照電圧の範囲を超えて大きいときはX線の照射強度が弱くなるように、参照電圧の範囲を下回って小さいときはX線の照射強度が強くなるようにして、X線検出部2からの出力が参照電圧の範囲内に入るように制御する条件である。つまり負帰還させる条件である。
このような負帰還によりX線検出部2の出力が一定に調整されたのを受けて、つまり、輝度レベルに安定化したのを受けて画像信号処理部9が撮像した画像を再現する処理をした画像データを生成し、表示部10が、その画像データに基づく画像を表示する。なお、メイン制御部7は、上記各構成を被検体及びその診断部位に応じた撮像条件を基に制御するためのものである。
次に、図1の構成及び図3のタイムチャートを基に、一連の流れに沿って説明する。一部、重複記載がある。
シーケンシャル制御手段12bは、パネルから操作者により、例えば、所望の照射レートとして2ppsを選択設定され、かつ照射強度を設定されとともに照射開始指示されたことを受けて、所望の照射レートの2ppsを選択されたことを記憶する。そして、パルス発生部12aに対して、予め決められた30ppsレートのパルスを発生させる。設定された照射強度は、メイン制御部7及び電源駆動部6を介して設定され、その照射強度に応じてX線照射部1が制御される。
パルス発生部12aは、シーケンシャル制御手段12bからの要求に応じたレートのパルスを生成する。パルス発生部12aの出力例を図3の(A)に示す。
このパルス発生手段12aで生成したパルスは、高電圧駆動部6を駆動させる信号とされる。高電圧駆動部6は、X線制御部8の制御にしたがってX線照射部1を駆動し、X線照射部1は、このパルスに従って30ppsのレートでX線を照射するものの、パルスに対するフィラメント等の応答遅れにより、指定された強度で照射できない。したがって、そのときのX線検出部2の出力は小さい(図3の(B))。
誤差検出手段11aは、参照電圧生成手段11cからの参照電圧と、X線検出部2が検出して出力する間欠出力の高さ(大きさ)とを比較し、それらの誤差を演算する(図3(C))。そのとき、誤差とともに、過不足も判断し、それに対応した符号を誤差に付す。
誤差電圧保持手段11bは、パルス発生部12aから送られてくるパルスのタイミングで、少なくともパルスの周期分に相当する時間、誤差を保持し、X線制御部8へ送る。X線制御部8は、設定された照射強度(管電圧及び管電流)に対して誤差電圧保持手段11bからの誤差を負帰還するように加えて(誤差には上記のように符号が付いているので、実際は加算,減算の双方があり得る。)、電源駆動部6を制御する。つまり、所定範囲ことにより、X線検出部2と参照電圧との誤差が無くなるように制御する。
このようにして、輝度調整部110、電源駆動部6,X線照射部1及びX線検出部2を含んで構成される輝度調整ループ構成部が、負帰還ループ(ABC)を動作することにより、パルス数が増えるに連れ、図3(B)のようにX線検出部の出力は、階段状に参照電圧に近くなってくる。そして、図3(C)が誤差電圧が階段状に少なくなり、あるいは基準電圧範囲内に入ってくる。
輝度調整部110の判定手段11dは、基準電圧と誤差検出手段11aが出力する誤差とを比較し、誤差検出手段11aが出力する誤差が基準電圧の範囲内になったとき、X線検出部2の出力が参照電圧に近くなった旨の判定結果を出力する(図3の(D))。
シーケンシャル制御手段12bは、判定手段11dよりX線検出部の出力が参照電圧に近くなった旨の判定結果を受けて、操作者により設定され、最初に記憶しておいた所望のレート2ppsを読み出して、パルス発生部12aに対して、30ppsのレートに代えて2ppsのレートのパルス生成を指示する。以下、所望の照射レートである2ppsで、所望の強度のX線照射が行われる。つまり所望のレートによって輝度調整部11、電源駆動部6,X線照射部1及びX線検出部2を含んで構成される輝度調整ループ構成部が、パルス毎に応答して動作する。
なお、操作者から設定された所望の照射レートが例えば、30ppsのように高レートであれば、シーケンシャル制御手段12bは、そのまま高レートのパルスを生成する。この場合は、判定手段11dの動作は不要である。このようにするのは、ABCの動作は、高レートであれば、早期に安定化し所望の輝度レベルが得られるからである。
さらに、図2の他の実施形態では、シーケンシャル制御部12dは、ABCの立ち上がり応答時間を記憶した応答時間メモリと、開始指示から計時を開始し(パルス数をカウントしても良い)、前記応答時間メモリに記憶された時間だけ計時終了するタイマーを備えて、パネルの操作手段によって所望の照射レートが2ppsの開始指示があったとき、パルス発生部12aに対して30ppsの高レートのパルス発生を指示し、計時終了のタイミング信号を受けたときは、2ppsの低レートのパルスを発生させる。これは、ABCの立ち上がり応答時間が既知であることを利用したものである。
上記の誤差輝度調整部11、つまり誤差検出手段11a、誤差電圧保持手段11b及び/又は判定手段11d、並びに参照電圧生成手段11cは、上記機能を記載したプログラムを記憶するメモリ、そのプログラムを実行するCPUで構成できる。同様に、上記のシーケンシャル制御手段12bもソフトウェアで実現可能である。
1 X線照射部
2 X線検出部
3 アーム駆動部
4 ベッド駆動部
5 機械制御部
6 電源駆動部
7 メイン制御部
8 X線制御部
9 画像信号処理部
11 輝度調整部
12 駆動信号生成部
2 X線検出部
3 アーム駆動部
4 ベッド駆動部
5 機械制御部
6 電源駆動部
7 メイン制御部
8 X線制御部
9 画像信号処理部
11 輝度調整部
12 駆動信号生成部
Claims (5)
- 所望の照射レートと照射開始指示とを受けて、前記照射開始後の所定期間は前記所望の照射レートより高レートのパルスを出力し、前記所定期間経過後に前記所望の照射レートのパルスに切り替えて出力する駆動信号生成部と、
前記パルスに応答してX線を間欠照射するX線照射部と、
前記照射されたX線を検出するX線検出部と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルスのタイミングで更新し、保持する誤差保持手段と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させるX線制御部とを、備えたことを特徴とするX線診断装置。 - 前記駆動信号生成部は、少なくとも5倍を超える差の前記低レートのパルスと前記高レートのパルスを操作手段からの指示により選択的に設定可能にされ、所望の照射レートとして該低レートが選択されたときだけ、前記所定期間、前記高レートのパルスを生成し前記所定期間経過後に前記選択された前記低レートのパルスに切り替えて生成し、前記所望の照射レートとして前記高レートが選択されたときは前記高レートのパルスを生成するパルス発生部を備えたことを特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。
- 前記駆動信号生成部は、前記X線照射部が前記高レートのパルスに応答した場合に前記照射開始指示から前記X線検出部の出力が前記参照値へ近づくまでの予測期間を前記所定期間として予め記憶し、前記照射開始指示を受けた後から予め記憶している前記予測期間までをカウントしたとき終了信号を出力するタイマーを備え、前記タイマーからの前記終了信号を基に前記パルスのレート切り替えを行うことを特徴とする請求項1又は2に記載のX線診断装置。
- 前記照射開始指示を受けた後から前記X線検出部からの出力が前記参照値へ近づいたことを示す判定結果を出力することにより前記所定時間を検知する判定手段を備え、
前記駆動信号生成部は、前記判定手段からの前記判定結果を基に前記パルスのレート切り替えを行うことを特徴とする請求項1又は2に記載のX線診断装置。 - 所望の照射レートと照射開始指示とを受けて、前記所望の照射レートを記憶する段階と、パルス発生部に対して前記照射開始後に前記所望の照射レートより高レートのパルスを出力させるパルス発生段階と、
前記パルスに応答してX線照射部がX線を間欠照射する照射段階と、
前記照射されたX線をX線検出部が検出するX線検出段階と、
前記X線検出部からの間欠出力の大きさと参照値とを比較し、誤差を検出する誤差検出段階と、
前記誤差検出手段からの誤差を前記パルス毎に更新し、保持する誤差保持段階と、
前記X線照射部に対して、前記パルスで駆動制御するとともに、前記誤差保持手段が保持する該パルスの1周期前の誤差を負帰還させる制御段階と、
前記X検出部からの間欠出力の大きさが前記参照値に近づいたことを示すタイミング信号を出力する判定段階と、
前記タイミング信号が出力されたとき、前記記憶された所望の照射レートを読み出して、前記パルス発生部に対して該所望の照射レートのパルスに切り替えて出力させ、その後、該所望の照射レートのパルスに基づいて、前記X線検出段階、前記誤差検出段階、前記誤差保持段階、及び前記制御段階を該パルス毎に実行させる段階と、を備えたことを特徴とするX線診断装置の間欠照射制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005277495A JP2007082886A (ja) | 2005-09-26 | 2005-09-26 | X線診断装置及びx線診断装置の間欠照射制御方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007139213A1 (ja) | 2006-06-01 | 2007-12-06 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | 銅合金線材の製造方法および銅合金線材 |
JP2020103872A (ja) * | 2018-12-27 | 2020-07-09 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、制御方法及びプログラム |
-
2005
- 2005-09-26 JP JP2005277495A patent/JP2007082886A/ja not_active Withdrawn
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