JP5197054B2 - ひずみ計測装置及びその計測方法 - Google Patents

ひずみ計測装置及びその計測方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5197054B2
JP5197054B2 JP2008034413A JP2008034413A JP5197054B2 JP 5197054 B2 JP5197054 B2 JP 5197054B2 JP 2008034413 A JP2008034413 A JP 2008034413A JP 2008034413 A JP2008034413 A JP 2008034413A JP 5197054 B2 JP5197054 B2 JP 5197054B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
bragg wavelength
strain
unit
fbg sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008034413A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009192409A (ja
Inventor
敬弘 荒川
富男 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Original Assignee
IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd filed Critical IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Priority to JP2008034413A priority Critical patent/JP5197054B2/ja
Publication of JP2009192409A publication Critical patent/JP2009192409A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5197054B2 publication Critical patent/JP5197054B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

本発明は、FBGセンサを用いてひずみを計測するひずみ計測装置及びその計測方法に関するものである。
一般に、対象物のひずみを計測する場合には種々の温度補償手法を用いた計測手段が使用されており、電気抵抗型の歪みゲージでは計測対象とひずみゲージの線膨張率をあわせることや、ホイーストンブリッジ上で温度補償する等が行われている。また、ひずみゲージの代わりに光ファイバを介してひずみ変化や温度変化を計測するものがある(例えば、特許文献1、2参照)。
また、近年、対象物のひずみを計測する例には、FBG(Fiber Bragg Grating)センサを用いて計測するものがある(例えば、特許文献3参照)。FBGセンサは、ブラッグ波長と呼ばれる特定の波長のみを反射することを特徴としており、ブラッグ波長は計測対象物のひずみと温度の両方の変化に感度を有している。
このようにFBGセンサはひずみ変化と温度変化の両方に感度を有することから、FBGセンサを用いて対象物のひずみを計測する際には、対象物で生じたひずみ変化と共に温度変化を含んだ状態でブラッグ波長に変化を生じる。そのため、FBGセンサによるひずみ計測においては、対象物用のひずみ変化と温度変化の両方によってブラッグ波長が変化するFBGセンサと、対象物の温度変化のみを測定するための温度計測用のFBGセンサとの二つのFBGセンサを備え、対象物用のFBGセンサによるひずみ計測時の温度変化を、温度計測用のFBGセンサで温度補償するように構成している。
特開2005−164326号公報 特開2006−84292号公報 特開2007−114072号公報
しかしながら、このように対象物用のFBGセンサと温度計測用のFBGセンサとを備えて温度補償する場合には、FBGセンサの配置等の構造が複雑になると共に、FBGセンサの使用個数が増加して製造コストが増加するという問題があった。
本発明は上述の実情に鑑みてなしたもので、温度計測専用のFBGセンサを備えることなく温度補償を行えるFBGセンサ用のひずみ計測装置及びその計測方法を提供することを目的としている。
本発明は、FBGセンサを配置する光ファイバと、該光ファイバへ光を連続的に出力し且つ前記FBGセンサのブラッグ波長範囲を含む広帯域の光源と、前記FBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、前記反射光を連続的に処理する処理手段とを備え、
前記処理手段は、
FBGセンサからのブラッグ波長のシフト量の時間履歴データを取得するデータ計測部と、
該データ計測部の時間履歴データから、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとを保持するデータ保持部と、
該データ保持部に保持された、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとの集合から移動平均値を演算する平均値演算部と、
前記特定時刻に前記データ計測部で計測されたブラッグ波長シフトデータから、前記平均値演算部で演算された移動平均値を減算する温度補償演算部と、
該温度補償演算部からの出力データを用い、温度補償されたひずみを計測するひずみの演算部と備えたことを特徴とするひずみ計測装置、に係るものである。
本発明のFBGセンサ用のひずみ計測装置において、前記処理手段は、前記データ計測部で計測される毎時のデータで前記特定時刻を連続的に更新するように構成されることが好ましい。
本発明は、FBGセンサを配置する光ファイバと、該光ファイバへ光を連続的に出力し且つ前記FBGセンサのブラッグ波長範囲を含む広帯域の光源と、前記FBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、前記反射光を連続的に処理する処理手段とを備えるひずみ計測方法であって、
前記処理手段は、
FBGセンサからのブラッグ波長のシフト量の時間履歴データをデータ計測部により取得する段階と、
該データ計測部の時間履歴データから、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとをデータ保持部により保持する段階と、
該データ保持部に保持された、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとの集合から平均値演算部により移動平均値を演算する段階と、
前記特定時刻に前記データ計測部で計測されたブラッグ波長シフトデータから、前記平均値演算部で演算された移動平均値を、温度補償演算部により減算する段階と、
該温度補償演算部からの出力データを用い、ひずみの演算部により温度補償されたひずみを計測する段階と備えたことを特徴とするひずみ計測方法、に係るものである。
本発明のFBGセンサ用のひずみ計測方法において、前記処理手段は、前記データ計測部で計測される毎時のデータで前記特定時刻を連続的に更新することが好ましい。
上記した本発明のひずみ計測装置及びその計測方法によれば、ひずみ変化に対して温度変化が時間的に十分にゆっくりとした変化であることの違いを利用することにより、ブラッグ波長の長時間の移動平均量を算出して温度変化に相当するブラッグ波長の変化量を求め、温度変化計測専用のFBGセンサを用いることなく、ひずみと温度変化の両方を計測するFBGセンサにより、温度補償されたひずみを計測し得ると共に、FBGセンサの使用個数を減らして製造コストを低減することができるという種々の優れた効果を奏し得る。
以下、本発明の実施例を添付図面を参照して説明する。
図1〜図5は本発明のひずみ計測装置及びその計測方法を実施する形態例である。
FBGセンサ用のひずみ計測装置は、対象物(図示せず)の複数個所に配置された複数のFBGセンサ1と、複数のFBGセンサ1を連ねるように配置する光ファイバ2と、光ファイバ2へ光を連続的に出力する光源3と、FBGセンサ1のブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータ4と、反射光を処理する処理手段5とを備えている。
光ファイバ2は、光源3から光サーキュレータ4へ入射光を導波する第一の光ファイバ部2aと、光サーキュレータ4からFBGセンサ1へ入射光を導波する第二の光ファイバ部2bと、光サーキュレータ4から分岐してFBGセンサ1からの反射光を処理手段5へ導波する第三の光ファイバ部2cとを備えている。
FBGセンサ1は、光ファイバ2のコア部分に光軸方向に沿って一定の間隔で回折格子を形成しており、検査対象のひずみや温度変化により反射波長を変化させ、検査対象のひずみ変化及び温度変化を検出するようになっている。
光源3は、第一の光ファイバ部2aへ光を連続的に出力する広帯域のものが適用されている。
光サーキュレータ4は、光ファイバ2の入射光または反射光による導波の方向を制御するように構成されており、具体的には、光源3からの入射光を第二の光ファイバ部2bへ導波させると共に、FBGセンサ1からの反射光を第三の光ファイバ部2cへ導波させるようになっている。
処理手段5は、図2に示す如く、反射光の信号データを受けて時間履歴データを取得するデータ計測部6と、データ計測部6に接続されて時間履歴データを受けるデータ保持部7と、データ保持部7に接続される平均演算処理部8と、データ計測部6及び平均演算処理部8に接続される温度補償演算部(演算部)9と、温度補償演算部9に接続されてブラッグ波長のシフト量からひずみを求める演算部10とを備えている。
以下本発明のFBGセンサ用のひずみ計測装置及びその計測方法を実施する形態例の作用を説明する。
対象物について、ひずみを計測する際には、初めに、広帯域の光源3から計測光を光ファイバ2の第一の光ファイバ部2aへ連続的に照射し、計測光(入射光)を光サーキュレータ4により第二の光ファイバ部2bへ透過し、対象物の計測部位から物理量の信号を発するようにFBGセンサ1でブラッグ波長の反射光を発生させる。次に、FBGセンサ1によりブラッグ波長の反射光を発生させた後には、反射光が、光ファイバ2の第二の光ファイバ部2bを通じて光サーキュレータ4により反射光を分離して第三の光ファイバ部2cを介して処理手段5へ入射する。
処理手段5では、データ計測部6で反射光の信号データを時間毎に計測してブラッグ波長のシフト量の時間履歴データを取得し、時間履歴データを温度補償演算部9に送ると共にデータ保持部7に送り(ステップS1,S2)、データ保持部7では、時間履歴データから、ブラッグ波長変化信号時間データ(ブラッグ波長データ)と、該信号時間データの前後に取得した前後時間のブラッグ波長変化信号時間データ(ブラッグ波長データ)とを保持し、さらにブラッグ波長変化信号時間データと、前後時間のブラッグ波長変化信号時間データとを平均値演算部8へ送り(ステップS3)、平均値演算部8では、ブラッグ波長変化信号時間データ及び前後時間のブラッグ波長変化信時間号データから、十分に長い時間でのブラッグ波長の移動平均量(温度変化に相当するブラッグ波長の変化量)を求め、移動平均量のデータを温度補償演算部9へ送り(ステップS4)、温度補償演算部9では、データ計測部6によるブラッグ波長変化信号時間データ(ブラッグ波長の時間履歴)から移動平均量を減算してブラッグ波長の温度による変化量を補償し、さらに、この補償したブラッグ波長変化信号時間データを演算部10へ送り(ステップS5)、演算部10では、温度補償したブラッグ波長変化信号時間データ(ブラッグ波長のシフト量)から所定の制御プログラム(関数処理)を介して対象物のひずみ変化を求める。
また、温度による変化量(温度変化に相当するブラッグ波長の変化量)を補償するデータ処理を具体的な他の例で説明すると、データ処理は、図3に示す如く、データ計側部で時刻(tb)に計測したブラッグ波長変化信号時間データ(図3ではB0)と、十分にゆったりとした時間の時刻幅(tb−2からtb2まで)で計測した前後時間のブラッグ波長変化信号時間データ(図3ではB−2,B−1,B1,B2)とから移動平均処理して移動平均量Cを求め、更にブラッグ波長変化信号時間データB0から移動平均量Cを減算し(図3ではD0=B0−C)、温度による変化量を補償する。
ここで、FBGセンサ1で検出されるブラッグ波長のシフト量は、Δλ=αΔT+βΔZ(Δλ:シフト量、ΔT:温度による変化量、ΔZ:ひずみ量、α、β:定数)で示されるように、温度による変化量とひずみ量が互いに関連することなく、シフト量に対して別個独立に影響すると共に、温度による変化量は、ひずみ量の変化時間と同程度の時間で変化することがなく、ひずみ量の変化時間に対して十分にゆっくりとした時間で変化することから、本発明の装置及び方法では、測定点数を増やすように時間分解能を高め、温度変化とひずみ変化とを分離し得るようにしている。
また、対象物をFBGセンサ1で測定する際には、例えば、ひずみが一秒より小さい時間で変化するような条件で温度変化が数10秒で変化する場合には、ブラッグ波長の移動平均量を算出する際に、少なくとも10秒以上でブラッグ波長変化信号時間データの移動平均量を算出するように前後時間幅を設定する。
ここで、具体的な測定結果として温度補償が無い場合と温度補償が有る場合とを示すと、対象物を回転体とし、FBGセンサ1によりブラッグ波長を測定した際のひずみ履歴で、図4に示す如く温度補償が無い場合(図4の仮想線)には、回転体の発熱等により1周期ごとのピークの上端位置が時間経過に伴って徐々に上昇し、ひずみ変化に対して温度変化の影響があることが明らかであり、一方、本発明の温度補償が有る場合(図4の実線)には、他の条件が同じであっても、1周期ごとのピークの上端位置が時間経過にかかわらず、ほぼ一定範囲内であり、ひずみ変化に対して温度変化の影響がないことが明らかである。更に、ピークの上端位置の履歴を示すひずみ最大履歴において、図5に示す如く従来例の如く温度補償が無い場合(図5の仮想線)には時間経過に伴って平均値が徐々に上昇し、ひずみ変化に対して温度変化の影響があることが明らかであり、一方、本発明の温度補償が有る場合(図5の実線)は、他の条件が同じであっても、時間経過にかかわらず、平均値がほぼ一定範囲内であり、ひずみ変化に対して温度変化の影響がないことが明らかである。
而して、このように実施の形態例によれば、ひずみ変化に対して温度変化が時間的に十分にゆっくりとした変化であることの違いを利用することにより、ブラッグ波長の長時間の移動平均量を算出して温度変化に相当するブラッグ波長の変化量を求め、温度変化に相当するブラッグ波長の変化量のみを計測するためのFBGセンサ1(温度変化計測専用のFBGセンサ)を用いることなく、ひずみと温度変化の両方を計測する最低1つのFBGセンサにより、温度補償されたひずみを計測し得ると共に、FBGセンサの使用個数を減らして製造コストを低減することができる。また、対象物の測定は、回転体にFBGセンサ1を配置してひずみ変化を測定するもので良いし、コンクリート等にFBGセンサ1を埋設してひずみ変化を測定するものでも良いし、FBGセンサ1を配置することができ且つひずみ変化を生じるものならば特に制限されるものではない。
実施の形態例において、処理手段5は、データ計測部6でFBGセンサ1で生じた反射光からブラッグ波長のシフト量の時間履歴データを取得し、次にデータ保持部7により、時間履歴データから、ブラッグ波長変化信号時間データと、信号時間データの前後に取得した前後時間のブラッグ波長変化信号時間データとを保持し、更に、平均演算処理部8により、ブラッグ波長変化信号時間データ及び前後時間のブラッグ波長変化信号時間データから、前記ブラッグ波長変化信号時間データの時間よりも十分に長い時間でのブラッグ波長の移動平均量を求め、また温度補償演算部9で反射光のブラッグ波長変化信号時間データから移動平均量を減算すると、移動平均処理により温度による変化量を容易且つ好適に算出するので、容易に温度補償し得ると共に、FBGセンサ1の使用個数を減らして製造コストを低減することができる。
また、実施の形態例において、対象物を回転体とした場合、対象物をFBGセンサ1で測定する際のサンプリング周波数は回転体の回転数の10倍以上であると共に、ブラッグ波長の移動平均量を算出する際のブラッグ波長変化信号時間の前後時間幅は回転体が10回以上回転する時間であると、温度による変化量を最適に算出することができる。ここで、対象物をFBGセンサ1で測定する際のサンプリング周波数が回転体の回転数と同等の場合には、ブラッグ波長変化を詳細集録できないという問題があり、対象物をFBGセンサ1で測定する際のサンプリング周波数が高すぎると、データ点数が多すぎて移動平均計算処理時間の負荷が大きく、即時性のある信号の監視ができなくなるという問題がある。また、ブラッグ波長の移動平均量を算出する際のブラッグ波長変化信号時間の前後時間幅が回転体の回転数と同等の場合には、対象物の温度変化を抽出できず、温度による変化量を算出することができないという問題があり、ブラッグ波長の移動平均量を算出する際のブラッグ波長変化信号時間の前後時間幅が回転体の数万回転分のように大きい場合には、移動平均量を出すためのデータ量が増大すると共に温度による変化量が大きくなり過ぎ、移動平均量を減算した時のデータ差にばらつきを生じるという問題があり、ブラッグ波長変化信号時間の前後時間幅は回転体の数千回転以下が好ましく、さらに数百回転以下が好ましい。
尚、本発明のFBGセンサ用のひずみ計測装置及びその計測方法は、上述の形態例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
本発明を実施する形態例の構成を示すブロック図である。 処理手段の構成及び処理のフローを示すブロック図である。 移動平均の処理を示す概念図である。 FBGセンサで計測したブラッグ波長であって温度補償有りの場合と温度補償なしの場合とを示すひずみ履歴のグラフである。 FBGセンサで計測したブラッグ波長であって温度補償有りの場合と温度補償なしの場合とを示すひずみ最大値履歴のグラフである。
符号の説明
1 FBGセンサ
2 光ファイバ
3 光源
4 光サーキュレータ
5 処理手段
6 データ計測部
7 データ保持部
8 平均演算処理部
9 温度補償演算部(演算部)

Claims (4)

  1. FBGセンサを配置する光ファイバと、該光ファイバへ光を連続的に出力し且つ前記FBGセンサのブラッグ波長範囲を含む広帯域の光源と、前記FBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、前記反射光を連続的に処理する処理手段とを備え、
    前記処理手段は、
    FBGセンサからのブラッグ波長のシフト量の時間履歴データを取得するデータ計測部と、
    該データ計測部の時間履歴データから、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとを保持するデータ保持部と、
    該データ保持部に保持された、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとの集合から移動平均値を演算する平均値演算部と、
    前記特定時刻に前記データ計測部で計測されたブラッグ波長シフトデータから、前記平均値演算部で演算された移動平均値を減算する温度補償演算部と、
    該温度補償演算部からの出力データを用い、温度補償されたひずみを計測するひずみの演算部と備えたことを特徴とするひずみ計測装置。
  2. 前記処理手段は、前記データ計測部で計測される毎時のデータで前記特定時刻を連続的に更新するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載のひずみ計測装置。
  3. FBGセンサを配置する光ファイバと、該光ファイバへ光を連続的に出力し且つ前記FBGセンサのブラッグ波長範囲を含む広帯域の光源と、前記FBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、前記反射光を連続的に処理する処理手段とを備えるひずみ計測方法であって、
    前記処理手段は、
    FBGセンサからのブラッグ波長のシフト量の時間履歴データをデータ計測部により取得する段階と、
    該データ計測部の時間履歴データから、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとをデータ保持部により保持する段階と、
    該データ保持部に保持された、特定時刻のブラッグ波長シフト信号時間データと、該特定時刻の時間的に前とさらに後に取得したブラッグ波長シフト信号時間データとの集合から平均値演算部により移動平均値を演算する段階と、
    前記特定時刻に前記データ計測部で計測されたブラッグ波長シフトデータから、前記平均値演算部で演算された移動平均値を、温度補償演算部により減算する段階と、
    該温度補償演算部からの出力データを用い、ひずみの演算部により温度補償されたひずみを計測する段階と備えたことを特徴とするひずみ計測方法。
  4. 前記処理手段は、前記データ計測部で計測される毎時のデータで前記特定時刻を連続的に更新することを特徴とする請求項3に記載のひずみ計測方法。
JP2008034413A 2008-02-15 2008-02-15 ひずみ計測装置及びその計測方法 Active JP5197054B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008034413A JP5197054B2 (ja) 2008-02-15 2008-02-15 ひずみ計測装置及びその計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008034413A JP5197054B2 (ja) 2008-02-15 2008-02-15 ひずみ計測装置及びその計測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009192409A JP2009192409A (ja) 2009-08-27
JP5197054B2 true JP5197054B2 (ja) 2013-05-15

Family

ID=41074550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008034413A Active JP5197054B2 (ja) 2008-02-15 2008-02-15 ひずみ計測装置及びその計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5197054B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6426349B2 (ja) * 2014-02-05 2018-11-21 株式会社Ihi検査計測 Fbgセンサの計測方法及びfbgセンサの計測装置
CN105444789A (zh) * 2014-08-25 2016-03-30 同方威视技术股份有限公司 一种光纤光栅解调仪及其温度控制方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3598297B2 (ja) * 2002-03-27 2004-12-08 株式会社東京測器研究所 Fbg式変換器における温度補償構造
JP2004212135A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 流体抵抗測定装置
JP4417655B2 (ja) * 2003-06-13 2010-02-17 坂田電機株式会社 ファイバブラッググレーティングを使用した片持ち梁状の変位変換機構
JP4421229B2 (ja) * 2003-07-11 2010-02-24 株式会社東芝 ファイバブラッググレーティング物理量計測方法および装置
JP3837410B2 (ja) * 2003-11-13 2006-10-25 株式会社東京測器研究所 Fbg式傾斜計
JP4344401B2 (ja) * 2003-12-01 2009-10-14 川崎重工業株式会社 回転体計測システム
JP2006084292A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Kansai Electric Power Co Inc:The 回転体物理量計測方法および回転体物理量計測装置
JP2005055450A (ja) * 2004-11-29 2005-03-03 Kyowa Electron Instr Co Ltd 光ファイバ式ひずみゲージ
JP2007114072A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Miyazaki Tlo:Kk Fbgを用いた歪み計測システム
JP4458058B2 (ja) * 2006-03-29 2010-04-28 三菱電機株式会社 光ファイバセンサの外力検出方法及び光ファイバセンサの外力検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009192409A (ja) 2009-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8496376B2 (en) Dual source auto-correction in distributed temperature systems
CN104111032B (zh) 一种基于光纤光栅传感网络的大型结构体变形测量方法
US20170370704A1 (en) Dissimilar cores in multicore optical fiber for strain and temperature separation
JP3440721B2 (ja) 多点型歪み及び温度センサ
JP6242830B2 (ja) 風車翼の損傷検知方法及び風車
CA2619317A1 (en) Brillouin distributed temperature sensing calibrated in-situ with raman distributed temperature sensing
US20140218751A1 (en) Displacement measuring device and displacement measuring method
CN105115438A (zh) 一种光纤传感系统温度补偿方法
US10571321B2 (en) Device for measuring fluid parameters, a method for measuring fluid parameters and a computer program product
JP4693516B2 (ja) 重量測定方法
EP3575767B1 (en) Optical inspection system, optical inspection method, and aircraft structure
Roths et al. Strain calibration of optical FBG-based strain sensors
JP5197054B2 (ja) ひずみ計測装置及びその計測方法
US20040208413A1 (en) Cryogenic optical fibre temperature sensor
JP7360415B2 (ja) 診断装置
JP2009020074A (ja) 余寿命推定システム、余寿命推定方法、コンピュータプログラム、記録媒体
FR2909446B1 (fr) Dispositif et procede de mesure des deformations mecaniques d'un profile
JP4274007B2 (ja) 波長分析装置
JP4808189B2 (ja) 余寿命推定方法、余寿命推定システム、コンピュータプログラム、記録媒体
CN117685898B (zh) 复合材料固化成型原位检测的数据处理方法及装置
JP6426349B2 (ja) Fbgセンサの計測方法及びfbgセンサの計測装置
CN110987255B (zh) 一种高精度薄膜应力在线测试方法及装置
Habel et al. KALFOS-a validation facility for strain transfer characterization of surface-applied strain sensors
JP2018151199A (ja) 温度計測装置、それを備えた温度計測システム、及び温度計測方法並びにプログラム
Grigor’Ev et al. Quasi-distributed measuring system based on bragg sensors of mechanical stress with increased sample rate

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120501

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120502

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130205

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5197054

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250