JP5218852B2 - 光ファイバ歪み測定装置 - Google Patents
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Description
1)ピーク周波数fの干渉成分
2)ピーク周波数fの非干渉成分
3)ピーク周波数f+dfの非干渉成分
が含まれることになり、ピーク周波数の真値fに対する誤差が生じる。
光ファイバ中におけるブリルアン散乱光を利用し、ダブルパルスによる周期スペクトルに基づきピーク周波数を検出する光ファイバ歪み測定装置において、
ピーク周波数検出手段の前段に、前記ダブルパルスの前方パルスと後方パルスで生じる非干渉の散乱信号を除去する非干渉成分除去手段を設けたことを特徴とする。
前記非干渉の散乱信号を除去する非干渉成分除去手段は、
前記非干渉の散乱信号を含むブリルアン散乱光に不連続性を解消するための窓関数を乗算する窓関数乗算部と、
この窓関数乗算部の出力から干渉成分を抽出するFFT処理部と、
このFFT処理部の出力を前記窓関数で除算する窓関数除算部、
とで構成されたことを特徴とする。
前記ピーク周波数検出手段は、
前記ダブルパルスによる周期スペクトルに基づき、複数のピーク周波数を検出してこれら複数のピーク周波数の中心値を求めることを特徴とする。
前記光ファイバ歪み測定装置は、ヘテロダイン検波型であることを特徴とする。
前記光ファイバ歪み測定装置は、ホモダイン検波型であることを特徴とする。
fpeak=f-n+・・・+f-2+f-1+f0+f+1+f+2+・・・+f+n/(2n+1) (1)
161 非干渉成分除去部
161a 窓関数乗算部
161b FFT処理部
161c 窓関数除算部
161 ピーク周波数検出部
162a 近似処理部
162b 複数ピーク周波数算出部
162c ピーク周波数中心算出部
Claims (5)
- 光ファイバ中におけるブリルアン散乱光を利用し、ダブルパルスによる周期スペクトルに基づきピーク周波数を検出する光ファイバ歪み測定装置において、
ピーク周波数検出手段の前段に、前記ダブルパルスの前方パルスと後方パルスで生じる非干渉の散乱信号を除去する非干渉成分除去手段を設けたことを特徴とする光ファイバ歪み測定装置。 - 前記非干渉の散乱信号を除去する非干渉成分除去手段は、
前記非干渉の散乱信号を含むブリルアン散乱光に不連続性を解消するための窓関数を乗算する窓関数乗算部と、
この窓関数乗算部の出力から干渉成分を抽出するFFT処理部と、
このFFT処理部の出力を前記窓関数で除算する窓関数除算部、
とで構成されたことを特徴とする請求項1記載の光ファイバ歪み測定装置。 - 前記ピーク周波数検出手段は、
前記ダブルパルスによる周期スペクトルに基づき、複数のピーク周波数を検出してこれら複数のピーク周波数の中心値を求めることを特徴とする請求項1記載の光ファイバ歪み測定装置。 - 前記光ファイバ歪み測定装置は、ヘテロダイン検波型であることを特徴とする請求項1記載の光ファイバ歪み測定装置。
- 前記光ファイバ歪み測定装置は、ホモダイン検波型であることを特徴とする請求項1記載の光ファイバ歪み測定装置。
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